C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 原理······························································································································· 2
5 装置······························································································································· 2
5.1 抵抗測定装置 ················································································································ 2
5.2 測定電極 ······················································································································ 3
5.3 対向電極 ······················································································································ 3
5.4 支持板 ························································································································· 5
5.5 絶縁板 ························································································································· 5
6 実験室評価のためのサンプリング ························································································ 5
7 供試品の準備 ··················································································································· 5
8 前処理及び試験の雰囲気 ···································································································· 5
9 試験手順 ························································································································· 6
9.1 電極のクリーニング ······································································································· 6
9.2 点間抵抗 ······················································································································ 6
9.3 垂直抵抗（実験室評価だけに適用） ··················································································· 6
9.4 接地間抵抗 ··················································································································· 7
10 計算及び結果の表示 ········································································································ 7
11 試験報告書 ···················································································································· 7
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人日本電子部品信頼性センター (RCJ)
及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS C 61340の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 2170 静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法 (IEC 61340-2-3)
JIS C 61340-2-1 静電気−測定方法−材料及び製品の静電気電荷拡散性能の測定方法 (IEC 61340-2-1)
JIS C 61340-3-1 静電気−静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル (HBM)−部品試験
(IEC 61340-3-1)
JIS C 61340-4-5 静電気−特定応用のための標準的試験方法−人体と組み合わせた履物及び床システ
ムの静電気防止性能の評価方法 (IEC 61340-4-5)
また，JIS C 61340-4-1に関連する標準情報として，次のものがある。
TR C 0027-1 静電気現象からの電子デバイスの保護−第1部：一般要求事項 (IEC TR 61340-5-1)
TR C 0027-2 静電気現象からの電子デバイスの保護−第2部：使用者のための指針
(IEC TS 61340-5-2)
TR C 0036 静電気−測定方法−帯電性の測定 (IEC/TR 61340-2-2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 61340-4-1：2008
(IEC 61340-4-1：2003)
静電気−
第4-1部：特定応用のための標準的な試験方法−
床仕上げ材及び施工床の電気抵抗
Electrostatics-Part 4-1 : Standard test methods for specific applications-
Electrical resistance of floor coverings and installed floors
序文
この規格は，2003年に第2版として発行されたIEC 61340-4-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，静電気対策に使用するすべての種類の床仕上げ材及び施工床の電気抵抗（以下，抵抗とい
う。）の求め方について規定する。この規格で求める抵抗は，1.0×104 Ω以上で1.0×1013Ω未満の接地間
抵抗，点間抵抗及び垂直抵抗である。管理された環境条件で実施する実験室評価は，分類（クラス分け）
又は品質管理の目的で用いることができる。管理されていない環境条件での施工床の試験は，正しく施工
されているかの判断又は使用中の床のシステム検証の一部として用いることができる。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61340-4-1 : 2003，Electrostatics−Part 4-1 : Standard test methods for specific applications−
Electrical resistance of floor coverings and installed floors (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示
す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。
この引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS L 1021-1 繊維製床敷物試験方法−第1部：物理試験のための試験片の採取方法
注記 対応国際規格：ISO 1957, Machine-made textile floor coverings−Selection and cutting of
specimens for physical tests (IDT)
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
2
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.1
受入試験 (acceptance testing)
施工直後の床又は初回受入前の製造サンプルについて利用者が実施する試験。
3.2
幾何平均 (geometric mean)
n個の数の積のn乗根。 n
n
y
y
y
...
2
1
3.3
接地可能接続点 (groundable point)
床仕上げ材と接地点との接続を容易にする結合部。
3.4
絶縁材料 (insulating material)
1.0×1014 Ωを超える垂直抵抗をもつ材料。
3.5
実験室評価 (laboratory evaluations)
管理された実験室環境下で実施する測定。
3.6
接地間抵抗 (resistance to ground)
接地又は接地可能接続点と使用表面の上に置いた一つの測定電極との間で測定した抵抗。
3.7
点間抵抗 (point-to-point resistance)
使用表面の上に置いた二つの測定電極間で測定した抵抗。
3.8
垂直抵抗 (vertical resistance)
試験材料の表面に置いた一つの測定電極と裏面の対向電極との間で測定した抵抗。
4
原理
試験材料の使用表面を横切る抵抗及び試験材料の垂直抵抗は，高抵抗計又は他の適切な機器を用いて測
定する。点間抵抗測定は，床仕上げ材の使用表面を横切って電荷が伝導する性能又は電荷吸い込みの機能
を果たす性能を評価するのに適している。床仕上げ材の抵抗，すなわち，接地間抵抗及び垂直抵抗の測定
は，床仕上げ材下への電荷吸い込み，使用表面又は使用表面に接触した導体から電荷が伝導する性能を評
価することに適している。接地間抵抗測定のシミュレーションは，試験用床仕上げ材の裏に接地可能接続
点を取り付けて実験室環境で行う。
5
装置
5.1
抵抗測定装置
抵抗測定装置は，電源内蔵形の抵抗計（オームメータ）又は抵抗測定のために適切に配置した電源及び
電流計によって構成し，±10 %の精度で，次の要求事項を満たさなければならない。
5.1.1
実験室評価
抵抗測定装置は，それぞれの負荷状態において，次の回路電圧をもたなければならない。
− 1.0×106 Ω未満の抵抗値の場合は，10 V±0.5 V
3
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 1.0×106 Ω以上1.0×1011 Ω未満の抵抗値の場合は，100 V±5 V
− 1.0×1011 Ω以上の抵抗値の場合は，500 V±25 V
抵抗測定装置の測定範囲は，抵抗の予測範囲より両側に1けた以上広い範囲とする。抵抗測定装置は，
意図しない接地経路が測定に影響しないようにして使用する。
5.1.2
受入試験
受入試験には，実験室評価装置又は次の開放回路電圧をもつ装置を用いる。
− 1.0×106 Ω未満の抵抗値の場合は，10 V±0.5 V
− 1.0×106 Ω以上1.0×1011 Ω未満の抵抗値の場合は，100 V±5 V
− 1.0×1011 Ω以上の抵抗値の場合は，500 V±25 V
装置の測定範囲は，抵抗の予測範囲より両側に1けた以上広い範囲とする。装置は，意図しない接地経
路が測定に影響しないようにして使用する。
疑義がある場合，実験室評価装置を使用する。
5.2
測定電極
測定電極は，抵抗測定装置に接続する端子をもつ二つの円筒形の金属電極（ステンレス鋼がよい。）によ
って構成する。適切な電極の例を，図1に示す。各電極は，直径65 mm±5 mmの平たんで円形の接触領
域をもつ。硬く変形しない表面の測定では，接触領域は，60±10のショアAのデュロメータ硬さをもつ導
電性ゴムパッドとする。導電性ゴムパッドを取り付けた各測定電極の接触抵抗は，対向電極（5.3参照）上
に直接測定電極を置いて測定したときに1 000 Ω 未満とする。織物状の床仕上げ材のような変形可能な表
面の場合は，導電性ゴムパッドは必ずしも使用しなくてもよい。この場合の接触領域は，金属電極の下部
表面とする。
各測定電極の総質量は，次のいずれかとする。
a) 硬く変形しない表面の測定は2.5 kg±0.25 kg
b) その他の表面の測定は5.0 kg±0.25 kg
注記 質量を追加するための支持台として，1.0×1014 Ωを超える垂直抵抗をもつ絶縁体の円板を用い
てもよい（図1参照）。
5.3
対向電極
対向電極は，600 mm±10 mm角で厚さ1 mm（公称値）の平たんなステンレス鋼の板で，抵抗測定装置
に接続する端子をもつ。
4
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
記号
1
器具のフレキシブルケーブル
2
金属電極取付台に接続した絶縁されたワイ
ヤ
3
絶縁材料
4
金属電極取付台
5
導電性ゴムパッド
6
5.2 a) 又は5.2 b) に規定する総質量にする
ために必要な負荷質量の支持のために使用
する絶縁性材料の円板
7
金属電極
8
平頭ねじ
9
電気的コネクタ
10 器具のフレキシブルケーブル
11 器具のケーブルを収容するための溝（溝の
底にケーブルを固定するためにエポキシ接
着剤を用いる。）
図1−適切な測定電極の2種類の設計例
5
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.4
支持板
点間抵抗測定では，必要な場合（箇条6参照）及び接地間抵抗測定に，支持板を用いる。支持板は，供
試品と同じ面積と，供試品を支持するのに十分な硬さとをもち，1.0×1014 Ωを超える垂直抵抗をもつ絶縁
材料で構成する。
垂直抵抗測定では，必要な場合（箇条6参照），供試品と同じ面積と，供試品を支持するのに十分な硬さ
とをもつ金属板を用いる。
5.5
絶縁板
垂直抵抗測定では，垂直抵抗が1.0×1014 Ωを超える抵抗をもつ絶縁材料からなる一辺640 mm±10 mm
の正方形で，厚さ5 mm±1 mmの平板を用いる。点間抵抗及び接地間抵抗の測定では，垂直抵抗が1.0×
1014 Ωより大きな抵抗をもつ絶縁材料からなる(1 300 mm±10 mm)×(600 mm±10 mm)の長方形で厚さ5
mm±1 mmの平板を用いる。
6
実験室評価のためのサンプリング
試験材料の選定及びサンプリングは，JIS L 1021-1に従って行う。JIS L 1021-1は，織物の床仕上げ材へ
の使用を意図しているが，その原則は，その他の床仕上げ材にも適用できる。
垂直抵抗測定では，それぞれ一辺500 mm±50 mmの正方形の三つの供試品について試験する。
点間抵抗測定及び接地間抵抗測定では，(1 200 mm±50 mm)×(500 mm±50 mm)の長方形の二つの供試品
を試験する。方向性による違いがある場合は，一つの供試品は，横長の方を縦糸と平行の方向とし，もう
一つの供試品は，横長の方を縦糸と垂直の方向とする。接地間抵抗測定では，製造業者の指示書又は受渡
当事者間の協定によって，各供試品の裏面に接地可能接続点を取り付ける。
点間抵抗及び接地間抵抗測定の場合には，同じ供試品を用いることが望ましい。同じ供試品を用いて点
間抵抗測定を行う場合には，供試品の裏面に取り付けた接地可能接続点は，接地点から絶縁する。
供試品が試験で要求される寸法より小さいタイルの場合には，要求面積を確保するように，幾つかのタ
イルを必要に応じ切断し結合させる。支持板（5.4参照）が必要な場合には，支持板にタイルを取り付け，
隣接するタイルの端を，製造業者の指示書又は合意された方法に従い接続する。接地可能接続点は支持板
に取り付ける前に，一つ又はそれ以上のタイルに取り付ける。ただし，接地可能接続点と接地間抵抗測定
点との距離は1 000 mm±50 mm以上とする（9.4参照）。
金属製支持板に導電性接着剤を用いて固定したタイル以外の試験サンプルが必要となる場合がある。こ
の場合には，支持板への供試品の取付けは，製造業者の指示書又は受渡当事者間の協定によって行う。
7
供試品の準備
必要な場合には，供試品は前処理及び試験の前にクリーニングを行う。クリーニング処理は，製造業者
の指示書又は受渡当事者間の協定によって実施する。
支持板への供試品の取付けが必要な場合は，前処理及び試験の前に実施する。
8
前処理及び試験の雰囲気
別途受渡当事者間の協定又は指定がない場合には，前処理及び試験の雰囲気は，23 ℃±2 ℃で相対湿度
(12±3) %とする。試験前の前処理時間は，48時間以上とする。織物の床仕上げ材は，前処理及び試験の前
に，20 ℃±2 ℃，相対湿度 (65±3) %で24時間以上の予備的前処理を行うことが望ましい。
予備的前処理中及び前処理中は，供試品の周囲の空気が自由に循環できるように，供試品をラック又は
6
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
その他の適切な支持物の上に置く。
施工床の試験のような管理できない条件で試験を実施する場合には，測定時の周囲温度及び相対湿度を
記録する。
9
試験手順
9.1
電極のクリーニング
各試験シーケンスの前に，測定及び対向電極の接触領域を，濃度95 %以上のエタノール又はイソプロパ
ノール (2-propanol) を浸した，毛羽の発生の少ない布を用いてクリーニングする。測定前に表面を乾燥さ
せる。
注記 この規格の使用者は，溶剤の取扱いを規制する地域の規則に留意することが望ましい。
9.2
点間抵抗
実験室評価では，絶縁板（5.5参照）の上に，使用表面を上にして供試品を置く。二つの測定電極（5.2
参照）は，供試品の上にそれぞれの中心間の距離を300 mm±10 mm離して置く。供試品としてタイルを
使用する場合は，測定電極を隣接するタイルの継ぎ目と接触しないように置く。供試品に取り付けたすべ
ての接地可能接続点を確実に絶縁する。
施工床を試験する場合は，測定電極を床表面上に，実験室評価と同じように，測定電極間距離を同じ距
離だけ離して置く。
測定電極を抵抗測定装置（5.1参照）に接続する。設定電圧10 Vから測定を開始し，試験電圧印加15 秒
±2秒後に抵抗値を読み取る。値が1.0×106 Ωを超える場合は，100 Vに設定し再度測定を行う。この2
回目の測定値が1.0×1011 Ωを超える場合は，500 Vに設定し，最終測定を行う。次のいずれにも該当しな
い場合は，5.1の抵抗測定装置を用いて電圧及び抵抗の範囲に適合する読取値を記録する。
a) 10 Vで測定した抵抗値が1.0×106 Ωを超え，かつ，100 Vで測定した抵抗値が1.0×106 Ω未満。
b) 100 Vで測定した抵抗値が1.0×1011 Ωを超え，かつ，500 Vで測定した抵抗値が1.0×1011 Ω未満。
この場合には，高い方の電圧レベルで測定した抵抗値を記録する。
実験室評価では，以前の測定点より100 mm以上離れたその他の位置に測定電極を置き，測定を繰り返
す。測定は，直線的な方向で行う。すなわち，加工方向と平行に測定電極を置いて測定し，この測定とは
別に加工方向と垂直に測定電極を置いて測定する。供試品当たり6回以上の測定を行う。
施工床の測定では，測定回数は，対象とする床を代表するように選定する。この場合6回以上測定する。
9.3
垂直抵抗（実験室評価だけに適用）
対向電極（5.3参照）を絶縁板（5.5参照）の上に置く。供試品を，使用表面を上にして，対向電極の上
に置く。測定電極（5.2参照）一つを，その中心が供試品のすべての端から100 mm以上離して試料の上に
置く。供試品の形成にタイルを使用する場合は，隣接するタイルの継ぎ目に接触しないように測定電極を
置く。
測定電極及び対向電極を抵抗測定装置（5.1参照）に接続する。設定電圧10 Vから測定を開始し，試験
電圧印加15秒±2 秒後に抵抗値を読み取る。値が1.0×106 Ωを超える場合は，100 Vに設定し再測定を
行う。この2回目の測定値が1.0×1011 Ωを超える場合は，500 Vに設定し，最終測定を行う。次のいずれ
にも該当しない場合は，5.1の抵抗測定装置を用いて電圧及び抵抗の範囲に適合する読取値を記録する。
a) 10 Vで測定した抵抗値が1.0×106 Ωを超え，かつ，100 Vで測定した抵抗値が1.0×106 Ω未満。
b) 100 Vで測定した抵抗値が1.0×1011 Ωを超え，かつ，500 Vで測定した抵抗値が1.0×1011 Ω未満。
この場合には，高い方の電圧レベルで測定した抵抗値を記録する。
7
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
各供試品について，6回以上の測定を行うように測定手順を繰り返す。電極の位置は，以前に行ったす
べての測定位置から100 mm以上離す。
9.4
接地間抵抗
実験室評価では，絶縁板（5.5参照）の上に，使用表面を上にして供試品を置く。測定電極（5.2参照）
一つの中心を供試品のすべての端から100 mm以上離して，試料の上に置く。供試品の形成にタイルを使
用する場合は，隣接するタイルの継ぎ目に接触しないように測定電極を置く。
測定電極及び対向電極を抵抗測定装置（5.1参照）に接続する。設定電圧10 Vから測定を開始し，試験
電圧印加15秒±2 秒後に抵抗値を読み取る。値が1.0×106 Ωを超える場合は，100 Vに設定し再度測定
を行う。この2回目の測定値が1.0×1011 Ωを超える場合は，500 Vに設定し，最終測定を行う。
次のいずれにも該当しない場合は，5.1の抵抗測定装置を用いて電圧及び抵抗の範囲に適合する読取値を
記録する。
a) 10 Vで測定した抵抗値が1.0×106 Ωを超え，かつ，100 Vで測定した抵抗値が1.0×106 Ω未満。
b) 100 Vで測定した抵抗値が1.0×1011 Ωを超え，かつ，500 Vで測定した抵抗値が1.0×1011 Ω未満。
この場合は，高い方の電圧レベルで測定した抵抗値を記録する。
各供試品について，6回以上の測定を行うように測定手順を繰り返す。電極の位置は，以前に行ったす
べての測定位置から100 mm以上離す。また，1回以上は，接地可能接続点から1 000 mm±50 mm離れた
位置に電極を置いて測定を行う。電極の位置は，以前に行ったすべての測定点から100 mm以上離す。
施工床を試験する場合は，電極を床表面の上に置き，抵抗測定装置を電極，建物接地，その他の適切な
接地点に接続する。接地可能接続点の位置が既知の場合，接地可能接続点の上に電極を置いて行い，また，
1回以上は，接地可能接続点から1 000 mm±50 mm離れた位置に電極を置いて測定を行う。
施工床の測定では，測定回数は，対象とする床を代表するように選定する。この場合6回以上測定する。
10 計算及び結果の表示
各サンプル及び各種類の測定について，個別の測定値の幾何平均（3.2参照）を計算する。個別の結果及
び幾何平均の両方を2けたの有効数字で表す。
11 試験報告書
試験報告書には，次の情報を含む。
a) この規格の番号
b) 試験サンプルを明確化するために必要なすべての情報
c) 試験実施日
d) 次のような予備的前処理，前処理及び試験の雰囲気
− 実験室評価の場合は，予備的前処理（実施した場合），前処理，試験の温度及び相対湿度，並びに予
備的前処理及び前処理の時間
− 施工床の試験の場合は，試験時の温度及び相対湿度
e) クリーニング及び仕上げ手順の詳細事項
f)
小さな供試品を結合するために使用した手順の詳細事項
g) 使用した支持板及び支持板に供試品を固定するために使用した手順並びに材料の詳細
h) 供試品に接地可能接続点を固定するために使用した手順及び材料の詳細
i)
測定の種類：点間抵抗，垂直抵抗及び接地間抵抗
8
C 61340-4-1：2008 (IEC 61340-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
j)
測定時に使用した負荷状態での回路電圧
k) 各供試品について，各種類の測定のすべての個別の値
l)
各サンプルについて，各種類の測定のすべての結果の幾何平均
m) 試験結果に影響すると考えられる，この規格若しくは引用規格に規定していない，又はオプションと
みなされる操作