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日本工業規格          JIS 

 

B 8310-1985 

 

 

ポンプの騒音レベル測定方法 

Methods of A-weighted Sound Pressure Level Measurement for Pumps 

 

 

1. 適用範囲 この規格は,ターボポンプ(水中モーターポンプを除く。),ロータリ形ポンプ,往復ポン

プ(油圧ポンプを除く。)の各ポンプに適用し,ポンプ本体から放射する定常的な騒音の騒音レベル(1)を測

定する方法について規定する。 

注(1) 定常的な騒音の騒音レベルとは,8dB以内の変動で5分間以上継続し,その平均値が計測中ほぼ

一定とみなすことができるものをいう。 

引用規格: 

JIS B 8301 遠心ポンプ,斜流ポンプ及び軸流ポンプの試験及び検査方法 

JIS B 8311 往復ポンプの試験及び検査方法 

JIS B 8312 歯車ポンプ及びねじポンプの試験及び検査方法 

JIS C 1502 普通騒音計 

JIS C 1505 精密騒音計 

JIS Z 8106 音響用語(一般) 

JIS Z 8731 騒音レベル測定方法 

 

2. 用語の意味 この規格で用いる主な用語の意味は,JIS Z 8106[音響用語(一般)]によるほか,次に

よる。 

(1) 騒音レベル JIS C 1502(普通騒音計),JIS C 1505(精密騒音計)に規定のもの,又はこれらと同等

以上の性能をもつ測定器で測定した値 [dB (A) ] (2)。 

注(2) 騒音レベルLAは10log10 (pA2/po2) で定義された値。ここで,pAはJIS C 1502又はJIS C 1505に規

定してあるA特性で重みを付けた音圧の実効値,poは基準音圧20

洀倀愀

2×10−5N/m2) とする。

騒音レベルLAの単位はデシベル,単位記号はdB。ただし,この規格ではA特性で重みを付け

た値であることを明示するためにdB (A) と記す。 

(2) 騒音のバンド音圧レベル ある周波数範囲における騒音の成分を音圧レベル(3)で表したもの。 

注(3) 音圧レベルLpは10log10 (p2/po2) で定義された値。単位はデシベル,単位記号はdB。ここでpは,

その音の音圧の実効値,poは基準音圧20

洀倀愀

2×10−5N/m2) とする。 

(3) 暗騒音 測定対象音がないときの,その測定点における騒音。 

(4) 音源 ケーシング,吸込口,吐出し口など,騒音を放射する源。 

(5) 基準音源 測定周波数範囲で,十分かつ安定な出力と良好な全指向性をもつ小形の音源で,音場の確

認に使用するもの。 

(6) 測定値 読取値に暗騒音の補正を行った値。 

 


B 8310-1985  

3. 測定項目 規定の運転条件において,ポンプの周囲の騒音レベル [dB (A) ] を測定する。 

参考 騒音のバンド音圧レベルの測定が必要な場合には,後記の参考1による。 

 

4. 測定条件 

4.1 

測定環境 

4.1.1 

測定場所 測定場所は,できるだけ床面以外のものからの音の反射がなく,また,次のいずれかの

条件を満足するものでなければならない。 

(1) 反電動機側の一方向で,ポンプ本体表面から1mと2mの距離における騒音レベルの差,又は0.5mと

1mの距離における騒音レベルの差が5dB以上あること。 

(2) 基準音源を供試ポンプ据え付け場所又はその近傍に置き,基準音源から1mと2mの距離における騒

音レベルの差,又は0.5mと1mの距離における騒音レベルの差が5dB以上あること。 

このような条件を満足しない場合は,測定場所の状態(室内寸法,装置寸法,配置,配管,音場測

定結果など)を特記する。 

4.1.2 

暗騒音 暗騒音は,対象騒音の読取値より10dB以上低いことが望ましいが,やむを得ず指示の差

が4〜9dBのときは,表1によって補正する。 

表1 暗騒音の補正値[JIS Z 8731(騒音レベル測定方法)参照] 

単位 dB 

対象音があるときとないときとの指示の差 

4,5 

6,7,8,9 

補正値 

−2 

−1 

4.2 

運転条件 騒音の測定は,原則として規定回転数,規定吐出し量(4)で行う。やむを得ず規定の条件

以外で測定する場合は,受渡当事者間の協定を行い,その運転条件を明記する。 

注(4) 規定回転数及び規定吐出し量の設定許容値は,それぞれ5%以内とする。 

 

5. 測定器及び試験装置 

5.1 

測定器 測定器は,JIS C 1502に規定の普通騒音計(又はJIS C 1505の精密騒音計)又はこれと同

等以上の性能をもつ測定器(以下,総称して騒音計という。)でなければならない。 

5.2 

試験装置 試験装置は,該当するポンプ試験方法に関する規格(5)による。 

なお,次の点に注意して設置する。 

注(5) JIS B 8301(遠心ポンプ,斜流ポンプ及び軸流ポンプの試験及び検査方法) 

JIS B 8311(往復ポンプの試験及び検査方法) 

JIS B 8312(歯車ポンプ及びねじポンプの試験及び検査方法) 

(1) 工場試験では,吐出し弁の取付位置は,できるだけポンプから遠ざけることが望ましい。 

(2) 試験用電動機及び変速装置で,その発生騒音が大きい場合には,それらの騒音を減らすような処置が

望ましい。ただし,大形電動機などでその処置が容易でない場合は,受渡し当事者間の協定による。 

(3) 吸込配管及び吐出し配管からの発生騒音が大きい場合には,それらの騒音を減らすような処置が望ま

しい。 

(4) その他の試験設備からの発生騒音については,できるだけその影響を除くことが望ましい。 

 

6. 測定方法 

6.1 

測定方法 測定方法は,次による。 


B 8310-1985  

(1) 騒音計の周波数補正回路は,A特性を使用する。 

(2) 単位はdB (A) とする。 

(3) 騒音試験に先立って,測定点の暗騒音を測定する。 

(4) 騒音計のマイクロホンを,音源の方向に向ける。 

(5) 騒音計の動特性は,原則として遅い動特性 (SLOW) を使用する。 

(6) 騒音レベルの読取値は,指示値に最も近い整数値とする。 

なお,指示値が変動する場合は,指針の振れの平均値をとる。 

備考1. 騒音計は,測定の前後に校正を行う。 

2. 測定は,床面以外の測定者自身を含むあらゆる固体表面からの反射の影響をできるだけ少な

くするように注意する。 

6.2 

測定位置 測定位置は,次による。 

(1) 代表的なポンプの騒音測定位置を図1〜10に示す。他もこれに準じる。 

(2) 電動機の周囲の騒音は,(3)及び(4)に準じて測定する。 

(3) マイクロホンの位置は,ポンプの幾何学的中心に向かった直線上でポンプ本体表面から1mとする。 

(4) マイクロホン高さは,次による。 

(a) 横軸ポンプについては,軸心高さ又はマイクロホン下の床面から0.5mのいずれか高い方をとる。 

(b) 立軸ポンプについては,槽内形の場合は吐出し管中心高さとし,槽外形の場合はポンプの幾何学的

中心高さとする。また,電動機側は,その幾何学的中心高さとする(6)。 

注(6) マイクロホン高さが著しく高くなり,測定に危険を伴う場合には,受渡し当事者間の協定

によって省略することができる。 


B 8310-1985  

 

図1 片吸込渦巻ポンプ 

図2 両吸込渦巻ポンプ 

 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホ

ンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイ

クロホンの方向を示す。 

2. マイクロホン下の床面からの軸心高さが0.5m

以下の場合には,マイクロホン高さは0.5mと
する。 

3. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測

定位置を示す。 

備考 図1の備考1.〜3.による。 

 


B 8310-1985  

図3 多段遠心ポンプ 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

2. マイクロホン下の床面からの軸心高さが0.5m以下の場合には,マイクロ

ホン高さは0.5mとする。 

3. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。 


B 8310-1985  

図4 軸流又は斜流ポンプ 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

2. マイクロホン下の床面からの軸心高さが0.5m以下の場合には,マイクロホン高さは0.5mとす

る。 

3. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。 

図5 往復ポンプ 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

2. マイクロホン下の床面からの軸心高さが0.5m以下の場合には,マイクロ

ホン高さは0.5mとする。 

3. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。 


B 8310-1985  

図6 立軸ポンプ(一床式) 

 

備考1. 

 はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホン

の方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイク

ロホンの方向を示す。 

2. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定

位置を示す。 


B 8310-1985  

図7 立軸ポンプ(2床式) 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を

示す。 

2. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。 
3. 電動機架台のため上記位置で測定できない場合には,周方向に

ずらしてよい。 


B 8310-1985  

図8 横軸形直動片吸込遠心ポンプ 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

2. マイクロホン下の床面からの軸心高さが0.5m以下の場合には,マイクロホン高さ

は0.5mとする。 

3. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。 


10 

B 8310-1985  

図9 インライン形直動片吸込遠心ポンプ 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

2. P−1の高さは吸込管と,吐出し管の中心高さとする。 

なお,この高さは0.5m以下でもよい。 

3. 横軸にして測定する場合には,図8の測定位置による。 


11 

B 8310-1985  

図10 電動機防音カバー付の例 

 

 

備考1. 

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。 

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示

す。 

2. マイクロホン下の床面からの軸心高さが0.5m以下の場合には,マ

イクロホン高さは0.5mとする。 

3. ※印は,参考1のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。 

 

7. 記録方法及び様式 

7.1 

記録方法 測定結果には,測定値と測定位置を示し,代表騒音レベル(7)も併せて表示する。 

なお,電動機周囲の測定値と測定位置は,参考として表示する。 

また,ポンプ形式,吐出し量,全揚程,回転数,電動機仕様,液質,測定器名称などを付記する。必要

がある場合は,測定場所の略図を示し,音場の測定結果とともに特記欄に付記する。 

注(7) 代表騒音レベルとは,次の式で表す値をいう。 

n

L

An

A

A

L

L

L

10

1.0

1.0

1.0

10

A

log

10

)

10

10

10

(

log

10

2

1

 

ここに, 

A

L: 代表騒音レベル [dB (A) ]  

LA1,LA2,…LAn: 測定値 [dB (A) ]  

 

n: 測定値の数 

7.2 

記録様式 記録様式は,表2による。 


12 

B 8310-1985  

表2 ポンプ騒音測定記録 

 


13 

B 8310-1985  

参考1 騒音・バンド音圧レベル測定方法 

1. 測定位置 測定位置は,ポンプ側については本体図1〜10で表示した規定位置に※印を付けた位置と

する。電動機側については,本体図1〜10の電動機側規定位置の中で,騒音レベルが最高の位置とする。 

 

2. 測定器 測定器は,騒音計及びオクターブ又は31オクターブバンド分析器を用いる。バンド中心周波

数は,参考1表による。 

参考1表 オクターブ及び31オクターブバンド中心周波数 

単位 Hz 

オクターブバンド

中心周波数 

63 

125 

250 

500 

1 000 

2 000 

4 000 

 8 000 

3

1オクターブバン

ド中心周波数 

50 

l00 

200 

400 

 800 

1 600 

3 150 

 6 300 

63 

125 

250 

500 

1 000 

2 000 

4 000 

 8 000 

80 

160 

315 

630 

1 250 

2 500 

5 000 

10 000 

備考 騒音計及びオクターブ又は31オクターブバンド分析器は,JIS C 1502(普通騒音計),JIS C 1505

(精密騒音計)及びJIS C 1513(オクターブ及び1/3オクターブバンド分析器)に規定のもの又
はこれと同等以上の性能をもつものとする。 

 

3. 測定方法 測定方法は,次による。 

(1) 騒音計の周波数補正回路は,平たん特性又はC特性を使用する。 

(2) 騒音計の動特性は,原則として遅い動特性 (SLOW) を使用する。 

(3) 測定周波数範囲内での読取値と暗騒音のバンド音圧レベル差が10dB以上あることか望ましい。やむ

を得ずレベル差が4〜9dBのときは,本体の表1によって補正する。 

備考 騒音レベル及びバンド音圧レベルの読取値は,指針の振れの平均値に最も近い整数値とする。 

 

4. 測定結果の表示 測定結果は,測定位置とともに参考1図のように図示する。 


14 

B 8310-1985  

参考1図 騒音のバンド音圧レベル記録様式 

 


15 

B 8310-1985  

参考2 音響パワーレベルの測定方法 

ある音源の音響パワーレベル (Lw) とは,その音響出力 (W) と基準の音響出力 (Wo) との比の常用対数

の10倍をいう。すなわち 

o

W

W

W

L

10

log

10

(単位dB) 

ここに, Woは基準の音響出力すなわち1 (pW) とする。 

備考 ( )は単位記号を表す。 

この測定方法に関しては,ISOとして下記の参考2表のようなものがあるが,ここではポンプの場合に

比較的実用的と考えられるISO 3744(ISO 3746も比較を示す)及びISO DP 3747(これは現在まだ正式の

ISO規格にはなっていない。)を参考のために抄訳して紹介する。 

参考2表 音響パワーレベル測定方法規格一覧表 

ISO規格番号 

精度・等級 

試験環境 

音源体積 

騒音の種類 

測定量 

 3741 

精密級 

残響室 

試験室容積の

1%以下が望ま

しい 

定常,広帯域 

オクターブ又は31オクターブバ

ンドパワーレベル 

 3742 

定常,純音性, 

広帯域 

 3743 

工業級 

特殊残響室 

定常,広帯域, 

狭帯域,純音性 

A特性パワーレベル及びオクタ

ーブバンドパワーレベル 

 3744 

工業級 

屋外又は大きな

室内 

最大寸法15m以

下 

任意 

A特性パワーレベル及びオクタ
ーブ又は31オクターブバンドパ

ワーレベル 

 3745 

精密級 

無響室又は 

半無響室 

試験室容積の

0.5%以下が望ま

しい 

任意 

 3746 

簡易級 

一般的環境 

無制限 

任意 

A特性パワーレベル 

 DP  
 3747 

簡易級,比較法

だけ 

一般的環境,供

試音源は移せな

くてもよい 

最大寸法15m以

下 

定常,広帯域, 

狭帯域,純音性 

オクターブバンドパワーレベル,

自由音場に補正した規定点の音

圧レベル 

備考 騒音データの主要な応用分野は,下記のとおりである (ISO 3740) 。 

騒音制御………精密級(工業級でも十分なことが多い) 
形式試験………工業級 
         形式が異なる機器間………工業級 
機器の騒音比較 
         同形式の機器間……………簡易級 

 

I. 

ISO 3744 : Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources-Engineering methods for free−

field conditions over a reflecting plane(抄訳) 

(ISO 3744:音響−騒音源の音響パワーレベル測定方法−半自由音場における工業的方法) 

I.0.1 関連規格 (省略) 

I.0.2 概要 (省略) 

I.0.3 序文 音源を囲む規定表面上の音圧レベル (sound pressure level) を測定し,これから,音響パワー

レベル (sound power level) を計算する方法を定めたものである。測定環境がISO 3744の規定を満足しない

場合でも,ISO 3746(騒音源の音響パワーレベルの決定)の方法は使用できることが多い。 

I.1 

適用範囲 (省略) 


16 

B 8310-1985  

I.2 

参考文献 (省略) 

I.3 

用語の意味 

I.4 

測定環境 

I.4.1 

一般 (省略) 

I.4.2 

測定環境の判定基準 付録I. Aによる。 

I.4.3 

暗騒音の判定基準 各周波数バンドで対象とする音より最小6dB,できれば10dB以上小さいこと

(ISO 3746では騒音レベルで最小3dB)。 

I.5 

測定器 (省略) 

I.6 

供試品の据付けと運転 (省略) 

I.7 

測定表面上の音圧レベル 

I.7.1 

測定表面 (measurement surface)  

I.7.1.1 

仮定音源表面 (reference surface)  音源を囲む最小寸法の箱状の仮想直方体 

I.7.1.2 

座標系と代表長さd0 d0=[ (0.5 l1) 2+ (0.5 l2) 2+l32]1/2(参考図I.1参照)。 

I.7.1.3 測定表面の形状 

(1) 半径rの半球(参考図I.2及び参考図I.3参照r≧2 d0)。 

(2) 各面が仮定音源表面に平行でその間の距離がdであるような直方体(参考図I.4参照)。 

(3) 仮定音源表面との距離がどの位置でもdになるようなコンフォーマル形状(参考図I.5及び参考図I.6

参照)。 

備考 ISO 3746では,半球と直方体だけを規定。 

I.7.1.4 

測定表面の選定 半球測定表面を通常は優先的に選ぶが,環境などの都合により音源近くで測

定する必要があるときは,直方体測定表面又はコンフォーマル形状測定表面を用いる。この二つの表面で

はコンフォーマル形状の方が精度はよいが,マイクロフォンの位置決めに努力を要する。 

I.7.1.5 

半球測定表面上の基準測定点の位置 付録I.B(参考図I.2及び参考図I.3)に示す。 

備考 ISO 3746では,最大騒音レベルを示す点を含む4測定点(参考図I.7参照)。 

I.7.1.6 

直方体測定表面上の基準測定点の位置 付録I.C(参考図I.4)に示す。 

備考 ISO 3746では,直上及び最大騒音レベルを示す点を含む6測定点(参考図I.8参照)。 

I.7.1.7 

コンフォーマル形状測定表面上の基準測定点の位置 付録I.D(参考図I.5及び参考図I.6)に示

す。 

I.7.2 

追加測定点の位置 次の場合には,基準測定点の他に追加測定点を加えなければならない。 

(1) 基準測定点で計測された音圧レベル読取値の幅(位置による最大読取値と最小読取値との差のデシベ

ル数)が測定点の数を超えたとき。 

(2) 仮定音源表面の寸法のいずれかが2 d以上のとき。 

(3) 音源が強い指向性を示すとき。 

(4) 大きな音源の一部分だけから強い騒音の放射があるとき。 

I.7.3 

測定点を削減してもよい条件 (省略) 

I.7.4 

測定条件 (省略) 

I.8 

表面音圧レベル,音響パワーレベル及び指向係数の計算 以下に示す式では,騒音レベル及びA特

性パワーレベルの計算にはdB (A) ,バンド音圧レベルの計算にはdBの単位記号を使用する。 


17 

B 8310-1985  

I.8.1 

測定表面上の平均音圧レベルの計算 

n

i

L

n

L

1

1.0

10

pm

pi

10

1

log

10

 

 

pm

L

: 測定表面上の平均音圧レベル 

 

Lpi: i番目の測定点のA特性音圧レベル又はバンド音圧レベル 

I.8.2 

表面音圧レベルの計算 

K

L

L

pm

pf=

 

 

pf

L: 表面音圧レベル 

 

K: 環境補正値(測定表面上での平均) 

I.8.3 音響パワーレベルの計算 

)

/

(

log

10

0

10

pf

S

S

L

LW=

 

 

S: 測定表面積 (m2)  

 

S0: 1 (m2)  

I.8.4 

指向係数と指向指数の計算 (省略) 

I.9 

記録資料 (省略) 

I.10 記録様式 (省略) 

付録I. A 測定環境の検定方法 

I.A.1 序文 測定環境の音響的特性を評価する環境補正値Kの決定方法には,次の2種類がある。 

(1) 直接比較法 I.A.3参照 

(2) 残響法 I.A.4参照 

測定環境 

A/S 

補正の要否 

備考 

屋外 

− 

K≦0.5dBとな

るので不要 

アスファルト又はコンクリ
ートなどの地面で,規定範囲
内に障害物がないこと 

屋内 

10<A/S 

不要 

 

6<A/S≦10 

要 

この付録I.Aの手順でKの値
を決定 (K≦2dB)  

A/S≦6 

否 

誤差大,測定表面・環境又は
測定方法を変更すること 

備考 A:測定室の全吸音力(残響法によって定める),S:測定表面の面積 

I.A.2 環境条件 (省略) 

I.A.3 直接比較法 (absolute comparison test)  

I.A.3.1 算出方法 ISO 6926に定められた基準音源 (reference sound source) を測定対象音源の位置に設置

し,この参考2のI.7及びI.8の方法で音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの計算(K=0として)を

行う。 

K=Lwo−Lwr 

 

Lwo: 参考2のI.7及びI.8の方法で,K=0として求められた基準

音源の音響パワーレベル 

 

Lwr: 基準音源の呼び音響パワーレベル 

I.A.3.2 測定室内における基準音源の据付け位置 (省略) 


18 

B 8310-1985  

I.A.3.3 許容基準 環境補正値Kの値は2dB以下でなければならない。 

備考 ISO 3746では7dB (A) 未満。 

I.A.4 残響法 (reverberation test)  

I.A.4.1 算出方法 

S

A

K

/

4

1

log

10

10

 

 

S: 測定表面積 (m2)  

全吸音力Aは,残響時間の測定[ISO/R 354又はJIS A 1409(残響室法吸音率の測定方法)参照]によ

って算出する。 

TV

A

16

.0

 

 

V: 測定室の容積 (m3)  

 

T: 残響時間 (s)  

I.A.4.2 許容基準 A/Sの値は,6を超えていなければならない。 

備考 ISO 3746では1以上。 

付録I.B 半球表面上の測定点の位置 参考図I.2, 参考図I.3及び参考表I.5に示す。No.1〜10は基準測定

点,No.11〜20は追加測定点である。 

ISO 3746の場合を参考図I.7及び参考表I.8に示す。 

付録I.C 直方体表面上の測定点の位置 参考図I.4及び参考表I.6に示す。 

ISO 3746の場合を参考図I.8に示す。 

付録I.D コンフォーマル形状表面上の測定点の位置 参考図I.5,参考図I.6及び参考表I.7に示す。 

付録I.E 適切な測定系の例 

付録I.F 衝撃騒音の検出方法 

付録I.G 半球表面上の測定位置を用いた指向係数と指向指数の計算 


19 

B 8310-1985  

参考図I.1 仮定音源表面と代表長さd0 

 

備考 この図はISO 3744にはないが,説明図として追加したものであ

る。 


20 

B 8310-1985  

参考図I.2 半球測定表面と基準測定点の位置 

r≧2 do 

音源の幾何学的中心から床面までの距離の4倍 

r≧1m 

rは,この中で最も大きいものとするが,更に1−2−4−6−8−10−12−14−16mの中から選ぶのが望ま

しい。 

 

参考表I.5 基準測定点の座標 

No. 

r

r

r

 1 

 −0.99 

  0 

0.15 

 2 

  0.50 

 −0.86 

0.15 

 3 

  0.50 

  0.86 

0.15 

 4 

 −0.45 

  0.77 

0.45 

 5 

 −0.45 

 −0.77 

0.45 

 6 

  0.89 

  0 

0.45 

 7 

  0.33 

  0.57 

0.75 

 8 

 −0.66 

  0 

0.75 

 9 

  0.33 

 −0.57 

0.75 

10 

  0 

  0 

1.00 


21 

B 8310-1985  

参考図I.3 半球表面上の測定点の位置(No.1〜10基準測定点,No.11〜20追加測定点) 

 


22 

B 8310-1985  

参考表I.6 基準測定点の座標 

 No. 

 

 a 

 0 

 h 

a=0.5 l1+d 
b=0.5 l2+d 
c=l3+d 
h=C×c 
C=0.5又は0.5 l3/c 

横軸の場合は,hとして軸心高
さをとる。 

 0 

 b 

 h 

−a 

 0 

 h 

 0 

−b 

 h 

 a 

 b 

 c 

−a 

 b 

 c 

−a 

−b 

 c 

 a 

−b 

 c 

 0 

 0 

 c 

 

参考図I.4 直方体表面上の測定点の位置 

直方体表面及びコンフォーマル表面の場合はdは1mが望ましく,最小でも0.25mとする。かつ,0.25

−0.5−1−2−4−8mの中から選ぶことが望ましい。 

 


23 

B 8310-1985  

参考図I.5 仮定音源表面から距離dのコンフォーマル表面 

 

参考表I.7 基準測定点の座標 

No. 

 

   a 

   0 

h1 

a=0.5 l1+d 
b=0.5 l2−d 
c=l3+d 
h1=0.25 (b+c−d)  
h2=0.75 (b+c−d) ≦c 
b1=0.5 (b+c−d) ≦b 
 

   0 

   b 

h1 

  −a 

   0 

h1 

   0 

  −b 

h1 

   a/2 

   b1 

h2 

  −a/2 

   b1 

h2 

  −a/2 

  −b1 

h2 

   a/2 

  −b1 

h2 


24 

B 8310-1985  

参考図I.6 コンフォーマル表面上の測定点の位置 

 


25 

B 8310-1985  

参考図I.7 ISO 3746による半球測定表面上の測定点の位置 

rはl1,l2,l3の中最大のものの2倍以上とし,これを等しいか,これを次に上回る次の整数値とする。1,

2,4,6,8,10,12,14又は16m 

 

参考表I.8 測定点の座標 

 

高さ 

z=0.6 r 

No. 

r

r

r

  0.8 

  0.0 

0.6 

  0.0 

  0.8 

0.6 

 −0.8 

  0.0 

0.6 

  0.0 

 −0.8 

0.6 

備考 参考図I.7及び参考表I.8の番号は,ISO 3744又はISO 3746の番号とは合っていない。 


26 

B 8310-1985  

参考図I.8 ISO 3746による直方体表面上の測定点の位置 

 

備考 この図の番号は,ISO 3744又はISO 3746の番号とは合っていない。 

 

II. ISO DP 3747 : Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Survey method using a 

reference sound source(抄訳) 

(ISO DP 3747:音響−騒音源の音響パワーレベル測定方法−基準音源使用の簡易級方法) 

備考 箇条番号及び図,表の番号は原ISO規格の番号と合わせたものとなっており,その頭にII.を付

けてある。 

II.0.1 関連規格 (省略) 

II.0.2 概要 (省略) 

II.0.3 序文 この方法は,供試音源の測定を行う場所で,特性の知られた基準音源を用いて音圧レベル測

定を行うことによって測定場所の影響による補正値を求め,これを供試音源の測定値に適用して,測定場

所の影響を差し引いた音圧レベルを求め,この結果から音響パワーレベルを算出するものである。 

II.1 適用範囲 

II.1.2.2 音源の大きさ 最大寸法が15m以下のものに適用 

II.2 参考文献 

II.3 用語の意味 

II.3.1 基準音源 (reference sound source)  定常の広帯域騒音を出す音源で十分な音響パワーレベルを有

し,半自由音場で高精度で校正されたもの (ISO 6926) 。 

II.4 測定環境 


27 

B 8310-1985  

II.4.2 暗騒音に対する基準 定常暗騒音のA特性騒音レベルは,測定する騒音源及び基準音源のA特性

騒音レベルのいずれよりも3dB以上小さくなくてはならない。 

II.5 測定器 

II.5.3 基準音源 ISO 6926の全規程に合うものであること。 

II.6 供試品の据付けと運転 

II.6.2 基準音源 供試音源は移動できないことが多いので,この規格では基準音源を供試音源の上又は横

に並置する方法を含んでいる。 

II.7 測定表面上の音圧レベル 

II.7.1 仮定音源表面と測定表面(参考図II.1〜II.10) 仮定音源表面 (reference surface) −音源を囲む最

小寸法の仮想直方体(1面又はそれ以上の反射面に接する) 

測定表面 (measurement surface) −面積Sの仮想表面で音源と仮定音源表面を含み,一つ又はそれ以上の

反射面で終わる。仮定音源表面との間隔dは一般には1mとし,1m未満にはしない。 

II.7.2 マイクロホン位置 

II.7.2.1 概要 (省略) 

II.7.2.2 マイクロホン位置の数 

II.7.2.2.1 1反射面の場合 最小5(4基準測定点+1上部測定点)大形音源の場合(水平寸法1.0mを超過

するもの)には測定表面の頂部の角の部分で4測定点を追加(参考図II.6)。 

II.7.2.2.2 1以上の反射面の場合 

II.7.2.2.2.1 4面(2反射面) 各自由表面の中心に1,各面の頂点に各1(参考図II.7) 

II.7.2.2.2.2 3面(3反射面) 各自由表面の中心に1,各面の頂点に1(参考図II.8) 

II.7.2.2.2.3 2面(4反射面) 各自由表面の中心に1,2自由表面の交線の中心に1(参考図II.9) 

II.7.2.2.2.4 1面(5反射面) (参考図II.10) 

II.7.2.2.2.5 0面(6反射面) (参考図II.10) 

II.7.3 基準音源 (RSS) の位置 

II.7.3.1 供試機械の頂部,仮定音源表面の高さl3が1.5 dを超えないときは,優先的にここを選定。 

II.7.3.1.1 仮定音源表面の寸法l1,l2のいずれもが2 dを超えないときはRSSは仮定音源表面の上面1か所

だけとする(参考図II.11)。 

II.7.3.1.2 幅l2は2 dを超えないが長さl1が2 dより大きい場合は,RSSの位置は少なくとも2か所とする。

仮定音源表面の上面のl1方向の中心線上にRSSの位置を等間隔に配置し,その間隔が2 d以上にはならな

いようにする(参考図II.13)。 

II.7.3.1.3 幅l2,長さl1が2 dを超えるときは,RSSの位置は少なくとも4か所とする。これは仮定音源表

面の上面の端近くの2線上に配置し,相互に2 d以上は離れないようにする(参考図II.14)。 

II.7.3.2 供試機械の側面 供試機械の上に設置できない場合だけに適用。仮定音源表面の高さl3が1.5 d

以上の場合だけに適用。 

II.7.3.2.1 RSSの地面からの高さは,H=0.5 (l3+d) (参考図II.12) 

II.7.3.2.2 RSSの位置は最少4か所とし,仮定音源表面の各側面の中央とする。 

II.7.3.2.3 長さl1又は幅l2が3 dを超える場合,RSSの位置は少なくとも2か所とする。これらの位置は 

3 dを超える側面で上述の高さの直線上に規則的に(例えばl/4,3l/4など)配置する。 

II.7.3.2.4 供試機械のマイクロホンを設置しない側面についてはRSSの位置は1か所とする。 


28 

B 8310-1985  

II.7.4 測定法 供試機械運転中に各マイクロホン位置でA特性音圧レベルの測定を行う。また,供試機械

停止中及びRSSがそれぞれ定位置で動作しているときのA特性音圧レベルも測定する。RSSと供試音源

のスペクトルが類似していない場合(附属書II.A参照),各オクターブハンドの音圧レベルも測定する。 

次のデータを入手する。 

(a) 供試音源が運転中の各マイクロホン位置における音圧レベル:Lpi (ST)  

(iはマイクロホン位置を示す。) 

(b) 各マイクロホン位置における暗騒音:Lpi (B)  

(c) 各RSS位置でのRSS発生音を各マイクロホン位置で測定した音圧レベル:Lpij (RSS) (供試機械は停

止中) 

(jはRSS位置を示す。) 

II.7.5 暗騒音に対する補正 (省略) 

II.7.6 環境補正値 (environmental correction) Ki 

(a) RSS位置が1か所の場合 

pr

(RSS)

p

L

L

K=

 

(RSS)

p

L

=10 log10

n

i

L

n

1

0.1

(RSS)

pil

10

1

 

 

Lpil (RSS): II.7.4にII.7.5の補正を行ったもの 

0

10

wr

pr

log

10

S

S

L

L =

(dB) 

 

S: 測定表面の面積 

So=1 (m2)  

Lwr: RSSの校正したPWL 

(b) RSS位置が1か所を超える場合 

Ki=

pr

(RSS)

pi

L

L

 

(RSS)

pi

L

: あるマイクロホン位置iでの全RSS位置からの平均音

圧 

m

j

L

m

L

1

1.0

10

(RSS)

pi

(RSS)

pij

10

1

log

10

 

(RSS)

pij

L

: II.7.4にII.7.5の補正を行ったもの 

II.8 音響パワーレベルの計算 

II.8.1 測定表面上での平均音圧レベルの計算 

N

i

L

N

L

1

1.0

10

pA

pAi

10

1

log

10

 

pA

L: 測定表面上での平均A特性音圧レベル 

LpAi: i番目の測定点におけるA特性音圧レベル 

N: 測定位置の全数 


29 

B 8310-1985  

II.8.2 環境補正した表面音圧レベルの計算 

K

L

L

pA

pAf=

 

pAf

L

: 表面音圧レベル 

K: 反射音の影響による測定表面上での平均環境補正値 

Kは,次によって計算する。 

N

i

K

N

K

1

i

1

 

II.8.3 音響パワーレベルの計算 供試機械のA特性音響パワーレベルLwAは,次によって計算する。 

0

10

pAf

wA

log

10

S

S

L

L

 

II.9 記録資料 (省略) 

II.10 報告資料 (省略) 

付録II.A  スペクトル形状の相似性の決定法 

参考図II.1〜II.5に用いる記号 

 


30 

B 8310-1985  

 

参考図II.1 5面からなる測定表面の代表例 

参考図II.2 4面からなる測定表面の代表例 

 

 


31 

B 8310-1985  

参考図II.3については上面(又は下面)図と側面図を示す。 

参考図II.3 3面からなる測定表面の代表例 

 

参考図II.6 基準 (●) と追加 (○) マイクロホン位置 

(5面からなる測定表面の場合) 

 


32 

B 8310-1985  

参考図II.7 基準 (●) と追加 (○) マイクロホン位置 

(4面からなる測定表面の場合) 

 

参考図II.8 基準 (●) と追加 (○) マイクロホン位置 

(3面からなる測定表面の場合) 

 


33 

B 8310-1985  

参考図II.11 基準音源の基準位置 

l3≦1.5 dの場合 

 

参考図II.12 基準音源の基準位置 

l3>1.5 d 

h=0.5 (l3+d) の場合 

 


34 

B 8310-1985  

参考図II.13 長い供試音源 (L1≧5 d) の場合の基準音源の位置例 

 

参考図II.14 平たんで幅広く長い供試音源 (L2≧5 d) の場合の基準音源の位置例 

 

参考図II.15 長い供試音源 (L1>5 d) でL3≧1.5 d 

(高い供試音源)の場合の基準音源の位置例 

 

参考図II.13〜II.15の注 2d<L1,L2<5dの場合,供試音源位置はL1又はL2の4

1と4

3の2か所だけと

する。