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Z 2345-3:2018  

(1) 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 用語及び定義 ··················································································································· 1 

4 標準試験片の名称,記号及び主な使用目的 ············································································ 2 

5 製造······························································································································· 2 

5.1 材料 ···························································································································· 2 

5.2 材料検査 ······················································································································ 3 

5.3 形状及び寸法 ················································································································ 3 

6 超音波測定 ······················································································································ 7 

6.1 測定に用いる装置 ·········································································································· 7 

6.2 測定方法及び測定条件 ···································································································· 7 

7 合否の判定 ······················································································································ 8 

8 表示······························································································································· 8 

9 適合の証明 ······················································································································ 9 

9.1 STB-G ························································································································· 9 

9.2 STB-N1 ························································································································ 9 

附属書A(規定)試験片の音速測定方法 ·················································································· 10 

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(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本非破壊検査協会(JSNDI)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

これによって,JIS Z 2345:2000は廃止され,その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS Z 2345の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS Z 2345-1 第1部:A1形標準試験片 

JIS Z 2345-2 第2部:A7963形標準試験片 

JIS Z 2345-3 第3部:垂直探傷試験用標準試験片 

JIS Z 2345-4 第4部:斜角探傷試験用標準試験片 

  

日本工業規格          JIS 

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超音波探傷試験用標準試験片− 

第3部:垂直探傷試験用標準試験片 

Standard test blocks for ultrasonic testing- 

Part 3: Standard test blocks for normal ultrasonic testing 

序文 

この規格は,1973年に標準試験片を一括して制定し,その後2000年に改正したJIS Z 2345について,

対応国際規格ISO 2400:2012及び対応国際規格ISO 7963:2006との整合化を考慮して,第1部:A1形標準

試験片,第2部:A7963形標準試験片,第3部:垂直探傷試験用標準試験片及び第4部:斜角探傷試験用

標準試験片として分割して制定したうちの,第3部:垂直探傷試験用標準試験片について規定したもので

ある。 

なお,対応国際規格は現時点で制定されていない。 

適用範囲 

この規格は,主に垂直探傷試験の手動探傷試験に用いる超音波試験装置を校正するための標準試験片に

ついての必要事項を規定する。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS G 3106 溶接構造用圧延鋼材 

JIS G 4051 機械構造用炭素鋼鋼材 

JIS G 4053 機械構造用合金鋼鋼材 

JIS G 4805 高炭素クロム軸受鋼鋼材 

JIS K 2238 マシン油 

JIS Z 2300 非破壊試験用語 

JIS Z 2354 固体の超音波減衰係数の測定方法 

ASTM A105,Standard Specification for Carbon Steel Forgings for Piping Applications 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300による。 

3.1 

G形標準試験片 

垂直探傷において,超音波探傷装置の探傷感度の調整及び垂直探触子の性能測定に使用する標準試験片

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(以下,STB-Gという。)。 

3.2 

N1形標準試験片 

垂直探傷において,超音波探傷装置の測定範囲の調整及び探傷感度の調整に使用する標準試験片(以下,

STB-N1という。)。 

標準試験片の名称,記号及び主な使用目的 

標準試験片の名称,記号及び主な使用目的は,表1による。 

表1−標準試験片の名称,記号及び主な使用目的 

標準試験片の名称 

記号 

探傷方法 

探傷の対象物の例 

主な使用目的 

G形標準試験片 

STB-G V2 
STB-G V3 
STB-G V5 
STB-G V8 
STB-G V15-1 
STB-G V15-1.4 
STB-G V15-2 
STB-G V15-2.8 
STB-G V15-4 
STB-G V15-5.6 

垂直 

極厚板,条鋼及び 
鍛造品 

垂直探傷の探傷感度の調整,垂直
探触子の特性の測定,探傷器の総
合性能の測定 

N1形標準試験片 

STB-N1 

厚板 

垂直探傷の探傷感度の調整,垂直
探傷の測定範囲の調整 

製造 

5.1 

材料 

材料は,標準試験片の種類に応じ,それぞれ表2による。STB-Gの材料は削り出しによって取得しても

よい。 

表2−材料 

標準試験片
の名称 

材料 

熱処理 

その他 

種類 

規格番号 

種類記号 

STB-G 

高炭素クロム軸受鋼鋼材 

JIS G 4805 

SUJ2 

球状化焼なまし  超音波の伝搬特性を変

化させるような残留応
力がないもの 

機械構造用合金鋼鋼材 

JIS G 4053 

SNCM439 

焼入焼戻しを標
準 

SCM440 

機械構造用炭素鋼鋼材 

JIS G 4051 

S50C 

STB-N1 

溶接構造用圧延鋼材 

JIS G 3106 

SM400C 
SM490C 

焼ならし及び/
又は焼入焼戻し
を標準 

超音波の伝搬特性に異
常を生じるような音響
異方性がないもの,すな
わち,材料の厚さ方向に
伝わる横波の偏波(振
動)方向を主圧延方向に
した場合の音速と直角
方向にした場合の音速
との差は,1 %以下 

機械構造用炭素鋼鋼材 

JIS G 4051 

特定なし 

圧力容器用炭素鋼鍛鋼品又
は配管用炭素鋼鍛鋼品 

ASTM 
A105 

− 

注記 上記の材料を用いれば,箇条6の超音波測定において合格する試験片が作製できることを保証するものでは

ない。 

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5.2 

材料検査 

材料検査は,標準試験片の種類に応じ,それぞれ表3によって超音波探傷試験を行う。 

表3−材料検査 

標準試験片の名称 

材料検査 

STB-G 

a) JIS Z 2354に従い,縦波減衰係数を測定し,その値が,周波数5 MHz

で5 dB/m以下,10 MHzで20 dB/m以下とする。 

b) 水浸法又は局部水浸法によって,周波数10 MHz,公称直径10 mm

の探触子を用いて,隣接する2側面から垂直探傷し,STB-G V2の
エコー高さの1/16(−24 dB)を超えるきずエコーがあってはなら
ない。 

STB-N1 

a) 熱処理前に,局部水浸法によって,周波数10 MHz,公称直径10 mm

の探触子を用いて片面の全面から垂直探傷し,STB-G V2のエコー
高さの1/16(−24 dB)を超えるきずエコーがあってはならない。 

b) 縦波及び横波の音速を,附属書Aに規定する方法によって,製造ロ

ットごとに1回以上測定し,縦波速度は5 920 m/s±30 m/s,横波速
度は3 245 m/s±15 m/sとする。 

5.3 

形状及び寸法 

各標準試験片の形状及び寸法は,次による。 

a) STB-G 試験片の形状及び寸法を,図1に示す。規定がない箇所の寸法許容差は,±0.5 mmとする。

栓は,鋼製とし,長さ約10 mmとする。 

B面には,図1 b)に示すように吸音材を取り付ける。このため,外観上の全長は表中のLより5 mm

長くなる。Tの値が60 mmの場合には,Dの値は55 mm,Tの値が50 mmの場合には,Dの値は45 mm

とする。吸音材は,金属粉末と合成樹脂との混合物とする。 

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単位 mm 

標準試験片 

STB-G V2 
STB-G V3 
STB-G V5 
STB-G V8 
STB-G V15-1 
STB-G V15-1.4 
STB-G V15-2 
STB-G V15-2.8 
STB-G V15-4 
STB-G V15-5.6 

 20 
 30 
 50 
 80 
150 
150 
150 
150 
150 
150 

2±0.1 
2±0.1 
2±0.1 
2±0.1 

 1±0.05 

1.4±0.07 

2±0.1 

2.8±0.14 

4±0.2 

5.6±0.28 

 40 
 50 
 70 
100 
180 
180 
180 
180 
180 
180 

60±1.2 
60±1.2 
60±1.2 
60±1.2 
50±1.0 
50±1.0 
50±1.0 
50±1.0 
50±1.0 
50±1.0 

a) 形状及び寸法を示した図 

図1−STB-Gの形状及び寸法 

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単位 mm 

b) 吸音材の取付け方法を示した図 

図1−STB-Gの形状及び寸法(続き) 

b) STB-N1 試験片の形状及び寸法を,図2に示す。規定がない箇所の寸法許容差は,±0.1 mmとする。

栓は,鋼製とし,長さ約5 mmとする。また,各標準試験片とも,表面粗さのパラメータ(算術平均

粗さ)は,ロットごとの代表試験片について,表面粗さ測定器を用いて測定する。 

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単位 mm 

注a) 箇条8に規定する表示事項を刻印又は彫刻する。 

図2−STB-N1の形状及び寸法 

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超音波測定 

6.1 

測定に用いる装置 

測定に用いる装置は,標準試験片に応じ,それぞれ表4による。 

表4−測定装置 

装置に関わる項目 

標準試験片ごとの仕様 

STB-G V15-1〜 

V15-5.6 

STB-G V2〜STB-G V3 

STB-G V5〜STB-G V8 

STB-N1 

超音波探傷器 

必要とする周波数範囲を含む周波数切替え機能をもつ探傷器 




種類 

垂直探触子 

垂直探触子 

垂直探触子 

水浸垂直
探触子 

電極形状 

規定なし 

反射源からのエコーが近距離音場の影響を受けない形状 

規定なし 

振動子材料 

水晶又はセラミックス 

周波数  MHz 

(又は

2.25) 

10 

(又は

2.25) 

10 

振動子寸法 mm 

φ28 

φ20 

φ20 

φ20又は

φ14 

φ28 

φ20 

φ20又

はφ14 

φ20 

遅延材付き 

不可 

不可 

不可 

可 

不可 

不可 

可 

不可 

接触媒質 

JIS K 2238に規定するマシン油ISO VG10 

水,水距
離:50 mm
〜100 mm
の水浸法 

探触子安定用おもり 

測定精度を保つための適切な押付圧を与えるおもり 

利用不可 

測定用基準片 

性能が証明されているSTB-G 

性能が証
明されて

STB-N1 

6.2 

測定方法及び測定条件 

測定方法及び測定条件は,表5による(以下,測定される試験片を単に“試験片”という。)。2回の測

定値間に表5の“再測定を必要とする2回の測定値の差”の欄に規定した値を超える差がある場合には,

再測定を行い,上記の規定値を超えない二つの測定値を採用する。 

表5−測定方法及び測定条件 

測定方法及び測定条件に関わる項目 

仕様 

反射源 

人工きず 

基準感度 

測定用基準片の人工きずからのエコー高さを60 %〜80 %に調整 

超音波パルス繰返し周波数 

残留エコーが生じない繰返し周波数 

リジェクション 

使用不可 

測定項目 

試験片の人工きずエコー高さの基準感度からの偏差 

読取り単位             dB 

0.1 

測定回数 

試験片及び測定用基準片について,それぞれ2回測定 

再測定を必要とする2回の測定値の差 dB 

0.5 を超える場合 

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合否の判定 

a)及びb)の条件を満足した試験片は,合格とする。 

a) 標準試験片に応じ,それぞれ表6に示す値を満足したもの。 

b) 標準試験片に応じ,図1及び図2に規定する寸法及び表面粗さのパラメータ(算術平均粗さ)を満足

したもの。 

表6−合否判定 

標準試験片 

判定基準 

STB-G 

a) 反射源エコー高さの2回測定の平均値が,測定用基準片を基にして定めた基準値に対して

次の数値を満足。 

周波数2(又は2.25)MHzの場合 :±1 dB 
周波数5 MHzの場合 

:±1 dB 

周波数10 MHzの場合 

:±2 dB 

b) 試験片内の反射源a)からのエコー以外のエコーは,反射源のエコーの近傍において,それ

より10 dB以上低い高さ 

c) STB-G V15-1〜STB-G V15-5.6をセットにして扱う場合は,反射源直径が隣り合う試験片の

反射源エコー高さの差(dB)は,表7の値±1 dBを満足 

STB-N1 

試験片の反射源エコー高さの測定値は,測定用基準片を基にして定めた基準値±1 dB 

注a) 反射源は,表5による。 

表7−反射源直径が隣り合う試験片の反射源エコー高さの差 

探触子 

反射源直径が隣り合う試験片の反射源エコー高さの差 dB 

STB-G V15-1及び

STB-G V15-1.4 

STB-G V15-1.4及

びSTB-G V15-2 

STB-G V15-2及び

STB-G V15-2.8 

STB-G V15-2.8及

びSTB-G V15-4 

STB-G V15-4及び

STB-G V15-5.6 

周波数 2(又は
2.25) MHz 
直径 28 mm 

4.8 

6.2 

5.8 

6.1 

5.6 

周波数 5 MHz 
直径 20 mm 

5.9 

6.1 

5.7 

5.9 

5.3 

表示 

測定値に基づく合否判定に合格した試験片には,図2に示す位置に刻印又は彫刻によって次の内容を表

示する。ただし,STB-Gについては,図1 a)のC面に表示する。 

a) 製造業者の略称及び標準試験片記号 

b) 試験片ごとの製造番号 

c) STB-GでSUJ鋼を素材とする場合以外は,材料名の記号 

例 

XXXX-STB-G V15-4 No.0000 S50C 

STB-GでSUJ鋼を素材とする場合以外の材料名の記号 

試験片ごとの製造番号 

標準試験片記号 

製造業者の略称 

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適合の証明 

9.1 

STB-G 

製造業者は,それぞれの試験片について製造番号を付した上で,試験片ごとに文書によってSTB-Gがこ

の規格に適合していることの証明をしなければならない。 

9.2 

STB-N1 

製造業者は,それぞれの試験片に製造番号を付した上で,試験片ごとに文書によって次の証明をしなけ

ればならない。 

a) STB-N1がこの規格に適合していることの証明 

b) 測定された縦波速度の値(表3参照) 

c) 測定された横波速度の値(表3参照) 

10 

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附属書A 

(規定) 

試験片の音速測定方法 

A.1 一般 

この附属書は,試験片の縦波及び横波の音速を測定する方法について規定する。 

A.2 音速測定の一般事項 

試験片の音速測定は,次による。 

a) 最初に,音速測定部の試験片の寸法を0.01 mmの精度で機械的に測定する。 

b) 測定を行う部位には,探触子面の範囲に厚さ0.01 mm以上の変動がないことを確認する。 

c) 垂直探触子と計測機器とを用いて,伝搬時間を測定する(伝搬時間の測定誤差は,±0.2 %)。 

d) 測定した伝搬時間と厚さとを用いて音速を計算する(音速=伝搬距離/時間)。 

e) 測定時の室温は,20 ℃〜26 ℃の温度範囲とする。 

A.3 縦波音速の測定 

使用する垂直探触子は,公称周波数が5 MHz以上,広帯域パルスで,振動子直径が6 mm〜15 mmとす

る。第1回底面エコーと第2回底面エコーとの時間差を測定する。 

A.4 横波音速の測定 

使用する垂直横波探触子は,公称周波数4 MHz〜5 MHz,広帯域パルスで,振動子直径が6 mm〜15 mm

とする。第1回底面エコーと第2回底面エコーとの時間差を測定する。 

横波は偏波しているので,二つの測定を行う(図A.1参照)。1回目の測定における偏波方向は,試験片

の一つの側面の方向Pに平行になるようにし,2回目の測定における偏波方向は,Pに直角な方向Qに平

行になるようにする。したがって,試験片ごとに少なくとも二つの横波速度測定値が得られる。 

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11 

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図A.1−横波音速測定時の横波の偏波方向説明図 

参考文献 JIS Z 2344 金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則 

JIS Z 2350 超音波探触子の性能測定方法 

JIS Z 2352 超音波探傷装置の性能測定方法 

ASTM E 428,Standard Practice for Fabrication and Control of Metal, Other than Aluminum, Reference 

Blocks Used in Ultrasonic Testing