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C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 試験方法の概要 ················································································································ 2 

4 装置······························································································································· 2 

4.1 装置の概要 ··················································································································· 2 

4.2 光源 ···························································································································· 4 

4.3 光パワーメータ ············································································································· 4 

4.4 取付具 ························································································································· 4 

4.5 曲げ試験装置又はジグ(簡易的な曲げ試験装置) ································································· 4 

5 手順······························································································································· 4 

5.1 供試品の準備 ················································································································ 4 

5.2 前処理 ························································································································· 4 

5.3 初期検査及び初期測定 ···································································································· 4 

5.4 処理 ···························································································································· 4 

5.5 後処理 ························································································································· 4 

5.6 最終検査及び最終測定 ···································································································· 4 

6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 5 

7 個別に規定する事項 ·········································································································· 5 

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

また,令和2年6月22日,産業標準化法第17条又は第18条の規定に基づく確認公示に際し,産業標準

化法の用語に合わせ,規格中“日本工業規格”を“日本産業規格”に改めた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 61300-1 第1部:通則 

JIS C 61300-2-1 第2-1部:正弦波振動試験 

JIS C 61300-2-2 第2-2部:繰返しかん合試験 

JIS C 61300-2-4 第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り) 

JIS C 61300-2-5 第2-5部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり) 

JIS C 61300-2-6 第2-6部:かん合部締結強度試験(軸方向引張り) 

JIS C 61300-2-7 第2-7部:かん合部締結強度試験(曲げモーメント) 

JIS C 61300-2-9 第2-9部:衝撃試験 

JIS C 61300-2-11 第2-11部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向圧縮) 

JIS C 61300-2-12 第2-12部:落下衝撃試験 

JIS C 61300-2-14 第2-14部:光パワー損傷のしきい値試験 

JIS C 61300-2-15 第2-15部:結合部ねじり試験 

JIS C 61300-2-17 第2-17部:低温試験 

JIS C 61300-2-18 第2-18部:高温試験 

JIS C 61300-2-19 第2-19部:高温高湿試験(定常状態) 

JIS C 61300-2-21 第2-21部:混合温湿度サイクル試験 

JIS C 61300-2-22 第2-22部:温度サイクル試験 

JIS C 61300-2-26 第2-26部:塩水噴霧試験 

JIS C 61300-2-27 第2-27部:ダスト試験(層流) 

JIS C 61300-2-40 第2-40部:SM調心円筒形斜めPC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験 

JIS C 61300-2-41 第2-41部:SM調心円筒形直角PC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験 

JIS C 61300-2-44 第2-44部:光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ 

JIS C 61300-2-45 第2-45部:浸水試験 

JIS C 61300-2-46 第2-46部:湿熱サイクル試験 

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

(3) 

JIS C 61300-2-47 第2-47部:熱衝撃試験 

JIS C 61300-2-48 第2-48部:温湿度サイクル試験 

JIS C 61300-3-1 第3-1部:外観検査及び機械的検査 

JIS C 61300-3-2 第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性 

JIS C 61300-3-3 第3-3部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法 

JIS C 61300-3-4 第3-4部:損失測定 

JIS C 61300-3-6 第3-6部:反射減衰量測定 

JIS C 61300-3-7 第3-7部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定 

JIS C 61300-3-11 第3-11部:結合力及び離脱力測定 

JIS C 61300-3-15 第3-15部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定 

JIS C 61300-3-16 第3-16部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定 

JIS C 61300-3-17 第3-17部:斜め研磨光ファイバコネクタのフェルールの端面角度測定 

JIS C 61300-3-20 第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定 

JIS C 61300-3-22 第3-22部:フェルール押圧力測定 

JIS C 61300-3-23 第3-23部:フェルール端面からの光ファイバ引込み量測定 

JIS C 61300-3-24 第3-24部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定 

JIS C 61300-3-25 第3-25部:フェルール及び光ファイバ取付け直角PC端面フェルールの同心度測定 

JIS C 61300-3-26 第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定 

JIS C 61300-3-27 第3-27部:多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定 

JIS C 61300-3-28 第3-28部:過渡損失測定 

JIS C 61300-3-30 第3-30部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定 

JIS C 61300-3-31 第3-31部:光ファイバ光源の結合パワー比測定 

JIS C 61300-3-32 第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定 

JIS C 61300-3-33 第3-33部:ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定 

JIS C 61300-3-34 第3-34部:ランダム接続時の挿入損失 

JIS C 61300-3-36 第3-36部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定 

JIS C 61300-3-38 第3-38部:群遅延,波長分散及び位相リップルの測定 

JIS C 61300-3-40 第3-40部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測

定 

JIS C 61300-3-43 第3-43部:光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定 

  

日本産業規格          JIS 

C 61300-2-44:2015 

(IEC 61300-2-44:2013) 

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品− 

基本試験及び測定手順−第2-44部: 

光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ 

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test 

and measurement procedures-Part 2-44: Strength of optical fiber to device 

interface-Flexing of the strain relief 

序文 

この規格は,2013年に第3版として発行されたIEC 61300-2-44を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本産業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。 

適用範囲 

この規格は,通信用光部品の光ファイバクランプ強度試験のうち,繰返し曲げについて規定する。この

試験の目的は,一般的な使用環境下で耐用年数中に発生し得る繰返し曲げの影響を模擬することである。

この試験は,光ファイバ素線,光ファイバ心線及び光ファイバコード(以下,光ファイバという。)に適用

する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 61300-2-44:2013,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and 

measurement procedures−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部:通則 

注記 対応国際規格:IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic 

test and measurement procedures−Part 1: General and guidance(MOD) 

JIS C 61300-3-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-1部:外観

検査及び機械的検査 

注記 対応国際規格:IEC 61300-3-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic 

test and measurement procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination 

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

  

(IDT) 

JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部:挿入

損失及び反射減衰量変化のモニタ方法 

注記 対応国際規格:IEC 61300-3-3,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic 

test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of 

changes in attenuation and return loss(MOD) 

JIS C 61300-3-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-4部:損失

測定 

注記 対応国際規格:IEC 61300-3-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic 

test and measurement procedures−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation(MOD) 

試験方法の概要 

供試品を取付具に固定し,光ファイバはおもり(錘)に取り付けた状態から,取付具を±90度曲げるこ

とで光ファイバを軸方向に対して垂直な方向に±90度に曲げる試験を行う。平形の多心光ファイバの場合

は,幅方向に平行な軸について,光ファイバを含む面内で±90度に曲げ試験を行う。これによって,供試

品の近傍で光ファイバに繰返し曲げが起こる。曲げ試験中は,光ファイバにねじりを作用させずに,軸方

向だけに引張力を加える。 

装置 

4.1 

装置の概要 

試験装置及び試験の例を図1に示す。図1は,供試品が光ファイバコード付き光ファイバコネクタプラ

グの場合であり,取付具として光アダプタを使用し,光アダプタを取付板に固定して,繰返し曲げ試験を

行う。 

background image

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

注記 対応国際規格では光ファイバに直接おもり(錘)を取り付け,引張力を印加しているが,この場合,光ファイ

バに側圧などによる損失が発生するため,供試品の繰返し曲げによる損失を正確に測定できない。通常は,供
試品の光ファイバをマンドレルに巻き付け固定し,側圧などが加わらないように,マンドレルをおもり(錘)
で引っ張ることによって,試験を行う。マンドレルの直径は,60 mm以上かつ光ファイバコードの外径の25倍
以上が望ましい。また,ガイドは取付板の回転中心から重力方向に対して,垂直な方向に引張力を印加するた
めのものである。 

図1−試験装置例 

2心光ファイバコードは,図2 a)に示す断面に対して厚さ方向に曲げる。引張力は,心線数に依存しな

い。 

a) 断面図 

b) 斜視図 

図2−2心光ファイバコードの場合の曲げ方向 

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

  

注記 図2において,対応国際規格では,2心光ファイバコードの曲げ方向はa)(断面図)だけ図示

されているが,2心光ファイバコードの曲げ方向を明確にするため,b)(斜視図)を追加して

いる。 

使用する装置は,4.2〜4.5による。 

4.2 

光源 

光源は,JIS C 61300-3-3及びJIS C 61300-3-4に従うことが望ましい。 

4.3 

光パワーメータ 

光パワーメータは,JIS C 61300-3-3及びJIS C 61300-3-4に従うことが望ましい。 

4.4 

取付具 

取付具は,試験中に供試品を確実に固定できるものを使用する。供試品が光コネクタプラグの場合は,

光アダプタ又は光レセプタクルを取付具として使用してもよい。供試品が光受動部品の場合,取付具によ

って供試品を変形させないものとする。取付具は,供試品の光学性能をモニタする装置と接続できる。 

4.5 

曲げ試験装置又はジグ(簡易的な曲げ試験装置) 

曲げ試験装置又はジグ(簡易的な曲げ試験装置)は,光ファイバに引張力を印加した状態で,供試品を

垂直の状態から±90度に曲げることができるものとする。 

手順 

5.1 

供試品の準備 

製造業者の指示に従い,供試品を清掃する。JIS C 61300-3-1によって,供試品の外観検査を行い,損傷

がないか確認する。 

試験装置の曲げ位置から引張力を印加する位置までが20 cm〜30 cmであるため,供試品の光ファイバは

これより長く,試験装置に取り付けられる十分な長さでなければならない。 

5.2 

前処理 

個別に規定がない場合,JIS C 61300-1に規定する標準的環境条件下で供試品及び装置を2時間放置する。 

5.3 

初期検査及び初期測定 

個別に規定する供試品の初期検査及び初期測定を実施する。 

5.4 

処理 

供試品を取付具に取り付ける。 

供試品を取付具に垂直に固定した状態で,JIS C 61300-3-4に従って,供試品の損失を測定する。 

供試品に引張力を印加し,繰返し曲げ試験を行う。1分間に20回以下とし,曲げの角速度は光ファイバ

に極端な負荷を与えない適切な速度とする。また,曲げ状態での停止時間は5秒以下とする。 

JIS C 61300-3-3に従い,試験中の損失の変動を測定する。 

供試品が垂直になる位置で曲げ試験装置を停止し,引張力を取り除く。 

注記 曲げサイクル数は,試験開始時の供試品の位置を0度としたとき,0度→90度→0度→−90度

→0度を1回とする。 

5.5 

後処理 

個別に規定がない場合,供試品をJIS C 61300-1に規定する標準的環境条件下で2時間放置する。製造業

者の指示に従い,供試品を清掃する。 

5.6 

最終検査及び最終測定 

供試品を取付具から取り外し,機能に影響するひび割れ,変形及びその他の損傷がないかの確認,並び

background image

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

に供試品の損失を測定して個別に規定する項目に対して合否を判定する。供試品の外観検査は,個別に規

定がない場合,JIS C 61300-3-1に従い光ファイバ及び/又は光コード外皮の損傷,又は過度な変形がない

ことを確認する。 

試験の厳しさの程度 

試験の厳しさの程度は,引張力の大きさ及び±90度の曲げサイクル数の二つの項目で規定する。引張力

の大きさ及び±90度の曲げサイクル数の推奨値は,表1による。 

表1−試験の厳しさの程度(推奨値) 

環境カテゴリ a) 

供試品タイプ 

引張力b) 

曲げサイクル数 

屋内環境(カテゴリC) 

光ファイバコード付き光ファ
イバコネクタプラグ 

100 

屋内環境(カテゴリC) 

光ファイバコード付き光受動
部品 

30 

屋外環境及び劣悪環境 
(カテゴリU及びカテゴリE) 

光ファイバコード付き光ファ
イバコネクタプラグ 

100 

屋外環境及び劣悪環境 
(カテゴリU及びカテゴリE) 

光ファイバコード付き光受動
部品 

30 

厳しい屋外環境 
(カテゴリO) 

光ファイバコード付き光受動
部品 

30 

光ファイバ素線及び光ファイ
バ心線付き光受動部品 

30 

厳しい屋外環境 
(カテゴリO) 

光ファイバコード付き光ファ
イバコネクタプラグ 

8.9 

100 

光ファイバコード付きSFFコ
ネクタプラグc) 

5.9 

100 

注記 対応国際規格の表1では,一部の環境カテゴリ及び供試品タイプだけ注b)が適用されている。しかし,注b)

の規定は,全ての環境カテゴリ及び供試品タイプが対象であるため,注b)の参照位置を引張力とした。 

注a) 環境カテゴリは,IEC 61753-1に記載されている。 

b) 試験装置の曲げ位置から引張力を印加する位置までの距離は,20 cm〜30 cmとする。 

c) SFFコネクタプラグは,IEC 60874-1に記載されている。IEC 60874-1は,直径が2 mm以下のフェルールを

用いた光コネクタプラグで構成する光ファイバコネクタ,及び/又は2本以上の光ファイバを実装する場合,
光ファイバをRJ-45コネクタ以上の実装密度をもつ光コネクタプラグと規定している。 

個別に規定する事項 

次の事項を必要に応じて製品規格などに規定する。 

− 引張力の大きさ 

− 曲げサイクル数 

− 供試品光ファイバ(種類,長さなど) 

− 初期検査及び初期測定の項目及び要求性能 

− 試験中の光損失変動の許容値 

− 最終検査及び最終測定の項目及び要求性能 

− 合否判定基準 

− この試験方法との差異 

C 61300-2-44:2015 (IEC 61300-2-44:2013) 

  

参考文献 IEC 60874-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Connectors for optical 

fibres and cables−Part 1: Generic specification 

IEC 61753-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part 

1: General and guidance for performance standards