C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 発熱がない供試品及び発熱がある供試品の区分 ······································································ 2
4.1 一般 ···························································································································· 2
4.2 試験槽内の高風速条件又は低風速条件の確認 ······································································· 2
4.3 発熱がない供試品の試験 ································································································· 3
4.4 発熱がある供試品の試験 ································································································· 3
4.5 温度モニタリング ·········································································································· 3
4.6 包装 ···························································································································· 3
4.7 図表による説明 ············································································································· 3
5 試験方法 ························································································································· 4
5.1 一般事項 ······················································································································ 4
5.2 試験Ab：発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試験 ···································· 4
5.3 試験Ad：初期の温度安定後に通電する，発熱がある供試品に対する緩やかな温度変化を伴う
低温試験······················································································································· 4
5.4 試験Ae：全試験時間を通じて通電する，発熱がある供試品に対する緩やかな温度変化を伴う
低温試験······················································································································· 4
6 試験手順 ························································································································· 5
6.1 性能確認 ······················································································································ 5
6.2 有効空間 ······················································································································ 5
6.3 熱放射 ························································································································· 5
6.4 強制冷却した供試品 ······································································································· 5
6.5 取付け ························································································································· 5
6.6 厳しさ ························································································································· 5
6.7 前処理 ························································································································· 6
6.8 初期測定 ······················································································································ 6
6.9 試験 ···························································································································· 6
6.10 中間測定 ····················································································································· 6
6.11 試験終了時の温度こう配 ································································································ 6
6.12 後処理 ························································································································ 6
6.13 最終測定 ····················································································································· 6
7 製品規格に規定する事項 ···································································································· 6
8 試験報告書に記載する事項 ································································································· 7
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007) 目次
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，財団法人日本電子
部品信頼性センター (RCJ) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格
を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格
である。これによって，JIS C 60068-2-1 : 1995は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 60068の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 60068-1 通則
JIS C 60068-2-1 第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
JIS C 60068-2-2 第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
JIS C 60068-2-6 第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
JIS C 60068-2-7 加速度（定常）試験方法
JIS C 60068-2-11 塩水噴霧試験方法
JIS C 60068-2-13 減圧試験方法
JIS C 60068-2-17 封止（気密性）試験方法
JIS C 60068-2-18 第2-18部：耐水性試験及び指針
JIS C 60068-2-20 はんだ付け試験方法
JIS C 60068-2-21 第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
JIS C 60068-2-27 衝撃試験方法
JIS C 60068-2-29 バンプ試験方法
JIS C 60068-2-30 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
JIS C 60068-2-31 面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験方法
JIS C 60068-2-32 自然落下試験方法
JIS C 60068-2-38 温湿度組合せ（サイクル）試験方法
JIS C 60068-2-39 第2-39部：低温，減圧及び高温高湿一連複合試験
JIS C 60068-2-40 低温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-41 高温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-42 接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
JIS C 60068-2-43 接点及び接続部の硫化水素試験方法
JIS C 60068-2-45 耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
JIS C 60068-2-46 接点及び接続部の硫化水素試験−指針
JIS C 60068-2-47 第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
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JIS C 60068-2-48 第2-48部：保存の影響をシミュレートするために，環境試験方法に関するJIS規格
群の試験を適用する場合の指針
JIS C 60068-2-49 接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
JIS C 60068-2-50 発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温／振動（正弦波）複合試験
JIS C 60068-2-51 発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温／振動（正弦波）複合試験
JIS C 60068-2-52 塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウム水溶液）
JIS C 60068-2-53 発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温／振動（正弦波）複合試験の指針
JIS C 60068-2-54 はんだ付け性試験方法（平衡法）
JIS C 60068-2-57 時刻歴振動試験方法
JIS C 60068-2-58 表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性
試験方法
JIS C 60068-2-59 サインビート振動試験方法
JIS C 60068-2-60 混合ガス流腐食試験
JIS C 60068-2-61 一連耐候性試験
JIS C 60068-2-64 広帯域ランダム振動試験方法及び指針
JIS C 60068-2-65 第2-65部：音響振動
JIS C 60068-2-66 高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）
JIS C 60068-2-67 基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験
JIS C 60068-2-68 砂じん（塵）試験
JIS C 60068-2-69 第2-69部：試験−試験Te：表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性試験方法（平衡
法）
JIS C 60068-2-70 第2-70部：指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
JIS C 60068-2-75 第2-75部：ハンマ試験
JIS C 60068-2-77 表面実装部品 (SMD) の本体強度及び耐衝撃性試験方法
JIS C 60068-2-78 第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
JIS C 60068-2-80 第2-80部：混合モード振動試験方法（試験記号：Fi）
JIS C 60068-2-81 第2-81部：衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
JIS C 60068-2-82 第2-82部：試験−試験XW1：電気・電子部品のウィスカ試験方法
JIS C 60068-3-1 低温試験及び高温試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-2 第3-2部：温度／減圧複合試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-3 機器の耐震試験方法の指針
JIS C 60068-3-4 第3-4部：高温高湿試験の指針
JIS C 60068-3-5 第3-5部：温度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-6 第3-6部：支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-7 第3-7部：支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験（試験A）及び高温試験
（試験B）の試験槽の温度測定のための指針
JIS C 60068-3-8 第3-8部：振動試験方法の選択の指針
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日本工業規格 JIS
C 60068-2-1：2010
(IEC 60068-2-1：2007)
環境試験方法−電気・電子−第2-1部：
低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
Environmental testing-Part 2-1 : Tests-Test A : Cold
序文
この規格は，2007年に第6版として発行されたIEC 60068-2-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，発熱がない供試品及び発熱がある供試品に適用する低温（耐寒性）試験（以下，低温試験
という。）について規定する。発熱がない供試品に適用する試験Ab及び発熱がある供試品に適用する試験
Adについては，旧規格と同じである。全試験時間中に通電があり，発熱がある供試品に適用する試験Ae
を新たに追加した。
注記1 従来の試験Aa及び試験Acは，廃止した。
低温試験の目的は，部品，機器又は製品を低温で使用，輸送又は保管することができる能力を調べるこ
とである。
注記2 この試験は，耐久性試験又は信頼性試験を目的としたものではない。
この試験は，供試品が温度の変化に対して耐える能力又は変化中に正常動作する能力を評価するための
ものではない。その場合は，JIS C 0025を適用する。
低温試験を，次の三つに分類する。
− 発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試験：試験Ab
− 初期の温度安定後に通電する，発熱がある供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試験：試験Ad
− 全試験時間を通じて通電する，発熱がある供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試験：試験Ae
この規格で規定する試験方法は，通常，試験中に温度安定に達した供試品を対象とする。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60068-2-1 : 2007，Environmental testing−Part 2-1 : Tests−Test A : Cold (IDT)
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
2
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
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JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1 : 1988，Environmental testing−Part 1 : General and guidance (IDT)
JIS C 60068-3-1 環境試験方法−電気・電子−低温試験及び高温試験を理解するための必す（須）情
報
注記 対応国際規格：IEC 60068-3-1，Environmental testing−Part 3 : Background information−Section
One : Cold and dry heat tests (IDT)
JIS C 60068-3-5 環境試験方法−電気・電子−第3-5部：温度試験槽の性能確認の指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-3-5，Environmental testing−Part 3-5 : Supporting documentation and
guidance−Confirmation of the performance of temperature chambers (IDT)
JIS C 60068-3-7 環境試験方法−電気・電子−第3-7部：支援文書及び指針−負荷がある場合の低温
試験（試験A）及び高温試験（試験B）の試験槽の温度測定のための指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-3-7，Environmental testing−Part 3-7 : Supporting documentation and
guidance−Measurements in temperature chambers for tests A and B (with load) (IDT)
IEC 60068-5-2，Environmental testing−Part 5-2 : Guide to drafting of test methods−Terms and definitions
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，IEC 60068-5-2によるほか，次による。
3.1
低風速条件 (low air velocity in the working space)
試験条件を保持するのに十分な大きさの試験槽内の空気の流れによる風速が低い場合。供試品のいかな
る点の温度も空気循環の影響によって5 K以内に収まる程度の風速（可能ならば，風速が0.5 m/sを超えな
い。）。
3.2
高風速条件 (high air velocity in the working space)
試験条件を保持するのに十分な大きさの試験槽内の空気の流れによる風速が高い場合。供試品のいかな
る点の温度も空気循環の影響によって5 Kを超えて低下する程度の風速。
4
発熱がない供試品及び発熱がある供試品の区分
4.1
一般
温度試験槽は，JIS C 60068-3-5及びJIS C 60068-3-7に従って製造及び検証したものを使用しなければな
らない。
高温試験及び低温試験に関する詳細事項はJIS C 60068-3-1に，一般事項はJIS C 60068-1による。
供試品の温度が安定した後，自由空間状態（低風速条件）で測定した供試品表面の最高温度点の温度と
周囲温度との差が5 Kを超えるとき，供試品は発熱をしているとみなす（JIS C 60068-1の4.8参照）。製品
規格で保管試験若しくは輸送試験を規定する場合，又は試験中負荷をかけないことを規定する場合は，試
験Abを適用する。
4.2
試験槽内の高風速条件又は低風速条件の確認
測定及び試験のための標準大気状態（JIS C 60068-1参照）で強制的な空気循環がなく風速が0.2 m/s未
満の状態で，供試品の電源を入れるか又は供試品に規定した電気的負荷をかける。
供試品の温度が安定したとき，供試品の上又は周辺の代表的な数箇所の温度を，適切なモニタリング装
3
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
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置を用いて測定しなければならない。各点の温度上昇値を記録しなければならない。
試験槽の空気を循環させて槽内の温度が安定した後，再度供試品の上又は周辺の代表的な数箇所の温度
を測定する。空気循環がない状態での測定値と5 K（又は製品規格で規定した温度）を超える温度差があ
る場合には，測定温度を試験報告書に記録し，試験槽は高風速条件とみなす。その後，供試品の電源を切
り，すべての電気的負荷を取り除く。
4.3
発熱がない供試品の試験
緩やかな温度変化を伴う試験Abでは，試験槽内が室温に達した後に供試品を槽内に入れる。その後，
温度変化によって供試品が有害な影響を受けないように，槽内の温度を緩やかに下げる。供試品の温度が
安定するまでの時間を短縮するためには，高風速条件にするのがよい。
4.4
発熱がある供試品の試験
試験Ad及び試験Aeは，発熱がある供試品を低風速条件で試験する方法である。この試験では，供試品
内部の局所的な発熱点が，実際に設置して使用する場合と同様に現れる。
4.5
温度モニタリング
試験槽内の空気温度は，供試品の発熱の影響が無視できる位置に設置した温度センサによって測定しな
ければならない。測定は，熱放射の影響を受けないように注意することが望ましい。詳細な情報は，JIS C
60068-3-5による。
4.6
包装
保管及び輸送のための試験を行う場合，包装した状態で試験することがある。しかし，これらの試験は
定常状態の試験であるため，包装状態の供試品は，最終的には試験槽の温度になる。製品規格で包装した
状態の試験を規定しない場合又は発熱体を包装に含まない場合には，包装から取り出して試験する。
4.7
図表による説明
試験方法を選択しやすくするために，低温試験のブロックダイヤグラムを図1に示す。
図1−試験A：低温試験のブロックダイヤグラム
試験A：低温試験
試験Ab
（5.2参照）
試験Ad
（5.3参照）
試験Ae
（5.4参照）
全試験時間を通じ
て通電があるか？
供試品が
発熱するか？
いいえ
いいえ
はい
はい
4
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
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5
試験方法
5.1
一般事項
試験Ab，試験Ad及び試験Aeは類似した試験である。これらの違いを5.2.2，5.3.2及び5.4.2に示す。
箇条6以降に示すその他の試験手順はいずれも同じである。試験槽内の温度が変化する割合は，5分以内
の平均で毎分1 K以下でなければならない。製品規格では，試験中の供試品の機能を規定しなければなら
ない。
供試品に冷却装置が付いている場合には，製品規格の要求事項に従うように注意しなければならない。
5.2
試験Ab：発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試験
5.2.1
目的
この試験は，温度が安定するまで十分な時間，低温にさらされる発熱がない供試品に適用する。
5.2.2
試験の概要
供試品を試験室内の温度と等しい温度の試験槽に置く。その後，槽内温度を製品規格に規定する厳しさ
の温度に調整する。供試品の温度が安定してから，規定の時間放置する。動作が必要な供試品の場合は（発
熱がある供試品ではないが），電源を供給し，必要に応じて機能試験を行う。製品規格に規定した時間によ
っては，温度が安定するまでの時間が更に必要となったり，供試品が低温条件にさらされることがある。
試験中の供試品は，通常は非動作状態とする。
この試験は，通常は高風速条件による空気循環で行う。
5.3
試験Ad：初期の温度安定後に通電する，発熱がある供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試
験
5.3.1
目的
この試験は，温度が安定するまで十分な時間，低温にさらされる発熱がある供試品に適用する。
5.3.2
試験の概要
必要に応じて，試験槽が低風速条件を実現できることを確認する。供試品を試験室内の温度と等しい温
度の試験槽に置く。その後，槽内温度を製品規格に規定する厳しさの温度に調整する。
供試品の温度が安定した後，供試品の電源を入れ，再び安定させ，規定の時間放置する。供試品は，製
品規格に規定するデューティサイクル及び負荷条件（適用する場合）に従った動作状態に保持しなければ
ならない。
この試験では，通常，低風速条件による空気循環で行う。
5.4
試験Ae：全試験時間を通じて通電する，発熱がある供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試
験
5.4.1
目的
この試験は，全試験時間を通じて通電があり，温度が安定するまで十分な時間，低温にさらされる発熱
がある供試品に適用する。
5.4.2
試験の概要
必要に応じて，試験槽が低風速条件を実現できることを確認する。供試品を試験室内の温度と等しい温
度の試験槽に置く。その後，供試品は電源を入れるか又は電気的負荷をかけ，製品規格に従って機能して
いるかどうか確認する。その後，槽内温度を製品規格に規定する厳しさの温度に調整する。
供試品の温度が安定した後，供試品を規定の時間放置する。
この試験では，通常，低風速条件による空気循環で行う。
5
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5.4.3
供試品への通電
供試品は，電源を入れるか又は電気的負荷をかけ，製品規格に従って機能しているかどうかを確認する。
供試品は，製品規格に規定するデューティサイクル及び負荷条件（適用する場合）に従った動作状態に
保持しなければならない。
6
試験手順
6.1
性能確認
JIS C 60068-3-5に，温度試験槽の性能確認の指針を示す。JIS C 60068-3-1に，低温試験（試験A）及び
高温試験（試験B）を理解するための指針を示す。
試験槽は，供試品の寸法及び発熱量に対して十分大きくなければならない。
6.2
有効空間
供試品の大きさは，試験槽の有効空間内に完全に入らなければならない。
供試品に伝わる空気の温度は，定常状態の間は試験温度の±2 K以内でなければならない。有効空間内
の空気の温度は，4.5に従って測定する。
試験槽の大きさによっては，試験温度の許容値を維持できないことがあるので，許容値は−25 ℃以上は
±3 Kに，−65 ℃以上は±5 Kに拡張してもよい。許容値を拡張した場合，試験報告書に記載しなければ
ならない。
6.3
熱放射
供試品からの熱放射の影響は，最小限にしなければならない。通常，供試品からの加熱要素又は冷却要
素を遮へいすることによって，試験槽内壁面の温度調整した空気の温度と大差ないことを保証する。
6.4
強制冷却した供試品
製品規格には，供試品を冷却する媒体の特性を規定しなければならない。冷却媒体が空気の場合，油に
よる汚染がなく，かつ，湿度の影響がないように十分乾燥していることに注意を払わなければならない。
6.5
取付け
熱伝導並びにその他の取付け及び供試品の接続に関する特性は，製品規格に規定することが望ましい。
供試品を特定の取付用品と一緒に使用する場合，これらを供試品に取り付けて試験を行う。
6.6
厳しさ
厳しさを試験温度及び試験時間によって表し，製品規格に規定する。これらの値は，次のいずれかによ
る。
a) 6.6.1及び6.6.2に示す値から選択する。
b) a)の値から大きく外れる場合には，既知の環境から求める。
c) その他の既知の関連データの出典から求める（例えば，JIS C 60721規格群）。
6.6.1
試験温度
−65 ℃
−55 ℃
−50 ℃
−40 ℃
−33 ℃
−25 ℃
−20 ℃
−10 ℃
− 5 ℃
＋ 5 ℃
6.6.2
試験時間
2 h
16 h
72 h
96 h
この試験方法を耐久性又は信頼性に関する試験の一環として用いる場合の試験時間は，それらを規定す
る製品規格に従わなければならない。
6
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.7
前処理
前処理は，製品規格の規定による。
6.8
初期測定
供試品の初期状態を把握しておかなければならない。製品規格の規定に基づき，供試品の外観目視検査
及び／又は機能試験を行う。
6.9
試験
供試品は，製品規格に規定した試験時間中，低温状態に放置する。ただし，供試品の温度が安定しない
場合には，試験時間は供試品の通電開始時間からとする。これは，デューティサイクルの長い供試品で起
こることがある。
6.10 中間測定
製品規格には，供試品を試験槽内に置いたまま，試験中又はその終わりに負荷をかけること及び／又は
測定することを規定してもよい。
測定を行う場合，製品規格にその測定方法，及び測定時期又は測定間隔を規定する。供試品を測定のた
めに試験槽から取り出してはならない。
規定の試験時間終了前に，供試品の性能を確認する場合には，中間測定ごとに供試品を用意する。また，
後処理及び最終測定は，供試品ごとに別々に行うことが望ましい。
6.11 試験終了時の温度こう配
供試品を試験中に動作状態又は負荷接続状態に置いた場合，後処理までの全試験時間中を通じて通電す
る試験Aeを除いて，温度を上げる前に供試品の電源を切るか又は無負荷状態にしなければならない。
規定の試験時間の終わりに，供試品を試験槽内に置いたまま，槽内温度を標準大気状態の範囲内まで徐々
に上げる。試験槽内の温度変化の割合は，5分以内の平均で毎分1 K以下でなければならない。
6.12 後処理
供試品は試験槽内又は適切とみなされる場所で，後処理を行う。必要があれば，供試品にダメージを与
えないように，適切な方法で水滴を取り除いてもよい。
供試品の温度が安定するまでに必要な時間，1時間以上は，後処理のために標準大気状態に放置する。
製品規格に規定があれば，供試品は後処理時間中，電源を入れるか又は負荷をかけ，連続測定しなけれ
ばならない。
標準大気状態が供試品を試験するのに適切でない場合，製品規格に他の後処理を規定してもよい。
6.13 最終測定
製品規格の規定に基づき，供試品の外観目視検査及び／又は機能試験を行う。
7
製品規格に規定する事項
低温試験を製品規格で規定する場合，できる限り次の事項を記載する。
a) 試験の種類
b) 前処理
c) 初期測定
d) 取付けの詳細又は支持材
e) 温度調整の間の冷却システムを含めた供試品の状態
f)
厳しさ（試験温度及び時間）
g) 温度こう配
7
C 60068-2-1：2010 (IEC 60068-2-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
h) 温度調整の間の測定及び／又は負荷
i)
通常と異なる場合の後処理
j)
最終測定
k) 顧客と供給者との間で合意した手順上の変更事項
l)
低風速条件が維持できない場合の温度差（4.2参照）
8
試験報告書に記載する事項
試験報告書には，最低限次の項目を記載しなければならない。
a) 顧客
（名称及び所在地）
b) 試験所
［名称及び所在地，認定状況（ある場合）］
c) 試験日
d) 試験の種類
（試験記号Ab，Ad又はAe）
e) 試験の目的
（開発試験，認証試験など）
f)
試験規格，発行年
（JIS C 60068-2-1及び20XX年）
g) 試験所の試験手順書
（手順書番号及び版）
h) 供試品の記述
（図面，写真，数量など）
i)
試験槽の詳細
（製造元，型番，製造番号など）
j)
試験装置の性能
（温度制御設定値，エアフローなど）
k) 風速及び向き
（供試品に当たる風の風速及び向き）
l)
測定系の不確かさ
m) 校正データ
（前回及び次回の校正日）
n) 初期測定，中間測定及び最終測定
o) 要求する厳しさ
（製品規格による）
p) 試験の厳しさ
（測定点，データなど）
q) 供試品の性能
（機能試験の結果など）
r) 試験中の観察事項及び行った処置
s)
試験の要約
t)
配布先
注記 試験報告書に添付できるように，試験記録を残すとよい。
参考文献 JIS C 0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14，Basic environmental testing Procedures−Part 2-14 : Test
N : Change of temperature及びIEC 60068-2-33，Basic environmental testing Procedures−
Part 2-33 : Tests, Guidance on change of temperature（全体評価：MOD）
JIS C 60721（規格群） 環境条件の分類
注記 対応国際規格：IEC 60721 (all parts)，Classification of environmental conditions (IDT)