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X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 適合性···························································································································· 2 

2.1 光ディスク ··················································································································· 2 

2.2 製造システム ················································································································ 2 

2.3 情報受領システム ·········································································································· 2 

2.4 互換性表示 ··················································································································· 2 

3 引用規格························································································································· 2 

4 用語及び定義 ··················································································································· 3 

5 慣例及び表記法 ················································································································ 7 

5.1 用語 ···························································································································· 7 

5.2 数値表示 ······················································································································ 8 

5.3 整数計算法 ··················································································································· 9 

5.4 英語名称 ······················································································································ 9 

6 略語······························································································································· 9 

7 ディスクの概要 ··············································································································· 12 

8 一般要求事項 ·················································································································· 13 

8.1 環境条件 ····················································································································· 13 

8.2 安全性 ························································································································ 15 

8.3 難燃性 ························································································································ 15 

9 基準ドライブ ·················································································································· 15 

9.1 一般 ··························································································································· 15 

9.2 測定条件 ····················································································································· 16 

9.3 光学システム ··············································································································· 16 

9.4 光ビーム ····················································································································· 16 

9.5 高周波(HF)読取りチャネル ························································································· 17 

9.6 半径方向のプッシュプル(PP)読取りチャネル ·································································· 17 

9.7 ディスクのクランプ ······································································································ 17 

9.8 ディスクの回転及び測定速度 ·························································································· 18 

9.9 正規化サーボ伝達関数 ··································································································· 18 

9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ ································································· 19 

9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ ······························································ 20 

10 寸法特性 ······················································································································ 21 

10.1 一般 ·························································································································· 21 

10.2 ディスクの基準面及び基準軸 ························································································· 21 

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(2) 

ページ 

10.3 全体寸法 ···················································································································· 23 

10.4 第1遷移領域 ·············································································································· 23 

10.5 保護リング ················································································································· 23 

10.6 クランプゾーン ··········································································································· 24 

10.7 第2遷移領域 ·············································································································· 24 

10.8 情報領域 ···················································································································· 24 

10.9 リム領域 ···················································································································· 26 

11 機械的特性 ··················································································································· 26 

11.1 質量 ·························································································································· 26 

11.2 慣性モーメント ··········································································································· 27 

11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 27 

11.4 軸方向の振れ量 ··········································································································· 27 

11.5 半径方向の振れ量 ········································································································ 27 

11.6 カバー層の耐久性 ········································································································ 28 

12 情報領域の光学的特性 ···································································································· 29 

12.1 一般 ·························································································································· 29 

12.2 透過積層(TS)の屈折率 ······························································································ 29 

12.3 透過積層(TS)の厚さ ································································································· 29 

12.4 反射率 ······················································································································· 30 

12.5 複屈折 ······················································································································· 31 

12.6 角度偏差 ···················································································································· 31 

13 データフォーマット ······································································································· 32 

13.1 一般 ·························································································································· 32 

13.2 データフレーム ··········································································································· 35 

13.3 エラー検出符号(EDC) ······························································································· 35 

13.4 スクランブルドデータフレーム ······················································································ 35 

13.5 データブロック ··········································································································· 36 

13.6 LDCブロック ············································································································· 37 

13.7 LDC符号語 ················································································································ 38 

13.8 LDCクラスタ ············································································································· 38 

13.9 アドレス及びコントロールデータ ··················································································· 41 

13.10 アクセスブロック ······································································································ 45 

13.11 BISブロック ············································································································· 47 

13.12 BIS符号語 ················································································································ 47 

13.13 BISクラスタ ············································································································· 48 

13.14 ECCクラスタ ··········································································································· 51 

13.15 記録フレーム ············································································································ 52 

13.16 物理クラスタ ············································································································ 53 

13.17 記録データのための17PP変調 ····················································································· 53 

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(3) 

ページ 

13.18 変調及びNRZI変換 ··································································································· 55 

14 物理データの配置及びリンキング ····················································································· 56 

14.1 一般 ·························································································································· 56 

14.2 記録ユニットブロック(RUB) ······················································································ 56 

14.3 ウォブルアドレスに対してのデータの位置 ······································································· 59 

15 トラックフォーマット ···································································································· 61 

15.1 一般 ·························································································································· 61 

15.2 トラックの形 ·············································································································· 61 

15.3 トラックパス ·············································································································· 63 

15.4 トラックピッチ ··········································································································· 63 

15.5 HFMグルーブのトラック構成 ······················································································· 64 

15.6 ウォブルグルーブのトラック構造 ··················································································· 70 

15.7 ADIP情報 ·················································································································· 72 

15.8 ADIP予備フレームのディスク情報 ················································································· 78 

16 情報ゾーンの概要 ········································································································· 109 

16.1 一般 ························································································································· 109 

16.2 単層ディスクの情報ゾーンのフォーマット ······································································ 109 

16.3 2層ディスクの情報ゾーンのフォーマット ······································································· 110 

17 情報ゾーンの書換領域の構成 ·························································································· 110 

18 内側ゾーン ·················································································································· 113 

18.1 一般 ························································································································· 113 

18.2 不変情報・制御データ(PIC)ゾーン ············································································· 115 

18.3 内側ゾーンの書換領域 ································································································· 118 

19 データゾーン ··············································································································· 121 

20 外側ゾーン ·················································································································· 121 

20.1 一般 ························································································································· 121 

20.2 INFO 3のバッファ4 ··································································································· 122 

20.3 INFO 3のDMA 3 ······································································································· 122 

20.4 INFO 3のコントロールデータ4 ···················································································· 122 

20.5 回転バッファ ············································································································· 122 

20.6 INFO 4のDMA 4 ······································································································· 122 

20.7 INFO 4のコントロールデータ4 ···················································································· 122 

20.8 INFO 4のバッファ6 ··································································································· 122 

20.9 保護ゾーン3 ·············································································································· 122 

21 物理アクセス制御クラスタ ····························································································· 122 

21.1 一般 ························································································································· 122 

21.2 PACゾーンの構成 ······································································································ 123 

21.3 PACクラスタの一般構成 ····························································································· 123 

21.4 主PACクラスタ(必須)····························································································· 127 

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(4) 

ページ 

21.5 ディスク記録保護PACクラスタ(任意) ········································································ 130 

21.6 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ ····················································································· 134 

22 ディスク管理 ··············································································································· 135 

22.1 一般 ························································································································· 135 

22.2 ディスク管理構造(DMS) ·························································································· 136 

23 論理セクタ番号(LSN)の割当て ···················································································· 144 

24 グルーブ領域の特性 ······································································································ 145 

25 グルーブ領域の試験方法 ································································································ 145 

25.1 一般 ························································································································· 145 

25.2 環境条件 ··················································································································· 146 

25.3 基準ドライブ ············································································································· 146 

25.4 信号の規定 ················································································································ 146 

26 HFMグルーブの信号 ···································································································· 147 

26.1 プッシュプル信号 ······································································································· 147 

26.2 HFMウォブル信号 ····································································································· 147 

26.3 HFM信号のジッタ ····································································································· 148 

27 ウォブルグルーブからの信号 ·························································································· 148 

27.1 位相深さ ··················································································································· 148 

27.2 プッシュプル信号 ······································································································· 148 

27.3 ウォブル信号 ············································································································· 148 

28 記録層の特性 ··············································································································· 149 

29 記録層の試験方法 ········································································································· 149 

29.1 一般 ························································································································· 149 

29.2 環境条件 ··················································································································· 149 

29.3 基準ドライブ ············································································································· 150 

29.4 記録条件 ··················································································································· 150 

29.5 信号の規定 ················································································································ 151 

30 記録領域からの信号 ······································································································ 152 

30.1 HF信号 ···················································································································· 152 

30.2 変調振幅 ··················································································································· 152 

30.3 反射率−変調度積 ······································································································· 153 

30.4 非対称性 ··················································································································· 153 

30.5 ジッタ ······················································································································ 153 

30.6 クロス消去 ················································································································ 154 

30.7 記録速度が異なったトラックへの上書き ········································································· 154 

30.8 読取耐久性 ················································································································ 155 

31 局所欠陥 ····················································································································· 155 

32 使用者データの特性 ······································································································ 156 

33 使用者データの測定方法 ································································································ 156 

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ページ 

33.1 一般 ························································································································· 156 

33.2 環境条件 ··················································································································· 156 

33.3 基準ドライブ ············································································································· 156 

33.4 信号の定義 ················································································································ 156 

34 記録情報の下限品質 ······································································································ 157 

34.1 ランダムシンボルエラー率 ··························································································· 157 

34.2 最大バーストエラー ···································································································· 158 

34.3 使用者記録データ ······································································································· 158 

35 BCA ··························································································································· 158 

附属書A(規定)多層の場合の透過積層の厚さ ········································································ 160 

附属書B(規定)反射率の測定 ····························································································· 161 

附属書C(規定)カバー層のきず耐久性の測定 ········································································ 164 

附属書D(規定)カバー層の汚れはつ(撥)油性の測定 ···························································· 166 

附属書E(規定)ウォブル振幅の測定····················································································· 169 

附属書F(規定)試験のための記録パルス波形 ········································································· 173 

附属書G(規定)ディスクの最適パワー制御(OPC)方法 ························································· 182 

附属書H(規定)ジッタ測定のためのHF信号の前処理 ····························································· 185 

附属書I(規定)測定方法 ···································································································· 192 

附属書J(参考)複屈折の測定 ······························································································ 198 

附属書K(参考)カバー層及びスペーサ層の厚さの測定 ···························································· 200 

附属書L(参考)カバー層の衝突耐久性の測定 ········································································· 202 

附属書M(参考)グルーブ偏移及びウォブル振幅 ····································································· 204 

参考文献 ··························································································································· 205 

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(6) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので,留意する。 

− 氏名:日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 知財管理本部 

− 住所:〒244−0817 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 

− 氏名:パナソニック株式会社 知的財産センター 

− 住所:〒540−6207 大阪府大阪市中央区城見2丁目1−61 OBPパナソニックタワー 

− 氏名:パイオニア株式会社 知的財産部 

− 住所:〒212−0031 神奈川県川崎市幸区新小倉1−1 

− 氏名:ソニー株式会社 知的財産センター 

− 住所:〒108−0075 東京都港区港南1−7−1 

上記の特許権等の権利者は,非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施の

許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対し

ては,同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。 

この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ

る。 

この規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標

準調査会は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。 

なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。 

日本工業規格          JIS 

X 6232:2017 

(ISO/IEC 30192:2017) 

情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体− 

120 mm単層(25ギガバイト/ディスク)及び 

2層(50ギガバイト/ディスク)BD書換形ディスク 

Information technology-Digitally recorded media for information 

interchange and storage-120 mm Single Layer (25.0 Gbytes per disk) and 

Dual Layer (50.0 Gbytes per disk) BD Rewritable disk 

序文 

100社以上が参加するブルーレイディスクアソシエーション(BDA)で作成された,ブルーレイディス

クTMの物理フォーマットをベースに,四つの記録形ディスクのISO/IEC物理規格が作成された。この規

格は,2016年に第2版として発行され,2017年にCorrected versionが発行されたISO/IEC 30192を基に,

技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

BDレコーダブルディスクにビデオの記録再生を行うためには,この国際規格以外にBDMV,BDAVな

どBDAで規定したフォーマットが必要となる。これらのBDA規定の応用関連フォーマット,ファイルシ

ステムフォーマット又は著作権保護フォーマットは,ディスク,情報生成システム,及び情報受領システ

ムに必要である。更に詳細なBDフォーマットに関する情報が必要な場合は,http://www.blu-raydisc.infoを

参照。 

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。 

適用範囲 

この規格は,記録容量25ギガバイト(GB)及び50 GBの120 mm書換形光ディスクの機械的特性,物

理的特性及び光学的特性を規定するとともに,そのディスクを用いての情報交換を可能にする記録及び未

記録の信号品質,データのフォーマット及び記録方法について規定する。使用者データは,可逆的方法に

よって何回でも記録,読取り及び上書きをすることができる。このディスクを,BD書換形ディスクと称

する。 

この規格は,次の項目について規定する。 

− このディスクに関する二つの異なるタイプ 

− 適合条件 

− このディスクの使用環境及び保存環境 

− データ処理システム間の機械的互換性のためのディスクの機械的特性及び物理的特性 

− トラック及びセクタの物理的配置を含むディスク上の情報フォーマット 

− エラー訂正符号及び使用した符号化方法 

− データ処理システムがディスクからデータの読取りを可能にする,ディスクに記録した信号の特性 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

この規格は,ディスクドライブ間のディスクの互換性を与える。ボリューム及びファイル構造の規格と

ともに,データ処理システム間の完全なデータ互換性を与える。 

注記1 この規格では,GBは,109バイトとしている。 

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

ISO/IEC 30192:2017,Information technology−Digitally recorded media for information 

interchange and storage−120 mm Single Layer (25,0 Gbytes per disk) and Dual Layer (50,0 

Gbytes per disk) BD Rewritable disk(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”

ことを示す。 

適合性 

2.1 

光ディスク 

この規格への適合の主張には,製造対象のディスクのタイプを明示する。光ディスクは,製造対象のデ

ィスクのタイプの全ての要求事項に適合する場合に,この規格に適合する。 

2.2 

製造システム 

製造システムは,製造する光ディスクが2.1に適合する場合に,この規格に適合する。 

2.3 

情報受領システム 

情報受領システムは,2.1に適合する両方のタイプの光ディスクを取り扱うことができる場合は,この規

格に適合する。 

2.4 

互換性表示 

製造システム及び情報受領システムがこの規格に適合するというためには,他のサポートする規格の一

覧の表示を含むものとする。この表示は,規格の番号,サポートする光ディスクのタイプ,並びに読取り

だけをサポートするのか,又は記録及び読取り両方をサポートするのかを明示する。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部:一般要求事項 

注記 対応国際規格:IEC 60950-1,Information technology equipment−Safety−Part 1: General 

requirements 

JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat 

JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試

験方法(試験記号:Db) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-30,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat, 

cyclic (12 h + 12 h cycle) 

JIS K 7204 プラスチック−摩耗輪による摩耗試験方法 

注記 対応国際規格:ISO 9352,Plastics−Determination of resistance to wear by abrasive wheels 

JIS X 0201 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

注記 対応国際規格:ISO/IEC 646,Information technology−ISO 7-bit coded character set for 

information interchange 

JIS Z 8901:2006 試験用粉体及び試験用粒子 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。 

4.1 

アプリケーション(Application) 

ビデオ応用のような,著作権保護及び欠陥管理システムのためのディスク上の領域を要求する,BD(4.2)

用に規定した応用。 

4.2 

BD 

約0.1 mmの厚さのカバー層(4.4)及び約1.1 mmの厚さの基板(4.37)をもち,NA=0.85のレンズ及

び波長405 nmのレーザダイオードを用いる光学ピックアップユニットで,ディスク上にデータを読み書

きするディスク。 

注記 ディスクに記録する使用者データは,17PP変調及びLDC+BIS符号でフォーマットされる。 

4.3 

チャネルビット(Channel bit) 

ディスク上の,ピット(4.24)又はマーク(4.18)を使いスペースとの組合せで,2値の“0”又は“1”

を表す要素。 

4.4 

カバー層(Cover Layer) 

ディスクの入射面に一番近い記録層を覆う,精密に制御した光学特性をもつ透明な層。 

4.5 

データゾーンn(Data Zone n) 

Ln層(4.17)にある内側ゾーンと外側ゾーンとの間の領域。 

4.6 

欠陥クラスタ(Defective Cluster) 

信頼できない又は訂正できないとして欠陥リストに登録された,使用者データ領域(4.41)中のクラス

タ。 

4.7 

デジタル総計値,DSV(Digital-Sum Value, DSV) 

“1”に設定したチャネルビットに10進数の数値“+1”を,“0”に設定したチャネルビット(4.3)に

10進数の“−1”を割り当てることによって,ビット列から得られた算術和。 

4.8 

ディスク基準面(Disk reference plane) 

その上でディスクのクランプゾーンがクランプされる,理想スピンドルの完全に平らな環状表面で規定

する,回転軸に対して垂直な面。 

4.9 

エンボスHFM領域(Embossed HFM Area) 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ディスクの製造中に,HFMグルーブ(4.13)によって情報が保存されたディスク領域。 

4.10 

入射面(Entrance surface) 

光ビームが最初に入射する,ディスクの表面。 

4.11 

消去グルーブ(Erased Groove) 

トラックにOPCアルゴリズムで決めたPE10及びPE20の消去パワーレベルだけを使い照射することによ

って消去した空のグルーブ。 

4.12 

グルーブ(Groove) 

記録層に連なる,ディスクの溝状構造。 

注記 グルーブは,単層ディスクの場合は,基板(4.37)に形成可能で,2層ディスクの場合は,一つ

は基板に,他はスペーサ層(4.35)又はカバー層(4.4)に形成できる(図1及び図2参照)。グ

ルーブは,トラック(4.38)の位置決めをするために用いられる。グルーブは,マスタリング

で光スポットを照射した場所に相当する。通常,グルーブは,構造体の中にくぼみ又は突起の

形をとり得る。グルーブがランドよりも入射面(4.10)に近い場合(図54参照),記録方法は,

“オングルーブ記録”と呼ばれる。グルーブがランドよりも入射面(4.10)に対して遠い場合,

記録方法は,“イングルーブ記録”と呼ばれる。BD書換形システムでは,次の3種類のグルー

ブがある。 

− アドレスをもつ書換領域中のウォブルグルーブ(4.43) 

− 不変制御情報データをもつエンボスHFM領域(4.9)のHFMグルーブ(4.13) 

− BCAゾーンの無変調の直線グルーブ 

4.13 

高周波変調グルーブ,HFMグルーブ[HFM (High-Frequency Modulated) Groove] 

比較的高い帯域幅の信号で,半径方向に変調されたグルーブ(4.12)。 

注記 HFMグルーブは,転写記録する情報のための十分な容量及び転送スピードのデータチャネルを

作っている。 

4.14 

情報領域(Information Area) 

情報を記録できるディスク上の領域。 

4.15 

情報ゾーン(Information Zone) 

情報領域(4.14)で記録された部分。 

4.16 

ランド(Land) 

連続して渦巻くグルーブ(4.12)の間の記録層の表面。 

4.17 

Ln層(Layer Ln) 

数字nで識別される記録層。 

注記 L(n+1)層は,Ln層よりも入射面(4.10)に近い。 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

4.18 

マーク(Marks) 

光学読取りシステムで感知できる結晶化した記録膜中の,非晶質領域の形をとることもある記録層の構

造。 

注記 マーク及びスペース(4.36)のパタンは,ディスク上のデータを表している。 

4.19 

測定速度(Measurement Velocity) 

ディスクを読取中に測定する線速度。 

注記 測定速度nxは,基準速度x(4.30)のn倍を意味している。 

4.20 

変調ビット(Modulation bit) 

通信チャネルで伝送するため又は蓄積システムに蓄積するために,より適するようにデータを変形した

形。 

4.21 

NRZ又はNRZI変換[NRZ (Non-Return-to-Zero)/NRZI (Non-Return-to-Zero Inverting) conversion] 

変調ビットストリームを物理信号に変換する方法。 

4.22 

埋込み(Padding) 

ホストコンピュータが32セクタによって構成される64Kサイズのクラスタに満たないデータを転送し

てきてそのクラスタをデータで満たす必要がある場合に,不足のセクタを全て00hのデータで満たすドラ

イブの処理方法。 

4.23 

相変化(Phase Change) 

記録層の領域に,レーザ光線を照射して加熱し結晶状態から非晶質状態へ変化させる,及びその逆の変

化をさせる物理的効果。 

4.24 

ピット(Pits) 

光学読取りシステムで感知できる,ランド(4.16)表面のくぼみ又は突起の形をとり得る記録層の構造。 

注記 ピット及びスペース(4.36)のパタンは,ディスク上のデータを表している。 

4.25 

偏光(Polarization) 

光ビームの電場ベクトルの方向。 

注記 偏光面は,電場ベクトル及びビームの伝ぱ方向を含む面である。 

4.26 

保護コート(Protective Coating) 

きず,その他の危害から保護する機能をもつカバー層(4.4)の上に任意で追加する層。 

4.27 

読取変更記録(Read-Modify-Write) 

クラスタ中の一つ以上32未満のセクタを書き換えなければならない場合に,32セクタから構成される

64Kクラスタの内容を全て読み取り,関係するセクタを置き換えてクラスタ全体を記録して戻す,ドライ

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ブの工程。 

4.28 

記録層(Recording Layer) 

製造中及び/又は使用中に,その上又は中にデータが記録される,特定の材料の積層膜から構成される

ディスクの部分。 

4.29 

記録速度(Recording Velocity) 

ディスクを記録する線速度。 

注記 記録速度nxは,基準速度x(4.30)のn倍を意味している。 

4.30 

基準速度(Reference Velocity) 

チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなる線速度。 

注記 基準速度nxは,基準速度xのn倍を意味している。 

4.31 

リザーブ(値)(Reserved) 

この規格で使用しない予備の値。 

注記 将来の規格で,この値は使用可能となる。 

4.32 

リザーブ(領域)(Reserved) 

使用を規定しないで,互換性は無視し値はゼロにセットする予備領域。 

注記 将来の規格で,この領域の使用を規定し値を設定できる。 

4.33 

書換領域(Rewritable Area) 

製造中及び/又は使用中に,相変化の効果を用いてマーク(4.18)及びスペース(4.36)によって情報が

記録できるディスクの領域。 

4.34 

セクタ(Sector) 

情報ゾーン(4.15)中のアドレスでアクセスできる,最小サイズのトラック(4.38)のデータ部分。 

4.35 

スペーサ層(Spacer Layer) 

二つの記録層(4.28)を分離する,精密に光学特性を制御した透明層。 

4.36 

スペース(Spaces) 

HF信号の流れの接線方向に,ピット(4.24)又はマーク(4.18)の間を分ける領域。 

注記 ピット又はマーク及びスペースのパタンは,ディスクのデータを表している。 

4.37 

基板(Substrate) 

記録層(4.28)を機械的に支持する,透明又は不透明の層。 

4.38 

トラック(Track) 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

グルーブ(4.12)で構成する連続らせんの360°回転分。 

4.39 

トラックピッチ(Track Pitch) 

半径方向に測定した隣接トラック(4.38)のグルーブ(4.12)の中心線間距離。 

4.40 

透過積層(Transmission Stack) 

ディスクの入射面(4.10)と注目する記録層(4.28)との間の全部の層を一つとみた層。 

注記 言い換えると,特定の記録層の透過積層は,その記録層にアクセスする場合,光ビームが通過

する全ての層で構成される。 

4.41 

使用者データ領域(User-Data Area) 

ディスク上の全てのデータゾーンを集めたもので,使用者データが記録できるクラスタだけで構成する

もの。 

4.42 

バージングルーブ(Virgin Groove) 

記録も消去もされたことがない,ディスク上の未使用グルーブ(4.12)。 

4.43 

ウォブルグルーブ(Wobbled Groove) 

平均した中心線から,周期的正弦波で偏移するグルーブ(4.12)。 

注記 正弦波偏移を変調することによって,ウォブルはディスクのアドレス情報及び一般的情報を供

給している。 

4.44 

ゾーン(Zone) 

ディスクの環状領域。 

慣例及び表記法 

5.1 

用語 

5.1.1 

末尾の表現 

この規格では次に示す語は,特別の意味をもつ。 

− …(し)てもよい。: 

任意の動作又は機能を示す。 

− 任意: 

実施してもよい又はしなくてもよい機能を示す。実施する場合は,そ 

の機能は規定したとおりにする。 

− …(し)なければならない。: 必須の動作又は機能でこの規定に適合するためには実施しなければな 

…する。 

らないことを示す。 

…とする。 

…による。 

注記 shallで書かれた要求事項文は,例えば,“〜する”という能動形で翻訳される。一方,be+過

去分詞,be+現在分詞(現在進行形)又は動詞で書かれた説明文を能動文として“〜する”の

能動形で翻訳すると,要求事項を示した文と説明文とを区別できなくなるという課題が生じる。

そのために,この規格では,次の表現としている。 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− shall:〜(と)するなどの能動形の表現としている。 

− be+過去分詞は,受動形の表現とし,be+現在分詞(現在進行形)又は動詞は,“〜となっ

ている”などの状況説明の表現としている。 

− …することが望ましい。: 

任意の動作又は機能を示すが,その実施が強く望まれる。 

5.1.2 

グループのレベル 

上位階層のグループを作ることができる形に集められたデータが再配置される。この動作が何回も繰り

返される。グループの階層を明確にするために,この規格では次の階層を使用している。 

− フレーム(Frame):最下層のグループ。通常フレームは,複数バイトの情報をもつ。 

− ブロック(Block):第2順位のグループ。通常ブロックは,幾つかのフレームで構成する。 

− クラスタ(Cluster):最上位順位のグループ。クラスタは,幾つかのブロックで構成する。 

− フラグメント(Fragment):応用に適用できるレベルのグループ。相応量のデータが(固定した個数の)

連続するクラスタに割り付けられる。 

5.2 

数値表示 

測定値xmeasuredは,対応する規定されている値xの最下位桁に丸めておいてからxと比べてもよい。 

例 

− 規格が

01

.0

02

.0

26

.1

+−

=

x

(公称値=1.26で,正の許容誤差が+0.01,かつ,負の許容誤差が−0.02)

の場合,次に示す範囲の測定値がこの規格を満たす。 

1.235≦xmeasured<1.275 

注記 この規格において,正又は負の許容誤差がゼロとなる場合についても,同様の考え方とし,ゼ

ロは,小数点以下の有効数字を示す表記としている。 

− 規格がx≦0.3の場合,次の測定値がこの規格を満たす(0.30<xmeasured<0.35の測定値に対

し,丸めを適用しxmeasured=0.3となる。)。 

xmeasured<0.3 

− 規格がx<0.3の場合, 

− 次の測定値が,この規格を満たす(丸めは必要ない。)。 

xmeasured=0.299 

− 次に示す測定値は,この規格を満たさない。 

xmeasured=0.3 

規定されている値が“最大x単位”又は“最小x単位”と示されている場合は,この規定されている値

との比較に先立って測定値を丸めてはならない。この方法で決めた測定値は,xの値そのものが規定した

限度値を逸脱してはならない。 

例 

− 規格が最大0.3 mmの場合, 

− 測定値0.300 mmは,この規格を満たす。 

− 測定値0.301 mmは,この規格を満たさない。 

− 規格が最小3 dBの場合, 

− 測定値3.00 dBは,この規格を満たす。 

− 測定値2.99 dBは,この規格を満たさない。 

10進数は,0〜9の数字で表す。小数点は,“.”である。大きな数値は,空白を入れて群で分けることが

できる。 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

16進数は,括弧でくくるか又は最後に小文字の“h”を付けた0〜9のアラビア数字及びA〜Fのアルフ

ァベットで表される。16進数中の文字xは,任意の0〜9又はA〜Fを表す。 

2進数及びビットパタンは,左側を最上位ビットとする“0”及び“1”の一連で表される。2進数中の文

字xは,“0”又は“1”のいずれかで表される。 

2進数の負の数値は,2の補数で表される。 

nビットのビットパタンで,ビットb(n−1)は最上位ビット(msb)とし,ビットb0は最下位ビット(lsb)

とする。ビットb(n−1)を最初に記録する。 

ビットパタン中で連続して中断のないm個の“0”は,[0m]で表記できる。 

ビットの設定は,“0”及び“1”で示す。 

バイトで構成するデータフィールドで,バイト0とする最上位バイト(MSB)を最初に記録し,最下位

バイト(LSB)を最後に記録する。 

8nビットのフィールドで,ビットb(8n−1)は最上位ビットとし,ビットb0は最下位ビットとする。ビット

b(8n-1)を最初に記録する。 

ニブルで構成するデータフィールドで,ニブル0とする最上位ニブルを最初に記録し,最下位ニブルを

最後に記録する。 

4nビットのフィールドで,ビットb(4n−1)は最上位ビット(msb)とし,ビットb0は最下位ビット(lsb)

とする。ビットb(4n−1)を最初に記録する。 

値の範囲はx〜yで表され,このときx及びyはその範囲に含まれる。 

一連の整数は,i .. jで表される。それは,i及びjを含むiとjとの間の全ての数値を含む(例えば,k=

0 ..7)。変化幅の大きさが1ではない場合は,i,(i+変化幅) .. jと表される(例えば,変化幅が3の場合に

k=1,4 .. 16となる。)。 

一群の要素は,Param m .. n又はPm .. Pnで表される。その群は,m及びnを含むmとnとの間の添字を

もつ全ての要素を含む(例えば,バイト 16 .. 31,ビット 7 .. 4,Add0 .. Add256)。 

xがyにほぼ等しい場合,

y

x≈と表される。 

5.3 

整数計算法 

div(n,d)は,nをdで除した商を表す。 

mod(n,d)は,nをdで除した余りを表し,次の式となる。 

mod(n,d)=n−d×div(n,d) 

例 div(+11,+3)=+3  div(−11,+3)=−3  div(+11,−3)=−3  div(−11,−3)=+3 

mod(+11,+3)=+2  mod(−11,+3)=−2  mod(+11,−3)=+2  mod(−11,−3)=−2 

5.4 

英語名称 

特定のものを示す英語名称,例えば,特定のトラック,フィールドなどを示す英語名称は,頭文字に大

文字が当てられる。この規格のために明示的に意味を規定した英語名称も,大文字が当てられる。 

略語 

ac: 

交流(alternating current) 

ADIP: 

プリグルーブのアドレス(Address In Pre-Groove) 

APC: 

自動パワー制御(Automatic Power Control) 

AU: 

アドレスユニット(Address Unit) 

AUN: 

アドレスユニット番号(Address-Unit Number) 

10 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

BCA: 

バーストカッティング領域(Burst-Cutting Area) 

BIS: 

バースト検出サブコード(Burst-Indicating Subcode) 

BPF: 

帯域通過フィルタ(Band-Pass Filter) 

CAV: 

角速度一定(方式)(Constant Angular Velocity) 

cbs: 

チャネルビット(channel bits) 

CNR: 

キャリアノイズ比(Carrier-to-Noise Ratio) 

dc: 

直流(direct current) 

DDS: 

ディスク定義構造(Disk-Definition Structure) 

DFL: 

欠陥リスト(Defect List) 

DI: 

ディスク情報(Disk Information) 

DL: 

2層(Dual Layer) 

DMA: 

ディスク管理領域(Disk-Management Area) 

DMS: 

ディスク管理構造(Disk-Management Structure) 

DOW: 

直接上書き記録(Direct OverWrite) 

DOW(n): n回上書き記録(the n-th Overwrite) 

DOW(0): 初期記録(the initial recording) 

DSV: 

デジタル総計値(Digital-Sum Value) 

DWP: 

ディスク記録保護(Disk Write Protect) 

EB: 

緊急制動(Emergency Brake) 

ECC: 

エラー訂正符号(Error-Correction Code) 

EDC: 

エラー検出符号(Error-Detection Code) 

FAA: 

(データゾーンの)先頭ADIPアドレス[First ADIP Address (of Data Zone)] 

FS: 

フレーム同期(Frame Sync) 

FWHM: 半値幅(Full Width at Half Maximum) 

HF: 

高周波(High Frequency) 

HFM: 

高周波変調の(High-Frequency Modulated) 

HMW: 

高調波変調波(Harmonic-Modulated Wave) 

HPF: 

高域通過フィルタ(High-Pass Filter) 

HTL: 

高反射率から低反射率(High-To-Low) 

LAA: 

(データゾーンの)最終ADIPアドレス[Last ADIP Address (of Data Zone)] 

LDC: 

長距離符号(Long-Distance Code) 

LPF: 

低域通過フィルタ(Low-Pass Filter) 

LSB: 

最下位バイト(Least-Significant Byte 

lsb: 

最下位ビット(least-significant bit) 

LSN: 

論理セクタ番号(Logical-Sector Number) 

MM: 

MSKマーク(MSK Mark) 

MSB: 

最上位バイト(Most-Significant Byte) 

ms: 

ミリ秒(Millisecond) 

msb: 

最上位ビット(most-significant bit) 

MSK: 

最小シフトキー(Minimum-Shift Keying) 

11 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

MW: 

単一周波数ウォブル(Monotone Wobble) 

NA: 

開口数(Numerical Aperture) 

NHWS: 正規化HFMウォブル信号(Normalized HFM-Wobble Signal) 

NRD: 

再配置されない欠陥(Non-Re-allocatable Defect) 

NRZ: 

NRZ(Non-Return-to-Zero) 

NRZI: 

NRZI(Non-Return-to-Zero Inverting) 

ns: 

ナノ秒(Nanosecond) 

NWL: 

公称ウォブル長(Nominal Wobble Length) 

NWS: 

正規化ウォブル信号(Normalized Wobble Signal) 

OPU: 

光ピックアップユニット(Optical Pick-up Unit) 

PAA: 

物理ADIPアドレス(Physical ADIP Address) 

PAC: 

物理アクセス制御(Physical-Access Control) 

PBA: 

推定記録不可領域(Possibly Bad Area) 

PIC: 

不変情報・制御データ(Permanent Information and Control data) 

PLL: 

位相同期ループ(Phase-Lock Loop) 

PoA: 

ポストアンブル(Post-amble) 

PP: 

プッシュプル(Push-Pull) 

pp: 

両ピーク(peak-to-peak) 

PrA: 

プリアンブル(Pre-amble) 

ps: 

ピコ秒(Picosecond) 

PSN: 

物理セクタ番号(Physical-Sector Number) 

RH: 

相対湿度(Relative Humidity) 

RMTR: 最小反転ラン長繰返し(Repeated Minimum-Transition Run-length) 

R-M-W: 読取変更記録(Read-Modify-Write) 

RS: 

リードソロモン(符号)[Reed-Solomon (code)] 

RT: 

相対厚さ(Relative Thickness) 

RUB: 

記録ユニットブロック(Recording-Unit Block) 

RхIn: 

反射率×In解像度(Reflectivity × In Resolution) 

RхM: 

反射率×変調度(Reflectivity × Modulation) 

SER: 

シンボルエラー率(Symbol Error Rate) 

SHD: 

2次高調波ひずみ(Second-Harmonic Distortion) 

SHL: 

2次高調波レベル(Second-Harmonic Level) 

SL: 

単層(Single Layer) 

SNR: 

信号ノイズ比(Signal-to-Noise Ratio) 

SPS: 

記録開始位置移動(Start-Position Shift) 

STW: 

のこぎり波ウォブル(Saw-Tooth Wobble) 

Sync: 

同期(Synchronization) 

TP: 

トラックピッチ(Track Pitch) 

TS: 

透過積層(Transmission Stack) 

wbs: 

ウォブル(wobbles) 

background image

12 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

WP: 

記録保護(Write Protect) 

ディスクの概要 

この規格の主題であるディスクは,公称厚さ約1.1 mmの基板で構成される。クランプは,クランプゾ

ーンで行われる。 

ディスクの記録層は,相変化記録技術を用いることができる。記録した非晶質のマークは,未記録層の

結晶スペースよりも低い反射率になる。 

この規格は,次の二つのディスクのタイプを規定する。 

− タイプSL:ディスクの基板は,幾つかの積層膜で構成した記録層で覆われている。この記録層の上に,

光学特性を精密に規定した0.1 mmの透明なカバー層が設けられる(図1参照)。ディスク容量は,25.0 

GBである。 

− タイプDL:ディスクの基板は,各々幾つかの積層膜で構成した二つの記録層で覆われている。二つ

の記録層は,約0.025 mmの透明なスペーサ層で分離している。読取面から見て最初の記録層は,半

透明にする。この記録層の上に,約0.075 mmの透明なカバー層が設けられる。このスペーサ層及び

カバー層は,共に精密に規定した光学特性をもつ(図2参照)。ディスク容量は,50.0 GBである。 

きずへの耐久性を高めるために,カバー層は,ハードコートを任意に追加できる。 

データは,高パワーの集光した光ビームによって,ディスク上に記録及び上書きができる。データは,

低パワーの集光した光ビームによって,非晶質マーク及び結晶スペースの反射率の違いを用いて読み取る

ことができる。 

記録層にはアドレスのあるウォブルグルーブがあり,そのおかげで回転速度の制御及び記録層の目的の

場所へデータを読む又は書くためにアクセスするシステムが可能となる。 

データの記録及び読取りは,どの記録層が対象かによって,カバー層を通して又は最初の記録層スペー

サ層及びカバー層の全体の積層を通して行われる。 

参照のために,ある記録層にアクセスする場合,光ビームが通過する全ての層をその記録層に対する透

過積層という(図1及び図2参照)。 

(保護コート)

カバー層

基板

回転方向

光ビーム入射面

透過積層

記録層

(保護コート)

カバー層

基板

回転方向

光ビーム入射面

透過積層

記録層

図1−タイプ SLディスクの概略図 

background image

13 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

(保護コート)

カバー層

スペーサ層

基板

回転方向

記録L1 層

記録L0 層

光ビームの入射面

透過積層1

透過積層0

(保護コート)

カバー層

スペーサ層

基板

回転方向

記録L1 層

記録L0 層

光ビームの入射面

透過積層1

透過積層0

図2−タイプ DLディスクの概略図 

この規格は,1х,2хの二つの記録速度を規定する。 

図3にディスクタイプ別の記録速度の要求事項を示す。少なくとも各記録速度に対し,いずれかの記録

ストラテジが必要である。 

記録速度

ディスクタイプ

マーク

極性

プッシュプル

極性

層タイプ

1x

2X

タイプSL

HTL

オングルーブ

SL

m

m

タイプDL

HTL

オングルーブa)

DL

m

m

m:必須とする。 
注a) L0層及びL1層のグルーブ特性は,両方オングルーブとする。 

図3−ディスクタイプ別の記録速度要求事項 

一般要求事項 

8.1 

環境条件 

8.1.1 

試験環境条件 

8.1.1.1 

一般 

ディスクがこの規格に適合するかどうかの試験を行う間,ディスクは,次の試験環境条件下に置く。試

験環境条件は,ディスク近傍の環境条件で,次による。 

− 温度: 

(23±2) ℃ 

− 相対湿度: 45 %〜55 % 

− 大気圧: 86 kPa〜106 kPa 

ディスクに結露があってはならない。ディスクは,測定前に十分な時間この環境下に置いておく。 

8.1.1.2 

動作環境の急激変化の試験条件 

幾つかのパラメタは,動作環境条件の変化に影響を受けやすい。次の二つの条件の試験を行う。ディス

クは,いずれの場合も,新しい環境条件に順応する間においても,規格の要求する事項を満たす。 

a) 温度を一定に保ちながら相対湿度を急変化させる。 

background image

14 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

相対湿度=90 %,温度 =25 ℃ → 相対湿度=45 %,温度=25 ℃[図4のa)参照]。 

b) 絶対湿度を一定(約10.4 g/m3)に保ちながら温度を急変化させる。 

温度=25 ℃,相対湿度=45 % → 温度=55 ℃,相対湿度=10 %[図4のb)参照]。 

8.1.2 

動作環境条件 

この規格に適合するディスクは,動作環境条件で規定する環境条件の範囲でデータ交換ができる。動作

環境条件は,ディスク近傍の環境条件で,次による。 

− 温度: 5 ℃〜55 ℃ 

− 相対湿度: 3 %〜90 % 

− 絶対湿度: 0.5 g/m3〜30 g/m3 

− 大気圧:60 kPa〜106 kPa 

ディスクに結露があってはならない。ディスクが上記の環境条件から外れる条件にさらされていた場合

は,使用前に少なくとも2時間以上動作環境条件下で慣らす。 

-40

-20

0

20

40

60

80

100

温度℃

100

80

60

40

20

0

絶対湿度g/m3

0.1

0.5

1

10

100

30

b)

a)

湿

%

図4−動作環境条件 

8.1.3 

保存環境条件 

8.1.3.1 

一般 

保存環境条件は,ディスクの近傍の環境条件で次による。 

− 温度: 

−10 ℃〜55 ℃ 

15 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 相対湿度: 

5 %〜90 % 

− 絶対湿度: 

1 g/m3〜30 g/m3 

− 大気圧: 

60 kPa〜106 kPa 

− 温度変化: 

最大15 ℃/h 

− 相対湿度変化: 最大10 %/h 

8.1.3.2 

気象保存条件 

ディスクの環境での安定度を検査するために,次の環境条件にディスクを置く。 

− JIS C 60068-2-2による高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B) 

温度(T)=55 ℃,相対湿度(RH)=50 %で96時間 

− JIS C 60068-2-30による温湿度サイクル試験方法(試験記号:Db) 

上限温度=40 ℃,下限温度=25 ℃,RH=95 %,サイクル時間=(12+12)時間,6サイクル 

これらの環境条件にディスクをさらした後で,測定の前に24時間又は48時間の回復時間を置くことが

望ましい。 

8.1.4 

輸送 

8.1.4.1 

一般 

輸送は,広い範囲の温度及び湿度の変動,異なる所要時間,多くの輸送手段並びに世界のあらゆる地域

で行われているため,輸送又はこん包の必須条件を規定することは不可能である。 

8.1.4.2 

包装 

8.1.4.2.1 

一般 

包装の形は,送り手と受け手との間で合意をとることが望ましい。合意がない場合は,送り手の責任で

ある。次の細分箇条に示す障害を考慮することが望ましい。 

8.1.4.2.2 

温度及び湿度 

緩衝材及び包装は,見込んだ輸送期間中保存条件を維持するように設計することが望ましい。 

8.1.4.2.3 

負荷及び振動の衝撃 

a) ディスクの変形を起こすような機械的負荷は避ける。 

b) ディスクの落下は避ける。 

c) 衝撃を吸収する材料をもつ硬い箱にディスクを収納することが望ましい。 

d) 外箱は,中がきれいで汚れ及び湿度の侵入を防ぐ密閉構造をもつことが望ましい。 

8.2 

安全性 

ディスクは,意図する取扱い方法で使われる,又は情報システムの中で予測される範囲内で使用される

場合には,JIS C 6950-1の要求事項を満たす。 

8.3 

難燃性 

ディスクは,JIS C 6950-1に規定するHB材料又はそれ以上の難燃性区分の材料で作る。 

基準ドライブ 

9.1 

一般 

この規定の適合の確認のための光学測定及び電気信号測定には,基準ドライブを用いる。この基準ドラ

イブの重要部品は,この箇条で規定する。 

background image

16 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

9.2 

測定条件 

ほかに規定しない限り,ディスクは,8.1.1で規定した試験環境条件下で測定する。 

9.3 

光学システム 

規定した記録及び読取りのパラメタの測定に用いる基準ドライブの光学システムの基本構成を図5に示

す。性能が図5の構成と同じ場合,異なる部品及び部品の異なる配置は許容される。 

光学システムは,測定を行う半径で光ビームが集光する記録層に対して集光した光ビームが垂直になる

ように配置する。 

光学システムは,測定精度に影響が出ないようにディスク入射面で反射した光の検出光を最小にする。 

レーザ
ダイオード

コリメータ

レンズ

偏光

ビームスプリッタ

1/4

波長板

対物

レンズ

球面収差

補正

ディスク

4分割

フォトディテクタ

Ia

Ib

Id

Ic

トラック接線方向

高周波信号読取りチャネル

半径方向プッシュプル読取りチャネル

IaIbIcId

I = I + I

1

a

b

I + I

1    2

I  −I

1    

2

I = I + I

2    c   d

図5−基準ドライブの光学システム 

レーザダイオードから来る入射光と光ディスクで反射しフォトディテクタに行く反射光とを分離するた

めに,偏光ビームスプリッタ及び1/4波長板を用いる。偏光ビームスプリッタを透過する光ビームは,100:1

以上のPS強度比にする。 

光ビームは,測定を行う半径で光ビームが集光する記録層の透過積層の厚さに対して,集光した光ビー

ムの収差(SA)が最小になるように調整する。 

2層ディスクの片方の層の測定中に,他層から反射された光が影響を与える可能性がある。この影響に

対処するために,フォトディテクタの寸法を制限する。ディテクタの縦横の長さは,M×5 μmよりも小さ

くする。 

ここに,Mは,ディスクから4分割フォトディテクタ近傍の共役面までの光学拡大率である。 

9.4 

光ビーム 

データの記録及び読取りに用いる集光した光ビームの特性は,次による。 

− レーザビームの波長(λ): 

(405±5) nm 

− 偏光: 

円偏光 

17 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 開口数(NA): 

0.85±0.01 

− 最大強度に対する対物レンズの瞳の縁での光強度: 

− 接線方向: 

(60±5) % 

− 半径方向: 

(65±5) % 

− 記録層での最大波面収差(チルト及び球面収差補正後): 

0.033×λ rms 

− 次の式で定義するレーザダイオードの最大相対ノイズ強度: −125 dB/Hz 

×

dc

m

log

10

P

P

ここに, 

Pm: 交流光パワー密度/Hz 

Pdc: 直流光パワー 

− 正規化ディテクタサイズ: 

S / M2≦25 μm2 

ここに, 

S: 4分割フォトディテクタの全面積 

− ディスク試験読取りパワー(平均): 

− 単層ディスク: 

(0.35±0.1) mW 

− 2層ディスク: 

(0.70±0.1) mW 

− 記録パワー及びパルスの形: 

29.4.2及び附属書F参照 

9.5 

高周波(HF)読取りチャネル 

HF読取りチャネルによって,使用者データを読み取ることができる信号が供給される。この信号は,4

分割フォトディテクタの電流の総和(Ia+Ib+Ic+Id)で生成される。これらの電流は,マークとスペース

との反射率の違いによって,使用者が記録した情報を使って変調される。 

フォトディテクタを含むHF読取りチャネルは,直流から22 MHzまでの周波数範囲で,直流利得に対

して±1.0 dB以内で平たんな振幅特性をもつ。群遅延変動は,3 MHz〜22 MHzの周波数範囲で,最大2 ns 

ppとする。 

ジッタ測定における信号処理部,データスライサ,PLLなどの特性は,附属書Hに規定する。 

9.6 

半径方向のプッシュプル(PP)読取りチャネル 

半径方向のPP読取りチャネルによって,光ビームの半径方向のトラッキング制御用のトラッキングエ

ラー信号が供給される。また,グルーブで変調された情報を読み取るウォブル信号が供給される。 

半径方向のトラッキングエラーは,対物レンズ瞳の出口の半分ともう半分との光量の差に関連した信号

[(Ia+Ib)−(Ic+Id)]として生成される。 

半径方向のPP読取りチャネル内のフォトディテクタを含む読取増幅器は,直流から8 MHzまでの周波

数範囲で直流利得に対して±1.0 dB以内で平たんな振幅特性とする。 

9.7 

ディスクのクランプ 

ディスクは,パラメタの測定中に,クランプゾーン(10.6参照)のほぼ全域を覆う二つの同心円環の間

でクランプする。上部のクランプ領域は,下部のクランプ領域と同じ内径及び外径とする(図6参照)。 

クランプは,dinとdoutとの間とし,次による。 

din=(23.5±0.5) mm 

dout=(32.5±0.5) mm 

全クランプ力は,F1とし,次による。 

background image

18 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

F1=2.0 N±0.5 N 

このクランプ力と,ディスクの中心孔の縁にテーパコーンによって加わるチャック力F2との間で生じる

力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために,F2は,0.5 Nを超えてはならない(図6参照)。 

ディスクの中心位置決めに用いるテーパコーンの頂角αは,次による。 

α=40.0°±0.5° 

図6−測定のクランプ条件 

9.8 

ディスクの回転及び測定速度 

ディスクの回転方向は,対物レンズから見て反時計方向とする。 

全ての規定は,特に指定がない限り基準速度に等しい接線方向の読取速度に基づいている。この速度は,

一定線速度4.917 m/sに相当している。 

9.9 

正規化サーボ伝達関数 

軸方向及び半径方向のトラッキングのサーボシステムを規定するために,関数HN(iω)が用いられる。そ

れは,基準サーボの開ループ伝達関数Hの公称値を規定する。 

()

K

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

ω

H

+

×

×

+

×

+

×

×

=

i

1

3

i

1

i

3

1

i

3

1

i

int

0

0

2

0

N

ここに, 

ω: 2π×f 

ω0: 2π×f0 

ωint: 2π×fint 

i: i2=−1 

K: 積分の次数 

f0は,開ループ伝達関数の0 dB交差周波数である。 

サーボの位相進み遅れ回路の交差周波数は,次による。 

− 進み交差周波数:f1=f0 / 3 

− 遅れ交差周波数:f2=f0×3 

式の中の[1+ωint/(iω)]の項は,積分関数を表している。そのような積分関数及び同等の関数は,特にディ

background image

19 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

スクの回転周波数及びその高次周波数による偏移による低域成分を更に低減するために使用される。 

また,fintは,積分関数の3 dB交差周波数である。 

もう一つの重要な周波数は,fxであり,その周波数では,振幅が最大許容残留トラッキングエラーemax

と等しい正弦波偏移が,最大加速度期待値αmaxに合致している。この周波数は,次のとおりに計算できる。 

max

max

π

2

1

e

α

fx=

ディスクのトラッキングエラー信号は幾分大きい変動があるため,各基準サーボループに入力するトラ

ッキングエラー信号は,規定した帯域幅を保証するために決めた値に調整する(結果として全体のループ

ゲインを校正することになる。)。 

9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ 

軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1+H(f)│は,図7に示す影を付けた

領域内で示される。 

100

80

40

20

0

77.0

97.0

利得(dB)

1

10

100

1  10

×

3

10  10

×

3

100  10

×

3

周波数(Hz)

36

54.6

52.9

図7−軸方向のトラッキングサーボ特性 

│1+H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0(9.9参照)は,次による。 

kHz

2.3

10

55

0.6

25

.1

3

π

2

1

3

π

2

1

9

max

max

0

=

×

×

×

=

×

×

=

e

α

m

f

ここに, αmax: 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは,αmax=6.0 

m/s2とする。 

m: サーボマージンとしての係数。ここでは,m=1.25とする。 

emax: m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは,emax=55 nmと

する。 

積分の3 dB交差周波数は,次による。 

fint=100 Hz 

│1+H(f)│の境界は,次のa)〜c) による。 

a) 100 Hz〜10 kHzの帯域で 

background image

20 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

│1+H(f)│は,│1+HN(f)│の−10 %〜+10 %とする。 

b) 36 Hz〜100 Hzの帯域で 

│1+H(f)│は,次に規定する4点の境界の中とする。 

− 100 Hzで52.9 dB(100 Hzで│1+HN(f)│−10 %) 

− 100 Hzで54.6 dB(100 Hzで│1+HN(f)│+10 %) 

− 36 Hzで77.0 dB(36 Hzで│1+HN(f)│−10 %) 

− 36 Hzで97.0 dB(36 Hzで│1+HN(f)│−10 %+20 dB) 

c) 36 Hzまでの帯域で 

│1+H(f)│は,77.0 dBと97.0 dBとの間とする。 

周波数fxは,次による。 

kHz

6.1

10

55

0.6

π

2

1

π

2

1

9

max

max

x

×

=

=

e

α

f

9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ 

半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1+H(f)│は,図8に示す影を付け

た領域内で示される。 

100

80

40

20

0

79.0

99.0

利得(dB)

1

10

100

1  10

×

3

10  10

×

3

100  10

×

3

周波数(Hz)

36

56.6

54.9

図8−半径方向のトラッキングサーボ特性 

│1+H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0(9.9参照)は,次による。 

kHz

6.3

10

16

2.2

25

.1

3

π

2

1

3

π

2

1

9

max

max

0

=

×

×

×

=

×

×

=

e

α

m

f

ここに, αmax: 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは,αmax=2.2 

m/s2とする。 

m: サーボマージンとしての係数。ここでは,m=1.25とする。 

emax: m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは,emax=16 nmと

する。 

background image

21 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

積分の3 dB交差周波数fintは,次による。 

fint=100 Hz 

│1+H(f)│の境界は,次のa)〜c)による。 

a) 100 Hz〜10 kHzの帯域で 

│1+H(f)│は,│1+HN(f)│の−10 %〜+10 %とする。 

b) 36 Hz〜100 Hzの帯域で 

│1+H(f)│は,次に規定する4点の境界の中とする。 

− 100 Hzで54.9 dB(100 Hzで│1+HN(f)│−10 %) 

− 100 Hzで56.6 dB(100 Hzで│1+HN(f)│+10 %) 

− 36 Hzで79.0 dB(36 Hzで│1+HN(f)│+10 %) 

− 36 Hzで99.0 dB(36 Hzで│1+HN(f)│−10 %+20 dB) 

c) 36 Hzまでの帯域で 

│1+H(f)│は,79.0 dBと99.0 dBとの間とする。 

周波数fxは,次による。 

kHz

8.1

10

16

2.2

π

2

1

π

2

1

9

max

max

x

×

=

=

e

α

f

10 寸法特性 

10.1 一般 

寸法特性は,ディスクの互換性及び適合をとる上で必須とみなされるパラメタについて規定する。設計

の自由度があるところは,規定した要素の基本特性だけ示す。図9にまとめて寸法要求事項を示している。

ディスクの各部分について,中心孔〜外周リムを規定している。 

図9−ディスク寸法の全体概要 

10.2 ディスクの基準面及び基準軸 

(ディスクの基準面については,図10及び図11も参照する。) 

ディスク基準面Pは,ディスクの読取面側のクランプゾーン表面(10.6参照)で決まる平面である。 

background image

22 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ディスク基準面Qは,ディスクの基板側のクランプゾーン表面で決まる平面である。 

基準軸Aは,ディスク基準面Pに垂直で中心孔の中心を通る軸である。 

ディスク基準面Rは,ディスク基準面Pに平行な平面である。ディスク基準面Rは,ディスク基準面P

よりもディスクの内側にe4の距離とし(図10及び図11参照),次による。 

e4=(100±25) μm 

ディスク基準面Rは,L0層の半径raとrbとの間の平均位置で記録層L0(記録層L0は,単層ディスク

の唯一の記録層又は2層ディスクの最も奥の記録層である。)と交差し,次による。 

ra=23 mm 

rb=24 mm 

図10−ディスク寸法の詳細 

図11−ディスク基準面P及びR並びに記録層L0の詳細 

23 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

10.3 全体寸法 

ディスクの外径はd1とし(図9参照),次による。 

d1=(120.0±0.3) mm 

中心孔の直径はd2とし(図9参照),次による。 

d2=

10

.0

00

.0

00

.

15

+

 mm 

読取面側の中心孔のエッジに,ばりがあってはならない。 

読取面側の中心孔のエッジは,ディスクの中心位置決めの基準であり,丸めるか面取りをする。丸めの

半径はreとし,次による。 

最大re=0.1 mm 

面取りの高さは,第1遷移領域の下面よりも上に最大0.1 mmとする。丸め又は面取りの高さは,ディ

スク基準面Pからh1とし(詳細は図10参照),次による。 

最大h1=0.25 mm 

ディスクの最大厚さは,ディスク入射面から突き出す最も高い構造物とディスクの上面から突き出す最

も高い構造物との間の基準軸Aの方向の距離で規定する。 

カバー層,保護コート及びレーベル印刷を含むディスクの最大厚さは,ディスクのいずれの半径位置で

もe1(図10参照)とし,次による。 

e1=1.40 mm 

ディスクの情報領域の最小厚さはe2とし,次による。 

e2=0.90 mm 

クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも内側にh2入ってもよいとし,次によ

る。 

最大h2=0.4 mm 

クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも外側にh3出てもよいとし(図10参

照),次による。 

最大h3=0.1 mm 

10.4 第1遷移領域 

クランプゾーンの内側(d<d6)の領域ではディスク表面は,ディスク基準面P及びQに対してそれぞ

れh5,h4内側に入ってもよいとし,次による。 

最大h5=0.20 mm 

最大h4=0.12 mm 

このディスク表面はディスク基準面P及びQの外側にそれぞれh7,h6平たんでない部分及びばりがあっ

てもよいとし,次による(図9及び図10参照)。 

最大h7=0.05 mm 

最大h6=0.05 mm 

10.5 保護リング 

ディスクの内側の領域に任意に設けるリング状の突出部は,ディスクを置く表面及びディスクが置かれ

る表面が全面で接触するのを防ぐことができる。そのようなリングを設けることによって,ディスクの読

取面がきず付くのを減らすことができる。 

保護リングを設ける場合,その位置は直径d3と直径d5との間とし,次による。 

d3=17.5 mm 

24 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

d5=21.0 mm 

d3と直径d4との間で保護リングの高さはクランプ表面の上にh8とし,次による。 

d4=20.5 mm 

最大h8=0.12 mm 

d4とd5との間で保護リングの高さは,緩やかに周辺の表面の高さまで減少する(図10参照)。 

10.6 クランプゾーン 

ディスククランプゾーンの内径はd6とし,次による。 

d6≦23.0 mm 

ディスククランプゾーンの外径はd7(図9参照)とし,次による。 

d7≧33.0 mm 

ディスククランプゾーン内のディスク厚さはe3(図10参照)とし,次による。 

e3=

10

.0

05

.0

20

.1

+−

 mm 

ディスククランプゾーン内(d6<d<d7)でディスクの両面は,最大0.1 mm以内の平たんとする。 

ディスククランプゾーン内(d6<d<d7)でディスクの両面は,最大0.1 mm以内の平行とする。 

10.7 第2遷移領域 

第2遷移領域は,クランプゾーンと情報領域との間でd7<d<d9の領域である(図9参照)。 

この領域でディスクの読取側の表面はディスク基準面Pよりもh9内側に入ってもよく,次による。 

最大h9=0.12 mm 

この表面は,情報領域の入射面に対してh10外側に出てもよく(図10参照),次による。 

最大h10=0.01 mm 

この領域でディスクの上面はディスク基準面Qよりもh11外側に出てもよく,次による。 

最大h11=0.2 mm 

h16は,この領域のディスク上面から情報領域上面への段差である。l1は,傾斜部の開始半径と終了半径

との間の距離である。h16が0.2 mmよりも大きい場合は,図10に示すとおり情報領域上面への下降の傾斜

はなだらかとし,かつ,l1は,次による。 

l1>1.8 mm 

第2遷移領域から情報領域の上面へ下がる段差がある場合は,その段差は直径d8以内でなくなるとし,

次による。 

d8=40.0 mm 

10.8 情報領域 

10.8.1 一般 

情報領域は直径d9〜直径d10とし(図9及び図12参照),次による。 

d9=42 mm 

d10=117 mm 

各記録層上で,データ領域は,内径dDZIと外径dDZOとの間とする。全ての記録層のデータ領域は,同じ

記録容量をもつ。 

記録層Lnの内径dDZIは,dDZIn,記録層Lnの外径dDZOは,dDZOnとし,次による。 

dDZIn=

0.0

2.0

0.

48

− mm 

dDZOn≦116.2 mm 

d9とdDZIとの間の領域を内側ゾーンと呼び,dDZOとd10との間の領域を外側ゾーンと呼ぶ(図12参照)。 

background image

25 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

情報領域のディスクの全体厚さは,10.3に規定したとおりである。 

図12−情報領域の分割 

10.8.2 単層ディスク情報ゾーンの区分 

情報領域は,情報ゾーンを記録するために使用される。 

情報ゾーンは,次の主部分に区分される(図13参照)。 

− リードインゾーン(内側ゾーンの部分3) 

− データゾーン 

− リードアウトゾーン(外側ゾーン) 

基板

記録層

カバー層

リードインゾーン

リードアウトゾーン

データゾーン

光ビーム

らせん方向

ディスク内周

ディスク外周

基板

記録層

カバー層

リードインゾーン

リードアウトゾーン

データゾーン

光ビーム

らせん方向

ディスク内周

ディスク外周 

図13−単層ディスク情報ゾーンの区分 

リードインゾーンは,直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり,データゾーンの先頭の直径dDZI

で終了する。 

リードアウトゾーンは,データゾーンの最後の直径dDZOで始まり,最小で直径117 mmで終了する。 

10.8.3 2層ディスク情報ゾーンの区分 

情報領域は,二つの記録層に分かれた情報ゾーンを記録するために使用される。 

情報ゾーンは,次の主部分に区分される(図14参照)。 

− 記録層L0 

− リードインゾーン(内側ゾーン0の部分) 

− データゾーン0 

− 外側ゾーン0 

− 記録層L1 

background image

26 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 外側ゾーン1 

− データゾーン1 

− リードアウトゾーン(内側ゾーン1の部分) 

L0層のらせんグルーブは,ディスクの内側から外側に向かって進む。 

L1層のらせんグルーブは,ディスクの外側から内側に向かって進む。 

基板

記録層L0

記録層L1

スペーサ層

カバー層

リードインゾーン

リードアウトゾーン

外側ゾーン1

外側ゾーン0

データゾーン1

データゾーン0

光ビーム

らせん方向

らせん方向

ディスク内周

ディスク外周

基板

記録層L0

記録層L1

スペーサ層

カバー層

リードインゾーン

リードアウトゾーン

外側ゾーン1

外側ゾーン0

データゾーン1

データゾーン0

光ビーム

らせん方向

らせん方向

ディスク内周

ディスク外周

図14−2層ディスク情報ゾーンの区分 

リードインゾーンは,直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり,データゾーン0の先頭の直径dDZI0

で終了する。 

外側ゾーン0は,データゾーン0の最後の直径dDZO0で始まり,最小で直径117 mmで終了する。 

外側ゾーン1は,最小で直径117 mmで始まり,データゾーン1の始まりの直径dDZO1で終了する。 

リードアウトゾーンは,データゾーン1の最後の直径dDZI1で始まり,直径44.0 mmと44.4 mmとの間の

領域で終了する。 

10.9 リム領域 

リム領域は,情報領域の外の領域でd10で開始しディスクの外径まで広がっている(図9参照)。 

リム領域の最初の0.5 mmでは読取面側のディスク表面は,情報領域の入射面よりも外側に出てはなら

ない。 

残りのリム領域で読取面側のディスク表面は,情報領域の入射面よりもh13を超えて外側に出てはなら

ないとし(図10参照),次による。 

最大h13=0.05 mm 

リム領域で読取面側のディスク表面は,情報領域の入射面よりもh14内側に入ってもよいとし(図10参

照),次による。 

最大h14=0.12 mm 

リム領域でディスクの上面は,情報領域の上面よりもh15を超えて外側に出てはならないとし(図10参

照),次による。 

最大h15=0.05 mm 

11 機械的特性 

11.1 質量 

ディスクの質量mは,次による。 

27 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

12 g≦m≦17 g 

11.2 慣性モーメント 

ディスクの慣性モーメントは,0.032 g·m2以下とする。 

11.3 ダイナミックインバランス 

ディスクのダイナミックインバランスは,2.5 g·mm以下とする。 

11.4 軸方向の振れ量 

11.4.1 一般 

軸方向のトラッキング基準サーボをもつ光学システムでディスクを線速度4.917 m/sで回転して測定す

る場合(全ての容量で),各記録層とディスク基準面R(図10及び図11参照)との間の基準軸Aの方向

の距離はディスク全体でh12とし,次による。 

最大h12=0.3 mm 

1トラック内(1回転内)で,ディスク基準軸Aの方向の各記録層の平均位置からの偏移は,最大0.1 mm

とする。 

これは,ディスクの内周で線速度4.917 m/sの回転をしている場合に,ディスクの回転周波数での正弦波

偏移と考えると,最大加速度4.6 m/s2に相当している。 

基準サーボの積分機能のために(9.10参照)この回転成分は十分に抑制され,11.4.2に規定する残留ト

ラッキングエラーは主として局所外乱に起因している。 

11.4.2 軸方向残留トラッキングエラー 

9.10で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って測定した1.6 kHz(=fx,9.10参照)よりも低

い周波数での各記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは,最大45 nmとする(光ビームの焦点が記録

層の上に来るように動かすために対物レンズの移動が必要である。)。 

ほこり,きずなどの局所欠陥による軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。附属書Iを参

照。 

測定フィルタは,次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。 

f−3dB=1.6 kHz,傾斜−60 dB/decade 

これは,1.6 kHz未満の周波数で基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は6.0 m/s2を超えないこと

を意味する。 

軸方向のトラッキング基準サーボを使い20 msの積分時間で測定した1.6 kHz〜10 kHzの周波数帯域での

残留エラー信号のノイズ実効値は最大32 nmとする。測定フィルタは,次の特性をもつバターワース帯域

通過フィルタとする。 

f−3dB=1.6 kHz,傾斜+60 dB/decadeから,f−3dB=10 kHz,傾斜−60 dB/decadeまで 

11.5 半径方向の振れ量 

11.5.1 一般 

ディスクの外周エッジの振れ量は,最大0.3 mm ppとする。 

各記録層のトラックの半径方向の振れ量(偏芯及び真円からのずれを含む。)は,ディスクを線速度4.917 

m/sで回転させ,半径方向トラッキング基準サーボをもつ光学システムで測定する(全ての容量で)。 

半径方向の振れ量は,最大75 μm ppとする(単層及び2層ディスク)。 

これは,ディスクの内周で線速度4.917 m/sの回転をしている場合にディスクの回転周波数での正弦波偏

移と考えると,最大加速度1.7 m/s2に相当している。 

基準サーボの積分機能のために(9.11参照)この回転成分は十分に抑圧され,11.5.2及び11.5.3に規定

28 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

する残留トラッキングエラーは主として局所外乱に起因している。 

残留トラッキングエラーは,図5に示す半径方向のPP読取りチャネル(I1−I2)信号を測定及び半径方向

の制御用の両方に供給することによって判定する。 

11.5.2 単層ディスクの半径方向残留トラッキングエラー 

9.11で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って測定した1.8 kHz(=fx,9.11参照)よりも

低い周波数での各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは,最大9 nmとする。 

ほこり,きずなどの局所欠陥による,半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。附属書I

を参照。 

測定フィルタは,次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。 

f−3dB=1.8 kHz,傾斜−60 dB/decade 

これは,1.8 kHz未満の周波数で,半径方向の記録層の局所加速度の最大値は1.5 m/s2を超えないことを

意味している。 

半径方向のトラッキング基準サーボを使い20 msの積分時間で測定した1.8 kHz〜10 kHzの周波数帯域で

の残留エラー信号のノイズ実効値は最大6.4 nmとする。測定フィルタは,次の特性をもつバターワース帯

域通過フィルタとする。 

f−3dB=1.8 kHz,傾斜+60 dB/decadeから,f−3dB=10 kHz,傾斜−60 dB/decadeまで 

11.5.3 2層ディスクの半径方向残留トラッキングエラー 

9.11で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って測定した1.8 kHz(=fx,9.11参照)よりも

低い周波数での各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは,最大13 nmとする。 

ほこり,きずなどの局所欠陥による,半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。附属書I

を参照。 

測定フィルタは,次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。 

f−3dB=1.8 kHz,傾斜−60 dB/decade 

これは,1.8 kHz未満の周波数で,半径方向の記録層の局所加速度の最大値は2.2 m/s2を超えないことを

意味する。 

半径方向のトラッキング基準サーボを使い20 msの積分時間で測定した1.8 kHz〜10 kHzの周波数帯域で

の残留エラー信号のノイズ実効値は最大9.2 nmとする。測定フィルタは,次の特性をもつバターワース帯

域通過フィルタとする。 

f−3dB=1.8 kHz,傾斜+60 dB/decadeから,f−3dB=10 kHz,傾斜−60 dB/decadeまで 

11.6 カバー層の耐久性 

11.6.1 カバー層の衝突耐久性 

ディスクの読取面に対物レンズが衝突する場合に,過度にディスクが損傷するのを防ぐために,ディス

ク表面は,最低限の衝突耐久性をもつことが望ましい。この衝突耐久性は,附属書Lに規定する測定方法

で測定できる。 

11.6.2 カバー層のきず耐久性 

過度にきずが付かないように,ディスク表面は最低限の硬さをもつ。きず耐久性は,附属書Cに規定す

る測定方法で測定する。 

11.6.3 カバー層による指紋はつ(撥)油性 

過度の汚れを防ぐため,ディスク表面はできるだけ汚れをはじくことが望ましい。汚れのはじき具合は,

附属書Dに規定する測定方法で測定する。 

29 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

12 情報領域の光学的特性 

12.1 一般 

ディスクの情報領域内で,次の要求事項を満たす。 

これらの透過積層(TS)の規格は,記録層の上の全ての関連する層(例えば,積層膜の場合は接着層,

TS0の場合は,スペーサ層及びL1層の半透明記録層,カバー層及び保護コート付きの場合,保護コート

層など。)を含んでいる。 

12.2 透過積層(TS)の屈折率 

TS全体を形成する層が異なる屈折率をもっている場合は,附属書Aに規定した方法に従う。ディスク

のカバー層及びスペーサ層の屈折率nは,次による。 

1.45≦n≦1.70 

12.3 透過積層(TS)の厚さ 

12.3.1 単層ディスクの透過積層の厚さ 

半径raとrbとの間の平均厚さは,ディスクの透過積層(TS)の基準厚さ(10.2及び図11参照)という。 

ディスク全面で測定したTSの厚さは,次の二つの要求事項を満たす。 

a) 屈折率で決まるTSの厚さは,図15(屈折率が1.6の場合の厚さは,95 μm〜105 μmとし,図中太い

破線は,公称厚さを屈折率の関数として示す。)の上側の網掛け領域内とする。 

b) TSの厚さの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は,次による。 

│ΔD│≦2.0 μm 

12.3.2 2層ディスクの透過積層の厚さ 

半径raとrbとの間の平均厚さは,関連するディスクの透過積層(TS0又はTS1)の基準厚さという。 

ディスク全面で測定したTS0及びTS1の厚さは,次の四つの要求事項を満たす。 

a) 屈折率で決まるTS0(L0層の上の全ての層)の厚さは,図15(屈折率が1.6の場合の厚さは95 μm〜

105 μmとし,図中太い破線は,公称厚さを屈折率の関数として示す。)の上側の網掛け領域内とする。 

b) 屈折率で決まるTS1(L1層の上の全ての層)の厚さは,図15(屈折率が1.6の場合の厚さは70 μm〜

80 μmとし,図中太い破線は,公称厚さを屈折率の関数として示す。)の下側の網掛け領域内とする。 

c) スペーサ層の厚さは,20 μm〜30 μmとする。 

d) TS0及びTS1の厚さのそれぞれの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は,次による。 

│ΔD│≦2.0 μm 

background image

30 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

104

106

108

102

100

94

100.0

75.0

74.4

74.1

74.1

75.8

76.7

96

98

98.6

98.5

99.2

101.1

102.4

81

79

77

75

69

71

73

(

m

)

μ

1.40

1.45

1.50

1.55

1.60

1.70

1.75

1.65

透過積層の屈折率

104

106

108

102

100

94

100.0

75.0

74.4

74.1

74.1

75.8

76.7

96

98

98.6

98.5

99.2

101.1

102.4

81

79

77

75

69

71

73

(

m

)

μ

1.40

1.45

1.50

1.55

1.60

1.70

1.75

1.65

透過積層の屈折率

図15−屈折率の関数としての透過積層の厚さ 

12.4 反射率 

12.4.1 単層ディスクの記録層の反射率 

カバー層の透過を含む情報ゾーンの記録層の反射率は,附属書Bの測定条件の下で,次による。 

− 未記録のバージングルーブ: 

12 %≦Rg−v≦24 % 

− 未記録の消去グルーブ: 

11 %≦Rg−e≦24 % 

− ディスクの各場所: 

0.75×Rg−v<Rg−e<1.25×Rg−v 

− 記録済みグルーブの最初の10DOWサイクル: 11 %≦R8H≦24 % 

background image

31 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− ディスクの各場所: 

0.75×Rg−v<R8H<1.25×Rg−v 

記録マークは,未記録層よりも低い反射率とする。 

12.4.2 2層ディスクの記録層の反射率 

カバー層の透過を含む情報ゾーンの記録層の反射率は,附属書Bの測定条件の下で,次による。 

− 未記録のバージングルーブ: 

4 %≦Rg−v≦8 % 

− 未記録の消去グルーブ: 

3.5 %≦Rg−e≦8 % 

− ディスクの各場所: 

0.75×Rg−v<Rg−e<1.25×Rg−v 

− 記録済みグルーブの最初の10DOWサイクル: 3.5 %≦R8H≦8 % 

− ディスクの各部: 

0.75×Rg−v<R8H<1.25×Rg−v 

記録マークは,未記録層よりも低い反射率とする。 

12.5 複屈折 

透過積層のディスク面方向の複屈折(附属書J参照)は,次による。 

Δn//≦1.5×10−4 

透過積層のディスク面に対して垂直方向の複屈折(附属書J参照)は,次による。 

Δn┴≦1.2×10−3 

12.6 角度偏差 

角度偏差は,ディスクの基準面Pに垂直な入射平行光と反射光との間の角度αである。入射光の直径は,

0.3 mm〜1.0 mmの範囲とする。角度偏差αは,入射面のゆがみ並びにカバー層及び/又はスペーサ層の非

平行を含んでいる(図16参照)。 

カバー層

基板

記録層

読取り面

反射光

a

入射光

図16−角度偏差の規定 

角度偏差αの要求事項は,次による。 

− 半径方向 

32 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 8.1.1に規定する通常の試験環境条件: 最大│α│=0.60° 

− 8.1.1に規定する急激変化の試験条件: 最大│α│=0.70° 

− 接線方向 

− 8.1.1に規定する通常の試験環境条件: 最大│α│=0.30° 

13 データフォーマット 

13.1 一般 

情報源(ホストコンピュータ又は応用)から受け取ったデータは,使用者データフレームと呼ばれ,デ

ィスクに記録する前に幾つかのステップを踏んで,次のとおりにフォーマットされる(図17参照)。 

background image

33 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

32 フレーム

使用者データ

x 2 048バイト

32 セクタ

データブロック

304 列

216 行

アクセスブロック

24 列

30

LDC ブロック

304 列

216 行データ

32 行パリティ

使用者コントロールデータ

32 ユニット

x18 バイト

物理セクタ番号

アドレスユニット番号

16アドレス

x9 バイト

24 列

30 行データ

32 行パリティ

BIS ブロック

BIS クラスタ

3 列

496 行

LDC クラスタ

152 列

496 行

物理クラスタ

ECC クラスタ

(155 列)

(

1 288 データビット)

1 932 チャネルビット

LDC

38 列

BIS

1 列

LDC

38 列

BIS

1 列

LDC

38 列

BIS

1 列

LDC

38 列

496 行は、各31行の
16 アドレスユニットに
分割する。

フレーム

同期

20

データ

25

直流
制御

1

直流
制御

1

直流

制御

1

データ

45

データ

45

496

記録フレーム

32 フレーム

データフレーム

x(2 048バイトデータ

+4 バイトEDC)

32 フレーム

スクランブルドデータフレーム

x2 052バイト

図17−エンコードプロセスの図 

− 使用者データは,データフレーム,スクランブルドデータフレーム,データブロック,LDCブロック

及びLDCクラスタと,順番に変換される。 

− BD書換形システムで追加するアドレス及びコントロールデータは,アクセスブロック,BISブロック

及びBISクラスタと順番に変換される。 

− LDCクラスタ及びBISクラスタは,多重化され16アドレスユニットに分割されるECCクラスタとな

background image

34 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

り,変調されて496記録フレームから構成される物理クラスタとなる。 

BD書換形ディスクのデータは,2 048バイトの使用者データから構成される32個のデータフレームを

もつクラスタと呼ぶ64Kのパーティションに記録される。このクラスタは,二つのエラー訂正の仕組みで

保護されている。 

− 第1に,(248,216,33)リードソロモン(RS)符号語で構成する長距離(LDC)エラー訂正符号で保護

される。この符号は,十分なパリティ及びインターリーブ長をもち効率がよく,ランダムエラー及び

バーストエラーの両方を訂正できる。 

− 第2に,データは,(62,30,33)RS符号語で構成する強力なバースト検出サブコード(BIS)と多重化

される。このBIS符号は,場所を特定するためのアドレス及び使用者データに付随したコントロール

情報をもっている。また,LDCが効率的に消失訂正できるように,長いバーストエラーを示すために

使うことができる。 

これらの二つの符号の組合せは,LDC+BIS符号と呼ばれる(図18参照)。 

全てのデータは,図18に示す配列に構成される。この配列は,行から行へと水平方向に読まれ,直流制

御ビットを追加し,変調し,同期パタンを追加してディスク上に記録される。 

エラー訂正符号は,ディスク上のバーストエラーを原理的にうまく分割する垂直方向に適用される。さ

らに,LDC符号は,対角線方向にインターリーブされている。 

同期

38

バイト

1

バイト

38

バイト

1

バイト

38

バイト

1

バイト

38

バイト

D0........D37

B0

D38......D75

B1

D76....D113

B2

D114...D151

D152…. D189

B3

D190...........

アドレス

ユニット0

31

496

ディスク上の

データの流れ

:
:
:

アドレス

ユニット14

31

アドレス

ユニット15

....... D75 391

31

同期

38

バイト

1

バイト

38

バイト

1

バイト

38

バイト

1

バイト

38

バイト

D0........D37

B0

D38......D75

B1

D76....D113

B2

D114...D151

D152…. D189

B3

D190...........

アドレス

ユニット0

31

496

ディスク上の

データの流れ

:
:
:

アドレス

ユニット14

31

アドレス

ユニット15

....... D75 391

31

図18−ディスク上の物理クラスタの図 

アドレスユニット,物理セクタ及び論理セクタは,次による。 

− アドレスユニット 

ディスク上の所定の位置へ光ピックアップの位置決めをするために,物理クラスタは,それぞれが

background image

35 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

31の連続する行から構成される,16個のアドレスユニットに細分される。アドレスユニット番号

(AUN)を記録データに埋め込むことによって迅速な位置決めができる。 

− 物理セクタ 

コントロールデータが附属したデータフレームは,セクタと呼ばれる。ディスク全体(内側ゾーン

及び外側ゾーンを含む。)の全ての物理クラスタ内の全てのセクタは,物理セクタと呼ばれる。全ての

物理セクタは,物理セクタ番号(PSN)と呼ぶ仮想番号をもっている。このPSNは,ディスク上に記

録されないがAUNと同期している。 

− 論理セクタ 

ホストコンピュータ又は応用から供給される使用者データを保存するために,全ての物理セクタが

利用できるわけではない。内側ゾーン及び外側ゾーンは,除かれる。残りのセクタは,使用者データ

保存に利用でき,論理セクタと呼ばれる。 

13.2 データフレーム 

一つのデータフレームは,2 048バイトの使用者データ及び4バイトのエラー検出符号(EDC)の2 052

バイトで構成される。2 048バイトの使用者データバイトは,ud0〜ud2 047として,また,4バイトのEDC

は,ed2 048〜ed2 051として識別される(図19参照)。 

ud0

:

2048

:

使用者データ

:

バイト

:

2052

ud2047

バイト

ed2048

4

ed2049

EDCバイト

ed2050
ed2051

ud0

:

2048

:

使用者データ

:

バイト

:

2052

ud2047

バイト

ed2048

4

ed2049

EDCバイト

ed2050
ed2051

図19−データフレーム 

13.3 エラー検出符号(EDC) 

4バイトのフィールドed2 048〜ed2 051は,2 048バイトの使用者データ全体に対し算出されたエラー検出符

号を収納する。データフレームを,最初の使用者データバイト(ud0)の最上位ビットから始まり最後の

EDCバイト(ed2 051)の最下位ビットで終わる一つのビットフィールドとして考えると,msbはb16 415で,

lsbはb0となる。 

EDCの各ビットbiは,i=0〜31に対して,次のとおりに示される。 

)

(

mod

)

(

b

)

(

0

31

x

G

x

I

x

x

EDC

i

i

i

=

=∑

=

ここに, I(x): 

=

=

32

415

16

b

)

(

i

i

ix

x

I

G(x): G(x)=x32+x31+x4+1 

13.4 スクランブルドデータフレーム 

使用者データ及びEDCの2 052バイトから構成される,各データフレームは,図20に規定する回路の

出力でスクランブルする。この図でビットs7 (msb)〜s0 (lsb)は,各8ビットシフトごとのスクランブルバイ

トを表す。 

background image

36 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

回路の心臓部は,線形帰還シフトレジスタ(LFSR)で,次による。 

φ(x)=x16+x15+x13+x4+1 

ここで,s0〜s15:16ビットシフトレジスタを構成している。各シフトクロックで,snの中身はsn+1(n

=0...14)にシフトし,一方,s0は,

3

12

14

15

s

s

s

s

(⊕は排他的論理和を表す。)にセットされる。 

各データフレームのスクランブル手順の最初で,s0〜s15のシフトレジスタは,データフレームに付随す

る(仮想)PSN(箇条17参照)から生成する値にプリセットする。16ビットのプリセット値は,次に示

す方法で作成する。 

− s15は,“1”にセットする。 

− s14〜s0は,PSNのPS19〜PS5にセットする(図20参照)。 

同じプリセット値を,同一クラスタ内の全32データフレームに用いる。 

最上位バイト

“1”

最下位バイト

PS31

PS23

PS15

PS7

PS24

PS16

PS19

PS8

PS0

PS5PS4

s15s14

s12

s7s6s5s4s3s2s1s0

PSN

パラレル
入力

シフトクロック

図20−スクランブル回路 

プリセット値を読み込んだ後,s7〜s0は,スクランブルバイトS0として取り出される。さらに,8ビッ

トシフトを2 051回繰り返し,続きの2 051バイトは,s7〜s0からスクランブルバイトS1〜S2 051として取り

出される。データフレームの2 052バイトのud/edkは,スクランブルバイトdkとなり,次による。 

k

k

k

S

ud/ed

d=

ここに, 

k: 0〜2 051 

⊕: 排他的論理和 

13.5 データブロック 

次のステップで,32個のスクランブルドデータフレーム(Fは,0〜31)は,一塊のデータに統合され

る(図21参照)。 

background image

37 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

32 フレーム

0

1

:

F

:

31

d0,0

d0,1

:

d0,F

:

d0,31

d1,0

d1,1

:

d1,F

:

d1,31

2052

:

:

:

:

:

バイト

:

:

:

:

:

d2050,0

d2050,1

:

d2050,F

:

d2050,31

d2051,0

d2051,1

:

d2051,F

:

d2051,31

32 フレーム

0

1

:

F

:

31

d0,0

d0,1

:

d0,F

:

d0,31

d1,0

d1,1

:

d1,F

:

d1,31

2052

:

:

:

:

:

バイト

:

:

:

:

:

d2050,0

d2050,1

:

d2050,F

:

d2050,31

d2051,0

d2051,1

:

d2051,F

:

d2051,31

図21−32スクランブルドデータフレーム 

これらのデータは,各スクランブルドデータフレームを図22に示すとおり9,5列に分けることによって,

216行×304列の配列に再配置される。この新しい配列は,データブロックと呼ばれる。全ての偶数スクラ

ンブルドデータフレームは,列を半分下がったところで終わり,全ての奇数スクランブルドデータフレー

ムは,列を半分下がったところから始まることに注意することが望ましい。 

注記 この規格において,行列の2次元の位置を示す添字(例えば,d109,1)では,対応国際規格と同

じ半角カンマを用いた表記としている。 

304 列

0

1

:

9

10

:

18

19

303

d0,0

d216,0

:

d1944,0

d108,1

:

d1836,1

d0,2

:

d1836,31

d1,0

d217,0

:

d1945,0

d109,1

:

d1837,1

d1,2

:

d1837,31

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d2050,0

:

:

:

:

:

:

216

:

:

:

d2051,0

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d0,1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d1,1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d106,1

:

:

:

:

:

:

d215,0

d431,0

:

d107,1

d323,1

:

d2051,1

d215,2

:

d2051,31

304 列

0

1

:

9

10

:

18

19

303

d0,0

d216,0

:

d1944,0

d108,1

:

d1836,1

d0,2

:

d1836,31

d1,0

d217,0

:

d1945,0

d109,1

:

d1837,1

d1,2

:

d1837,31

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d2050,0

:

:

:

:

:

:

216

:

:

:

d2051,0

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d2050,0

:

:

:

:

:

:

216

:

:

:

d2051,0

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d0,1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d1,1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d0,1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d1,1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

d106,1

:

:

:

:

:

:

d215,0

d431,0

:

d107,1

d323,1

:

d2051,1

d215,2

:

d2051,31 

図22−32スクランブルドデータフレームからのデータブロックの構成 

13.6 LDCブロック 

データブロックの各列のバイトは,図23に示すとおり各行の先頭からLが符号語番号(=列番号:0〜

303)を表すとして,e0,L  e1,L .. ei,L..〜e215,Lという番号に付け直される。 

LDCブロックは,各列を,(248,216,33)長距離RS符号に従って32パリティバイトで拡張して完成され

る。パリティバイトは,p216,L  p217,L ...pj,L〜p247,Lと番号が付けられる。 

background image

38 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

304 列

符号語

0

符号語

1

:

符号語

L

:

符号語

302

符号語

303

1 LDC

符号語

216

データ行

e0,0
e1,0
e2,0

:
:

e215,0

e0,1
e1,1

:
:
:

e215,1

:
:
:
:
:
:

e0,L
e1,L

:
:
:

e215,L

:
:
:
:
:
:

e0,302
e1,302

:
:
:

e215,302

e0,303
e1,303

:
:
:

e215,303

= 248

バイト

32

パリティ行

p216,0

:
:
:
:

p247,0

p216,1

:
:
:
:

p247,1

:
:
:
:
:
:

p216,L

:
:
:
:

p247,L

:
:
:
:
:
:

p216,302

:
:
:
:

p247,302

p216,303

:
:
:
:

p247,303

304 列

符号語

0

符号語

1

:

符号語

L

:

符号語

302

符号語

303

1 LDC

符号語

216

データ行

e0,0
e1,0
e2,0

:
:

e215,0

e0,1
e1,1

:
:
:

e215,1

:
:
:
:
:
:

e0,L
e1,L

:
:
:

e215,L

:
:
:
:
:
:

e0,302
e1,302

:
:
:

e215,302

e0,303
e1,303

:
:
:

e215,303

= 248

バイト

32

パリティ行

p216,0

:
:
:
:

p247,0

p216,1

:
:
:
:

p247,1

:
:
:
:
:
:

p216,L

:
:
:
:

p247,L

:
:
:
:
:
:

p216,302

:
:
:
:

p247,302

p216,303

:
:
:
:

p247,303

図23−データバイトの再番号割当て及びパリティ追加によるLDCブロックの構成 

13.7 LDC符号語 

長距離RS符号は,GF(28)の有限体上で規定する。有限体GF(28)の非ゼロ要素は,原始根αによって生

成される。ここに,αは次の原始多項式p(x)の根である。 

p(x)=x8+x4+x3+x2+1 

GF(28)のシンボルは,(α7,α6,α5,..,α2,α,1)を元とする元多項式の表現を用いてバイト(8ビットのグループ)

で表される。したがって,根αは次の式で表される。 

α=00000010 

ベクトルIdc=(e0,L .. ei,L .. e215,L .. p216,L .. pj,L .. p247,L)で表す各LDC符号語は,216の情報バイト及び32のパ

リティバイトをもつGF(28)上のRS符号である。そのような符号語は,247次の多項式Idc(x)で表すことが

できる(幾つかの係数はゼロの可能性がある。)。ここに,最高次は,ベクトルの情報部分(e0,L .. など)

に相当し,最低次は,ベクトルのパリティ部分(p216,L ..など)に相当する。 

Idc(x)は,LDC符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は,次による。 

(

)

=

=

31

0

)

(

i

i

α

x

x

g

LDCは組織符号で,216の情報バイトは,変わることなく各符号語の最高次に現れる。Idc符号のパリテ

ィチェック行列HLDCは,全てのLDC符号語Idcに対して,次による。 

HLDC×IdcT=0 

パリティチェック行列HLDCの第2行hLDC2は,生成多項式g(x)のゼロαに相当し,エラーの場所の特定

に用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HLDCの第2行hLDC2は,次による。 

(

)1

,

,

..

,

2

246

247

LDC2

α

α

α

α

h

=

13.8 LDCクラスタ 

13.8.1 一般 

LDC符号語を生成した後,LDCブロックは,二つのステップでインターリーブが行われLDCクラスタ

となる。 

13.8.2 インターリーブの第1のステップ 

第1のインターリーブのステップで,高さ248の304列は152列×496行の新しい配列に再構築される。 

各新しい列は,LDCブロックの各偶数列及び次の奇数列を組み合わせることによって作られる。新しい

列は,図24に示すとおりLDCブロックの偶数列の最初のバイトを取り込み,次にLDCブロックの奇数列

background image

39 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

の最初のバイトを取り込み,次にLDCブロックの偶数列の2番目のバイトを取り込み,その後奇数列の2

番目のバイトを取り込む,という形を続けることで埋められる。 

152 列

0

1

151

e0,0

e0,2

:

:

e0,302

e0,1

e0,3

:

:

e0,303

432

e1,0

e1,2

:

:

e1,302

データ行

e1,1

e1,3

:

:

e1,303

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

e215,0

e215,2

:

:

e215,302

e215,1

e215,3

:

:

e215,303

496

p216,0

p216,2

:

:

p216,302

p216,1

p216,3

:

:

p216,303

64

p217,0

p217,2

:

:

p217,302

パリティ行

p217,1

p217,3

:

:

p217,303

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

p247,0

p247,2

:

:

p247,302

p247,1

p247,3

:

:

p247,303

152 列

0

1

151

e0,0

e0,2

:

:

e0,302

e0,1

e0,3

:

:

e0,303

432

e1,0

e1,2

:

:

e1,302

データ行

e1,1

e1,3

:

:

e1,303

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

e215,0

e215,2

:

:

e215,302

e215,1

e215,3

:

:

e215,303

496

p216,0

p216,2

:

:

p216,302

p216,1

p216,3

:

:

p216,303

64

p217,0

p217,2

:

:

p217,302

パリティ行

p217,1

p217,3

:

:

p217,303

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

p247,0

p247,2

:

:

p247,302

p247,1

p247,3

:

:

p247,303

図24−インターリーブの第1のステップ 

13.8.3 インターリーブの第2のステップ 

エラー伝ぱの影響を低減しバーストエラーの訂正能力を更に良くするために,追加のインターリーブが

行われる。 

第1のインターリーブのステップによって生成されたLDCブロックの全ての行は,mod(k×3 152)バイ

ト左にシフトする。 

ここで,0≦行番号≦495かつk=div(行番号,2)である。 

シフトによって左からはみ出したバイトは,配列の右側から再投入される(図25参照)。 

この工程の後にバイトは,全ての行にわたって水平方向に番号が付け直され,図18に示すとおりD0〜

D75 391となる。 

background image

152 

バイト

シフト

e0,0

e0,2

...

...

e0,300

e0,302

0

e0,1

e0,3

...

...

e0,301

e0,303

シフト

e1,6

e1,8

...

...

e1,300

e1,302

e1,0

e1,2

e1,4

3

e1,7

e1,9

...

...

e1,301

e1,303

e1,1

e1,3

e1,5

シフト

e2,12

e2,14

...

...

e2,302

e2,0

e2,2

e2,4

e2,6

e2,8

e2,10

6

e2,13

e2,15

...

...

e2,303

e2,1

e2,3

e2,5

e2,7

e2,9

e2,11

...

...

...

...

...

...

...

...

シフト

e50,300

e50,302

e50,0

...

...

e50,298

150

e50,301

e50,303

e50,1

...

...

e50,299

シフト

e51,2

e51,4

...

...

e51,300

e51,302

e51,0

1

e51,3

e51,5

...

...

e51,301

e51,303

e51,1

...

...

...

...

...

...

...

...

シフト

...

...

...

...

mod(k×3,152)

...

...

...

...

...

...

...

...

...

...

...

...

シフト130

p246,260

p246,262

...

p246,302

p246,0

...

p246,258

p246,261

p246,263

...

p246,303

p246,1

...

p246,259

シフト133

p247,266

p247,268

...

p247,302

p247,0

p247,2

p247,4

p247,6

...

p247,264

p247,267

p247,269

...

p247,303

p247,1

p247,3

p247,5

p247,7

...

p247,265

152 

バイト

シフト

e0,0

e0,2

...

...

e0,300

e0,302

0

e0,1

e0,3

...

...

e0,301

e0,303

シフト

e1,6

e1,8

...

...

e1,300

e1,302

e1,0

e1,2

e1,4

3

e1,7

e1,9

...

...

e1,301

e1,303

e1,1

e1,3

e1,5

シフト

e2,12

e2,14

...

...

e2,302

e2,0

e2,2

e2,4

e2,6

e2,8

e2,10

6

e2,13

e2,15

...

...

e2,303

e2,1

e2,3

e2,5

e2,7

e2,9

e2,11

...

e2,302

e2,0

e2,2

e2,4

e2,6

e2,8

e2,10

6

e2,13

e2,15

...

...

e2,303

e2,1

e2,3

e2,5

e2,7

e2,9

e2,11

...

...

...

...

...

...

...

...

シフト

e50,300

e50,302

e50,0

...

...

e50,298

150

e50,301

e50,303

e50,1

...

...

e50,299

...

e50,298

150

e50,301

e50,303

e50,1

...

...

e50,299

シフト

e51,2

e51,4

...

...

e51,300

e51,302

e51,0

1

e51,3

e51,5

...

...

e51,301

e51,303

e51,1

...

...

...

...

...

...

...

...

シフト

...

...

...

...

mod(k×3,152)

...

...

...

...

...

...

...

...

...

...

...

...

シフト130

p246,260

p246,262

...

p246,302

p246,0

...

p246,258

p246,261

p246,263

...

p246,303

p246,1

...

p246,259

シフト133

p247,266

p247,268

...

p247,302

p247,0

p247,2

p247,4

p247,6

...

p247,264

p247,267

p247,269

...

p247,303

p247,1

p247,3

p247,5

p247,7

...

p247,265

p247,268

...

p247,302

p247,0

p247,2

p247,4

p247,6

...

p247,264

p247,267

p247,269

...

p247,303

p247,1

p247,3

p247,5

p247,7

...

p247,265 

図25−LDCクラスタ 

2

X

 6

2

3

2

2

0

1

7

 (I

S

O

/IE

C

 3

0

1

9

2

2

0

1

7

background image

41 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

13.9 アドレス及びコントロールデータ 

13.9.1 一般 

ディスク上のデータにアクセスするために,アドレス及びコントロールデータが含まれている。 

13.9.2 アドレスユニット 

13.9.2.1 一般 

光ヘッドを目的のトラックに位置決めするために,64Kの物理クラスタを16のアドレスユニットに更に

分割することによる高速アドレスの仕組みが組み込まれている。各アドレスユニットは,迅速に位置決め

できるように,BIS符号語(13.11参照)の中にアドレスをもっている(図26参照)。 

各アドレスフィールドは,9バイトで,次のとおりに構成される。 

− アドレスユニット番号4バイト(箇条17参照) 

− フラグビット1バイト 

− エラー訂正4バイト 

16 アドレス

0

1

:

S

:

15

AF0,0

AF0,1

:

AF0,S

:

AF0,15

アドレス-

AF1,0

AF1,1

:

:

:

AF1,15

ユニット番号

:

:

:

:

:

:

9

AF3,0

AF3,1

:

AF3,S

:

AF3,15

バイト

フラグビット

AF4,0

AF4,1

:

AF4,S

:

AF4,15

AF5,0

AF5,1

:

AF5,S

:

AF5,15

パリティ

:

:

:

:

:

:

AF8,0

AF8,1

:

AF8,S

:

AF8,15

16 アドレス

0

1

:

S

:

15

AF0,0

AF0,1

:

AF0,S

:

AF0,15

アドレス-

AF1,0

AF1,1

:

:

:

AF1,15

ユニット番号

:

:

:

:

:

:

9

AF3,0

AF3,1

:

AF3,S

:

AF3,15

バイト

フラグビット

AF4,0

AF4,1

:

AF4,S

:

AF4,15

AF5,0

AF5,1

:

AF5,S

:

AF5,15

パリティ

:

:

:

:

:

:

AF8,0

AF8,1

:

AF8,S

:

AF8,15

図26−16アドレスフィールド 

13.9.2.2 アドレスフィールドのバイト割付け 

AF0,S=アドレスユニット番号の最上位バイト 

AF1,S=アドレスユニット番号の第2上位バイト 

AF2,S=アドレスユニット番号の第3上位バイト 

AF3,S=アドレスユニット番号の最下位バイト 

AF4,S=フラグビットで,これらのビットは,クラスタ中の個々のデータフレームの状態を示すため,又

はアドレスのような他の情報を収納するために使用できる。これらのフラグビットの幾つかの基

本的な割当ては,13.9.2.4に規定する。使用しないフラグビットは,“0”にセットする。 

AF5,S〜AF8,S=アドレスフィールドで,(9,5,5)RS符号を構成するためのパリティバイト 

このRS符号は,GF(28)の有限体上で規定される。有限体GF(28)の非ゼロ要素は,原始根αによって生

成される。ここに,αは,次の原始多項式p(x)の根である。 

p(x)=x8+x4+x3+x2+1 

GF(28)のシンボルは,(α7, α6, α5, ..., α2, α, 1)を元とする元多項式の表現を用いて,バイト(8ビットのグル

ープ)で表される。したがって,根αは次の式で表される。 

α=00000010 

ベクトルafc=(AF0,S .. AFi,S ... AF8,S)で表す各アドレスフィールド符号語は,四つのパリティバイト及び五

つの情報バイトをもつGF(28)上のRS符号である。そのような符号語は,8次の多項式afc(x)で表すことが

background image

42 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

できる(幾つかの係数はゼロの可能性がある。)。ここに,最高次はベクトルの情報部分(AF0,S ... など)

に相当し,最低次はベクトルのパリティ部分(AF5,S .. など)に相当する。 

afc(x)は,アドレスフィールド符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は,次による。 

(

)

=

=

3

0

)

(

i

i

α

x

x

g

アドレスフィールド符号語は組織符号で,五つの情報バイトは,変わることなく各符号語の最高次に現

れる。afc符号のパリティチェック行列HAFCは,全てのアドレスフィールド符号語afcに対して,次によ

る。 

HAFC×afcT=0 

パリティチェック行列HAFCの第2行hAFC2は,生成多項式g(x)のゼロαに相当し,エラーの場所の特定

に用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HAFCの第2行hAFC2は,次による。 

hAFC2=(α8, α7 .. α2, α, 1) 

13.9.2.3 アドレスユニット番号 

物理クラスタのBIS列に記録する16個のアドレスフィールドは,それぞれ4バイトのアドレスユニッ

ト番号(AUN)をもっている。 

アドレスユニット番号は,図27に規定するとおりに,物理セクタ番号(PSN)から生成する。 

アドレスユニット番号は,PSNと同期をとるために,各連続したアドレスユニット間で,二つずつ増加

している(箇条17参照)。 

各物理クラスタの最初のアドレスユニット番号は,32の倍数である。 

データゾーン0の最初のアドレスユニット番号は,00 10 00 00h(10進数で1 048 576)となる。 

データゾーン1の最後のアドレスユニット番号は,01 EF FF FEh(10進数で32 505 854)となる。 

アドレスユニット番号のビット設定は,次による。 

− AU31 .. AU5は,PSNからPS31 .. PS5を複製する。 

− AU4 .. AU1は,物理クラスタ内で0〜15をカウントする。 

− AU0は,リザーブ(領域)とする。 

最上位バイト

最下位バイト

AU31

PS31

AU8

PS8

AU0

PS0

AU1

AU23

PS23

AU24

PS24

AU26

AU27

AU15

PS15

AU7

PS7

AU5

PS5

AU4

PS4

AU16

PS16

カウント

“0”

AU31

PS31

AU8

PS8

AU0

PS0

AU1

AU23

PS23

AU24

PS24

AU26

AU27

AU15

PS15

AU7

PS7

AU5

PS5

AU4

PS4

AU16

PS16

PSN

クラスタ内

アドレスユニット番号

図27−PSNからAUNの生成 

background image

43 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

13.9.2.4 フラグビットの割付け 

ビット

バイト

AF4,S

b7

b6

b5

b4

b3

b2

b1

b0

AF4,0

Sa0,1

Sa1,1

Sa0,0

Sa1,0

IdT7

Rd15

Rsv

Rsv

AF4,1

Sa2,1

Sa3,1

Sa2,0

Sa3,0

IdT6

Rd14

Rsv

Rsv

AF4,2

Sa4,1

Sa5,1

Sa4,0

Sa5,0

IdT5

Rd13

Rsv

Rsv

AF4,3

Sa6,1

Sa7,1

Sa6,0

Sa7,0

IdT4

Rd12

Rsv

Rsv

AF4,4

Sa8,1

Sa9,1

Sa8,0

Sa9,0

IdT3

Rd11

Rsv

Rsv

AF4,5

Sa10,1

Sa11,1

Sa10,0

Sa11,0

IdT2

Rd10

Rsv

Rsv

AF4,6

Sa12,1

Sa13,1

Sa12,0

Sa13,0

IdT1

Rd9

Rsv

Rsv

AF4,7

Sa14,1

Sa15,1

Sa14,0

Sa15,0

IdT0

Rd8

Rsv

Rsv

AF4,8

Sa16,1

Sa17,1

Sa16,0

Sa17,0

Rsv

Rd7

Rsv

Rsv

AF4,9

Sa18,1

Sa19,1

Sa18,0

Sa19,0

Rsv

Rd6

Rsv

Rsv

AF4,10

Sa20,1

Sa21,1

Sa20,0

Sa21,0

Rsv

Rd5

Rsv

Rsv

AF4,11

Sa22,1

Sa23,1

Sa22,0

Sa23,0

Rsv

Rd4

Rsv

Rsv

AF4,12

Sa24,1

Sa25,1

Sa24,0

Sa25,0

Rsv

Rd3

Rsv

Rsv

AF4,13

Sa26,1

Sa27,1

Sa26,0

Sa27,0

Rsv

Rd2

Rsv

Rsv

AF4,14

Sa28,1

Sa29,1

Sa28,0

Sa29,0

Rsv

Rd1

Rsv

Rsv

AF4,15

Sa30,1

Sa31,1

Sa30,0

Sa31,0

Rsv

Rd0

Rsv

Rsv

 Rsvは,アプリケーションで規定する場合を除いてリザーブ(領域)とする。 

図28−16アドレスフィールドからのフラグビット 

状態ビットSai,j(0≦i≦31,0≦j≦1):各クラスタは,32データフレームを含み16のアドレスユニット

しかないため,そのような各アドレスユニットは,二つのデータフレームに対応したフラグビットをもつ

(図28参照)。 

連続したフラグバイトAF4,Sのb7及びb5ビットは,それぞれデータフレーム2Sの状態ビットSa2S,1及び

Sa2S,0を規定する。 

連続したフラグバイトAF4,Sのb6及びb4ビットは,それぞれデータフレーム2S+1の状態ビットSa2S+1,1

及びSa2S+1,0を規定する。 

RID̲TagビットIdTi:連続したフラグバイトAF4,0〜AF4,7のb3ビットは,このアドレスユニットを含む

クラスタを記録したレコーダのRID̲Tagの値を表す(21.4参照)。msbは,IdT7とする(図28参照)。 

連続したフラグバイトAF4,8〜AF4,15のb3ビットは,リザーブ(領域)とする。 

記録日付ビットRdi:連続したフラグバイトAF4,Sのb2ビットは,このアドレスユニットをもつクラスタ

が次のフォーマットで記録された場合,日付を表す(図28参照)。 

− Rd15〜Rd9:この7ビットは,実際の年数から2 000を引いたものをRd15をmsbとする,正の2進数で

表す。 

44 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− Rd8〜Rd5:この4ビットは,実際の月数を,Rd8をmsbとする正の2進数で表す。 

− Rd4〜Rd0:この5ビットは,その月の実際の日数を,Rd4をmsbとする正の2進数で表す。 

ドライブがこのフィールドを正しく設定できない場合は,Rdiの全てのビットは,“0”に設定する。 

13.9.2.5 状態ビットSai, jの使用方法 

クラスタの中の個別のデータフレームの状態を示すために,状態ビットの組合せSai,1/Sai,0が使用される。

次のセッティングで規定する。 

− Sai,1/Sai,0=00:データフレームは,通常の使用者データを含む。 

− Sai,1/Sai,0=01:データフレームは,読取変更記録(RMW)中に破棄することが許される特別な使用者

データを含む。 

− Sai,1/Sai,0=10:アプリケーションに規定する場合を除いて,この設定は,リザーブ(値)とする。 

− Sai,1/Sai,0=11:データフレームは,ディスクに記録する前にクラスタを完結させるためにドライブに

よって挿入した埋込みデータを含む。 

使用者データ領域で,ストリーミングモードで記録されたクラスタでは,全ての状態ビットSai,1/Sai,0は,

01に設定することが望ましい。 

さらに,ディスクに記録する前にクラスタを完結させるために,ドライブによってデータを挿入したデ

ータフレーム(埋込み)に対して,状態ビットSai,1/Sai,0は11に設定する。 

データフレームiのデータがホストコンピュータから供給される他の全ての場合は,状態ビットSai,1/Sai,0

は00に設定する。 

その結果, 

− Sai,1/Sai,0が00に設定された場合は,データフレームiの内容は,R-M-W動作中に保存する。 

− Sai,1/Sai,0が01又は11に設定された場合は,データフレームiの内容は,R-M-W動作中に破棄しても

よい。 

− Sai,1/Sai,0ビットの幾つかに信頼性に疑義がある場合は,関連するデータフレームiの内容は,R-M-W

動作中に保存する(Sai,1/Sai,0は00の値と考える。)。 

注記 Sai,1及びSai,0の2ビットの組合せを,Sai,1/Sai,0と表記している。 

13.9.3 使用者コントロールデータ 

使用者データにアクセスするために,各使用者データフレームに特別なコントロールデータを付加する

ことができる。これらの追加バイトは,アプリケーションに関連した情報をもつことができる。使用者コ

ントロールデータユニットを伴う使用者データフレームは,セクタと呼ばれる。各使用者コントロールデ

ータユニットは,18バイトで構成される(図29参照)。 

background image

45 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

32 ユニット

0

1

:

S

:

31

UC0,0

UC0,1

:

UC0,S

:

UC0,31

UC1,0

UC1,1

:

:

:

UC1,31

18 バイト

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

UC17,0

UC17,1

:

UC17,S

:

UC17,31

32 ユニット

0

1

:

S

:

31

UC0,0

UC0,1

:

UC0,S

:

UC0,31

UC1,0

UC1,1

:

:

:

UC1,31

18 バイト

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

UC17,0

UC17,1

:

UC17,S

:

UC17,31

図29−使用者コントロールデータユニット 

13.9.4 使用者コントロールデータのビット又はバイト設定 

使用者コントロールデータバイトは,アプリケーションに依存している。これらの設定をアプリケーシ

ョンに規定する場合を除いて,これらのバイトは,00hに設定する。 

13.10 

アクセスブロック 

アドレスフィールド及び使用者コントロールデータユニットのデータは,30行×24列の配列に配置され

アクセスブロックと呼ばれる。 

アドレスフィールドを,迅速に位置決めする必要があるため,これらのアクセスフィールドのデータは,

特別なプリインターリーブの方法で配置される。 

各16アドレスの9バイト(図26参照)は,3バイトの3グループにまとめられる。 

各アドレス0〜7の3グループのバイトは,アドレス0から始まり,各続きのアドレスは,3ポジション

左に循環的にシフトする位置にアクセスブロックの第1,第3及び第5の行の対角方向に配置される(図

30参照)。 

各アドレス8〜15の3グループのバイトは,アドレス8から始まり,各続きのアドレスは,3ポジショ

ン左に循環的にシフトする位置にアクセスブロックの第2,第4及び第6の行の対角方向に配置される。 

第3及び第4行の各バイトグループ内では,バイトは,左方向に循環的に1バイトシフトされる。 

第5及び第6行の各バイトグループ内では,バイトは,左方向に循環的に2バイトシフトされる。 

数式で表すと,このアクセスブロックへのアドレスバイトAFx,yの配置は,次に示す式で表すことができ

る。 

− 行r=2×div(x,3)+div(y,8) 

− 列c=3×mod{[div(x,3)+16−y],8}+mod{[x−div(x,3)],3} 

使用者コントロールデータユニットは,列方向に置かれ,各使用者コントロールデータは,1列の3/4

だけ埋めることになる(3列に4使用者コントロールデータユニットが入る。図30参照)。 

background image

24列 

 
 

6行 
物理 

アドレス 

AF0,0 

AF1,0 

AF2,0 

AF0,7 

AF1,7 

AF2,7 

AF0,6 

AF1,6 

AF2,6 

AF0,5 

AF0,1 

AF1,1 

AF2,1 

30 

行 

AF0,8 

AF1,8 

AF2,8 

AF0,15 

AF0,14 

AF0,13 

AF0,9 

AF1,9 

AF2,9 

AF4,1 

AF5,1 

AF3,1 

AF4,0 

AF5,0 

AF3,0 

AF4,7 

AF5,7 

AF3,7 

AF4,6 

AF4,2 

AF5,2 

AF3,2 

AF4,9 

AF4,8 

AF5,8 

AF3,8 

AF4,15 

AF4,14 

AF4,10 

AF5,10 

AF3,10 

AF8,2 

AF6,2 

AF7,2 

AF8,1 

AF6,1 

AF7,1 

AF8,0 

AF6,0 

AF7,0 

AF8,7 

AF8,3 

AF6,3 

AF7,3 

AF8,10 

AF8,9 

AF8,8 

AF6,8 

AF7,8 

AF8,15 

AF8,11 

AF6,11 

AF7,11 

24行 

使用者 

コントロール 

データ 

UC0,0 

UC6,1 

UC12,2 

UC0,4 

UC12,30 

UC17,2 

UC17,30 

UC0,3 

UC0,31 

UC17,1 

UC0,2 

UC0,30 

UC17,0 

UC17,4 

UC0,1 

UC0,5 

UC5,1 

UC11,2 

UC17,3 

UC11,30 

UC17,31 

図30−アクセスブロックの構成(16アドレスフィールド及び32使用者コントロールデータユニットから) 

2

X

 6

2

3

2

2

0

1

7

 (I

S

O

/IE

C

 3

0

1

9

2

2

0

1

7

background image

47 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

13.11 

BISブロック 

アクセスブロックの各列のバイトは,Cが符号語番号を表す場合(=0〜23の列番号)図31に示すとお

り,各列の先頭からb0,C  b1,C .. bi,C ..〜b29,Cというように番号が付け直される。 

BISブロックは,各列に対し,(62,30,33)RS符号による32個のパリティバイトを追加拡張して完成とな

る。パリティバイトは,pb30,C  pb31,C .. pbj,C .. pb61,Cと番号が付けられる。 

24 列

符号語

0

符号語

1

:

符号語

C

:

符号語

22

符号語

23

1BIS

符号語

30

情報バイト

b0,0
b1,0:

:
:

b29,0

b0,1
b1,1:

:
:

b29,1

:
:
:
:
:
:

b0,C
b1,C

:

bN,C

:

b29,C

:
:
:
:
:
:

:
:
:
:
:
:

b0,23
b1,23

:
:
:

b29,23

= 62 バイト

32

パリティバイト

pb30,0

:
:
:

pb61,0

pb30,1

:
:
:

pb61,1

:
:
:
:

:

pb30,C

:
:
:

pb61,C

:
:
:
:

:

:
:
:
:

:

pb30,23

:
:
:

pb61,23

図31−データバイトの再番号割当て及びパリティ追加によるBISブロック構成 

13.12 

BIS符号語 

BIS RS符号は,GF(28)の有限体上で規定される。有限体GF(28)の非ゼロ要素は,原始根αによって生成

される。ここに,αは,次の原始多項式p(x)の根である。 

p(x)=x8+x4+x3+x2+1 

GF(28)のシンボルは,(α7, α6, α5, ..., α2, α, 1)を元とする元多項式の表現を用いてバイト(8ビットのグル

ープ)で表される。したがって,根αは次で表される。 

α=00000010 

ベクトルbis=(b0,C .. bi,C .. b29,C  pb30,C  .. pbj,C .. pb61,C)で表す各BIS符号語は,32個のパリティバイト及

び30個の情報バイトをもつ,GF(28)上のリードソロモン符号である。そのような符号語は,61次の多項

式bis(x)で表すことができる(幾つかの係数はゼロの可能性がある。)。ここに,最高次は,ベクトルの情

報部分(b0,C ... など)に相当し,最低次は,ベクトルのパリティ部分(b30,C .. など)に相当する。 

bis(x)は,BIS符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は,次による。 

(

)

=

=

31

0

)

(

i

i

α

x

x

g

BIS符号語は,組織符号で30個の情報バイトは変わることなく各符号語の最高次に現れる。bis符号の

パリティチェック行列HBISは,全てのBIS符号語bisに対して,次による。 

HBIS×bisT=0 

パリティチェック行列HBISの第2行hBIS 2は,生成多項式g(x)のゼロαに相当し,エラーの場所の特定に

用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HBISの第2行hBIS 2は,次による。 

(

)1,

,

..

,

2

60

61

2

BIS

α

α

α

α

h

=

48 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

13.13 

BISクラスタ 

BIS符号語生成の後BISブロックは,インターリーブされ496行×3列の配列に配置される。この新し

くフォーマットした配列は,BISクラスタと呼ばれる。 

BISクラスタは,図18に示すとおりアドレスユニットによって更に分割される。ユニットは,u=0〜15

の番号が付けられ,そのユニット内では,行がr=0〜30及び列がe=0〜2に番号が付けられる(図32参

照)。 

BISのインターリーブ方法の要点は,次のようである(図31,図32,図33及び図34中の例を参照)。 

− BISブロックの各行は,3バイトの8グループに分けられる。これらの3バイトのグループは,それ

ぞれBISクラスタの一行に配置される。 

− BISブロックの偶数行は,ユニット0〜7に配置され,BISブロックの奇数行は,ユニット8〜15に配

置される。 

− BISブロックの偶数行からの3バイトのグループは,ユニット0〜7の同じ行に配置される。ここに,

ユニットは,(番号に従って)逆順で使用される。 

− BISブロックの各連続する行の最初の3バイトグループは,前の行で使用された開始ユニットよりも

一つ大きい番号のユニットに配置する。 

− BISブロックのN=0の行は,ユニット:0,7,6,5,..,2,1のr=0の行に配置される。 

− BISブロックのN=2の行は,ユニット:1,0,7,6,..,3,2のr=1の行に配置される。 

− BISブロックのN=4の行は,ユニット:2,1,0,7,..,4,3のr=2の行に配置される。 

− このようにこのプロセスは,r=30の行のユニット6,5,4,3,..,0,7に配置されるN=60の行

まで繰り返される。 

− ここに,各ユニットの中で各行rは,循環的に右側に位置をmod(r,3)だけシフトされる。r=0の行は,

シフトされない。r=1の行は,1シフトされる。r=2の行は,2シフトされる。r=3の行は,シフト

されない。r=4の行は,1シフトされる。 

− BISブロックの奇数行についても同様の方法が行われるが,ユニット8〜15が使用される。 

background image

49 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

3列

B0

B1

B2

31

:

:

:

B90

B91

B92

B93

B94

B95

31

:

:

:

:

:

:

:

:

u

496

16

31

e

r

ユニット

Bm

:

:

31

B1 487

図32−BISクラスタ 

BISブロックからBISクラスタへのバイトbN,C又はpbN,C(図31参照)の配置は,数式で表すと,次の

式で表すことができる。 

− ユニット: u=mod{[div(N,2)+8−div(C,3)],8}+8×mod(N,2) 

− その行: 

r=div(N,2) 

− その列: 

e=mod{[C+div(N,2)],3} 

物理クラスタとしてディスクに記録されるBmに付与される連続番号(図18参照)であるバイト番号m

は,次による。 

m=(u×31+r)×3+e 

background image

50 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

BISブロックのバイト番号N,C

右シフト

(= mod(r, 3))

上方向に挿入

ユニット

u

行r

0

列e

1

2

0

0

0,0

0,1

0,2

0

開始ブロック行

N= 0

1

2,5

2,3

2,4

1

継続ブロック

N= 2

2

4,7

4,8

4,6

2

3

6,9

6,10

6,11

0

:

7

14,23

14,21

14,22

1

8

16,1

16,2

16,0

2

開始ブロック行

N= 16

:

30

60,18

60,19

60,20

0

1

0

0,21

0,22

0,23

0

終了ブロック行

N= 0

1

2,2

2,0

2,1

1

開始ブロック行

N= 2

2

4,4

4,5

4,3

2

3

6,6

6,7

6,8

0

:

2

0

0,18

0,19

0,20

0

1

2,23

2,21

2,22

1

終了ブロック行

N= 2

2

4,1

4,2

4,0

2

開始ブロック行

N= 4

3

6,3

6,4

6,5

0

:

3

0

0,15

0,16

0,17

0

1

2,20

2,18

2,19

1

2

4,22

4,23

4,21

2

3

6,0

6,1

6,2

0

開始ブロック行

N= 6

:

4

0

0,12

0,13

0,14

0

1

2,17

2,15

2,16

1

2

:

5

0

0,9

0,10

0,11

0

1

2,14

2,12

2,13

1

2

:

6

0

0,6

0,7

0,8

0

1

2,11

2,9

2,10

1

2

4,13

4,14

4,12

2

:

7

0

0,3

0,4

0,5

0

↑継続ブロック行

N= 0

1

2,8

2,6

2,7

1

↑継続ブロック行N= 2

2

4,10

4,11

4,9

2

:

7

14,2

14,0

14,1

1

開始ブロック行

N= 14

:

30

60,21

60,22

60,23

0

終了ブロック行

N= 60

図33−BISバイトを最初の8ユニットに配置する例(部分) 

background image

51 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

BISブロックからのバイト番号N,C

右シフト

(= mod(r,3))

上方向へ挿入

ユニットu

行r

0

列e

1

2

8

0

1,0

1,1

1,2

0

開始ブロック行

N= 1

1

3,5

3,3

3,4

1

2

5,7

5,8

5,6

2

3

7,9

7,10

7,11

0

:

8

17,1

17,2

17,0

2

開始ブロック行

N= 17

:

30

61,18

61,19

61,20

9

0

1,21

1,22

1,23

終了ブロック行

N= 1

10

0

1,18

1,19

1,20

11

0

1,15

1,16

1,17

12

0

1,12

1,13

1,14

13

0

1,9

1,10

1,11

14

0

1,6

1,7

1,8

15

0

1,3

1,4

1,5

0

↑継続ブロック行N= 1

1

3,8

3,6

3,7

1

2

5,10

5,11

5,9

2

:

7

15,2

15,0

15,1

1

開始ブロック行

N= 15

:

30

61,21

61,22

61,23

0

終了ブロック行

N= 61

図34−BISバイトを最後の8ユニットへ配置する例(部分) 

結論は,次による。 

− BISブロックの全ての情報バイトは,各アドレスユニットの最初の15行の中に見つかる。 

− BISブロックの全てのパリティバイトは,各アドレスユニットの最後の16行の中に見つかる。 

− 各アドレスフィールドは,各アドレスユニットの最初の3行に見つかる(図35参照)。 

13.14 

ECCクラスタ 

LDCクラスタ及びBISクラスタを構成の後,LDCクラスタは,各38列の四つのグループに分割される。

この4グループの間に3列のBISクラスタから1列ずつが挿入される。BISクラスタ及びLDCクラスタを

多重した後に図35のECCクラスタになる。 

background image

52 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

LDC

38

BIS

1

LDC

38

BIS

1

LDC

38

BIS

1

LDC

38

AF0,0

AF1,0

AF2,0

AF3,0

AF4,0

AF5,0

AF6,0

AF7,0

AF8,0

アドレス

UCu,v

:

:

ユニット0

:

:

:

AF0,1

AF1,1

AF2,1

496

AF3,1

AF4,1

AF5,1

AF6,1

AF7,1

AF8,1

アドレス

UCx,y

:

:

ユニット1

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

:

図35−BISクラスタ及びLDCクラスタを多重した後のECCクラスタ 

13.15 

記録フレーム 

各ECCクラスタの行は,規定の場所にフレーム同期ビット及び直流制御ビットを加えて記録フレームに

変換される。 

このために,各ECCクラスタの各行155バイトから形成される一連の1 240データビットは,25データ

ビットの1グループ及び45データビットの27グループに分けられ(図36参照),バイトの最上位ビット

が最初に処理される。 

最初の25データビットのグループは,特別な30変調チャネルビット列であるフレーム同期を挿入する

ための20データビット位置分が拡張される。 

次に,各45データビットのグループは,直流制御ブロックを構成する1ビットの位置を足して完成とな

る。 

background image

53 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

38

バイト

38

バイト

38

バイト

38

バイト

1

バイト

1

バイト

1

バイト

データ

25

データ

45

データ

45

フレーム

同期

20

直流

制御

1

直流

制御

1

直流
制御

1

25

ビット

45

ビット

45

ビット

45

ビット

45

ビット

155バイト

1240ビット

1288ビット

46ビット

46ビット

46ビット

直流制御ブロック#0

直流制御ブロック#1

直流制御ブロック#2..26

直流制御ブロック#27

25

46ビット

×

図36−記録フレームの生成 

13.16 

物理クラスタ 

記録フレームに変換されたECCクラスタの496行は,物理クラスタと呼ばれる。 

13.17 

記録データのための17PP変調 

13.17.1 

一般 

フレーム同期以外の記録フレームの全てのビットは,17PP変調符号則に従い変調ビットに変換される。

この17PP変調符号は,ラン長が2T以上かつ8T以下のRLL(1,7)符号で幾つかの特徴がある。 

PPは,パリティ保存及びRMTR禁止を意味しており,次を意味する。 

− パリティ保存 

− データビット列の“1”の数が偶数の場合は,変調ビット列の“1”の数も偶数である。 

− データビット列の“1”の数が奇数の場合は,変調ビット列の“1”の数も奇数である。 

この性質によって,記録信号の低周波成分を効率よく制御することが簡単になる(13.17.3参照)。 

− RMTR禁止 

− 連続する最小ラン長(2T)の数は,6に制限される。 

最小ラン長は信号振幅が小さいため,この措置によって読取性能が改善される。 

13.17.2 

ビット変換規則 

図37の表は,データビットを変調ビットに変換する規則を規定している。データビットは左から右へ(最

上位ビットが最初で図36参照)処理する。記録フレームの最後に残ったビットは,終端ビット用の表に

従って変換する。 

表の“1”は,記録信号の反転を表している。変調ビット列は,NRZIチャネルビット列に変換された後

に(13.18参照)ディスクに記録される。 

background image

54 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データビット

変調ビット

00 00 00 00

010 100 100 100

00 00 10 00

000 100 100 100

00 00 00

010 100 000

00 00 01

010 100 100

00 00 10

000 100 000

00 00 11

000 100 100

00 01

000 100

00 10

010 000

00 11

010 100

01

010

10

001

11

000
101

前の変調ビットがxx1の場合
前の変調ビットがxx0の場合

置き換える

データビットパターン

置き換える

変調ビット

置換えの条件

11 01 11

001 000 000

次の変調ビットが010の場合

終端の

データビット

終端の
変調ビット

00 00

010 100

00

000

図37−17PP変調符号変換表 

13.17.3 

直流制御方法 

変調ビット列の“1”は記録信号の反転を意味するため,奇数の変調ビット“1”を制御して変調ビット

列に追加すれば,この信号の極性を反転することができる。17PP変調符号のパリティ保存の特徴から,単

にデータビット列に追加ビットを挿入し,反転が必要な場合は,“1”に設定することでこれは可能となる。 

前の直流制御ブロックの最後の直流制御ビットを“0”又は“1”に設定することによって,各直流制御

ブロックの後で記録信号の積算したDSVが最小になるようにする(図36参照)。 

13.17.4 

フレーム同期 

物理クラスタは,16アドレスユニットで構成され,各アドレスユニットは31の記録フレームから構成

される(図18及び図36参照)。 

変調された記録フレームは,30チャネルビットから構成されるフレーム同期で始まる。 

フレーム同期の主部は,17PPの変調法則に従わない24ビットパタン(ラン長9Tが2回)で構成される。 

最後の6ビットは,七つの異なるフレーム同期パタンを識別する記号を規定する。6ビットのフレーム

同期IDのための記号は,変調の反転間隔が2以上となるように選択されている。 

フレーム同期の前の最後のデータビットが終端表(図37参照)に従って符号化されている場合は,フレ

ーム同期#の最初の変調ビットは“1”であり,そうでない場合は,“0”である(図38参照)。 

フレーム同期パタンは,変調ビットによって規定される。表の“1”は,記録信号の反転を表している。

ディスクに記録する前に,フレーム同期符号はNRZIチャネルビット列に変換される(13.18参照)。 

background image

55 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

同期番号

24-bit 同期主部

6-bit 同期ID

FS0

#01 010 000 000 010 000 000 010

000 001

FS1

#01 010 000 000 010 000 000 010

010 010

FS2

#01 010 000 000 010 000 000 010

101 000

FS3

#01 010 000 000 010 000 000 010

100 001

FS4

#01 010 000 000 010 000 000 010

000 100

FS5

#01 010 000 000 010 000 000 010

001 001

FS6

#01 010 000 000 010 000 000 010

010 000

図38−30ビットフレーム同期符号 

七つの異なるフレーム同期では,31の記録フレームを識別するためには不十分なので,各フレームは自

分自身のフレーム同期と前の記録フレームのいずれかのフレーム同期との組合せで識別される。これらの

組合せ配置によって,前のフレーム同期がたとえ1,2又は3フレームにわたって欠落したとしても,その

記録フレームは,自分のフレーム同期及び最後にあったフレーム同期から識別できる(図39参照)。 

記録フレームn−4

記録フレームnは,下記のフレーム同期IDの組合わせで識別できる。:

記録フレームn + 記録フレームn −1
記録フレームn+ 記録フレームn−2
記録フレームn+ 記録フレームn−3
記録フレームn+ 記録フレームn−4

記録フレームn−3記録フレームn−2記録フレームn−1

記録フレームn

図39−記録フレームの識別 

各アドレスユニットの最初の記録フレームは,特別なフレーム同期:FS0をもっている。 

他のフレーム同期の配置は,図40による。 

フレーム番号

フレーム同期

フレーム番号

フレーム同期

0

FS0

1

FS1

16

FS5

2

FS2

17

FS3

3

FS3

18

FS2

4

FS3

19

FS2

5

FS1

20

FS5

6

FS4

21

FS6

7

FS1

22

FS5

8

FS5

23

FS1

9

FS5

24

FS1

10

FS4

25

FS6

11

FS3

26

FS2

12

FS4

27

FS6

13

FS6

28

FS4

14

FS6

29

FS4

15

FS3

30

FS2

フレーム番号

フレーム同期

フレーム番号

フレーム同期

0

FS0

1

FS1

16

FS5

2

FS2

17

FS3

3

FS3

18

FS2

4

FS3

19

FS2

5

FS1

20

FS5

6

FS4

21

FS6

7

FS1

22

FS5

8

FS5

23

FS1

9

FS5

24

FS1

10

FS4

25

FS6

11

FS3

26

FS2

12

FS4

27

FS6

13

FS6

28

FS4

14

FS6

29

FS4

15

FS3

30

FS2

FS1

22

FS5

8

FS5

23

FS1

9

FS5

24

FS1

10

FS4

25

FS6

11

FS3

26

FS2

12

FS4

27

FS6

13

FS6

28

FS4

14

FS6

29

FS4

15

FS3

30

FS2

図40−記録フレームのフレーム同期符号の配置 

13.18 

変調及びNRZI変換 

ディスクに記録する前にデータビットは,変調ビットに変換され,それは,図41に示す方法によって最

background image

56 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

後にNRZIチャネルビットに変換される。 

変調ビット

データ

ビット

NRZ

変換

変調器

排他的論理和

1T

遅延

NRZI変換された

チャネルビット

T=1チャネルクロック周期

データビットパターンの例 :

01

01

10

01

-

変調ビットパターン

:

010 010

001

010 0

NRZ変換信号

:

NRZI変換信号

:

図41−変調及びNRZI変換 

14 物理データの配置及びリンキング 

14.1 一般 

記録の単位は,データランインが手前にデータランアウトが後に配置される物理クラスタで構成する記

録ユニットブロック(RUB)である。ランイン及びランアウトによって,完全にランダムな記録又は上書

きを行うための十分なバッファが確保される。 

記録ユニットブロックは,一つずつ又は幾つかのRUBの連続(記録列)で記録できる。 

ディスクの書換領域でチャネルビットレートがウォブル周波数に同期している場合は,ウォブルの周期

は69チャネルビットとする。これは,変調された1 932チャネルビット(=1 288データビット)の記録

フレームは,正確に28ウォブル周期になることを意味している。この同期状態は,標準の状態とみなされ

る。 

14.2 記録ユニットブロック(RUB) 

14.2.1 一般 

各RUBは,図42に示すとおり,2 760 cbs(公称40ウォブル周期)のデータランイン,496×1 932 cbs

(公称496×28ウォブル周期)の物理クラスタ,及び1 104 cbs(公称16ウォブル周期)のデータランア

ウトから構成される。 

ランイン

物理クラスタ

ランアウト

ガード̲3

40 wbs

496×28 wbs

16 wbs

8 wbs

図42−単一記録の記録ユニットブロックの構成 

各単一記録したRUB又は各連続記録した列のRUBは,図43に示すとおり,いかなる二つのRUB間に

もギャップ(未記録領域)ができないことを確実にするため,ガード̲3フィールドで終端する。 

そのようなガード̲3フィールドは,540 cbs(公称 ≈ 8ウォブル周期)によって構成する。 

background image

57 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ランイン

物理クラスタ

ランアウト

ランイン

物理クラスタ

:

物理クラスタ

ランアウト

ガード゙̲3

40 wbs

496×28 wbs

16 wbs

40 wbs

496×28 wbs

:

496×28 wbs

16 wbs

8 wbs

図43−連続記録の記録ユニットブロックの構成 

上記の選択に加えて,最大約±2ウォブルのSPS(14.3.2参照)及び約±0.5ウォブルの開始位置精度に

よって,ランダム記録又は上書きの重なりは,3〜13ウォブルの間となり,データランインの重ならない

最短長は,約27ウォブル(最小 ≈ 1記録フレーム)となる。 

14.2.2 データランイン 

14.2.2.1 一般 

データランインは,図44に示すとおり次に示す部分から構成されている。 

− ガード̲1: 

1 100チャネルビット 

− PrA(プリアンブル): 1 660チャネルビット 

PrAフィールドは,(PLLロックと同期のための)信号処理用のランイン用である。 

ガード̲1フィールドは,記録動作の開始を決める位置がばらつくため及びSPSのために,前回記録箇所

と重なることに対処するためのフィールドである。 

ガード̲1

1100 cbs

PrA

1660 cbs

任意のAPC

≈ 5 ウォブル

ビットパタンの繰返し

≈ 11ウォブル

公称値

≈ 24 ウォブル

図44−データランインの構成 

14.2.2.2 ガード̲1フィールドの内容 

ガード̲1フィールドは,1 100チャネルビットの長さである。 

変調ビットで表す内容は,01[02]1[02]10101[04]1[03]を55回繰り返すパタンである。 

これらのパタンは,3T/3T/2T/2T/5T/5Tが繰り返されるものとなり,電子回路を再度安定させるために適

している。 

14.2.2.3 自動パワー制御(APC) 

記録動作の開始でのガード̲1フィールドの最初の5ウォブルは,自動パワー制御を行うために使用でき

る。そのようなAPCのために使う変調ビットパタンは,記録機の製造業者が自由に選ぶことができ,14.2.2.2

で規定した繰返しパタンと異なっていてもよい。 

14.2.2.4 PrAフィールドの内容 

PrAフィールドは,1 660チャネルビットの長さである。 

PrAフィールドの内容は,図45による。 

background image

58 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

を77回繰り返す

01[02]1[02]10101[04]1[03]

同期̲1

を2回繰り返す

01[02]1[02]10101[04]1[03]

同期̲2

01[02]1[02]10101[04]1[03]

1540cbs

30cbs

40cbs 

30cbs

20 cbs 

図45−PrAフィールドの構成 

一般に,PrAの後の最初のフレーム同期がFS(N)(N=0..6,13.17.4参照)の場合は,同期̲1はFS{mod[(N

+4),7]}とし,同期̲2はFS{mod[(N+6),7]}とする。 

これは,同期̲1はFS4とし,同期̲2はFS6とすることを意味する(PrAの後の最初のフレーム同期は

FS0である。)。 

各同期̲1,同期̲2及びPrAの後の最初のフレーム同期の先頭のビットは,直流制御に使用できる(#=

“0”又は“1”,図38参照)。 

14.2.3 データランアウト 

14.2.3.1 一般 

データランアウトは,図46に示すとおり次に示す部分から構成されている。 

− PoA(ポストアンブル): 564チャネルビット 

− ガード̲2: 

540チャネルビット 

PoAフィールドは,信号処理のランアウト用である。 

ガード̲2フィールドは,SPSに起因するもの,及び記録動作の開始を決める位置がばらつくことに起因

するものによる重なりに対処するためのフィールドである。 

PoA

564 cbs

ガード̲2

540 cbs

公称値
≈ 8 ウォブル

公称値
≈ 8 ウォブル

図46−データランアウトの構成 

14.2.3.2 PoAフィールドの内容 

PoAフィールドは,図47に示すとおり564チャネルビットの長さである。 

PoAフィールドの内容は,次に示すものとする。 

同期̲3

01[08]1[08]1[08]1[08]1[08]1[07]

を24回繰り返す

01[02]1[02]10101[04]1[03]

30 cbs

54 cbs

480 cbs 

図47−PoAフィールドの構成 

一般に,PoAの前の使用者データがフレーム番号nで終わる場合は,フレーム番号n+1に相当するも

のとして,同期̲3を選ぶこととする(13.17.4参照)。 

59 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

これは,同期̲3をFS0とすることを意味する。 

同期̲3パタンの最初のビットは,13.17.4の規定に従って用いる。 

同期̲3の後の9T/9T/9T/9T/9T/9Tパタンは,“使用者データ停止”の指示として使うことができる。 

14.2.3.3 ガード̲2フィールドの内容 

ガード̲2フィールドは,540チャネルビットの長さである。 

変調ビットで表す内容は,01[02]1[02]10101[04]1[03]を27回繰り返すパタンである。 

14.2.4 ガード̲3フィールド 

14.2.4.1 一般 

ガード̲3

540 cbs

ビットパターンの繰返し

≈ 3 ウォブル

任意のAPC

≈ 5ウォブル

図48−ガード̲3フィールドの構成 

ガード̲3フィールドは,図48に示すとおり540チャネルビットの長さである。 

変調ビットで表す内容は,01[02]1[02]10101[04]1[03]を27回繰り返すパタンである。 

14.2.4.2 自動パワー制御(APC) 

記録動作の最後にあるガード̲3フィールドの最後の5ウォブルは,自動パワー制御を行うために使用で

きる。そのようなAPC動作のために使う変調ビットパタンは,記録機の製造業者が自由に選ぶことができ,

14.2.4.1で規定した繰返しパタンと異なっていてもよい。 

14.3 ウォブルアドレスに対してのデータの位置 

14.3.1 一般 

単一のRUB及び連続する複数のRUBを記録する場合の公称記録開始位置は,PAAがAA1,AA0=00

であるADIP語の同期̲3ユニットと最初のデータ̲xユニットとの間の基準ユニットにある,NWL25ウォ

ブルの中央である(15.7,図50,図51及び図52参照)。 

記録開始位置は,±34 cbsよりも良い精度で決める。 

14.3.2 記録開始位置移動(SPS) 

ディスクの過度の疲弊を避けるために,各記録動作(一つ又は複数のRUB)の記録開始位置は,記録開

始位置移動と呼ぶ方法で,公称開始位置からランダムなチャネルビット数だけ(−128 cbs≦SPS≦+127 

cbs)移動する(図49参照)。 

background image

60 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

NWL 25

開始位置

+34
cbs

‒34

cbs

+127 cbs

‒128 cbs

SPS

記録開始位置の範囲

ランアウト

ランイン

Run-in

SPS + 不正確性

+ 58 cbs

SPS +

‒80 cbs

重ね書きの例

+2,33 wbs

‒2,35 wbs

~~

NWL 25

公称

+34
cbs

‒34

cbs

変動範囲

+127 cbs

‒128 cbs

SPS

SPS 

cbs

SPS +  不正確性

‒80 cbs

+2,33 wbs

‒2,35 wbs

~~

~~

ランイン

図49−データ記録の公称開始位置 

次に示す一連の図は,新たに記録するRUBが前に記録したRUBとどのように重なるかを示す例である。 

新しいRUBの記録の開始で,新たに記録するRUBのランインは,前に記録したRUB(既に記録されて

いた場合)のランアウト又はガード̲3の一部を重ね書きする。 

新たに記録するRUBの終わりで,新たに記録するRUBのランアウト又はガード̲3は,次に続くRUB

(既に記録されている場合)のランインの部分を重ね書きする。 

全ての場合で,ランダムアクセス中に電子回路が再同期をかけるために十分な,ランイン及びランアウ

トが残る。 

Run-out

ランイン

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

記録公称開始位置

(±34 cbs)

+127 cbs

‒128 cbs

25.5 wbs

9.5 wbs

SPS

Guard̲3

クラスタk-1

記録フレーム496

クラスタk

記録フレーム1

ランアウト

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

第1データ̲xユニット

同期̲3ユニット

±34 cbs)

≤+127 cbs

≥‒128 cbs

wbs

wbs

SPS

ガード̲3

基準ユニット

第2データ̲xユニット

クラスタk

記録フレーム2

クラスタk

記録フレーム3

Run-out

ランイン

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

記録公称開始位置

(±34 cbs)

+127 cbs

‒128 cbs

25.5 wbs

9.5 wbs

SPS

Guard̲3

クラスタk-1

記録フレーム496

クラスタk

記録フレーム1

ランアウト

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

第1データ̲xユニット

同期̲3ユニット

±34 cbs)

≤+127 cbs

≥‒128 cbs

wbs

wbs

SPS

ガード̲3

基準ユニット

第2データ̲xユニット

クラスタk

記録フレーム2

クラスタk

記録フレーム3

 (SPS+前の記録の不正確性=0及びSPS+新しい記録の不正確性=0) 

図50−データ記録の公称開始位置の例 

background image

61 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

Cluster k-1
Rec.Frame496

Run-out

Run-in

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

Reference Unit

1stData̲xUnit

2ndData̲xUnit

Sync̲3 Unit

nominal start position
for writing

25,5 wbs

9,5 wbs

Guard̲3

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

25.5 wbs

9.5 wbs

同期̲3ユニット

基準ユニット

第1データ̲xユニット

第2データ̲xユニット

ランアウトガード̲3

クラスタk-1

記録フレーム496

記録公称開始位置

ランイン

クラスタk

記録フレーム1

クラスタk

記録フレーム2 

クラスタk

記録フレーム3 

Cluster k-1
Rec.Frame496

Run-out

Run-in

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

Reference Unit

1stData̲xUnit

2ndData̲xUnit

Sync̲3 Unit

nominal start position
for writing

25,5 wbs

9,5 wbs

Guard̲3

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

25.5 wbs

9.5 wbs

同期̲3ユニット

基準ユニット

第1データ̲xユニット

第2データ̲xユニット

ランアウトガード̲3

クラスタk-1

記録フレーム496

記録公称開始位置

ランイン

クラスタk

記録フレーム1

クラスタk

記録フレーム2 

クラスタk

記録フレーム3 

 (SPS+前の記録の不正確性=+161及びSPS+新しい記録の不正確性=−162) 

図51−重なりが最大となるデータ記録の例 

Run-in

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

Reference Unit

1stData̲xUnit

2ndData̲xUnit

Sync̲3 Unit

25,5 wbs

9,5 wbs

Guard̲3

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

25.5 wbs

9.5 wbs

同期̲3ユニット

基準ユニット

第1データ̲xユニット

第2データ̲xユニット

クラスタk-1

記録フレーム496

ランアウトガード̲3

記録公称開始位置

ランイン

クラスタk

記録フレーム1

クラスタk

記録フレーム2

クラスタk

記録フレーム3 

Run-in

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

Reference Unit

1stData̲xUnit

2ndData̲xUnit

Sync̲3 Unit

25,5 wbs

9,5 wbs

Guard̲3

NWL 9

NWL 25

NWL 9

NWL 37

NWL 37

25.5 wbs

9.5 wbs

同期̲3ユニット

基準ユニット

第1データ̲xユニット

第2データ̲xユニット

クラスタk-1

記録フレーム496

ランアウトガード̲3

記録公称開始位置

ランイン

クラスタk

記録フレーム1

クラスタk

記録フレーム2

クラスタk

記録フレーム3 

 (SPS+前の記録の不正確性=−162及びSPS+新しい記録の不正確性=+161) 

図52−重なりが最小となるデータ記録の例 

15 トラックフォーマット 

15.1 一般 

トラックは,連続らせんの360°1回転分で形成される。 

各記録層は,ほぼ同じ場所に同じ基本トラックをもつ(図53参照)。 

一貫性の観点から,単層ディスクの記録層全体は,同じくL0層と呼ばれる。 

15.2 トラックの形 

半径r1と半径r3との間のゾーンは,BCAに用いるために確保されており(箇条35参照),r1及びr3は

次による。 

r1=21.0 mm 

r3=22.2 mm 

半径

0.0
1.0

0.

21

− mmで,L0層では開始し,L1層では終了する,1本のらせんのグルーブで形成されるトラ

ックをこのゾーンに置く。 

BCAゾーンとエンボスHFM領域との間での,直線グルーブからHFMグルーブへの移行は,半径r2と

r3との間とし(図53参照),r2は次による。 

r2=22.0 mm 

この移行で,らせんグルーブは中断しない。 

L0層では半径21 mmとエンボスHFM領域でHFMグルーブのエンコードが開始する点との間,L1層で

は半径21 mmとウォブルグルーブが終了する点との間,BCAゾーンのグルーブトラックは,(変調のない)

background image

62 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

直線グルーブとする(箇条18参照)。 

L0層

BCA

エンボスHFM領域

直線グルーブ

直線グルーブ

ウォブルグルーブ

内側ゾーンn

データゾーンn

接続領域

トラッキング方向

書換え領域

r1

r2r3

dDZI

L1層

BCA

HFMグルーブ

r1

r2r3

dDZI

HFM グルーブ

ウォブルグルーブ

トラッキング方向

接続領域

図53−異なるグルーブタイプの接続領域 

エンボスHFM領域では(箇条16参照),L0層ではBCAゾーンの直線グルーブから中断することなく

続き,L1層ではBCAゾーンのグルーブの開始まで中断なく続く,一本のらせんグルーブでトラックが形

成される。 

これらのエンボスHFM領域のグルーブトラックは,比較的高い周波数で公称中心線の周りで半径方向

に偏移し,それによって,転写情報を保存するための高ビットレートかつ高容量のデータチャネル(HFM

グルーブ)を供給する。 

各トラックの形は,箇条26の要求事項で決められる。 

書換領域では(箇条16参照),トラックは,L0層のエンボスHFM領域の最後から開始し,L1層ではエ

ンボスHFMグルーブ領域のグルーブの始めで終了する,一本のらせんで形成される。 

書換領域のグルーブは主として単一正弦波で,公称中心線の周りで半径方向に偏移する(ウォブルグル

ーブ)。その正弦波偏移は,幾つかのサイクルを規定の場所で違うパタンに置き換える形で変調される。 

ウォブルは,ディスクのスピード制御及びドライブの記録クロックの同期に使うことができ,変調され

た部分は,プリグルーブ中のアドレス又はADIPというアドレス情報(15.7参照)を表している。 

注記 この規格では“プリグルーブ”という用語は規定していないが,“ADIP”は,“プリグルーブ中

のアドレス”の頭字語として,光ディスクの規格では広く使用されている。“プリグルーブ”の

意味は,この規格の“グルーブ”と同じ意味である。 

各トラックの形は,箇条27に規定する要求事項で決められる。 

エンボスHFM領域と書換領域との間の接続部分では,らせんグルーブは中断しない。HFMグルーブの

転写情報とウォブルグルーブのADIP情報との間では,トラックの接線方向に最大1 mmの長さのグルー

ブだけの場所(変調がない状態)が許されている。 

グルーブ形状は,次による。 

− グルーブは,ランドよりも入射面に近くする。 

− グルーブは,単一正弦波のウォブルの開始で,その平均中心線の内側にする(図54参照)。記録は,

グルーブ上で行う。 

background image

63 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

透過積層

基板

グルーブ

ランド

“オングルーブ記録”

読取りビーム

図54−グルーブ形状の概要(ディスクの半径方向の断面) 

15.3 トラックパス 

L0層では,ディスクが9.8に従って回転する場合,らせんは,ディスクの内周側からディスクの外周側

に向かって進む。 

L1層では,ディスクが9.8に従って回転する場合,らせんは,ディスクの外周側からディスクの内周側

に向かって進む。 

単層ディスクでは,トラックは,内側ゾーンの開始位置で始まり,外側ゾーンの終端で終わり,情報ゾ

ーンで連続にする(図12及び図13参照)。 

2層ディスクでは,L0層のトラックは,内側ゾーン0の開始位置で開始し,外側ゾーン0の終端で終わ

り,情報ゾーンで連続にする。L1層では,トラックは,外側ゾーン1の開始位置で始まり,内側ゾーン1

の終端で終わり,情報ゾーンでは連続にする(図12及び図14参照)。 

15.4 トラックピッチ 

15.4.1 BCAゾーンのトラックピッチ 

BCAゾーンのトラックピッチ(TP)は,半径方向に測定した隣り合うトラックのグルーブの平均中心線

間の距離である。 

トラックピッチは,(2.0±0.1) μmとする。 

r2とr3との間の領域では,トラックピッチは,L0層では2.0 μmからエンボスHFM領域のトラックピッ

チへ,L1層ではその逆に移行する。 

15.4.2 エンボスHFM領域のトラックピッチ 

エンボスHFM領域のトラックピッチは,半径方向に測定した隣り合うトラックのHFMグルーブの平均

中心線間の距離である。 

トラックピッチは,(0.350±0.010) μmとする。 

エンボスHFM領域全体で平均したトラックピッチは,(0.350±0.003) μmとする。 

15.4.3 書換領域のトラックピッチ 

書換領域のトラックピッチは,半径方向に測定した隣り合うトラックのウォブルグルーブの平均中心線

間の距離である。 

トラックピッチは,(0.320±0.010) μmとする。 

書換領域全体で平均したトラックピッチは,(0.320±0.003) μmとする。 

15.4.4 エンボスHFM領域と書換領域との間のトラックピッチ 

トラックピッチ0.35 μmから0.32 μm(L0層)又はその逆(L1層)の移行は,そのトラックを保護ゾー

ン2の中に完全に収めることとし,最大100トラック(回転)の間に実現する(図81参照)。 

background image

64 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

15.5 HFMグルーブのトラック構成 

15.5.1 一般 

15.5では,データのエンコードフォーマットだけを規定する。場所及び内容は,箇条18及び18.2で規

定される。 

HFMグルーブのデータは,PICクラスタという4Kパーティションで記録される。そのような,各PIC

クラスタは,各2 048バイトのデータの二つのデータフレームを含んでいる。このデータを保護するエラ

ー訂正のメカニズム及びパーティション全体をフォーマットする方法は,箇条13に規定したものと十分に

似ている。 

図55に示すとおり,LDC+BIS符号の組合せの一部が使用される。 

関連するプロセスの段階及び応用符号化の詳細な規定は,箇条13の規定を参照できる。 

同期

1バイト

10 バイト

1 バイト

9 バイト

D0......... D9

B0

D10....... D18

D19..... D28

B1

D29............

:

:

248 行

ディスク上の

データ列方向

:

:

216 データ

:
:

B247

.... D4 711

32 パリティ

図55−ディスク上の4K PICクラスタの図 

15.5.2 データフォーマット 

15.5.2.1 データフレーム 

各データフレームは,13.2及び13.3に規定したとおり4バイトのエラー検出符号(EDC)を追加して拡

張される。 

15.5.2.2 スクランブルドデータフレーム 

EDCを追加した各データフレームは,13.4に規定した方法によってスクランブルされる。スクランブラ

のプリセットには,PS19 .. PS5の代わりにAUN15 .. AUN1(15.4.1及び13.9.2.3参照)を用いる。 

15.5.2.3 データブロック 

各2スクランブルドデータフレームは,13.5に規定した図22に示される216行×19列の配列に配置さ

れる(0〜18列だけ使用する。)。 

15.5.2.4 LDCブロック 

次に,エラー訂正パリティの32行は,(L=0 .. 18)の19列しかないという違いはあるものの,13.6及

び13.7に規定された方法によって追加される。この結果,248行×19列の配列ができる。 

15.5.2.5 インターリーブ 

インターリーブの方法は,13.8に規定したものと異なる。13.8.3に規定した第2のインターリーブステ

ップだけが適用される。各連続した行は,左に1バイト以上シフトされる。シフト(shift)は,次による。 

shift=mod(k,19) 

background image

65 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ここに, 

k: 行番号。0≦k≦247 

左側からはみ出したバイトは,列の右側から再投入される(図56参照)。 

19 バイト

シフト0

e0,0

e0,1

...

...

e0,18

シフト1

e1,1

e1,2

...

...

e1,18

e1,0

シフト2

e2,2

e2,3

...

...

e2,18

e2,0

e2,1

...

...

...

...

シフト18

e18,18

e18,0

...

...

e18,17

248

シフト0

e19,0

e19,1

...

...

e19,18

...

...

...

...

シフトmod(k,19)

...

...

...

...

...

...

...

...

p246,18

p246,0

...

...

p246,17

p247,0

p247,1

...

...

p247,18

シフト18

シフト0

図56−PIC LDCブロックのインターリーブ 

この工程の後,バイトは,全ての行を通して番号を水平方向に振り直し,図55に示すとおりD0 .. D4 711

となっている。 

15.5.3 アドレス及びコントロールデータ 

15.5.3.1 一般 

書換領域のフォーマットと異なり,BISブロックは,四つのBIS符号から成り,各9バイトの八つのア

ドレスが18行に,各24バイトの二つの使用者コントロールデータが12行に入っている(図57参照)。 

background image

66 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

4 列

0

1

2

3

0

AF0,0

AF0,3

AF0,2

AF0,1

1

AF0,4

AF0,7

AF0,6

AF0,5

2

AF1,1

AF1,0

AF1,3

AF1,2

3

AF1,5

AF1,4

AF1,7

AF1,6

4

AF2,2

AF2,1

AF2,0

AF2,3

5

AF2,6

AF2,5

AF2,4

AF2,7

6

AF3,3

AF3,2

AF3,1

AF3,0

7

AF3,7

AF3,6

AF3,5

AF3,4

8

AF4,0

:

:

AF4,1

18 行

9

AF4,4

:

:

:

アドレス

10

AF5,1

AF5,0

:

:

11

AF5,5

:

:

:

12

AF6,2

AF6,1

AF6,0

:

1 BIS符号

13

AF6,6

:

:

:

= 62 バイト

14

AF7,3

:

AF7,1

AF7,0

15

AF7,7

:

:

:

16

AF8,0

:

:

AF8,1

17

AF8,4

AF8,7

AF8,6

AF8,5

18

UC0,0

UC12,0

UC0,1

UC12,1

19

UC1,0

UC13,0

UC1,1

UC13,1

12 行

:

:

:

:

:

使用者コントロールデータ

28

UC10,0

UC22,0

UC10,1

UC22,1

29

UC11,0

UC23,0

UC11,1

UC23,1

30

pb30,0

pb30,1

pb30,2

pb30,3

31

pb31,0

pb31,1

pb31,2

pb31,3

32 行

:

:

:

:

:

パリティ

61

pb61,0

pb61,1

pb61,2

pb61,3

符号語0

符号語1

符号語2

符号語3

図57−PIC BISブロック 

15.5.3.2 アドレスフィールド 

各64Kのクラスタの1/16(=4Kバイト)が一つのアドレスユニット番号で識別される(13.9.2及び他の

細分箇条参照),ディスクの書換領域と同じように,各4KのPICクラスタは,アドレスユニット番号で識

別する。これらのアドレスユニット番号は,連続した4KのPICクラスタ間で二つずつ増やす。 

各PICのBISブロックは,同じアドレスを8回繰り返し(S=0 .. 7),繰返し回数を識別するフラグビッ

トが使われる。 

AF0,S=アドレスユニット番号のMSB(S=0 .. 7に対して全て同じ。) 

AF1,S=アドレスユニット番号の第2 SB(S=0 .. 7に対して全て同じ。) 

AF2,S=アドレスユニット番号の第3 SB(S=0 .. 7に対して全て同じ。) 

AF3,S=アドレスユニット番号のLSB(S=0 .. 7に対して全て同じ。) 

AF4,S=フラグビットで,b7〜b3はリザーブ(領域)とし,b2〜b0はSの2値の値に設定する。 

AF5,S .. AF8,S=アドレスフィールド上で構成する,(9,5,5)RS符号のパリティバイト。パリティバイトは,

13.9.2.2で規定したとおりに計算する。 

八つのアドレスは,PICのBISブロックに特殊なプリインターリーブの方法で配列される。 

67 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

アドレス0〜3のバイトは,偶数行の対角線上に配置され,アドレス0のバイト0は,行列0,0から開始

し,続きの各アドレスは,循環しながら一つ左の位置にシフトされる(図57参照)。 

アドレス4〜7のバイトは,奇数行の対角線上に配置され,アドレス4のバイト0は,行列1,0から開始

し,続きの各アドレスは,循環しながら一つ左の位置にシフトされる。 

数式で表すと,このPICのBISクラスタへのバイトAFx, yの配列は,次の式で表すことができる。 

− 行r:r=2×x+div(y,4) 

− 列c:c=mod[(x+8−y),4] 

15.5.3.3 使用者コントロールデータ 

各24バイトにて構成される,2個の使用者コントロールデータユニットがある。最初の使用者コントロ

ールデータユニットのバイト0〜11は,PICのBISブロックの0列18〜29行に配置し,バイト12〜23は,

1列18〜29行に配置する。同様に,第2の使用者コントロールデータユニットのバイト0〜11は,PICの

BISブロックの2列に,バイト12〜23は,3列に配置する(図57参照)。 

両方の使用者コントロールデータは,全てリザーブ(領域)とする。 

15.5.3.4 BIS符号語 

PICのBISブロックは,4列(c=0 .. 3)しかないという違いはあるものの,13.11及び13.12に規定する

方法によって32行のパリティ(図57参照)を追加して完成となる。その結果,62行×4列の配列ができ

る。 

15.5.3.5 BISクラスタ 

最後に,BIS符号の配列は,図55に示すとおり,PICクラスタに挿入可能な248バイトの1列に再配置

される。 

バイトB0〜B123は,行列0,0から開始して,循環しながらBISブロックの偶数行を対角線上に続けて複

製して埋められる(図58参照)。 

バイトB124〜B247は,行列1,0から開始して,循環しながらBISブロックの奇数行を対角線上に続けて複

製して埋められる。 

数式で表すと,PICのBISブロックからPICのBISクラスタへのバイトの配置は,次の式で表すことが

できる。 

− バイトbr, c:行r列cのBISブロックのバイト 

− バイトBi:BISクラスタの列のi番目のバイト 

− 行r:r=mod(2×i,62)+div(i,124) 

− 列c:c=mod(i,4) 

逆に,iは,r及びcを用いて次の式で表すことができる。 

i=124×mod(r,2)+div(r,2)+31×mod{[4−c+div(r,2)],4} 

インターリーブの結果,1列248バイトのBISクラスタは,それぞれが,9アドレスバイト,6使用者コ

ントロールデータバイト及び16パリティバイトの順に構成される,31バイトの8グループに分かれる。

アドレスバイトは,プリインターリーブのおかげで直接アクセスするために適切な順番で表れる。 

background image

68 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

BIS ブロック

BIS クラスタ

i

c= 0

1

2

3

1 バイト

r= 0

0

93

62

31

B0

1

124

217

186

155

:

2

32

1

94

63

:

3

156

125

218

187

:

4

33

2

95

:

5

157

126

219

Bi

6

34

3

:

7

158

127

:

8

4

35

:

9

128

159

:

10

5

:

11

129

B123

248

12

6

B124

13

130

:

:

:

:

:

:

:

53

243

:

54

120

27

:

55

244

:

56

28

121

:

57

152

245

:

58

60

29

122

:

59

184

153

246

:

60

92

61

30

123

:

61

216

185

154

247

B247

図58−PIC BISクラスタを構成するための読取順 

15.5.4 記録フレーム 

15.5.4.1 一般 

次の工程で,19列のインターリーブされたLDCブロックは,1列のBISクラスタと合わせて,図55に

規定したとおりに拡張して1列の同期パタンが追加される。 

21列×248行の配列の各行は,PIC記録フレームと呼ばれる。 

15.5.4.2 変調 

各PIC記録フレームの168ビットは,同期パタンのビットを除きバイフェーズ変調によって変調ビット

に変換される。この変調方式では,ビット“0”は,ビットセルの最初の反転で表され,ビット“1”は,

ビットセルの最初及び中央の反転で表される(図59の例参照)。 

変調ビットは,図59に示すとおりディスク上にグルーブの平均中心線からの偏移として記録される。各

セルの長さは,Tを記録領域のチャネルビット長とする場合36Tとする。 

background image

69 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

0

1

0

1

1

0

36 T

36 T

グルーブ中心
の平均

データ列の例

図59−バイフェーズ変調されたHFMグルーブ 

15.5.4.3 フレーム同期 

各記録フレームは,8データビット相当の同期パタンで始まる。最初の4ビットは,通常のバイフェー

ズエンコード規則を破る特別のパタンの4ビットセルで置き換えられる(図60参照:最初の位相による

二通りの可能性のあるパタン。)。 

1

1

1

1

0

0

0

0

1

1

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

同期主部

同期識別子

ID0

ID1

ID2

パリティ

データ

データ

x

x

x

x

x

x

x

x

同期パターン

図60−バイフェーズ同期パタン 

7種類の同期パタンがID0 .. ID2及びパリティビットの終わりの4ビットで識別される(図61参照)。 

同期番号

ID0

ID1

ID2

パリティ

FS0

0

0

0

0

FS1

0

0

1

1

FS2

0

1

0

1

FS3

0

1

1

0

FS4

1

0

0

1

FS5

1

0

1

0

FS6

1

1

0

0

図61−同期の識別 

PICのBIS列によって,248行のPICクラスタは,31記録フレームの8グループに分けることができ,

各記録フレームのグループは,それぞれの最初の9行にアドレスがある(15.5.3.5参照)。 

background image

70 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

そのような連続した31記録フレームの各グループは,特別な同期パタンの配列で識別される(13.17.4

も参照)。各グループの最初の記録フレームは,特別な同期パタンFS0をもっている。 

他の同期パタンは,図62に規定するとおりに配置される。 

フレーム番号

同期番号

0

FS0

1

FS1

16

FS5

2

FS2

17

FS3

3

FS3

18

FS2

4

FS3

19

FS2

5

FS1

20

FS5

6

FS4

21

FS6

7

FS1

22

FS5

8

FS5

23

FS1

9

FS5

24

FS1

10

FS4

25

FS6

11

FS3

26

FS2

12

FS4

27

FS6

13

FS6

28

FS4

14

FS6

29

FS4

15

FS3

30

FS2

フレーム番号

同期番号

図62−PIC記録フレームへの同期パタンの配置 

15.6 ウォブルグルーブのトラック構造 

15.6.1 一般 

トラックのウォブルは,おおよそ平均センターラインからの正弦波偏移である。 

公称ウォブル長NWL(69チャネルビットと等価)は,使用者データ容量25.0 GB/層のディスクで書換

領域全体で平均した場合に,5.140 5 μm±0.005 μmとする。 

これは,基準速度において基本周波数fwobに相当し,次による。 

fwob=956.522 kHz 

15.6.2 ウォブルの変調 

15.6.2.1 一般 

ウォブルの基本形は,コサイン波:cos(2π×fwob×t)である。この基本形のウォブルは,“単一周波数ウォ

ブル”(MW)と呼ばれる。 

ウォブルのうち幾つかが変調され,二つの変調方法を併用する。 

− 第1の変調方法:“MSK-cos”(最小シフトキー−コサイン変形)と呼ばれる。 

− 第2の変調方法:“HMW”(高調波変調波)と呼ばれる。 

外側ゾーンの保護ゾーン3領域(箇条16及び20.9参照)では,グルーブはHMWでは変調せずMSK-cos

だけで変調する。 

両方の変調方法は,15.7に規定するとおりにADIP情報を表す。 

15.6.2.2 MSK-cos変調 

MSK-cos変調は,三つの連続した単一周波数ウォブルを一つのMSKマーク(MM)で置き換えること

によって行われる。 

background image

71 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

MSKマークは,図63に示すとおり次に示すウォブルパタンをもった3公称ウォブル長NWLで構成さ

れる。 

− 最初のNWLは,周波数=1.5×fwobのコサインウォブルでMSKマークを開始する。 

− 第2番目のNWLは,周波数=fwobのコサインウォブルが続く。 

− 第3番目のNWLは,周波数=1.5×fwobのコサインウォブルでMSKマークを終端する。 

図63−MSKマークの規定 

15.6.2.3 HMW変調 

HMW変調は,連続した単一周波数ウォブルを同数ののこぎり波ウォブル(STW)に置き換えることに

よって行われる。一つののこぎり波ウォブルは,基本コサイン波に2倍の周波数のサイン波を組み合わせ

ることで形成され,次の式で表される。 

cos(2π×fwob×t)±a×sin[2π×(2×fwob)×t] 

ここに, 

a: 0.25 

そのような基本周波数のコサイン波及びある量の2次高調波の組合せは,1次近似ではのこぎり波を表

している。“+”又は“−”の符号は,左又は右の傾斜を作り出し,“+”記号はビット“1”を表すために,

“−”記号は,ビット“0”を表すために使用される(図64参照)。 

background image

72 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

図64−のこぎり波ウォブルの規定 

15.7 ADIP情報 

15.7.1 一般 

ディスクに記録するデータは,ウォブル中に変調されて入っているADIPアドレスに同期する。したが

って,56 NWLは,2記録フレームに相当する(13.15参照)。そのような56 NWLのグループは,ADIPユ

ニットと呼ばれる(図65参照)。 

2 記録フレーム

1 932 チャネルビット

1 932 チャネルビット

同期

データ

同期

データ

9.5 

ウォブル

9.5 

ウォブル

1ADIPユニット

56 NWLs

図65−ADIPの一般構造 

15.7.2 ADIPユニットタイプ 

ADIPユニットの56 NWLの中で,隣り合うMM間の長さを個別の距離にするようにMMを挿入するこ

とによって,異なるタイプのADIPユニットを作ることができる。 

データビットを表すADIPユニットは,追加でSTWで変調される。 

さらに,基準のSTWが規定される。各タイプのADIPユニットは,MMで始まる。 

次のタイプのADIPユニットを規定する(図66参照)。 

− 単一周波数ユニット:1MM,続いて53 MWの構成 

− 基準ユニット :1MM,続いて15 MW,37 STW及び1MWの構成 

background image

73 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 同期̲0ユニット:1MM,続いて13 MW,1MM,7 MW,1MM及び27 MWの構成 

− 同期̲1ユニット:1MM,続いて15 MW,1MM,7 MW,1MM及び25 MWの構成 

− 同期̲2ユニット:1MM,続いて17 MW,1MM,7 MW,1MM及び23 MWの構成 

− 同期̲3ユニット:1MM,続いて19 MW,1MM,7 MW,1MM及び21 MWの構成 

− データ̲xユニット:xは“1”又は“0”を表す。 

− データ̲1ユニット:1MM,続いて9 MW,1MM,3 MW,37 STW及び1MWの構成 

− データ̲0ユニット:1MM,続いて11 MW,1MM,1 MW,37 STW及び1MWの構成 

四つの同期ユニットは,同期をとるために使用され,一方,データ̲1ユニットはビット値“1”を表す

ために使用され,データ̲0ユニットはビット値“0”を表すために使用される。 

基準ユニット

単一周波数ユニット

同期̲0ユニット
同期̲1ユニット
同期̲2ユニット
同期̲3ユニット
データ̲0ユニット
データ̲1ユニット

NWL 番号

0

18

55

3

....

..

..

..

単一周波数ウォブル

MSK マーク

“0”を表す、のこぎり波ウォブル

“1”を表す、のこぎり波ウォブル

図66−ADIPユニットタイプ 

15.7.3 ADIPワード構造 

83 ADIPユニットは,まとめて一つのADIPワードとなる。これは,3 ADIPワードが一つの記録ユニッ

トブロック(RUB)に等価な,3×83×2=498記録フレームに相当することを意味する(14.2参照)。 

各ADIPワードは,図67に示すとおり構成する。 

background image

74 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ADIPユニット番号 

ADIPユニットタイプ 

ADIPニブル 

ビット番号 

ADIP符号 

ニブル番号 

単一周波数 

− 

− 

同期̲0 

− 

単一周波数 

− 

同期̲1 

− 

単一周波数 

− 

同期̲2 

− 

単一周波数 

− 

同期̲3 

− 

基準 

− 

データ̲x 

b3 

c0 

10 

データ̲x 

b2 

11 

データ̲x 

b1 

12 

データ̲x 

b0 

13 

基準 

− 

− 

14 

データ̲x 

b3 

c1 

15 

データ̲x 

b2 

16 

データ̲x 

b1 

17 

データ̲x 

b0 

18 

基準 

− 

− 

8+i×5 

基準 

− 

− 

9+i×5 

データ̲x 

b3 

ci 

10+i×5 

データ̲x 

b2 

11+i×5 

データ̲x 

b1 

12+i×5 

データ̲x 

b0 

78 

基準 

− 

− 

79 

データ̲x 

b3 

c14 

80 

データ̲x 

b2 

81 

データ̲x 

b1 

82 

データ̲x 

b0 

図67−ADIPワード構造 

background image

75 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

15.7.4 ADIPデータ構造 

15.7.4.1 一般 

各ADIPワードは全部で60ビットを含み,非組織リードソロモン(RS)エラー訂正符号によって符号

語を形成している。この符号語は,36の情報ビットで構成される。エンコード前に,36の情報ビットは,

図68の配列によって規定するn0〜n8の九つの4ビットニブルに整列される。 

b3

b2

b1

b0

n0

AA23

AA22

AA21

AA20

n1

AA19

AA18

:

:

6

ADIP

:

:

:

:

:

アドレス

n5

AA3

:

:

AA0

n6

AX11

:

:

:

:

:

:

:

:

ニブル

予備データ

n8

AX3

:

:

AX0

ニブル

ニブル

図68−ADIP情報構造 

n0〜n8のニブルは,エラー訂正システムによって,c0〜c14のニブルにコード変換される(15.7.5参照)。 

このエラー訂正システムは非組織符号であり,情報ビット列のビットとADIPユニット内の符号ビット

との間には単純な直接の関係はない。 

15.7.4.2 ADIP情報ビットの割当て 

ADIPデータに入れる情報は,次のとおりとする。 

− AA23 .. AA0:これらの24ビットは,物理ADIPアドレス(PAA)を入れる。AA23はmsbで,AA0

はlsbとする。このアドレスは,三つの部分の構成とする。 

− AA23 .. AA21:この3ビットは,層番号とし,L0層では000に設定し,L1層では001に設定する。

他の設定は,リザーブ(値)とする。 

− AA20 .. AA2:この19ビットは,三つの連続するADIPワードごとに,一つ増加する連続番号を入

れる(RUBに同期する。14.2参照)。 

− AA1,AA0:この2ビットは,1RUBに相当する三つの連続するADIPワードの中で,00,01及び

10と連続して設定する。11の設定は使用しない。 

L0層の情報ゾーンの最初のアドレスは,データゾーンの最初のアドレスであるPAA 02 00 00hが半径

0.0
1.0

0.

24

− mmの位置とする。 

L0層のデータゾーンの最終ADIPアドレス(LAA)は,半径58.1 mm未満となる位置とする。 

L1層のデータゾーンの先頭ADIPアドレス(FAA)は,半径58.1 mm未満となる位置とする。 

L1層のデータゾーンの最終ADIPアドレス(3D FF FEh)は,半径

0.0
1.0

0.

24

− mmの位置とする。 

− AX11 .. AX0:この12ビットは,ディスクの予備情報が入っている。 

− ディスクのデータゾーン及び外側ゾーンでは,予備ビットは,“0”に設定する。 

− ディスクの内側ゾーンで,予備ビットは,次のとおりに用いる。 

background image

76 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 96の連続したADIPワード(32RUB相当)のAX11 .. AX0は,一つの144バイトのADIP予備フレ

ームを構成する。 

− 各ADIP予備フレームの最初のビットは,128の倍数のPAA(PAA=xxxx xxxx xxxx xxxx x000 0000)

をもつADIPワードの位置に置く。 

− 144バイトの内容は,15.8に規定する。 

15.7.4.3 L0層及びL1層の物理ADIPアドレスの関係 

L0層及びL1層のPAAは,決まった関係とする。L0層のPAAとL1層のPAAとは同じ半径にある(そ

れぞれの内側ゾーンからADIPワードの数が同じ距離にある。)が,それらはAA20〜AA2が反転したビッ

トをもつ(図69参照)。 

このようにすることによって,L1層のPAAは,トラッキング方向であるディスクの外周部から内周部

に向かって増加することになる。同時に,PAA1のAA20〜AA2を反転したアドレスビットは,L0層の同

じ半径の相当する反転しないアドレスビットと同じ関係となる。 

層番号

連続番号

RUB 中の番号

L0層上のPAA0

AA23 .. AA21 = 000

AA

AA

20

2

..

AA1,AA0 = 00,01,10

内周から外周に

L1層上のPAA1

AA23 .. AA21 = 001

AA

AA

20

2

..

AA1,AA0 = 00,01,10

外周から内周に

L0層

最初のアドレス

最後のアドレス

02 00 00h.....

PAA0

.....   LAA

内側ゾーン

外側ゾーン

3D FF FEh.....

PAA1

.....   FAA

L1層

最後のアドレス

最初のアドレス

層番号

連続番号

RUB 中の番号

L0層上のPAA0

AA23 .. AA21 = 000

AA

AA

20

2

..

AA1,AA0 = 00,01,10

内周から外周に

L1層上のPAA1

AA23 .. AA21 = 001

AA

AA

20

2

..

AA1,AA0 = 00,01,10

外周から内周に

層番号

連続番号

RUB 中の番号

L0層上のPAA0

AA23 .. AA21 = 000

AA

AA

20

2

..

AA1,AA0 = 00,01,10

内周から外周に

L1層上のPAA1

AA23 .. AA21 = 001

AA

AA

20

2

..

AA

AA

20

2

..

AA1,AA0 = 00,01,10

外周から内周に

L0層

最初のアドレス

最後のアドレス

02 00 00h.....

PAA0

.....   LAA

内側ゾーン

外側ゾーン

3D FF FEh.....

PAA1

.....   FAA

L1層

最後のアドレス

最初のアドレス

図69−L0層及びL1層のPAAの関係の説明 

数学的には,次のとおりに説明できる。 

PAA0にC0 00 01hを加算した後に,全ての24ビットを反転することによってL1層の対応するアドレス

PAA1となる。 

数式で表すと,次になる。 

01h

00

C0

PAA

PAA

0

1

+

=

(1の加算は,内部のRUB番号の順番を修正し,一方,C0 00 00hの加算は,正しい層番号に配慮して

いる。) 

このようにして,データゾーン1の最終ADIPアドレスは,次のとおりに生成される。 

h

01

00

C0

00h

00

02

FEh

FF

3D

+

=

データゾーン1の先頭ADIPアドレスは,次のとおりに生成される。 

01h

00

C0

LAA

FAA

+

=

注記 

LAAは,LAAの各ビットの“1”及び“0”を反転したものを表している。 

77 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

15.7.5 ADIPエラー訂正 

エラー訂正システムは,ニブルベースであり,有限体GF(24)で規定される(15,9,7)非組織RS符号である。

符号の全ニブル数は15で,符号は9情報ニブルから計算され,この符号の最小距離は,7である。 

有限体GF(24)の非ゼロ要素は,原始根αによって生成される。ここに,αは,次の原始多項式p(x)の根

である。 

p(x)=x4+x+1 

GF(24)のシンボルは,多項式表現の(α3, α2, α, 1)を元とする,ニブル(4ビットのグループ)の多項式

で表される。したがって,根αは次の式で表される。 

α=0010 

ベクトル(c0  c1 .. c13 c14)で表す符号語は,情報シンボルn0〜n8から,次の式によって計算できる。 

)

(

n

)

(

n

c

)

(

p

8

)

(

7

0

14

0

14

x

g

x

g

x

x

C

i

i

i

i

i

i

×

+

×

=

×

=

=

=

ここに,gp(x)は,親生成多項式で,次による。 

(

)

=

=

13

0

p

)

(

i

i

α

x

x

g

g(i) (x)は,各シンボルni (i=0 .. 7)に対する特別生成多項式である。 

g(i) (x)は,親生成多項式gp(x)からgp(x)のゼロのうちの1個のziを除き,その結果をg(i)(zi)=1となるよう

に正規化することで生成される。除くべきゼロziは,次による。 

zi=αi+6 

生成多項式は,次によって計算される。 

i

i

i

β

x

g

x

g

)

(

~

)

(

)

(

)

(

=

ここに, 

i

i

z

x

x

g

x

g

=

)

(

)

(

~

p

)

(

 及び 

[]

i

i

i

z

g

β

)

(~

=

ディスクに記録する前に,ニブルc9〜c14の全てのビットを反転する。 

留意事項1 符号は,非組織符号であるために,通常のRS復号で訂正した後に,符号語のシンボル

から情報シンボルを生成するために,追加の計算が必要となる。 

注記 留意事項は,規格をシステムに実装する場合の注意事項を示したものである。 

n0〜n7の情報シンボルは,訂正した符号語C(x)に情報シンボルのゼロを代入することによって,生成さ

れる。すなわち,次のとおりにシンドロームを計算する。 

j

i

j

j

i

i

i

α

c

α

C

S

×

+

=

+

+

×

=

=

=

)6

(

14

0

14

6

6

)

(

n

n8は,組織シンボルで,C(x)からc0を複製することによって,直接生成することができる。 

留意事項2 各情報シンボルniは,親生成多項式gp(x)のゼロに相当する。図70は,各情報シンボル

に対応したゼロ要素を示している(n8は,対応するゼロ要素はないことに注意されたい。)。 

background image

78 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

シンボル

相当するゼロ要素

(x ‒α0)

(x ‒α1)

(x‒α2)

(x‒α3)

(x‒α4)

(x ‒α5)

n0

(x‒α6) 

n1

(x‒α7)

n2

(x‒α8)

n3

(x‒α9)

n4

(x‒α10)

n5

(x ‒α11)

n6

(x ‒α12)

n7

(x ‒α13)

図70−各情報ビットに対応したゼロ要素 

情報シンボルが既知で,それに対応したゼロが(x−α0) .. (x−α5) .. に相当する既存の一連のゼロを拡張す

る場合は,ハミング距離は増える。例えば,n0が既知の場合は,ハミング距離はd=8となる。n0及びn1

が共に既知の場合は,ハミング距離はd=9となる。 

すなわち,情報シンボルの事前情報によってハミング距離を増やすことができる。ADIPのアドレスは

直線的に増加するため,このような事前情報となっている。 

この現象は,復号結果の信頼性の追加確認に使用できる。 

15.8 ADIP予備フレームのディスク情報 

15.8.1 一般 

96の連続した,ADIPワード予備フィールドの情報ニブルは,バイト単位のフレームにまとめられ,幾

つかのディスクパラメタをもっている。図71に従って,ニブルは,バイトに再配置される。幾つかのデ

ィスク情報(DI)予備フレームは,DIブロックにグループ化できる。全てのディスク情報ブロック(DI

ブロック)は,同じ内容とする。 

background image

79 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト

番号

b7

b6

b5

b4

b3

b2

b1

b0

0

AX11

ワード1

AX10

AX9

AX8

AX7

AX6

AX5

AX4

1

AX3

AX2

AX1

AX11

AX10

AX9

AX8

2

AX7

AX6

AX5

AX4

AX3

AX2

AX1

AX0

3

AX11

AX10

AX9

AX8

AX7

AX6

AX5

AX4

:

:

141

AX11

AX10

AX9

AX8

AX7

AX6

AX5

AX4

142

AX3

AX2

AX1

AX0

AX11

AX10

AX9

AX8

143

AX7

AX6

AX5

AX4

AX3

AX2

AX1

AX0

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

ワード1

AX0

ワード1

ワード95

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード2

ワード3

ワード3

ワード3

ワード3

ワード3

ワード3

ワード3

ワード3

ワード95

ワード95

ワード95

ワード95ワード95

ワード95

ワード95

ワード95ワード95

ワード95

ワード95

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

ワード96

図71−ADIP予備フレームバイトの順番 

15.8.2 ディスク情報予備フレームのエラー保護 

DI予備フレームは,13.7の長距離RS符号によって保護される。そのような長距離符号は248バイトで

構成されるため,104のダミーバイト(ディスク上に記録しない。)は,DI予備フレームの長距離符号語

を完成するために追加される(図72参照)。13.7のバイトe0,L .. e103,Lはダミーバイトを表し(全てFFhに

設定される。),バイトe104,L .. e215,Lは,ディスク情報バイトを表し,バイトp216,L .. p247,Lはパリティバイト

を表す。 

各DI予備フレームに追加する104 バイト

96 ADIP ワード

12 ビット=144 バイト

×

FFh

ディスク情報ユニット(112 バイト)

パリティ

216

32

長距離エラー訂正符号

ダミーバイト:

ディスクの1 DI 予備フレーム:

0

0

1

N-1

DI 予備フレーム

N-1

....

DI ブロック

DI 予備フレーム

DI 予備フレーム

DI 予備フレーム

DI 予備フレーム

図72−ディスク情報構造及びエラー訂正フォーマット 

80 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

15.8.3 ディスク情報データ構造 

15.8.3.1 一般 

DIブロックは,複数の144バイトのDI予備フレーム(図72参照)で構成できる。必要な場合は,最大

31個までDI予備フレームを追加して使うことができる。各記録層は,同じDI予備フレームで構成する,

同じDIブロックをもつ。 

DI予備フレーム列は,内側ゾーンで繰り返し,DI予備フレーム0は,L0層ではPAA 01 B8 00hから開

始し,L1層ではPAA 3E 00 00hから開始する。 

保護ゾーン2(図81及び図82参照)では,予備ビットを“0”に設定するか,又はDI予備フレームを

含むことができる(それによって,上記アドレスで規定したDI予備フレーム0からDI予備フレームが連

続でつながる。)。 

各DI予備フレームのディスク情報112バイトは,ディスク情報(DI)ユニットと呼ばれる。各DIユニ

ットは,DIユニットヘッダを構成する8バイトで開始する(15.8.3.2参照)。 

DIユニットは,異なる記録ストラテジなどの違ったパラメタセットを収納できる。内容が異なる定義の

DIユニットを区別するために,DIユニット特有の識別子が必要である。DIユニットヘッダのバイト2の

DIフォーマット番号は,この目的に用いる。このバイトで,256タイプの違う内容のDIユニットが識別

できる。 

一つのセットのパラメタ群が一つのDIユニットに収まらない場合は,連続した複数のDIユニットに収

納する。この場合,バイト6のビットb7は,次のDIユニットが一連の続きであることを示す。 

記録ストラテジに関するDIユニットの使用方法は,15.8.3.7に示される。 

この規格の将来の拡張では,例えば,より高速の記録線速度及び新しい記録ストラテジを規定するため

に,追加のDI予備フレームが必要になる可能性がある。新しいDI予備フレームが追加される場合に,既

存のものが適切の場合は継続して使用し,そのような方法で,既存のドライブとのバックワード互換を容

易に保つことができる。各ドライブは,ディスクにある全てのDI予備フレームを検査し,DIフォーマッ

ト番号(バイト2)及び示される記録速度(バイト32〜35)に基づき,サポートするものだけを使うこと

が望ましい(15.8.3.7も参照)。 

15.8.3.2 DIユニットの一般規定 

各DIユニットは,図73に示すとおりヘッダ,本体及びフッタで構成する。 

background image

81 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト番号

内容

バイト数

0〜1

ディスク情報識別子

2

2

DIフォーマット番号

1

3

各DIブロックのDI予備フレーム数(5ビット)

このDIユニットを適用する層数(3ビット)

1

4

引き継ぎ情報

1

5

DIブロック内のDIユニット連続番号

1

6

継続フラグ(1ビット)

このDI ユニットで使用中のDIバイト数(7ビット)

1

ヘッダ

7

リザーブ(領域)

1

本体

8 〜99

DIユニットの内容

92

100 〜105

ディスク製造業者識別子

6

106 〜108

メディアタイプ識別子

3

109 〜110

タイムスタンプ

2

フッタ

111

製造改正番号

1

図73−DIユニットの通常フォーマット 

バイト0〜1: 

ディスク情報識別子 

この2バイトは,文字“DI”を表す,44 49hに設定する。 

バイト2: 

DIフォーマット番号 

このバイトで,DIユニット又はDIユニットセットの内容を識別する(バイト6の

規定参照)。 

BCAコード付きのディスクは,このバイトのmsbを,“0”に設定する。 

BCAコードなしのディスクは,このバイトのmsbを,“1”に設定する。 

注記 DIフォーマット番号はDIユニットの内容だけを規定し,バイト11に規定するクラス番号及び

バージョン番号とは関係ない。 

この規格は,将来,高速記録速度,高密度記録などの新しい機能が許されるように拡張され

る可能性がある。その場合,新しいディスクと古いドライブとの間のバックワード互換の問題

をできるだけ防ぐために,クラス番号及びバージョン番号が導入されている。 

クラス番号は,新しい規定によってBD層が既存のドライブで全く記録も読取りもしないほ

うがよい場合(例えば,ディスク又はドライブの破損を防ぐため。),番号が上げられる。 

既存のクラスとの読取互換が確認できれば,新しいクラス番号は不要である。 

クラス番号の更新を必要としない(読取互換が維持される。)が,記録互換ができない場合の

拡張又は変更の新規格の場合は,バージョン番号が上げられる。 

そのようなBD層は,上のバージョン番号であるが,前に定義したDIユニットの記録ストラ

テジに従って記録できる場合は,そのDIユニットを保持できる。 

結果,ドライブは,既知のDIフォーマット番号をもつDIユニットを常に確認することが望

ましい。そのような場合,記録ストラテジに絡む記録パラメタ(記録速度,記録パワー,必要

なタイミングなど)を確認でき,それらがドライブの能力の範囲内の場合は,ドライブはその

ディスクに記録をすることが望ましい。 

background image

82 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

上記のように,クラス番号及びバージョン番号を使うことによって,ディスク及びドライブ

の想定される破損を防ぎながら,将来のディスクのバックワード互換が最大限確保できる。 

各層のタイプ(バイト8〜10で規定。)には,独立したDIフォーマット番号がある。DIフォ

ーマット番号は,DIユニットに規定される記録ストラテジの指標でもある。 

バイト3: 

各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数 

ビットb7〜b3: この5ビットは,各DIブロックのDI予備フレーム数Nを規定する(1≦N≦31)。 

ビットb2〜b0: この3ビットは,このDIユニットの規定を適用する記録層の数を規定する。 

バイト4: 

引き継ぎ情報 

このバイトの設定は,次による。 

単層ディスクは,01hとする。 

2層ディスクは,02hとする。 

他のディスクは,00hとする。 

バイト5: 

DIブロック内のDIユニットの連続番号 

このバイトは,DIブロック内のDIユニットの連続番号を規定する。 

実際のDIブロックの,実際のDIユニット番号n(0≦n≦N−1)に設定する。 

DIユニットは,序列を付けて並べる(図74参照)。第1優先は,公称記録速度の増

加順(バイト32〜33),第2優先は,同じ公称記録速度内のDIユニット列で,層番

号(バイト3)増加順,第3優先は,記録ストラテジの推奨順(DIフォーマット番

号によって識別されるが,DIフォーマット番号の連番順でなくてもよい。)。 

連続番号

記録速度

層番号

記録ストラテジ(WS)

0

推奨WS

1

0

代替WS

:

推奨WS

k‒1

1

代替WS

k

推奨WS

:

:

代替WS

:

推奨WS

2k‒1

v1

k‒1

代替WS

2k

:

0

最も推奨するWS

:

:

:

:

:
:

v2>v1

k‒1

:

最後に推奨するWS

:

v3>v2

0

:

:

:

:

:

N‒1

:

図74−DIブロック順の例 

バイト6: 

継続フラグ及びこのDIユニットで使用されているDIバイト数 

ビットb7: 

このビットは,このDIユニット内のパラメタセットが次のDIユニットへも継続す

るのか,又は次のDIユニットで新しいパラメタセットが始まるのかを規定する。 

次のDIユニットで新しいパラメタセットが始まる場合は,“0”に設定する。 

background image

83 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

このDIユニットのパラメタセットが次のDIユニットに継続する場合は,“1”に設

定する(図75参照)。 

ビットb6〜b0: この7ビットは,フッタ直前の最後の未使用[リザーブ(領域)]バイトまでの,実

際のDIユニット中で用いているバイト数を示す(例えば,図76参照)。 

:

バイト2 = ..
バイト3 = N / L0層
バイト5 = n‒1

先行するパラメタセットの終了

バイト2 = x

バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n

今のパラメタセットの開始
:
:
:

バイト2 = x 
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n+1

:

今のパラメタセット継続

:

L1層の3DIユニット

にまたがる

パラメタセット

バイト2 = x 
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n+2

:
:
:
今のパラメタセット終了

バイト2 = .. 
バイト3 = N/ L0層
バイト5 = n+3

次のパラメタセットの開始

:

バイト6,ビットb7= 0

バイト6,ビットb7= 0

バイト6,ビットb7= 1

バイト6,ビットb7= 1

バイト6,ビットb7= ..

図75−DIユニット拡張の例 

バイト7: 

リザーブ(領域) 

バイト8〜99: 

DIユニット内容 

この92バイトは,DIユニットの一般的なディスクパラメタ,読取り,記録パワー,

記録ストラテジパラメタなどの,特定の内容を含む。 

バイト100〜105: ディスク製造業者識別子 

この6バイトのフォーマット及び内容は,関係者間の合意が必要であり,合意がな

い場合は,これらのバイトは,00hに設定する。 

バイト106〜108: メディアタイプ識別子 

この3バイトのフォーマット及び内容は,関係者間の合意が必要であり,合意がな

い場合は,これらのバイトは,00hに設定する。 

バイト109〜110: タイムスタンプ 

この2バイトは,このディスクが転写された,マスターディスクの製造日に関する

情報を与える。同じディスク製造業者識別子及び同じメディアタイプ識別子をもつ

全てのディスクは,タイムスタンプにかかわらず同じ記録特性をもつ(軽微な違い

だけ許され,タイムスタンプは,記録機には無関係とする。)。 

バイト109のビットb7〜b0+バイト110のビットb7〜b4は,製造年を表す12ビット

2進数の一つの領域とする。 

84 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト110のビットb3〜b0は,製造月を表す4ビット2進数とする。 

タイムスタンプが使われない場合は,両方のバイトは,00hに設定する。 

バイト111: 

製造改正番号 

このバイトは,製造改正番号を2進数で識別する。同じディスク製造業者ID及び同

じメディアタイプ識別子をもった全てのディスクは,製造改正番号にかかわらず同

じ記録特性をもつ(軽微な違いだけ許され,製造改正番号は記録機には無関係とす

る。)。 

このバイトの内容は,ディスク製造業者が自由に設定できる。この規格ではこのバ

イトのフォーマット及び内容は,規定しない。互換性を確保するためには無視する。 

15.8.3.3 DIフォーマット1(N−1記録ストラテジA)の規定 

フォーマット1のDIユニットの主部の内容は,図76に示すとおり規定する。 

background image

85 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト番号

内容

バイト数

0 to 7

DIユニットヘッダ

8

8 to 10

BD層タイプ識別子

3

11

ディスクサイズ,クラス及びバージョン

1

12

BD構造

1

13

チャネルビット長

1

14 to 15

リザーブ(領域)

2

16

BCA記述子

1

17

最大転送レート

1

18 to 23

リザーブ(領域)

6

24 to 31

データゾーンの配置

8

32 to 35

記録速度

4

36 to 39

最大直流読取りパワー

4

40 to 43

最大高周波重じょう(畳)読取りパワー

4

44 to 47

リザーブ(領域)

4

48 to 55

公称記録速度の記録パワー設定

8

56 to 63

最大記録速度の記録パワー設定

8

64 to 71

最小記録速度の記録パワー設定

8

72

TMP:記録マルチパルスの継続時間

1

73 to 75

Ttop:最初の記録パルスの継続時間

3

76 to 78

dTtop:公称記録速度の最初の記録パルスの開始時間

3

79 to 81

dTtop

3

82 to 84

dTtop

3

85 to 87

リザーブ(領域)

3

88

TE:消去マルチパルスの継続時間

1

89 to 91

dTE

-

3

92 to 94

dTE

3

95 to 97

dTE

3

98

消去フラグビット

1

99

未使用= 00h

1

100 to 111

DIユニットフッタ

12

:最大記録速度最初の記録パルスの開始時間

:最小記録速度の最初の記録パルスの開始時間

:公称記録速度の最初の消去パルスの開始時間

:最大記録速度の最初の消去パルスの開始時間

:最小記録速度の消去パルスの開始時間

図76−DIフォーマット1のディスク情報内容 

バイト0〜1: 

ディスク情報識別子 

15.8.3.2参照。 

バイト2: 

DIフォーマット番号 

最大高周波重畳読取りパワー 

86 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

このバイトは,BCAコード付きのディスクでは,01hに設定する。 

このバイトは,BCAコードなしのディスクでは,81hに設定する。 

バイト3: 

各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数 

15.8.3.2参照。 

バイト4: 

引き継ぎ情報 

15.8.3.2参照。 

バイト5: 

DIブロック内のDIユニットの連続番号 

15.8.3.2参照。 

バイト6: 

継続フラグ及びこのDIユニット使用のDIバイト数 

このバイトは,このDIユニットの最初の99バイトを使用し,次のDIユニットに

継続がないことを示す63hに設定する。残りのDIユニット主部(DIユニットフッ

タのバイトを除く。)のバイトは使用せず,00hに設定する。 

バイト7: 

リザーブ(領域) 

15.8.3.2参照。 

バイト8〜10: 

BD層タイプ識別子 

この3バイトは,DIユニットが適用されるBD層のタイプを識別し,各書換層で,

“BDW”の文字を示す42 44 57hに設定する。 

バイト11: 

ディスクサイズ,クラス及びバージョン 

ビットb7〜b6: この2ビットは,ディスクのサイズを規定する。120 mmディスクを示す00に設定

する。 

ビットb5〜b4: この2ビットは,クラス番号を規定する。クラス番号は,同じ層タイプで異なる基

本特性をもつBD層を識別する。 

この規格に適合したBD層は,これらのビットを,00に設定する。 

ドライブが,ある特定のクラスの層を認識できない場合は,その層のデータゾーン

にアクセスしないことが望ましい(読取りも記録も行わない。)。 

ビットb3〜b0: この4ビットは,バージョン番号を規定する。この規格に適合した層であることを

示す0010に設定する。 

バイト12: 

BD構造 

ビットb7〜b4: この4ビットは,ディスク上のBDの記録可能層及び記録済み層の層数の全層数を

規定する。単層ディスクでは,記録層が一つであることを示す0001に設定する。 

2層ディスクでは,記録層が二つであることを示す0010に設定する。 

ビットb3〜b0: この4ビットは,このDIユニットを適用する,BDの記録可能層又は記録済み層の

層のタイプを規定する。 

ビットb3〜b0は,書換記録層を示す0100に設定する。 

注記 記録済み層は,(半透明)反射層から構成される再生専用ディスクの層である。 

バイト13: 

チャネルビット長 

ビットb7〜b4: この4ビットは,0000に設定する。 

ビットb3〜b0: この4ビットは,メインデータのチャネルビット長を規定し全てのBD記録層で同

じとする。 

チャネルビット長が74.5 nm(25.0 GB/層)であることを示す0001に設定する。他

87 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

の設定は,リザーブ(値)とする。 

バイト14〜15: 

リザーブ(領域) 

バイト16: 

BCA記述子 

ビットb7〜b4: この4ビットは,リザーブ(領域)とする。 

ビットb3〜b0: この4ビットは,ディスク上のBCAコードの有無を示す。 

0000:BCAコードなし 

0001:BCAコード付き 

他の設定は,リザーブ(値)とする。 

バイト17: 

最大転送レート 

このバイトは,アプリケーションが必要とする最大読取転送レートを数値nで規定

し,次による。 

n:最大読取転送レート(Mbit/s) 

(n≦255,M=106) 

nは,最大転送レートが規定されない場合,00hに設定する。 

バイト18〜23: 

リザーブ(領域) 

バイト24〜31: 

データゾーンの配置 

バイト24〜27: これらのバイトは,関係する層のデータゾーンの最初の物理ADIPを規定する。 

L0層に関連する各DIユニットで,これらのバイトは,データゾーン0の最初のPAA

がPAA 131 072であることを示す00 02 00 00hに設定する。 

L1層に関連する各DIユニットで,これらのバイトは,データゾーン1の最初のPAA

がFAAであることを示し,25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は,00 26 B1 80h

に設定する。 

バイト28〜31: これらのバイトは,関連する層のデータゾーンの最後の物理ADIPを規定する。 

L0層に関連する各DIユニットで,これらのバイトは,データゾーン0の最後のPAA

がLAAであることを示し,25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は,00 19 4E 7Eh

に設定する。 

L1層に関連する各DIユニットで,これらのバイトは,データゾーン1の最後のPAA

がPAA 4 063 230であることを示す00 3D FF FEhに設定する。 

バイト32〜35: 

記録速度 

バイト32〜33: これらのバイトは,公称記録速度を規定する。それは,このDIユニットに2バイト

の2進数(バイト32がMSB)で規定するパラメタを用いて使用される。 

公称記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vnorm 

nは,公称記録速度4.92 m/sを示す01 EChとする。 

バイト34: 

このバイトは,このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最大記録速度

を規定する。最大記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vmax / Vnorm (n≧100) 

nは,最大記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。 

バイト35: 

このバイトは,このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最小記録速度

を規定する。最小記録速度を数値nとして規定し,次による。 

88 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

n=100×Vmin / Vnorm (n≧100) 

nは,最小記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。 

これらのバイトが速度幅を規定する場合(バイト34の値>バイト35の値),記録速度は,この範囲のど

こにでも記録できるようにする。速度に関する記録ストラテジのパラメタの実際の値は,最小記録速度,

公称記録速度,及び最大記録速度の規定値から補間で得られる。 

バイト36〜39: 

最大直流読取りパワー 

最大読取りパワーは,記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが

できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する(30.8参照)。 

バイト36: 

このバイトは,基準速度での最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,

次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト37: 

このバイトは,このDIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速度に相当

する読取速度の場合の,最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に

示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト38: 

このバイトは,このDIユニットのバイト34で規定する最大記録速度に相当する読

取速度の場合の,最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数

値nによる。 

n=100×Pr 

バイト39: 

このバイトは,このDIユニットのバイト35で規定する最小記録速度に相当する読

取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値

nによる。 

n=100×Pr 

注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は,ディスク上の記録の耐久性を保証する

ために,読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。 

バイト40〜43: 

最大高周波重畳読取りパワー 

最大読取りパワーは,記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが

できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する(30.8参照)。 

バイト40: 

このバイトは,基準速度での最大高周波変調読取りパワーPrを単位ミリワットで規

定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト41: 

このバイトは,DIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速度での最大高

周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト42: 

このバイトは,DIユニットのバイト34で規定する最大記録速度での最大高周波重

畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト43: 

このバイトは,DIユニットのバイト35で規定する最小記録速度での最大高周波重

畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

89 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は,ディスク上の記録の耐久性を保証する

ために,読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。 

バイト44〜47: 

リザーブ(領域) 

バイト48〜71: 

記録パワー設定 

f=48,56及び64で,各バイトフィールドのf〜(f+7)で,次の値を三つの異なる記

録速度に対して規定する。 

バイトf: 

PIND:PINDは,OPCで,Ptargetを決めるための開始値として使用できる(附属書G参

照)。 

このバイトは,Ptargetを示唆する値PINDをミリワット単位で規定し,次に示す数値n

による。 

n=20×PIND 

バイト(f+1): mIND:mINDは,OPCで,Ptargetを決めるための開始値として使用できる(附属書G

参照)。 

このバイトは,メディア製造業者によって決められるPINDでの変調度を規定し,次

に示す数値nによる。 

n=200×mIND 

バイト(f+2): ρ:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる記録パワーに乗

ずる係数ρを規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×ρ 

バイト(f+3): εBW:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われるバイアスパワ

ーと記録ピークパワーとの比εBWを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εBW 

バイト(f+4): εc:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる冷却パワーと記

録ピークパワーとの比εcを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εc 

バイト(f+5): εE1:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる消去パワーと

記録ピークパワーとの比1,εE1を規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εE1 

バイト(f+6): εE2:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる消去パワーと

記録ピークパワーとの比2,εE2を規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εE2 

εE2は,εE1に等しくする。 

バイト(f+7): κ:このバイトは,OPC(附属書G参照)で使われるターゲット値κを規定し,次

に示す数値nによる。 

n=20×κ 

バイト48〜55: 

公称記録速度の記録パワー設定 

バイト48: 

公称記録速度のPIND 

バイト49: 

公称記録速度のmIND 

バイト50: 

公称記録速度のρ 

バイト51: 

公称記録速度のεBW 

90 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト52: 

公称記録速度のεc 

バイト53: 

公称記録速度のεE1 

バイト54: 

公称記録速度のεE2 

バイト55: 

公称記録速度のκ 

バイト56〜63: 

最大記録速度の記録パワー設定 

バイト56: 

最大記録速度のPIND 

バイト57: 

最大記録速度のmIND 

バイト58: 

最大記録速度のρ 

バイト59: 

最大記録速度のεBW 

バイト60: 

最大記録速度のεc 

バイト61: 

最大記録速度のεE1 

バイト62: 

最大記録速度のεE2 

バイト63: 

最大記録速度のκ 

バイト64〜71: 

最小記録速度の記録パワー設定 

バイト64: 

最小記録速度のPIND 

バイト65: 

最小記録速度のmIND 

バイト66: 

最小記録速度のρ 

バイト67: 

最小記録速度のεBW 

バイト68: 

最小記録速度のεc 

バイト69: 

最小記録速度のεE1 

バイト70: 

最小記録速度のεE2 

バイト71: 

最小記録速度のκ 

バイト72: 

TMP:記録マルチパルスの継続時間 

このバイトは,マークを記録するためのマルチパルス列の2番目で高レベルのパル

スの継続時間を規定する(F.2参照)。 

マルチパルス継続時間TMPは,可変部分及び固定部分の二つの部分で,次のとおり

に構成される。 

TMP=TMP,var+TMP,fix 

このバイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数pによる。 

W

var

MP,

16

T

T

p

×

=

このバイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,ナノ秒で表される固定部分を規

定し,次に示す正の2進数qによる。 

q=TMP,fix 

バイト73〜75: 

Ttop:最初の記録パルスの継続時間 

バイト73: 

このバイトは,ラン長4T以上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パ

ルスの継続時間を規定する(F.2参照)。 

最初のパルスの継続時間Ttop,4Tは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され,

次による。 

91 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

Ttop,4T=Ttop,var+Ttop,fix 

このバイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数jによる。 

W

var

top,

16

T

T

j

×

=

このバイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,ナノ秒で表される固定部分を規

定し,次に示すkによる。 

k=Ttop,fix 

バイト74: 

このバイトは,ラン長 3Tのマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルス

の継続時間を規定する(F.2参照)。 

最初のパルスの継続時間Ttop,3Tは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され,

次による。 

Ttop,3T=Ttop,var+Ttop,fix 

このバイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数jによる。 

W

var

top,

16

T

T

j

×

=

このバイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,ナノ秒で表される固定部分を規

定し,次に示すkによる。 

k=Ttop,fix 

バイト75: 

このバイトは,ラン長 2Tのマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルス

の継続時間を規定する(F.2参照)。 

最初のパルスの継続時間Ttop,2Tは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され,

次による。 

Ttop,2T=Ttop,var+Ttop,fix 

このバイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数jによる。 

W

var

top,

16

T

T

j

×

=

このバイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,ナノ秒で表される固定部分を規

定し,次に示すkによる。 

k=Ttop,fix 

バイト76〜84: 

dTtop:最初の記録パルスの開始時間 

f=76,79及び82で各バイトフィールドのf〜(f+2)で,次の値を三つの異なる記録

速度に対して,規定する。 

バイトf: 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長4T以上のマークを記録す

るマルチパルス列の最初のパルスのデータパルスの開始時間を,最初のチャネルビ

ットの後エッジに対して規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.2参照)。 

最初のパルスの開始時間dTtop,4Tは,実際のチャネルビットクロック周期の分数とし

て,次に示す符号付きの2の補数iで表される。 

92 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

W

top

16

T

dT

i

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+1): 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長3Tのマークを記録するマ

ルチパルス列の最初のパルスのデータパルスの開始時間を,最初のチャネルビット

の後エッジに対して規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.2参照)。 

最初のパルスの開始時間dTtop,3Tは,実際のチャネルビットクロック周期の分数とし

て,次に示す符号付きの2の補数iで表される。 

W

top

16

T

dT

i

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+2): 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長 2Tのマークを記録する

マルチパルス列の最初のパルスのデータパルスの開始時間を,最初のチャネルビッ

トの後エッジに対して規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.2参照)。 

最初のパルスの開始時間dTtop,2Tは,実際のチャネルビットクロック周期の分数とし

て,次に示す符号付きの2の補数iで表される。 

W

top

16

T

dT

i

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト76〜78: 

dTtop:公称記録速度の最初の記録パルスの開始時間 

バイト76: 

ラン長4T以上のマークを記録する,公称記録速度のdTtop 

バイト77: 

ラン長 3Tのマークを記録する,公称記録速度のdTtop 

バイト78: 

ラン長 2Tのマークを記録する,公称記録速度のdTtop 

バイト79〜81: 

dTtop:最大記録速度の最初の記録パルスの開始時間 

バイト79: 

ラン長4T以上のマークを記録する,最大記録速度のdTtop 

バイト80: 

ラン長 3Tのマークを記録する,最大記録速度のdTtop 

バイト81: 

ラン長 2Tのマークを記録する,最大記録速度のdTtop 

バイト82〜84: 

dTtop:最小記録速度の最初の記録パルスの開始時間 

バイト82: 

ラン長4T以上のマークを記録する,最小記録速度のdTtop 

バイト83: 

ラン長 3Tのマークを記録する,最小記録速度のdTtop 

バイト84: 

ラン長 2Tのマークを記録する,最小記録速度のdTtop 

バイト85〜87: 

リザーブ(領域) 

バイト88: 

TE:消去マルチパルスの継続時間 

このバイトは,スペースを記録するためのマルチパルス列の基本的な継続時間を規

定する(F.2参照)。 

消去マルチパルスの継続時間TEは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成さ

れ,次による。 

TE=TE,var+TE,fix 

このバイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数vによる。 

93 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

W

var

E,

16

T

T

v

×

=

このバイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,ナノ秒で表される固定部分を規

定し,次に示す正の2進数wによる。 

w=TE,fix 

バイト89〜97: 

dTE:最初の消去パルスの開始時間 

f=89,92及び95で各バイトフィールドのf〜(f+2)で,次の値を三つの異なる記録

速度に対して規定する。 

バイトf: 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長4T以上のマーク記録に続

く最初の消去パルスの開始時間を,データパルスの最初のチャネルビットの後エッ

ジに対して規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.2参照)。 

最初の消去パルスの開始時間dTE,4Tは,実際のチャネルビットクロック周期の分数

として,次に示す符号付きの2の補数uで表される。 

W

E

16TdT

u

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+1): 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長3Tのマーク記録に続く最

初の消去パルスの開始時間を,データパルスの最初のチャネルビットの後エッジに

対して規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.2参照)。 

最初の消去パルスの開始時間dTE,3Tは,実際のチャネルビットクロック周期の分数

として,次に示す符号付きの2の補数uで表される。 

W

E

16TdT

u

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+2): 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長 2Tのマーク記録に続く

最初の消去パルスの開始時間を,データパルスの最初のチャネルビットの後エッジ

に対して規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.2参照)。 

最初の消去パルスの開始時間dTE,2Tは,実際のチャネルビットクロック周期の分数

として,次に示す符号付きの2の補数uで表される。 

W

E

16TdT

u

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト89〜91: 

dTE:公称記録速度の最初の消去パルスの開始時間 

バイト89: 

ラン長4T以上のマークが先行する場合の,公称記録速度のdTE 

バイト90: 

ラン長3Tのマークが先行する場合の,公称記録速度のdTE 

バイト91: 

ラン長2Tのマークが先行する場合の,公称記録速度のdTE 

バイト92〜94: 

dTE:最大記録速度の最初の消去パルスの開始時間 

バイト92: 

ラン長4T以上のマークが先行する場合の,最大記録速度のdTE 

バイト93: 

ラン長3Tのマークが先行する場合の,最大記録速度のdTE 

バイト94: 

ラン長2Tのマークが先行する場合の,最大記録速度のdTE 

94 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト95〜97: 

dTE:最小記録速度の最初の消去パルスの開始時間 

バイト95: 

ラン長4T以上のマークが先行する場合の,最小記録速度のdTE 

バイト96: 

ラン長3Tのマークが先行する場合の,最小記録速度のdTE 

バイト97: 

ラン長2Tのマークが先行する場合の,最小記録速度のdTE 

バイト98: 

消去フラグビット(F.2参照) 

ビットb7〜b6: リザーブ(領域) 

ビットb5: 

“0”設定の場合,最小記録速度でPEFは,PE1に等しくする。 

“1”設定の場合,最小記録速度でPEFは,PE2に等しくする。 

ビットb4: 

“0”設定の場合,最小記録速度でPELは,PE1に等しくする。 

“1”設定の場合,最小記録速度でPELは,PE2に等しくする。 

ビットb3: 

“0”設定の場合,最大記録速度でPEFは,PE1に等しくする。 

“1”設定の場合,最大記録速度でPEFは,PE2に等しくする。 

ビットb2: 

“0”設定の場合,最大記録速度でPELは,PE1に等しくする。 

“1”設定の場合,最大記録速度でPELは,PE2に等しくする。 

ビットb1: 

“0”設定の場合,公称記録速度でPEFは,PE1に等しくする。 

“1”設定の場合,公称記録速度でPEFは,PE2に等しくする。 

ビットb0: 

“0”設定の場合,公称記録速度でPELは,PE1に等しくする。 

“1”設定の場合,公称記録速度でPELは,PE2に等しくする。 

バイト99: 

リザーブ(領域) 

バイト100〜111: DIユニットフッタ 

15.8.3.2参照。 

15.8.3.4 DIフォーマット2(N−1記録ストラテジB)の規定 

フォーマット2のDIユニットの主部の内容は,図77に示すとおり規定する。 

background image

95 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト番号

内容

バイト数

0 to 7

DIユニットヘッダ

8

8 to 10

BD層タイプ識別子

3

11

ディスクサイズ,クラス及びバージョン

1

12

BD構造

1

13

チャネルビット長

1

14 to 15

リザーブ(領域)

2

16

BCA記述子

1

17

応用の最大転送レート

1

18 to 23

リザーブ(領域)

6

24 to 31

データゾーンの配置

8

32 to 35

記録速度

4

36 to 39

最大直流読取りパワー

4

40 to 43

最大高周波重畳読取りパワー

4

44 to 47

リザーブ(領域)

4

48 to 55

記録パワー設定

8

56

TMP:記録マルチパルス継続時間

1

57 to 68

dTtop:最初の記録パルスの開始時間

12

69 to 92

Ttop

12×2

93 to 94

TLP:最後のパルスの継続時間

2

95 to 97

dTE

3

98 to 99

未使用全て=  00h

2

100 to 111

DIユニットフッタ

12

:最初の記録パルスの継続時間

:消去レベルの開始時間

図77−DIフォーマット2のディスク情報の内容 

バイト0〜31: 

次に示すバイトを除き,15.8.3.3の規定と同じとする。 

バイト2: 

DIフォーマット番号 

このバイトは,BCAコード付きのディスクでは,02hに設定する。 

このバイトは,BCAコードなしのディスクでは,82hに設定する。 

バイト6: 

継続フラグ及びこのDIユニット使用のDIバイト数 

このバイトは,このDIユニットの最初の98バイトは使用し,次のDIユニットに

継続がないことを示す62hに設定する。残りのDIユニット主部(DIユニットフッ

タのバイトを除く。)のバイトは使用せず,00hに設定する。 

バイト32〜35: 

記録速度 

バイト32〜33: これらのバイトは,公称記録速度を規定する。それは,このDIユニットに2バイト

の2進数(バイト32がMSB)で規定するパラメタを用いて使用される。 

公称記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vnorm 

96 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

nは,公称記録速度4.92 m/sを示す01 ECh,又は公称記録速度9.83 m/sを示す 03 

D7h,とする。 

バイト34: 

このバイトは,このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最大記録速度

を規定する。最大記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vmax / Vnorm (n≧100) 

nは,最大記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。 

バイト35: 

このバイトは,このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最小記録速度

を規定する。最小記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vmin / Vnorm (n≧100) 

nは,最小記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。 

バイト36〜39: 

最大直流読取りパワー 

最大読取りパワーは,記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが

できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する(30.8参照)。 

バイト36: 

このバイトは,基準速度での最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,

次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト37: 

このバイトは,このDIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速度に相当

する読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示

す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト38: 

このバイトは,このDIユニットのバイト34で規定する最大記録速度に相当する読

取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値

nによる。 

n=100×Pr 

バイト39: 

このバイトは,このDIユニットのバイト35で規定する最小記録速度に相当する読

取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値

nによる。 

n=100×Pr 

注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は,ディスク上の記録の耐久性を保証する

ために,読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。 

バイト40〜43: 

最大高周波重畳読取りパワー 

最大読取りパワーは,記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが

できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する(30.8参照)。 

バイト40: 

このバイトは,基準速度での最大高周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規

定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト41: 

このバイトは,DIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速度での最大高

周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト42: 

このバイトは,DIユニットのバイト34で規定する最大記録速度での最大高周波重

97 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト43: 

このバイトは,DIユニットのバイト35で規定する最小記録速度での最大高周波重

畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は,ディスク上の記録の耐久性を保証する

ために,読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。 

バイト44〜47: 

リザーブ(領域) 

バイト48〜55: 

記録パワー設定 

バイト48: 

PIND:PINDは,OPCでPtargetを決めるための開始値として使用できる(附属書G参

照)。 

このバイトは,Ptargetを示唆する値PINDを規定し,次に示す数値nによる。 

n=20×PIND 

バイト49: 

mIND:mINDは,OPCでPtargetを決めるための開始値として使用できる(附属書G参

照)。 

このバイトは,メディア製造業者によって決められるPINDでの変調度を規定し,次

に示す数値nによる。 

n=200×mIND 

バイト50: 

ρ:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる記録パワーに乗

ずる係数ρを規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×ρ 

バイト51: 

εBW:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われるバイアスパワ

ーと記録ピークパワーとの比εBWを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εBW 

バイト52: 

εc:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる冷却パワーと記

録ピークパワーとの比εcを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εc 

バイト53: 

εE:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる消去パワーと記

録ピークパワーとの比εEを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εE 

バイト54: 

κ:このバイトは,OPC(附属書G参照)で使われるターゲット値κを規定し,次

に示す数値nによる。 

n=20×κ 

バイト55: 

リザーブ(領域) 

バイト56: 

TMP:記録マルチパルスの継続時間 

このバイトは,マークを記録するためのマルチパルス列の2番目で高レベルのパル

スの継続時間を規定する(F.2参照)。 

記録マルチパルスの継続時間TMPは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成さ

れ,次による。 

TMP=TMP,var+TMP,fix 

98 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

このバイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数pによる。 

W

var

MP,

16

T

T

p

×

=

このバイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,固定部分をTXの分数として規定

する。ここに, 

1x記録速度:TX=15.15 ns 

2x記録速度:TX=7.58 ns 

値は,次に示す正の2進数qとして表される。 

X

fix

MP,

16

T

T

q

×

=

バイト57〜68: 

dTtop:最初の記録パルスの開始時間 

これらのバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長2T,3T,4T又は5T

以上のスペースに続くラン長2T,3T及び4T以上のマークを記録するマルチパルス

列の最初の記録パルスの開始時間を規定する(F.3参照)。 

最初のパルスの開始時間dTtopは,実際のチャネルビットクロック周期の分数として

次に示す符号付きの2の補数iで表される。 

W

top

16

T

dT

i

×

=

これらのバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト57〜60: これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長4T以

上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を,最初のデ

ータパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する(正の値は進み,負の値

は遅れを示す。F.3参照)。 

バイト57: 

このバイトは,ラン長5T以上のスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する,

最初のパルスの開始時間を規定する。 

バイト58: 

このバイトは,ラン長4Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する,最

初のパルスの開始時間を規定する。 

バイト59: 

このバイトは,ラン長3Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する,最

初のパルスの開始時間を規定する。 

バイト60: 

このバイトは,ラン長2Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する,最

初のパルスの開始時間を規定する。 

バイト61〜64: これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長3Tの

マークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を,最初のデータ

パルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する(正の値は進み,負の値は遅

れを示す。F.3参照)。 

バイト61: 

このバイトは,ラン長5T以上のスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,最

初のパルスの開始時間を規定する。 

バイト62: 

このバイトは,ラン長4Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,最初の

パルスの開始時間を規定する。 

99 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト63: 

このバイトは,ラン長3Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,最初の

パルスの開始時間を規定する。 

バイト64: 

このバイトは,ラン長2Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,最初の

パルスの開始時間を規定する。 

バイト65〜68: これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長2Tの

マークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を,最初のデータ

パルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する(正の値は進み,負の値は遅

れを示す。F.3参照)。 

バイト65: 

このバイトは,ラン長5T以上のスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,最

初のパルスの開始時間を規定する。 

バイト66: 

このバイトは,ラン長4Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,最初の

パルスの開始時間を規定する。 

バイト67: 

このバイトは,ラン長3Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,最初の

パルスの開始時間を規定する。 

バイト68: 

このバイトは,ラン長2Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,最初の

パルスの開始時間を規定する。 

バイト69〜92: 

Ttop:最初の記録パルスの継続時間 

これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長2T,

3T及び4T以上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間

を規定する(F.3参照)。 

最初のパルスの継続時間Ttopは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され,

次による。 

Ttop=Ttop,var+Ttop,fix 

f=69,71.. 91のf〜(f+1)の各バイトフィールドで,次の値を規定する。 

バイトf: 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数jによる。 

W

var

top,

16

T

T

j

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+1): 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,固定部分をTXの分数として規定

する。ここに, 

1x記録速度:TX=15.15 ns 

2x記録速度でTX=7.58 ns 

値は,次に示す正の2進数kとして表される。 

X

fix

top,

16

T

T

k

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト69〜76: これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長4T以

上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する

(F.3参照)。 

100 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト69及び70:これらのバイトは,ラン長5T以上のスペースに続くラン長4T以上のマークを記

録する,最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト71及び72:これらのバイトは,ラン長 4Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録す

る,最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト73及び74:これらのバイトは,ラン長3Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録す

る,最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト75及び76:これらのバイトは,ラン長 2Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録す

る,最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト77〜84: これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長3Tの

マークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する(F.3

参照)。 

バイト77及び78:これらのバイトは,ラン長5T以上のスペースに続くラン長3Tのマークを記録す

る,最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト79及び80:これらのバイトは,ラン長4Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,

最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト81及び82:これらのバイトは,ラン長3Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,

最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト83及び84:これらのバイトは,ラン長2Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する,

最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト85〜92: これらのバイトは,ラン長2T,3T,4T又は5T以上のスペースに続くラン長2Tの

マークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する(F.3

参照)。 

バイト85及び86:これらのバイトは,ラン長5T以上のスペースに続くラン長 2Tのマークを記録す

る,最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト87及び88:これらのバイトは,ラン長4Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,

最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト89及び90:これらのバイトは,ラン長3Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,

最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト91及び92:これらのバイトは,ラン長2Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する,

最初のパルスの継続時間を規定する。 

バイト93〜94: 

TLP:最後のパルスの継続時間 

これらのバイトは,ラン長3T及び4T以上のマークを記録するマルチパルス列の最

後のパルスの継続時間を規定する(F.3参照)。 

最後のパルスの継続時間TLPは,可変部分及び固定部分の二つの部分から構成され,

次による。 

TLP=TLP,var+TLP,fix 

各バイトの最初の4ビット(ビットb7〜b4)は,可変部分を実際のチャネルビット

クロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数sによる。 

W

var

LP,

16

T

T

s

×

=

101 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

各バイトの最後の4ビット(ビットb3〜b0)は,固定部分をTXの分数として規定す

る。ここに, 

1x記録速度:TX=15.15 ns 

2x記録速度:TX=7.58 ns 

値は,次に示す正の2進数tで表される。 

X

fix

LP,

16

T

T

t

×

=

 (0≦t≦15) 

バイト93: 

このバイトは,ラン長4T以上のマークを記録するマルチパルス列の最後のパルス

の継続時間を規定する(F.3参照)。 

バイト94: 

このバイトは,ラン長3Tのマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの継

続時間を規定する(F.3参照)。 

バイト95〜97: 

dTE:消去レベルの開始時間 

これらのバイトの最初の6ビット(ビットb7〜b2)は,ラン長2T,3T及び4T以上

のマーク記録に続く,消去レベルの開始時間を規定する(正の値は進み,負の値は

遅れを示す。F.3参照)。 

消去レベルの開始時間dTEは,実際のチャネルビットクロック周期の分数として,

次に示す符号付きの2の補数uで表される。 

W

E

16TdT

u

×

=

このバイトの最後の2ビット(ビットb1〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト95: 

このバイトは,ラン長4T以上のマーク記録に続く,消去レベルの開始時間を規定

する。 

バイト96: 

このバイトは,ラン長 3Tのマーク記録に続く,消去レベルの開始時間を規定する。 

バイト97: 

このバイトは,ラン長 2Tのマーク記録に続く,消去レベルの開始時間を規定する。 

バイト98〜99: 

リザーブ(領域) 

バイト100〜111: DIユニットフッタ 

15.8.3.2参照。 

15.8.3.5 DIフォーマット3(N/2記録ストラテジ)の規定 

フォーマット3のDIユニットの主部の内容は,図78に示すとおり規定する。 

background image

102 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バイト番号

内容

バイト数

0 to 7

DIユニットヘッダ

8

8 to 10

BD 層識別子

3

11

ディスクサイズ,クラス及びバージョン

1

12

BD 構造

1

13

チャネルビット長

1

14 to 15

リザーブ(予備)

2

16

BCA 記述子

1

17

応用の最大転送レート

1

18 to 23

リザーブ(予備)

6

24 to 31

データゾーンの配置

8

32 to 35

記録速度

4

36 to 39

最大直流読取りパワー

4

40 to 43

最大高周波重じょう(畳)読取りパワー

4

44 to 47

リザーブ(予備)

4

48 to 55

記録パワー設定

8

56 to 57

TMP記録マルチパルスの継続時間

2

58 to 61

dTtop:最初の記録パルスの開始時間

4

62 to 69

Ttop

4×2

70 to 73

TLP:最後の記録パルスの継続時間

2×2

74 to 77

dTE

4

78 to 99

未使用全て=  00h

22

100 to 111

DI ユニットフッタ

12

:最初の記録パルスの継続時間

:消去レベルの開始時間

図78−DIフォーマット3のディスク情報の内容 

バイト0〜31: 

次に示すバイトを除き,15.8.3.3の規定と同じとする。 

バイト2: 

DIフォーマット番号 

このバイトは,BCAコード付きのディスクでは,03hに設定する。 

このバイトは,BCAコードなしのディスクでは,83hに設定する。 

バイト6: 

継続フラグ及びこのDIユニット使用のDIバイト数 

このバイトは,このDIユニットの最初の78バイトを使用し,次のDIユニットに

継続がないことを示す4Ehに設定する。残りのDIユニット主部(DIユニットフッ

タのバイトを除く。)のバイトは使用せず,00hに設定する。 

バイト32〜35: 

記録速度 

バイト32〜33: これらのバイトは,公称記録速度を規定する。それは,このDIユニットに2バイト

最大高周波重畳読取りパワー 

103 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

の2進数のパラメタ(バイト32がMSB)で規定するパラメタを用いて使用される。 

公称記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vnorm 

nは,公称記録速度4.92 m/sを示す01 ECh,又は公称記録速度9.83 m/sを示す03 D7h

とする。 

バイト34: 

このバイトは,このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最大記録速度

を規定する。最大記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vmax / Vnorm (n≧100) 

nは,最大記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。 

バイト35: 

このバイトは,このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最小記録速度

を規定する。最小記録速度を数値nとして規定し,次による。 

n=100×Vmin / Vnorm (n≧100) 

nは,最小記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。 

バイト36〜39: 

最大直流読取りパワー 

最大読取りパワーは,記録信号が劣化することなく,少なくとも106回連続読取り

ができる,ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する(30.8参照)。 

バイト36: 

このバイトは,基準速度での最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,

次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト37: 

このバイトは,このDIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速度に相当

する読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示

す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト38: 

このバイトは,このDIユニットのバイト34で規定する最大記録速度に相当する読

取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値

nによる。 

n=100×Pr 

バイト39: 

このバイトは,このDIユニットのバイト35で規定する最小記録速度に相当する読

取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値

nによる。 

n=100×Pr 

注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は,ディスク上の記録の耐久性を保証する

ために,読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。 

バイト40〜43: 

最大高周波重畳読取りパワー 

最大読取りパワーは,記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが

できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する(30.8参照)。 

バイト40: 

このバイトは,基準速度での最大高周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規

定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト41: 

このバイトは,DIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速度での最大高

104 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト42: 

このバイトは,DIユニットのバイト34で規定する最大記録速度での最大高周波重

畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

バイト43: 

このバイトは,DIユニットのバイト35で規定する最小記録速度での最大高周波重

畳読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×Pr 

注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は,ディスク上の記録の耐久性を保証する

ために,読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。 

バイト44〜47: 

リザーブ(領域) 

バイト48〜55: 

記録パワー設定 

バイト48: 

PIND:PINDは,OPCで,Ptargetを決めるための開始値として使用できる(附属書G参

照)。 

このバイトは,Ptargetを示唆する値PINDを規定し,次に示す数値nによる。 

n=20×PIND 

バイト49: 

mIND:mINDは,OPCで,Ptargetを決めるための開始値として使用できる(附属書G

参照)。 

このバイトは,メディア製造業者によって決められるPINDでの変調度を規定し,次

に示す数値nによる。 

n=200×mIND 

バイト50: 

ρ:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる記録パワーに乗

ずる係数ρを規定し,次に示す数値nによる。 

n=100×ρ 

バイト51: 

εBW:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われるバイアスパワ

ーと記録ピークパワーとの比εBWを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εBW 

バイト52: 

εc:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる冷却パワーと記

録ピークパワーとの比εcを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εc 

バイト53: 

εE:このバイトは,OPCアルゴリズム(附属書G参照)で使われる消去パワーと記

録ピークパワーとの比εEを規定し,次に示す数値nによる。 

n=200×εE 

バイト54: 

κ:このバイトは,OPC(附属書G参照)で使われるターゲット値κを規定し,次

に示す数値nによる。 

n=20×κ 

バイト55: 

リザーブ(領域) 

バイト56〜57: 

TMP:記録マルチパルスの継続時間 

このバイトは,マークを記録するためのマルチパルス列の2番目で高レベルのパル

スの継続時間を規定する(F.4参照)。 

105 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

マルチパルス継続時間TMPは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され,次

による。 

TMP=TMP,var+TMP,fix 

バイト56: 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数pによる。 

W

var

MP,

16

T

T

p

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト57: 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,固定部分をTXの分数として規定

する。ここに, 

1x記録速度:TX=15.15 ns 

2x記録速度:TX=7.58 ns 

値は,次に示す正の2進数qで表される。 

X

fix

MP,

16

T

T

q

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト58〜61: 

dTtop:最初の記録パルスの開始時間 

これらのバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,ラン長2T,3T,[4T,6T,

8T]及び[5T,7T,9T]のマークを記録するマルチパルス列の最初のパルスの開始時間

を規定する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.4参照)。 

最初のパルスの開始時間dTtopは,実際のチャネルビットクロック周期の分数として

次に示す符号付きの2の補数iで表される。 

W

top

16

T

dT

i

×

=

これらのバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト58: 

このバイトは,ラン長[5T,7T,9T]のマークを記録するマルチパルス列の最初のパ

ルスの開始時間を,最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定

する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.4参照)。 

バイト59: 

このバイトは,ラン長[4T,6T,8T]のマークを記録するマルチパルス列の最初のパ

ルスの開始時間を,最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定

する(正の値は進み,負の値は遅れを示す。F.4参照)。 

バイト60: 

このバイトは,ラン長3Tのマークを記録するマルチパルス列の最初のパルスの開

始時間を,最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する(正

の値は進み,負の値は遅れを示す。F.4参照)。 

バイト61: 

このバイトは,ラン長2Tのマークを記録するマルチパルス列の最初のパルスの,

開始時間を,最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する(正

の値は進み,負の値は遅れを示す。F.4参照)。 

バイト62〜69: 

Ttop:最初の記録パルスの継続時間 

これらのバイトは,ラン長2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]のマークを記録

するマルチパルス列の最初のパルスの継続時間(F.4参照)を規定する。 

106 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

最初のパルスの継続時間Ttopは,可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され,

次による。 

Ttop=Ttop,var+Ttop,fix 

f=62,64,66及び68のf〜(f+1)の各バイトフィールドで,次の値を規定する。 

バイトf: 

このバイトの最初の6ビット(ビットb7〜b2)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数jによる。 

W

var

top,

16

T

T

j

×

=

このバイトの最後の2ビット(ビットb1〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+1): このバイトの最初の6ビット(ビットb7〜b2)は,固定部分をTXの分数として規定

する。ここに, 

1x記録速度:TX=15.15 ns 

2x記録速度:TX=7.58 ns 

値は,次に示す正の2進数kで表される。 

X

fix

top,

16

T

T

k

×

=

このバイトの最後の2ビット(ビットb1〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト62〜63: これらのバイトは,ラン長[5T,7T,9T]のマークを記録するマルチパルス列の最初

のパルスの継続時間を規定する(F.4参照)。 

バイト64〜65: これらのバイトは,ラン長[4T,6T,8T]のマークを記録するマルチパルス列の最初

のパルスの継続時間を規定する(F.4参照)。 

バイト66〜67: これらのバイトは,ラン長3Tのマークを記録するマルチパルス列の最初のパルス

の継続時間を規定する(F.4参照)。 

バイト68〜69: これらのバイトは,ラン長2Tのマークを記録するマルチパルス列の最初のパルス

の継続時間を規定する(F.4参照)。 

バイト70〜73: 

TLP:最後のパルスの継続時間 

これらのバイトは,ラン長[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]のマークを記録するマル

チパルス列の最後のパルスの継続時間を規定する(F.3参照)。 

最後のパルスの継続時間TLPは,可変部分及び固定部分の二つの部分から構成され,

次による。 

TLP=TLP,var+TLP,fix 

f=70及び72の各バイトフィールドf〜(f+1)に対して,次の値を規定する。 

バイトf: 

このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,可変部分を実際のチャネルビッ

トクロック周期の分数として規定し,次に示す正の2進数sで表される。 

W

var

LP,

16

T

T

s

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト(f+1): このバイトの最初の5ビット(ビットb7〜b3)は,固定部分をTXの分数として規定

する。ここに, 

1x記録速度:TX=15.15 ns 

background image

107 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

2x記録速度:TX=7.58 ns 

値は,次に示す正の2進数tで表される。 

X

fix

LP,

16

T

T

t

×

=

このバイトの最後の3ビット(ビットb2〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト70〜71: このバイトは,ラン長[5T,7T,9T]のマークを記録するマルチパルス列の最後のパ

ルスの継続時間を規定する(F.4参照)。 

バイト72〜73: このバイトは,ラン長[4T,6T,8T]のマークを記録するマルチパルス列の最後のパ

ルスの継続時間を規定する(F.4参照)。 

バイト74〜77: 

dTE:消去レベルの開始時間 

これらのバイトの最初の6ビット(ビットb7〜b2)は,ラン長2T,3T,[4T,6T,

8T]及び[5T,7T,9T]のマーク記録に続く消去レベルの開始時間を規定する(正の値

は進み,負の値は遅れを示す。F.4参照)。 

消去レベルの開始時間dTEは,実際のチャネルビットクロック周期の分数として,

次に示す符号付きの2の補数uで表される。 

W

E

16TdT

u

×

=

このバイトの最後の2ビット(ビットb1〜b0)は,リザーブ(領域)とする。 

バイト74: 

このバイトは,ラン長[5T,7T,9T]のマーク記録に続く消去レベルの開始時間を規

定する。 

バイト75: 

このバイトは,ラン長[4T,6T,8T]のマーク記録に続く消去レベルの開始時間を規

定する。 

バイト76: 

このバイトは,ラン長3Tのマーク記録に続く消去レベルの開始時間を規定する。 

バイト77: 

このバイトは,ラン長2Tのマーク記録に続く消去レベルの開始時間を規定する。 

バイト78〜99: 

リザーブ(領域) 

15.8.3.6 記録ストラテジの要求事項 

ディスクの記録ストラテジの要求事項を,図79に示す。 

記録ストラテジ゙

記録速度

N-1 A

N-1 B

N/2

1x

必須

任意

任意

2x

--

任意a)

任意a)

注a) 少なくともこれらの二つの記録ストラテジのどちらかはなければならない。 

図79−記録ストラテジタイプの要求事項 

15.8.3.7 記録ストラテジのDIユニットの使用方法 

DIフォーマット番号(バイト2)で識別される複数のDIユニットの概念を使うことによって,BDのシ

ステムは,バックワード互換を最善の方法で確保しながら,1,2又はそれ以上の記録層に対して異なる記

録速度でディスクを(将来に)容易に使うことができる。 

108 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

一般的に,異なる記録速度でそれぞれ異なる記録ストラテジ(異なるパラメタセット)が必要になる可

能性があり,さらに,記録ストラテジは,応用した技術に依存する可能性がある。 

なお,各記録層は,記録パラメタの異なる値の組合せが必要になる可能性がある。 

ディスクは,図79に示すとおり,少なくとも各記録層に対して二つのDIユニットをもつ。一つは1x

の記録速度のパラメタをもち,他は2xの記録速度のパラメタをもつ。代替の記録ストラテジパラメタセッ

トをもつDIユニットは,使いたい順番に追加してもよい(図74参照)。 

1x記録速度のパラメタを規定するDIユニットで,DIフォーマット1で示されるN−1記録ストラテジ

Aは,DIブロック列の中で常に最も望ましい記録ストラテジとして位置付ける。 

バイト3は,15.8.3.2の規定によって設定する。 

バイト4は,次のとおりに設定する。 

− SLディスク:01h 

− DLディスク:02h 

バイト5は,15.8.3.2の規定によって使用される。 

1x記録を規定する全てのDIユニットで,バイト32〜35は,次のとおりに設定する。 

− バイト32〜33: これらのバイトは,公称記録速度4.92 m/sを示す01 EChに設定 

− バイト34: 

このバイトは,最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定 

− バイト35: 

このバイトは,最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定 

2x記録を規定する全てのDIユニットで,バイト32〜35は,次のとおりに設定する。 

− バイト32〜33: これらのバイトは,公称記録速度9.83 m/sを示す03 D7hに設定 

− バイト34: 

このバイトは,最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定 

− バイト35: 

このバイトは,最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定 

そのような設定の例を,図80に示す。 

background image

109 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

単層ディスク

2層ディスク

バイト2: DIフォーマット番号

1

1

バイト3:DIの#  /L#の# 

3/0

4/0

バイト4: ---

1

2

バイト5: シーケンス#

0

0

バイト32 to 35: 記録速度

1x

1x

3

.

1

3/0

4/1

1

2

1

1

1x

1x

2

3

3/0

4/0

1

2

2

2

2x

2x

繰返し

2

4/1

2

3

2x

繰返し

バイト2: DIフォーマット番号

バイト2: DIフォーマット番号

バイト2: DIフォーマット番号

バイト2: DIフォーマット番号

バイト2: DIフォーマット番号

バイト3:DIの#  /L#の# 

バイト3:DIの#  /L#の# 

バイト3:DIの#  /L#の# 

バイト3:DIの#  /L#の# 

バイト3:DIの#  /L#の# 

バイト3:DIの#  /L#の# 

バイト2: DIフォーマット番号

バイト4: ---

バイト4: ---

バイト4: ---

バイト4: ---

バイト4: ---

バイト4: ---

バイト5:シーケンス#

バイト5:シーケンス#

バイト5:シーケンス#

バイト5:シーケンス#

バイト5:シーケンス#

バイト5:シーケンス#

バイト32 to 35: 記録速度

バイト32 to 35: 記録速度

バイト32 to 35: 記録速度

バイト32 to 35: 記録速度

バイト32 to 35: 記録速度

バイト32 to 35: 記録速度

1x記録速度では、DIフォーマット1に規定した記録ス

トラテジが好ましく、DIフォーマット3規定の記録ス
トラテジが代替として使用できる。

2x記録速度では、DIフォーマット2規定の記録ストラ

テジが使われている。

1x記録速度では、DIフォーマット1に規定した記録ス

トラテジがL0層及びL1層ともに使用されている。

2x記録速度では、DIフォーマット3規定の記録ストラ

テジがL0層で使用され、DIフォーマット2

規定の記録ストラテジがL1層で使用されている。

図80−一連のDIの例 

16 情報ゾーンの概要 

16.1 一般 

情報ゾーンは,データ交換に関する全てのディスク上の情報を含み,d9からd10までの情報領域の中に

位置している(10.8.1及び図17参照)。 

内側ゾーンの内周部(保護ゾーン1+PIC)は,ディスクに関する転写情報をもつことができるHFMグ

ルーブをもつ。内側ゾーンの他の部分,データゾーン及び外側ゾーンは,ウォブルグルーブ上に情報を相

変化効果を用いて記録することができる書換領域を構成している。 

16.2 単層ディスクの情報ゾーンのフォーマット 

一貫性の理由から,単層ディスクの一つだけの記録層もL0層と呼ばれる。 

情報ゾーンは,リードインゾーン(内側ゾーン0の一部),データゾーン0及びリードアウトゾーン(外

側ゾーン0)の,三つの部分に分けられる(図81参照)。 

110 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データゾーンは,使用者データの記録に当てられる。リードインゾーンは,転写及び書換による制御情

報並びにディスク及びドライブのテスト領域を含んでいる。リードアウトゾーンは,円滑な終了を可能に

するとともに,制御情報ももっている。 

16.3 2層ディスクの情報ゾーンのフォーマット 

情報ゾーンは,L0層のリードインゾーン(内側ゾーン0の一部),データゾーン0及び外側ゾーン0,

並びにL1層の外側ゾーン1,データゾーン1及びリードアウトゾーン1(内側ゾーン1の一部)の,六つ

の部分に分けられる(図81及び図82参照)。 

データゾーン0及びデータゾーン1は,使用者データの記録に当てられる。リードインゾーン及びリー

ドアウトゾーンは,転写及び書換による制御情報並びにディスク及びドライブのテスト領域を含んでいる。

外側ゾーン0及び外側ゾーン1は,各層の円滑な導入又は終了を可能にするとともに,制御情報ももって

いる。 

17 情報ゾーンの書換領域の構成 

情報ゾーンの書換領域は,内側ゾーン,データゾーン及び外側ゾーンの部分から構成されている。図81

及び図82に示す開始半径は,各ゾーンの最初又は最後のグルーブトラックの中心の公称値である。 

図中の物理ADIPアドレス(PAA)は,各ゾーンのグルーブトラックの開始又は終了アドレスである。

ゾーン当たりの記録できる物理クラスタ(RUB)数も示している。 

図81の表に示す値は,25.0 GB及び50.0 GBの容量をもつディスクに対するものである。 

background image

111 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

記載事項

公称

開始半径

(mm)

PAA

:

第1遷移領域

終了半径

11.5 mm

開始半径

11.5 mm

終了半径

16.5 mm

第2遷移領域

開始半径

16.5 mm

終了半径

21.0mm

開始半径
21.0 mm

“幅広ピッチ

グルーブ

BCA

22.2

---

---

エンボス

HFM

(HFM

グルーブ

)

22.512

(最初の

AUN = 

00

0D

8E

C0h

:

最後の

AUN = 

00

0D

A3

FEh

)

2

720

(×4KB)

リードイン

:

224

ゾーン

(内側ゾーン0

INFO2

01 B8 00h

:

256

OPC

01 BC 00h

:

01 DBFEh

情報領域

01 DC 00h

:

INFO1

01 FC 00h

:

(ウォブル

02 00 00h

グルーブ)

データ

ゾーン0

:

:

LAA

LAA +  2h

:
:

:

トラッキング方向

リードアウト

ゾーン/

:

---

終了半径

58.5 mm

リム領域

開始半径

58.5 mm

.

ゾーンの最後の

PAA

保護ゾーン

1

保護ゾーン2

L0層

ゾーンの最初の

:

物理

クラスタ数

クランプゾーン

22.2

---

---

エンボス

HFM

(HFM

グルーブ)

PIC

22.512

(最初の

AUN = 

:

最後の

AUN = 

000D A3 FEh)

2720

(×4KB)

23.252

01 B4 80h

:

01 B7FEh

の一部

23.289

:

01 BB FEh

23.329

:

2048

リザーブ
(領域)

23.647

:

01 FBFEh

2048

書換え

23.961

:

01 FFFEh

256

(

24.000

:

:

381856

INFO 3/4

58.000

:
:

LAA + 430h

268

58.017

LAA + 432h

:

情報ゾーン

/

外側ゾーン0

:

---

保護ゾーン1

保護ゾーン3

000D 8E C0h

図81−L0層の情報ゾーンの構成 

図82の表の値は,50 GBの容量をもつディスクに対するものである。 

/ 

background image

112 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

リザーブ
(領域)

L1層

公称

終了半径

(mm)

ゾーンの

最後のPAA

:

ゾーンの

最初のPAA

物理

21.0 mm

“幅広ピッチ”

グルーブ

保護ゾーン1

22.2

---

---

エンボス

HFM領域

(HFM

グルーブ)

PIC

22.512

(最後のAUN = 

01F2713Eh

:

最初のAUN =

01F25C00h)

2720

(×4KB)

リードアウト

保護

ゾーン2

3E 4B 7Eh

:

3E 48 00h

224

ゾーン

(内側

ゾーン1

INFO 2

:

3E 44 00h

256

:

3E 24 00h

情報領域

OPC

:

3E 04 00h

書換え

INFO 1

:

3E 00 00h

(ウォブル

グルーブ)

データ

ゾーン1

:
:

FAAa)

外側

ゾーン1

INFO 3/4

FAA−2h

:

FAA−4 30h

268

トラッキング方向

情報ゾーン

保護

FAA−4 32h

:

---

開始半径

58.5mm

記載事項

:

クラスタ数

終了半径

“幅広ピッチ”

グルーブ

保護ゾーン1

22.2

---

---

エンボス

HFM領域

(HFM

グルーブ)

PIC

22.512

(最後のAUN = 

:AUN =

01F2 5C 00h

2720

(×4KB)

保護

23.252

:

(内側

23.289

3E 47FEh

:

23.329

3E 43FEh

:

2048

23.647

3E 23FEh

:

2048

書換え

23.961

3E 03 FEh

:

256

(

24.000

3D FFFFh

:
:

381856

外側

58.000

:

保護

ゾーン3

58.017

:

---

01F2 71 3Eh

最初の

注a) 

C00001h

LAA

FAA

+

=

(15.7.4.3参照) 

図82−L1層の情報ゾーンの構成 

物理セクタの番号付けは,次による。 

− 一つのクラスタは32物理セクタをもち,各物理セクタは,2Kデータバイトである。ディスクに記録

したデータには物理セクタの番号は含まれないが,各物理セクタは,(仮の)物理セクタ番号(PSN)

と関連付けられる。 

− PSNは,関連する記録層のトラッキング方向に続く物理セクタで一つずつ増加する。 

− 各物理クラスタの最初の物理セクタのPSNは,32の倍数である。 

− PSNのPS31〜PS27のビットは,リザーブ(領域)とする。 

− PSNのPS26〜PS24のビットは,層番号を設定する。 

− データゾーン0の最初のPSNは,00 10 00 00hである。 

− データゾーン0の最後のPSNは,8×LAA+15で,25.0 GB及び50.0 GBのディスクでは,00 CA 73 FFh

である。 

− データゾーン1の最初のPSNは,8×FAAで,50.0 GBのディスクでは,01 35 8C 00hである。 

background image

113 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− データゾーン1の最後のPSNは,01 EF FF FFhである。 

MSB

“0”

LSB

AU31

PS31

PS27PS26

AU8

PS8

AU0

PS0

AU1

AU23

PS23

AU24

PS24

AU26

AU27

AU15

PS15

AU7

PS7

AU5

PS5

AU4

PS4

AU16

PS16

PSN

物理ADIPアドレス

クラスタ中で
カウント

AA23

AA21AA20

AA0

AA1

AA2

AA15

AA16

AA17

AA7

AA8

アドレスユニット番号

00,01,10に設定

連続で

層番号に設定

図83−PSNから派生する物理ADIPアドレス 

これらのPSNは,ECCクラスタのBIS列に記録するアドレスユニット番号に変換される(13.9.2参照)。 

図83に規定するとおりに,物理ADIPアドレスは,PSN及びAUNから派生する。このPAAによって,

データを記録しなければならないディスクの場所が識別される。 

18 内側ゾーン 

18.1 一般 

L0層の情報ゾーンの最内ゾーンは,リードインゾーンと呼ばれる。L1層の情報ゾーンの最内ゾーンは,

リードアウトゾーンと呼ばれる。 

内側ゾーン0(リードインゾーン部分)及び内側ゾーン1(リードアウトゾーン部分)の両方とも,エン

ボスHFM領域及び書換領域を含んでいる(図84及び図85参照)。 

L0層のエンボスHFM領域で全てのグルーブは,15.5及びその細分箇条に規定するフォーマットでエン

コードする。 

L0層でエンコードは,最初のクラスタのAUNを00 0D 85 F4hとし,半径

0.0

1.0

2.

22

− mmで開始する。 

アドレスは,15.5.3.2に規定するとおりに連続で増加させ,PICゾーンの最外半径の最後の4Kクラスタ

の,AUN=00 0D A3 FEhで終了する。 

L1層でエンコードは,最初のクラスタのAUNを01 F2 7A 0Ahとし,半径

0.0

1.0

2.

22

− mmで開始する。 

アドレスは,15.5.3.2に規定するとおりに連続で増加させ,PICゾーンの最外半径の最初の4Kクラスタ

の,AUN=01 F2 5C 00hhで開始する。 

両方の内側ゾーンの保護ゾーン1では,データフレームの内容は,全て00hに設定するか又はPICゾー

ンの内容と同じにするかのいずれかにできる。 

保護ゾーン1は,PICゾーンがBCAコードで上書きされないように,保護のためにある。 

background image

114 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

不変情報・制御データ(PIC)ゾーンは,ディスクの一般情報及び種々の他の情報をエンボスHFMグル

ーブに保存できる。 

書換領域及びウォブルグルーブ領域(L1層の保護ゾーン1)では,全てのグルーブを15.6の規定によっ

てウォブルする。 

内側ゾーンの書換領域は,OPC(最適パワー制御)を実行するため,及びディスク管理情報,制御情報

などのディスクに関する特有な情報を保存するために使用される。ドライブがその特有な情報を保存する

ために使用可能なゾーンも確保されている。 

内側

ゾーン0

記載事項

ゾーンの最初の

PAA

物理クラスタ数

目的

---

---

---

エンボス

HFM

PIC

---

---

不変情報・制御データゾーン

---

01 B4 80h

224

---

リザーブ(領域)8

01 B8 00h

32

将来の拡張

リザーブ(領域)7

01 B8 80h

32

リザーブ(領域)6

01 B9 00h

32

リザーブ(領域)5

01 B9 80h

32

PAC 2

01 BA 00h

32

物理アクセス制御

DMA 2

01 BA 80h

32

ディスク管理

書換え

コントロールデータ201 BB 00h

32

データ情報

INFO 2

バッファ2

01 BB 80h

32

---

トラッキング゙方向

テストゾーン

01 BC 00h

2 048

OPC テスト

OPC 

リザーブ(領域)

---

01 DC 00h

2 048

将来の拡張

バッファ1

01 FC 00h

32

ドライブ゙校正

ドライブ゙領域

01 FC 80h

32

ドライブ゙特有の情報

01 FD 00h

32

01 FD 80h

32

01 FE 00h

32

DMA 1

01 FE 80h

32

ディスク管理

コントロールデータ101 FF 00h

32

データ情報

INFO 1

PAC 1

01 FF 80h

32

物理アクセス制御

(データゾーン0)

02 00 00h

保護ゾーン1

保護ゾーン2

リザーブ(領域)3

将来の拡張

将来の拡張

将来の拡張

将来の拡張

リザーブ(領域)2

リザーブ(領域)1

図84−内側ゾーン0(リードインゾーン) 

background image

115 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

書換え

コントロールデータ23E 44 80h

32

データ情報

DMA 2

3E 45 00h

32

ディスク管理

PAC 2

3E 45 80h

32

物理アクセス制御

リザーブ(領域)5

3E 46 00h

32

将来の拡張

リザーブ(領域)6

3E 46 80h

32

リザーブ(領域)7

3E 47 00h

32

トラッキング方向

INFO2

リザーブ(領域)8

3E 47 80h

32

内側

ゾーン1

記載事項

ゾーンの最初

のPAA

物理クラスタ数

目的

(データゾーン1)

PAC 1

3E 00 00h

32

物理アクセス制御

コントロールデータl 3E 00 80h

32

データ情報

DMA 1

3E 01 00h

32

ディスク管理

3E 01 80h

32

ドライブ特有の情報

3E 02 00h

32

3E 02 80h

32

3E 03 00h

32

INFO1

バッファ1

3E 03 80h

32

OPC

テストゾーン

3E 04 00h

2048

OPCテスト

リザーブ(領域)

---

3E 24 00h

2048

バッファ2

3E 44 00h

32

---

保護ゾーン2

3E 48 00h

224

---

---

---

エンボス

HFM

保護ゾーン1

---

---

---

ドライブ領域

ドライブ特有の情報

ドライブ特有の情報

ドライブ特有の情報

PIC

不変情報&制御
データゾーン

---

将来の拡張

---

リザーブ(領域)1

リザーブ(領域)2

リザーブ(領域)3

将来の拡張

図85−内側ゾーン1(リードアウトゾーン) 

18.2 不変情報・制御データ(PIC)ゾーン 

18.2.1 一般 

不変情報・制御データ(PIC)ゾーンは,ディスク情報などの種々の目的のためのデータをもつエンボ

スHFM領域である。特にPICが供給されない場合は,全ての使用者データを(スクランブルする前の),

00hに設定する。PICデータは,両方の層にもつ。 

18.2.2 PICゾーンの内容 

PICゾーンは,PIC情報フラグメントを5回繰り返して構成する。ここに,各PICフラグメントは,544

のPICクラスタから構成される(全体では2 720で,図86参照)。PICクラスタは,15.5の規定に従って

フォーマットする。 

PIC情報フラグメントは,L0層の各AUN,00 0D 8E C0h,00 0D 93 00h,00 0D 97 40h,00 0D 9B 80h及

び00 0D 9F C0hで開始し,L1層では,01 F2 5C 00h,01 F2 60 40h,01 F2 64 80h,01 F2 68 C0h及び01 F2 6D 

00hで開始する。 

background image

116 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

PIC情報フラグメント番号

PICクラスタ番号

L0層のAUN

0

00 0D 8E C0h

01 F2 5C 00h

1

00 0D 8E C2h

01 F2 5C 02h

IF0

2

00 0D 8E C4h

01 F2 5C 04h

:

:

543

00 0D 92 FEh

01 F2 60 3Eh

0

00 0D 93 00h

01 F2 60 40h

IF1

:

:

543

00 0D 97 3Eh

01 F2 64 7Eh

0

00 0D 97 40h

01 F2 64 80h

IF2

:

:

543

00 0D 9B 7Eh

01 F2 68 BEh

0

00 0D 9B 80h

01 F2 68 C0h

IF3

:

:

543

00 0D 9F BEh

01 F2 6C FEh

0

00 0D 9F C0h

01 F2 6D 00h

IF4

:

:

543

00 0D A3 FEh

01 F2 71 3Eh

L1層のAUN

図86−PICゾーン 

各情報フラグメントの最初のPICクラスタは,ADIP予備フレームにあるディスク情報ブロックの複製

をもつ(15.8.3及び図87参照)。ディスク情報予備フレームの最初の112バイトだけを含む(32パリティ

バイトは,除く。)。32 DIユニット以下の場合は,3 584バイトまでの残りのバイトは,00hに設定する。 

各PIC情報フラグメントの最初のPICクラスタの最後の512バイトは,緊急制動(EB)データセットを

もつ(18.2.3及び図87参照)。 

PIC クラスタ中の

バイト位置

内容

バイト数

0 〜111

DI ユニット0

112

112 〜223

DI ユニット1

112

:

:

112×28

3360 〜3471

DI ユニット30

112

3472 〜3583

リザーブ(領域)

112

3584 〜4095

EB データセット

512

図87−各情報フラグメントの最初のPICクラスタ 

全ての他のPICクラスタは,(例えば,他のアプリケーションで)規定されない限りは,リザーブ(領

域)とする。 

18.2.3 緊急制動 

保護措置として,破壊的な誤動作を防ぐために,特別の取扱いを必要とするディスクを特定のモデルの

ドライブが認識するために使うことができるように,データセットを規定する。 

background image

117 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

このデータセットは,緊急制動(EB)データと呼ばれる。 

EBデータは,各情報フラグメントの最初のPICクラスタの3 584バイト〜4 095バイトに規定する。EB

データは,EBヘッダ,EBデータフィールド及びEBフッタで,構成される。EBデータフィールドは,例

えば,ディスク又はドライブの破損を防ぐためというような,特定のドライブがディスクを扱うために特

定の動作を要求するという合意がある場合に限り,関係するディスク製造業者及びドライブ製造業者の相

互に導入する。最大で62個のEBデータフィールドを用意してもよい。 

緊急制動データは,図88に示すとおり実装する。 

バイト番号

機能

記載事項

バイト数

3584 〜3585

識別子

2

3586

バージョン

1

3587

リザーブ(領域)

1

3588

リスト長

1

3589 〜3591

EB

ヘッダ

リザーブ(領域)

3

3592 〜3593

ドライブ゙製造業者ID

-

2

3594 〜3595

ドライブモデル

2

3596 〜3597

ファームウェアバージョン

2

3598 〜3599

EB

データフィールド

1

ドライブアクション

2

:

:

:

:

:

:

:

:

(3584+i×8) 〜(3584+i ×8) + 1

2

(3584+i ×8) + 2 〜(3584+i ×8) + 3

2

(3584+i ×8) + 4 〜(3584+i ×8) + 5

2

(3584+i ×8) + 6 〜(3584+i ×8) + 7

EB

i

(1 ≦i≦N)

2

:

:

:

:

:

:

:

:

(3584+N×8) 〜(3584+N×8) + 1

2

(3584+N×8) + 2 〜(3584+N×8) + 3

2

(3584+N×8) + 4 〜(3584+N×8) + 5

2

(3584+N×8) + 6 〜(3584+N×8) + 7

EB

N

(N≦62)

2

[3584+(N+1)×8] 

〜[3584+(N+1)×8] + 7

EB フッタ

終端子

8

[3584+(N+2) ×8] 〜4095

未使用

リザーブ(領域)

512 ‒(N+2) ×8

データフィールド

データフィールド

ドライブ゙製造業者ID

ドライブ゙製造業者ID

ドライブモデル

ドライブモデル

ファームウェアバージョン

ファームウェアバージョン

ドライブアクション

ドライブアクション

図88−緊急制動データの規定 

バイト3 584〜3 585:EB識別子 

これらのバイトは,“EB”の文字を表す,45 42hに設定する。 

バイト3 586:EBバージョン 

このバイトは,EBフォーマットのバージョン1を表す,01hに設定する。 

バイト3 587:リザーブ(領域) 

118 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

このバイトは,00hに設定する。 

バイト3 588:長さNのEBリスト 

このバイトは,EBデータフィールドの数を設定する。 

EBデータフィールドがない場合は,このバイトは,00hに設定する。 

バイト3 589〜3 591:リザーブ(領域) 

これらのバイトは,00 00 00hに設定する。 

バイト(3 584+i×8)〜(3 584+i×8)+1 (1≦i≦N):ドライブ製造業者ID 

これらの2バイトのフォーマット及び内容は,データ交換する受渡当事者間で合意が必要で,合意

がなければこれらのバイトは,00hに設定する。 

バイト(3 584+i×8)+2〜(3 584+i×8)+3 (1≦i≦N):ドライブモデル番号 

これらの2バイトは,ドライブのモデル番号を表し,ドライブ製造業者が規定する。この規格は,

これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視する。 

バイト(3 584+i×8)+4〜(3 584+i×8)+5 (1≦i≦N):ドライブファームウェアバージョン 

これらの2バイトは,ドライブのファームウェアバージョンを表し,ドライブ製造業者が規定する。

この規格は,これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視する。 

バイト(3 584+i×8)+6〜(3 584+i×8)+7 (1≦i≦N):ドライブ製造業者動作 

これらの2バイトは,ドライブモデルがディスクを扱うために行う動作を表す。ドライブの製造業

者が規定する。この規格は,これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視す

る。 

バイト[3 584+(N+1)×8]〜[3 584+(N+1)×8]+7 (0≦N≦62):EB終端子 

これらのバイトは,EBデータの最後を示すために,FF FF FF FF FF FF FF FFhに設定する。 

バイト[3 584+(N+2)×8]〜4 095 (0≦N≦62):リザーブ(領域) 

これらのバイトは,リザーブ(領域)とする。 

18.3 内側ゾーンの書換領域 

18.3.1 保護ゾーン2 

このゾーンは224物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 B4 80h及びL1層のPAA 3E 48 00hから始

まり,エンボスHFM領域から書換領域への移行のバッファゾーンとしている(15.4.4参照)。 

18.3.2 INFO 2のリザーブ(領域)8 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 B8 00h及びL1層のPAA 3E 47 80hから始

まり,アプリケーションに依存している。 

BCA符号付きのディスクでは,アプリケーションに規定する場合を除いて,このゾーンは未記録のまま

とする。 

BCA符号なしのディスクでは,出荷前にこのゾーンは,全て00hを記録する。 

18.3.3 INFO 2のリザーブ(領域)7 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 B8 80h及びL1層のPAA 3E 47 00hから始

まり未記録のままとする。 

18.3.4 INFO 2のリザーブ(領域)6 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 B9 00h及びL1層のPAA 3E 46 80hから始

まり未記録のままとする。 

119 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

18.3.5 INFO 2のリザーブ(領域)5 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 B9 80h及びL1層のPAA 3E 46 00hから始

まりアプリケーションに依存している。 

BCA符号付きのディスクではアプリケーションに規定する場合を除いて,このゾーンは未記録のままと

する。 

BCA符号なしのディスクでは,出荷前にこのゾーンは,全て00hを記録する。 

18.3.6 INFO 2のPAC 2 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 BA 00h及びL1層のPAA 3E 45 80hから始

まり,物理アクセス制御(PAC)クラスタを保存するために使用される(21.2参照)。このゾーンの未使用

のクラスタは未記録のままとする。 

18.3.7 INFO 2のDMA 2 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 BA 80h及びL1層のPAA 3E 45 00hから始

まり,ディスク管理システムが用いる(箇条22参照)。このゾーンの未使用のクラスタは,全て00hとす

るか又は未記録のままとする。 

18.3.8 INFO 2のコントロールデータ2 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 BB 00h及びL1層のPAA 3E 44 80hから始

まり,制御情報が保存される。このゾーンの未使用のクラスタは,全て00hとする。 

18.3.9 INFO 2のバッファ 2 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 BB 80h及びL1層のPAA 3E 44 00hから始

まり未記録のままとする。 

18.3.10 

OPC 0のテストゾーン 

テストゾーンは2 048物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 BC 00h及びL1層のPAA 3E 04 00hか

ら始まり,テスト及び/又はOPCのために予約されている。 

この領域を用いた後,用いたトラックは,最適な消去パワーだけで照射して消去するか,又はそのクラ

スタを最適記録パワーを用いて,任意の使用者データで上書きする。 

18.3.11 

リザーブ(領域) 

このゾーンは2 048クラスタから構成され,L0層のPAA 01 DC 00h及びL1層のPAA 3E 24 00hから始ま

り未記録のままとする。 

18.3.12 

INFO1のバッファ 1 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FC 00h及びL1層のPAA 3E 03 80hから始

まり未記録のままとする。 

18.3.13 

INFO 1のドライブ領域(任意) 

18.3.13.1 

一般 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FC 80h及びL1層のPAA 3E 03 00hから始

まり,その使用は任意である。このゾーンは,ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用でき,

その情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように,次のフ

ォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは,互換性を確保するためには無視する。 

18.3.13.2 

ドライブ特有の情報のフォーマット 

各ドライブ特有の情報は,一つの2Kデータフレーム中に収める。データフレームの最初の128バイト

に,次に示すフォーマットによって当該のデータフレームを作ったドライブの署名を収納する。 

background image

120 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− JIS X 0201の文字セットによる文字で表す,製造業者名用の48バイト 

− JIS X 0201の文字セットによる文字で表す,追加の識別用の48バイト 

− ドライブ特有の連続番号用の32バイト 

残りのデータフレームの1 920バイトは規定されず,各ドライブの設計者が自由に選べる。 

この任意の領域を用いる最新の32ドライブのドライブ特有の情報を,新しく記録する物理クラスタに保

存する。新しいドライブがこのドライブ特有の情報を新しい物理クラスタに書き始めるごとに,最後に記

録された物理クラスタのデータフレーム31に位置する最も古いドライブ特有の情報は削除され,最後に記

録された物理クラスタのデータフレーム0〜30の内容は,新しい物理クラスタのデータフレーム1〜31に

複製され,新しい情報はデータフレーム0に記録される(図89参照)。 

ドライブ特有の情報を記録するために,PAA 01 FC 80h及びPAA 01 FC 84hから始まる二つの物理クラス

タを初めに用いる。両方の物理クラスタの信頼性がなくなった場合,ドライブ領域の次の二つの物理クラ

スタがドライブ特有情報を保存するために使用できる。高速で効率的なドライブ領域のアクセスのために,

DMA領域のDDSにドライブ領域の最初の有効な物理クラスタのアドレスポインタを含む。 

ドライブ領域

シフトイン

物理クラスタ

データフレーム

損傷

ドライブi

製造業者名

損傷

ドライブi -1

1つの2K

セクタ

追加ID

有効ドライブ情報

32×2K

セクタ

特有連続番号

複製ドライブ情報

予備

:
:

各アップデートで
シフト

ドライブi-31

ドライブ特有
の情報を
自由な
フォーマットで

シフトアウト

図89−ドライブ領域のフォーマット(例) 

18.3.14 

INFO 1のリザーブ(領域)3 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FD 00h及びL1層のPAA 3E 02 80hから始

まり未記録のままとする。 

18.3.15 

INFO 1のリザーブ(領域)2 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FD 80h及びL1層のPAA 3E 02 00hから始

まり未記録のままとする。 

18.3.16 

INFO 1のリザーブ(領域)1 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FE 00h及びL1層のPAA 3E 01 80hから始

まり未記録のままとする。 

18.3.17 

INFO 1のDMA 1 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FE 80h及びL1層のPAA 3E 01 00hから始

まり,ディスク管理システムに用いられる(箇条22参照)。このゾーンの未使用のクラスタは,全て00h

background image

121 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

とするか又は未記録のままとする。 

18.3.18 

INFO 1のコントロールデータ1 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,L0層のPAA 01 FF 00h及びL1層のPAA 3E 00 80hから始

まり,制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタは,全て00hとする。 

18.3.19 

INFO 1のPAC 1 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,このL0層のPAA 01 FF 80h及びL1層のPAA 3E 00 00hか

ら始まり,物理アクセス制御(PAC)クラスタを保存するために用いられる(箇条21参照)。このゾーン

の未使用のクラスタは,00hとするか又は未記録のままとする。 

19 データゾーン 

単層ディスクでデータゾーンは,総計381 856クラスタの使用者データを25.0 GBディスクに収納でき

る。 

2層ディスクでデータゾーンは,総計763 712クラスタの使用者データを50.0 GBディスクに収納できる。 

20 外側ゾーン 

20.1 一般 

単層ディスクでは,情報ゾーンの最外ゾーンは,リードアウトゾーンとして機能している(図90参照)。 

2層ディスクでは,外側ゾーン0及び外側ゾーン1は,L0層のデータゾーンからL1層のデータゾーン

への遷移領域として機能している(図91参照)。 

外側

ゾーン0

記載事項

ゾーンの最初の

PAA

物理クラスタ数

目的

ディスク管理

コントロールデータ3

データ情報

コントロールデータ4

書換え

トラッキング方向

保護ゾーン3

ディスク管理

データ情報

(データゾーン0)

バッファ3

LAA + 2h

32

---

INFO 3

DMA 3

LAA + 82h

32

LAA + 102h

32

---

回転バッファ

LAA + 182h

76

---

DMA 4

LAA + 2B2h

32

INFO 4

LAA + 332h

32

バッファ4

LAA + 3B2h

32

---

---

LAA + 432h

---

---

図90−外側ゾーン0のリードアウトゾーン 

background image

122 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

外側

ゾーン1

記載事項

ゾーンの最初の

PAA

物理クラスタ数

目的

保護ゾーン3

コントロールデータ4

データ情報

ディスク管理

回転バッファ

コントロールデータ3

書換え

トラッキング方向

データ情報

ディスク管理

---

---

---

バッファ4

FAA ‒430h

32

---

INFO 4

FAA ‒3B0h

32

DMA 4

FAA‒330h

32

---

FAA‒2B0h

76

---

FAA ‒180h

32

INFO 3

DMA 3

FAA‒100h

32

バッファ3

FAA ‒

80h

32

---

(データゾーン1)

FAA

図91−外側ゾーン1 

20.2 INFO 3のバッファ4 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,未記録のままとする。 

20.3 INFO 3のDMA 3 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,ディスク管理システムに用いられる(箇条22参照)。この

ゾーンの未使用クラスタは,全て00hとするか又は未記録のままとする。 

20.4 INFO 3のコントロールデータ4 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタ

は,全て00hとする。 

20.5 回転バッファ 

このゾーンは76物理クラスタから構成され,未記録のままとする。 

20.6 INFO 4のDMA 4 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,ディスク管理システムに用いられる(箇条22参照)。この

ゾーンの未使用クラスタは,全て00hとするか又は未記録のままとする。 

20.7 INFO 4のコントロールデータ4 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,制御情報を保存するために用いられる。このゾーンの未使

用のクラスタは,全て00hとする。 

20.8 INFO 4のバッファ6 

このゾーンは32物理クラスタから構成され,未記録のままとする。 

20.9 保護ゾーン3 

このゾーンは未記録のグルーブをもっている。 

このゾーンのグルーブの全てのADIPユニットは,MSK-cosだけで変調し,HMWでは変調しない(15.6.2

参照)。 

21 物理アクセス制御クラスタ 

21.1 一般 

物理アクセス制御(PAC)クラスタは,情報交換をする関係者間の追加情報を交換するために,ディス

background image

123 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ク上に構造を用意している。PACクラスタはINFO 1のPAC 1ゾーンに記録する,そしてバックアップ複

製はINFO 2のPAC 2ゾーンに記録する。全てのPACクラスタは,PACヘッダを構成する最初の384バイ

トのデータに関しては,同一のフォーマットとする。 

将来,特別な応用又は機能について新しいPACを規定できる。 

新しいPACを導入する日付以前に設計されたドライブは,一般にその新PACを解釈できないため,そ

のようなPACをいわゆる“未知PAC”として取り扱う。PACのヘッダに規定される標準の“未知PACル

ール”に従うことによって,互換問題及び特別な応用のデータが不本意に破壊されることを可能な限り避

けることができる。 

新PACの導入日以降に設計されたドライブは,新PACに関連した特定の応用又は機能が解釈できると

仮定できる。そのようなドライブは,“未知PACルール”を無視することができ,PACの“PAC特別情報”

フィールドに規定する規則を応用できる。そのような“既知PAC”に対し,“PAC特別情報”フィールド

に規定する場合を除き物理的なアクセス制限はない。 

21.2 PACゾーンの構成 

単層ディスクでは,INFO 1のPAC 1ゾーン及びINFO 2のPAC 2ゾーンの各々が一つの32クラスタの

領域を構成し,PACの保存に使える。 

2層ディスクでは,L0層及びL1層のINFO 1のPAC 1ゾーンが一つの64クラスタの領域を構成し,PAC

の保存に使える,そして,L0層及びL1層のINFO 2のPAC 2ゾーンが,もう一つの64クラスタの領域を

構成し,PACの保存に使える。 

各PACクラスタは,常に各PACクラスタの二つの複製が記録されるように,INFO 1のPAC 1及びINFO 

2のPAC 2の両方のゾーンに記録する。PACは,最初にINFO 1のPAC 1ゾーンを更新し,次に,INFO 2

のPAC 2ゾーンに複製する。これによって,起こり得るパワーダウンによる失敗への対処が容易になる。

INFO 2のPAC 2に記録するPACクラスタのPAC更新カウントは,INFO 1のPAC 1に記録したPACクラ

スタのPAC更新カウントと同じにする。 

PACクラスタが記録中に欠陥と分かった場合は,欠陥クラスタをスキップし,DDS(図92参照)に無

効であることを示す。そのようなPACは,次の使えるクラスタに記録することが望ましい。 

INFO 1のPAC 1ゾーン及びINFO 2のPAC 2ゾーン両方の全ての位置の状態は,次に示す2ビットのパ

タンでDDSに示す(22.2.2参照)。 

b(n+1),bn 

PAC位置の内容 

00 

未記録 

(層がない場合も使用) 

01 

再使用に使用できる。a) 

10 

無効なPACを含む。a) 

11 

有効なPACを含む。 

注a) DDSで示される状態01又は10のPACクラスタは,重ね書きは許容されるが,ドライブの外に転送

することが許されない(未知のPACルールのビットb0及びビットb1の設定とは独立に設定する。)。 

図92−PACの場所の状態 

21.3 PACクラスタの一般構成 

PACクラスタの使用者データは,図93に従ってフォーマットする。最初の384バイトは,PACヘッダ

を構成している。 

background image

124 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データフレーム

データフレーム中

のバイト位置

内容

バイト数

0

0〜2

PAC̲ID

3

0

3

PAC フォーマット

1

0

4〜7

PAC更新カウント

4

0

8〜11

未知PACルール

4

0

12

未知PAC ディスク全体フラグ

1

0

13〜14

リザーブ(領域)

2

0

15

セグメント数

1

0

16〜23

セグメント̲0

8

0

24〜31

セグメント̲1

8

0

32〜263

:

29 ×8 

0

264〜271

セグメント̲31

8

0

272〜383

リザーブ(領域)

112

0

384

既知PACディスク全体フラグ

1

0

385〜387

リザーブ(領域)

3

0

388〜2 047

PAC特別情報

1660

1

0〜2 047

2048

:

:

:

:

30

0〜2 047

2048

31

0〜2 047

リザーブ(領域)

2048

PAC特別情報

PAC特別情報

図93−PACクラスタの一般構成 

PAC̲IDは,PACクラスタの特別なタイプを識別する。 

− 00 00 00h設定の場合は,PACクラスタは未使用である。 

− その後に続く,INFO1のPAC 1ゾーン又はINFO2のPAC 2ゾーンの全てのPACクラスタのPAC̲ID

は,00 00 00hに設定するか又はその後に続くPACクラスタの場所は未記録とする。 

− 50 52 4Dh設定の場合は,PACクラスタは,21.4に規定する主PACである。 

− 44 57 50h設定の場合は,PACクラスタは,21.5に規定するDWP PACである。 

− 49 53 31h設定の場合は,PACクラスタは,21.6に規定するIS1 PACである。 

− 49 53 32h設定の場合は,PACクラスタは,21.6に規定するIS2 PACである。 

− FF FF FFh設定の場合は,PACクラスタは,未使用である。 

PACは,以前に使用され,現在は再利用できる状態である。 

他のPAC̲IDの値は,将来のこの規格で設定できる。 

INFO 1のPAC 1ゾーン又はINFO 2のPAC 2ゾーンに追加される,新しい各PACは,これらのゾーンで

使える最初のクラスタ(DDSにおける状態00又は01で示される。図92参照)に記録する。 

PACフォーマットフィールドは,特定のPACのバージョン番号を示す。 

PAC更新カウントは,現在のPACが更新された回数の総数を規定する。このフィールドは,最初のフ

ォーマット動作の間だけ,00 00 00 00hに設定する。そして,現在のPACを書き換えるごとに一つ増やす。 

未知PACルールは,PACの内容及び使用法が分からない(例えば,PAC̲IDが既知の値に設定されてい

ないなど。)場合の要求する動作を規定する。これらのバイトは,32の個別ビットから構成されるフィー

background image

125 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ルドを構成する(ビットb31はバイト8のmsbとし,ビットb0はバイト11のlsbとする。)。関係する領域

(図94参照)の中のいずれのクラスタに対しても,(PACが未知の場合)次に規定する行動をとる。使用

者データ領域の規定した動作は,セグメントが規定されている場合は,規定したセグメント内だけで行い,

セグメントが規定されていない場合は,使用者データ領域全体のいずれのクラスタに対しても行う。 

ドライブがディスク上の複数の既知のPACを見つけた場合は,未知PACルールのOR(論理和)をとっ

た動作をする(すなわち,PACの一つがある動作を排除した場合は,他のPACの同じ規則は意味がない。)。 

領域

ビット

制御タイプ

必須設定

リザーブ(領域)8

リザーブ(領域)7

リザーブ(領域)6

リザーブ(領域)5

ドライブ領域

コントロールデータゾーン

使用者データ領域/セグメント

PAC クラスタ

b31〜b24

00000000

b23

記録

-

b22

読取り

-

b21

記録

“1”

b20

読取り

-

b19

記録

“1”

b18

読取り

-

b17

記録

-

INFO 2

b16

読取り

-

b15

記録

“0”

INFO 1

b14

読取り

“0”

b13

記録

“1”

b12

読取り

-

b11

記録

“1”

b10

読取り

-

b9

記録

“1”

INFO 1

b8

読取り

-

INFO 1,2,3,4DMA ゾーン(DDSを含まない。

22.2参照。)

b7

記録

-

b6

アプリケーションに規定する

場合を除きリザーブ(領域)

b5

記録

-

INFO 1,2,3,4

b4

読取り

-

b3

記録

-

データゾーン

b2

読取り

-

b1

記録

-

INFO 1&2

b0

読取り

-

リザーブ(領域)1

リザーブ(領域)3

リザーブ(領域)2

リザーブ(領域)

 “-”は,必須の設定が規定されないことを意味する。特定のPACでは,“0”又は“1”が許される。 

図94−未知PACルールの一般的なビット設定 

PACクラスタ以外の全てのゾーン又は領域で,ビットは,次の意味をもっている。 

− 制御タイプ=記録 

126 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 設定が“0”の場合は,関連するゾーン又は領域の記録を許すことを示している。 

− 設定が“1”の場合は,関連するゾーン又は領域の記録を許さないことを示している。 

− 制御タイプ=読取り 

− 設定が“0”の場合は,関連するゾーン又は領域の読取りを許すことを示している。 

− 設定が“1”の場合は,関連するゾーン又は領域の読取りを許さないことを示している。 

(“読取りを許さない”とは,関連する領域のクラスタのデータ内容のドライブの外への転送又は使

用者への開示を許さないことを意味している。) 

PACクラスタでは,ビットは,次の意味をもっている。 

− 制御タイプ=記録 

− 設定が“0”の場合は,現在のPACクラスタの書換又はDDSの状態ビットの変更を許すことを示し

ている。 

− 設定が“1”の場合は,現在のPACクラスタの書換及びDDSの状態ビットの変更を許さないことを

示している。 

− 制御タイプ=読取り 

− 設定が“0”の場合は,現在のクラスタの内容を読み取り,ドライブの外への転送を許すことを示し

ている。 

− 設定が“1”の場合は,最初のデータフレームの最初の384バイト以外は,現在のPACクラスタの

ドライブの外への転送を許さないで,クラスタの内容を転送する前にPACヘッダ以外の全てのバイ

トを00hに設定するように強制されることを示している。 

未知PACのディスク全体フラグバイトは,ディスク全体をカバーする,未知PACルールを規定してい

る。 

− ビットb7〜b1:これらのビットは,リザーブ(領域)とする。 

− ビットb0:再初期化 

− 設定が“0”の場合は,ディスク全体に対する他の記録保護の仕組みによって阻止される場合を除き,

再初期化を許す。 

− 設定が“1”の場合は,PACがドライブにとって未知である場合は,再初期化は許さない。 

セグメント数は,現在のPACで規定しているセグメントの総数N(0≦N≦32)を規定する。 

さらに,ディスクの全てのPACで規定するセグメントの総数は,32を超えない。 

∑PAC

32

PAC

全ての

のセグメント数

i

セグメント̲iフィールドは,セグメントと呼ばれる,クラスタが連続した領域の開始及び終了アドレス

を規定する。セグメントは,セグメント̲0からセグメント̲(N−1) (N≦32)までに割り当てる。 

一つのPAC中に規定するセグメントは,重なることなく,アドレスの昇順に保存する。セグメントは,

クラスタ境界だけで開始及び終了する。iがN以上の場合,全てのセグメント̲iフィールドは,00hに設定

する。 

− セグメント̲iフィールドの最初の4バイトは,使う場合には,セグメントに所属する最初のクラスタ

の最初のPSNを入れる。 

− そして,最後の4バイトは,セグメントに所属する,最後のクラスタの最後のPSNを入れる。 

127 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

これらのセグメントは,未知PACルールだけに適用する。異なるPAC間でセグメントが重なる場合に

は,ドライブは,重なった領域で関連した未知PACルールに対してORを適用する。 

既知PACのディスク全体フラグバイトは,ドライブがPACを解釈できる場合のディスク全体の規則を

規定する。 

− ビットb7〜b1:これらのビットは,リザーブ(領域)とする。 

− ビットb0:再初期化 

− 設定が“0”の場合は,ディスク全体に対する他の記録保護の仕組みによって阻止される場合を除き,

再初期化を許す。 

− 設定が“1”の場合は,再初期化は許さない。 

PAC特別情報のフィールドは,現在のPACに特有の情報をもっている。 

21.4 主PACクラスタ(必須) 

主PACクラスタは,ディスクが最初に記録された日付及びディスクの個々のクラスタを記録した各レコ

ーダを示すための情報を供給するために,各ディスクに含む。主PACの構成は,図95に示すとおりフォ

ーマットする。 

background image

128 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データフレーム

データフレーム中の

バイト位置

内容

バイト数

PAC フォーマット

PACカウント更新

未知PAC ルール

未知のPACのディスク全体フラグ

リザーブ(領域)

セグメント数

セグメント̲0

セグメント̲1

セグメント̲31

リザーブ(領域)

既知のPAC全体ディスクフラグ

リザーブ(領域)

0

0~ 2

PAC̲ID

3

0

3

1

0

4~ 7

4

0

8~ 11

4

0

12

1

0

13~ 14

2

0

15

1

0

16~ 23

8

0

24~ 31

8

0

32~ 263

:

29×8

0

264~ 271

8

0

272~ 383

112

0

384

1

0

385~ 387

3

0

388~ 389

2

0

390~ 393

4

0

394

-

1

0

395~ 511

117

0

512~ 639

128

0

640~ 767

128

0

768~ 895

128

:

:

:

:

0

1 920~ 2 047

:

128

1

0~ 127

128

:

:

:

:

15

1920~ 2 047

128

16

0~ 2 047

2048

:

:

:

:

31

0~ 2 047

2048

レコーダID入力欄数

再初期化RIDタグ#

初期記録の年/月/日

リザーブ(領域)

RIDタグ01hのレコーダID

RIDタグ02hのレコーダID

RIDタグ03hのレコーダID

RIDタグxxhのレコーダID

RIDタグFChのレコーダID

リザーブ(領域)

リザーブ(領域)

図95−主PACクラスタの構成 

PAC̲IDは,文字“PRM”を表す,50 52 4Dhに設定する。 

PACフォーマットフィールドは,この主PACバージョンが0であることを示す00hに設定する。 

PAC更新カウントは,現在のPACが更新された回数の総数を規定する。このフィールドは,最初のフ

ォーマット動作の間だけ,00 00 00 00hに設定する,そして現在のPACを書き換えるごとに,一つ増やす。 

未知PACルールは,図96に示すとおり設定する。 

background image

129 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

領域

ビット

制御タイプ

必須設定

b31〜b24 リザーブ(領域)0000 0000

b23

記録

“0”

リザーブ(領域)8

b22

読取り

“0”

b21

記録

“1”

リザーブ(領域)7

b20

読取り

“0”

b19

記録

“1”

リザーブ(領域)6

b18

読取り

“0”

b17

記録

“0”

INFO 2

リザーブ(領域)5

b16

読取り

“0”

b15

記録

“0”

INFO 1

ドライブ領域

b14

読取り

“0”

b13

記録

“1”

リザーブ(領域)3

b12

読取り

“0”

b11

記録

“1”

リザーブ(領域)2

b10

読取り

“0”

b9

記録

“1”

INFO 1

リザーブ(領域)1

b8

読取り

“0”

INFO 1,2,3,4

DMA ゾーン(DDS含まず

22.2参照)

b7

記録

“0”

b6

アプリケーションに規定する
場合を除きリザーブ(領域)

b5

記録

“0”

INFO 1,2,3,4

コントロールデータゾーン

b4

読取り

“0”

b3

記録

“0”

データゾーン 使用者データ領域のセグメント

b2

読取り

“0”

b1

記録

“0”

INFO 1&2

PAC クラスタ

b0

読取り

“0”

図96−主PACの未知PACルールのビット設定 

未知PACのディスク全体フラグバイトは,このPACがドライブにとって未知であり,初期化を阻止す

る他の仕組みがない場合は,ディスクの再初期化を許すことを示す00hに設定する。 

セグメント数は,00hに設定する。 

セグメント̲iフィールドは,00hに設定する。 

既知PACのディスク全体フラグバイトは,このPACをドライブが解釈でき初期化を阻止する他の仕組

みがない場合は,ディスクの再初期化を許すことを示す00hに設定する。 

レコーダID入力欄数フィールドは,データフレーム0のバイト512〜2 047及びデータフレーム1〜15

のバイト0〜2 047に収納される,128バイトのレコーダIDの数(252以下)を規定する。使える場所の最

大の数は,252である(RID̲TAG xxhのレコーダIDの規定も参照)。 

初期記録の年/月/日フィールドは,ディスクに一番最初の記録がされた年(BCD4桁),月(BCD2桁)

及び日(BCD2桁)を規定する。ドライブがこのフィールドを正しく設定できない場合は,00hに設定す

130 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

る。 

再初期化RIDタグ#は,最後にディスクを初期化又は再初期化したレコーダのレコーダIDタグ番号を

規定する。 

RID̲Tag xxhのレコーダIDフィールドは,ディスクに記録をした全てのレコーダの128バイトのドラ

イブ署名(最大252まで)を入れる。そのようなドライブ署名は,次のフォーマットによって記入する

(18.3.13.2参照)。 

− JIS X 0201文字セットによって表す,製造業者名用の48バイト 

− JIS X 0201文字セットによって表す,追加の識別用の48バイト 

− ドライブ特有の連続番号用の32バイト 

レコーダは,ディスクに最初に記録する場合にリストにレコーダIDを追加する。複製の入力欄はなく,

新しい入力は,リストの最後に追加する。各入力の相対位置が各特定のレコーダに割り当てるRID̲Tag(図

95参照)の値を決めるため,このリストの並び順の変更又は他の方法による変更はしない。全ての使うこ

とができるレコーダIDフィールドを使った後に,PACにレコーダIDを登録できないレコーダは,RID̲Tag

の値としてFFhを使う。 

特定のレコーダに割り当てたRID̲Tagの値は,クラスタがそのレコーダに記録されたことを示すために,

13.9.2.3の規定に従って,アドレスユニットに記録する。 

21.5 ディスク記録保護PACクラスタ(任意) 

ディスク記録保護(DWP)PACクラスタは,任意で,ディスクを意図しない記録動作又は権限のない人

による記録動作から保護するために使用できる。後者の用途には,パスワードを入れることができる。デ

ィスクに有効なDWP PACクラスタがある場合,そのPACを理解する製品はWP制御ビットで指示される

規則に従い,理解できない場合は,未知PACルールに従う。DWP PACクラスタの構成は,図97に示すと

おりフォーマットする。 

background image

131 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データフレーム

データフレーム

中のバイト位置

内容

バイト数

0

0~ 2

PAC̲ID

3

0

3

PAC フォーマット

1

0

4~ 7

PAC更新カウント

4

0

8~ 11

未知PACルール

4

0

12

未知PAC 全体ディスクフラグ゙

1

0

13~ 14

リザーブ(領域)

2

0

15

セグメント数

1

0

16~ 23

セグメント̲0

8

0

24~ 31

セグメント̲1

8

0

32~ 263

:

29 ×8

0

264~ 271

セグメント̲31

8

0

272~ 383

リザーブ(領域)

112

0

384

既知PAC 全体ディスクフラグ

1

0

385~ 387

リザーブ(領域)

3

0

388

WP制御バイト

1

0

389~ 395

リザーブ(領域)

7

0

396~ 427

WPパスワード゙

32

0

428~ 2 047

リザーブ(領域)

1620

1

0~ 2 047

リザーブ(領域)

2048

:

:

:

:

31

0~ 2 047

リザーブ(領域)

2048

図97−DWP PACクラスタの構成 

PAC̲IDは,文字“DWP”を表す,44 57 50hに設定する。 

PACフォーマットフィールドは,DWP PACバージョン0を表す,00hに設定する。 

PAC更新カウントは,現在のPACが更新された回数の総数を規定する。このフィールドは,最初のフ

ォーマット動作の間だけ,00 00 00 00hに設定し,そして,現在のPACを書き換えるごとに一つ増やす。 

未知PACルールは,図98に示すとおり設定する。 

background image

132 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

領域

ビット

制御タイプ

必須設定

b31〜b24

リザーブ(領域)

0000 0000

b23

記録

“0”

リザーブ(領域)8

b22

読取り

“0”

b21

記録

“1”

リザーブ(領域)7

b20

読取り

“0”

b19

記録

“1”

リザーブ(領域)6

b18

読取り

“0”

b17

記録

“0”

INFO 2

リザーブ(領域)5

b16

読取り

“0”

b15

記録

“0”

INFO 1

ドライブ領域

b14

読取り

“0”

b13

記録

“1”

リザーブ(領域)3

b12

読取り

“0”

b11

記録

“1”

リザーブ(領域)2

b10

読取り

“0”

b9

記録

“1”

INFO 1

リザーブ(領域)1

b8

読取り

“0”

INFO 1,2,3,4DMA ゾーン(DDS含まず

22.2参照) 

b7

記録

“0”又は“1”

b6

アプリケーションに規定する場合
を除きリザーブ(領域)

b5

記録

“0”又は“1”

INFO 1,2,3,4コントロールデータゾーン

b4

読取り

“0”

b3

記録

“0”又は“1”

データゾーン

使用者データ領域のセグメント

b2

読取り

“0”

b1

記録

“1”

INFO 1&2

PAC クラスタ

b0

読取り

“1”

図98−DWP PACの未知PACルールのビット設定 

WP制御バイトのビットb0が“0”に設定(WPオフ)の場合,ビットb7,b6,b5及びb3は,“0”に設定

し,WP制御バイトのビットb0が“1”に設定(WPオン)の場合,ビットb7,b6,b5及びb3は,“1”に設

定する。 

未知PACのディスク全体フラグバイトは,このPACがドライブにとって未知の場合は,ディスクの再

初期化を許さないことを示す01hに設定する。 

セグメント数は,00hに設定する。 

セグメント̲iフィールドは,00hに設定する。 

既知PACのディスク全体フラグバイトは,このPACをドライブが解釈でき初期化を阻止する他の仕組

みがない場合は,ディスクの再初期化を許すことを示す00hに設定する。 

WP制御バイトは,許容される動作及び要求される動作を規定する(図99参照)。 

− ビットb7〜b3:これらのビットは,予備とする。 

− ビットb2:パスワードあり又はなしのWP(PWP) 

− “0”設定の場合は,パスワードの検査不要。 

133 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− “1”設定の場合は,記録保護がスイッチオンであることを示すため,ビットb0が“1”に設定され

ている場合,ホストコンピュータから供給されたパスワードがディスクにあるパスワードと一致す

る場合だけホストコンピュータ起因の記録を許容する。 

− ビットb1:記録保護の方法 

− “0”設定の場合は,仮想WP:図99規定の要求動作を実施後ディスクの記録保護の設定を変更す

ることなく,ホストコンピュータ起因の記録動作を行う。 

− “1”設定の場合は,物理WP:図99規定の要求動作を,実施後記録保護がスイッチオフとなった

ことを示すために,ビットb0を“0”に設定後にホストコンピュータ起因の記録動作だけを行う。 

− ビットb0:WPオン又はオフ 

− “0”設定の場合は,記録保護は,スイッチオフ(WPオフ)となる。ホストコンピュータ起因の

 記録動作は,何ら制限なく許容する。 

− “1”設定の場合は,記録保護は,スイッチオン(WPオン)となる。全てのホストコンピュータ

 起因の記録動作は,ドライブによって阻止することを意味する。使用者データの記録は,図99

 規定の要求動作を,実施後だけ許可される。 

記録保護がスイッチオンの場合は,ディスクの再初期化は許さない。 

WP制御バイトは,図99規定の要求動作実施後だけ変更する。 

WPパスワードは,JIS X 0201文字セットの32文字までで構成できる。未使用の後に続くバイトは,00h

に設定する。WPパスワードは,ドライブの外に決して出してはならない。 

WPパスワードフィールドの全てのバイトが00h設定の場合は,WPパスワード機能は動作しておらず,

WP制御バイトのビットb2は“0”に設定する。 

WPパスワードフィールドのバイトが全てFFh設定の場合は,ディスクは永久に記録保護となり,以降

のホストコンピュータ起因の記録動作は許さない。WP制御バイトのビットb2,b1及びb0は,111に設定

する。 

background image

134 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

WP 制御

状態

行動

b2

b1

b0

記録データに対して

WP制御ビット又は

パスワード変更

0

0

0

PWD無し/ 仮想/ WP オフ

許可

許可

0

0

1

PWD無し/ 仮想/ WP オン

ホスト確認後許可

ホスト確認後許可

0

1

0

PWD無し/物理/ WP オフ

許可

許可

0

1

1

PWD無し/ 物理/ WP オン

ホスト確認後許可し
WPオフに変更

ホスト確認後許可

1

0

0

PWD有り/ 仮想/ WPオフ

許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

1

0

1

PWD有り/ 仮想/ WP オン

1

1

0

PWD有り/ 物理/ WP オフ

許可

1

1

1

PWD有り/ 仮想/ WP オン

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可しWPオフに
変更

WP 制御

状態

行動

b2

b1

b0

記録データに対して

WP制御ビット又は

パスワード変更

0

0

0

PWD無し/ 仮想/ WP オフ

許可

許可

0

0

1

PWD無し/ 仮想/ WP オン

ホスト確認後許可

ホスト確認後許可

0

1

0

PWD無し/物理/ WP オフ

許可

許可

0

1

1

PWD無し/ 物理/ WP オン

ホスト確認後許可し
WPオフに変更

ホスト確認後許可

1

0

0

PWD有り/ 仮想/ WPオフ

許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

1

0

1

PWD有り/ 仮想/ WP オン

1

1

0

PWD有り/ 物理/ WP オフ

許可

1

1

1

PWD有り/ 仮想/ WP オン

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可

ホスト供給のパスワード
確認後許可しWPオフに
変更

図99−記録制御ビット規定の状態及び許容動作 

21.6 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ 

IS1 PAC及びIS2 PACは,未記録ディスクに記録してもよい。BCA符号が未記録ディスクに記録されて

いない場合には,ディスクの出荷前に,IS1 PAC及びIS2 PAC構造をINFO 1のPAC 1及びINFO 2のPAC 

2に記録する。未記録ディスクにBCAコードが記録されている場合は,IS1及びIS2構造を記録しない。 

IS1 PAC及びIS2 PACの構成は,図100に示すとおりにフォーマットする。 

background image

135 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データフレーム

データフレーム中

のバイト位置

内容

バイト数

0

0〜2

PAC̲ID

3

0

3

PAC フォーマット

1

0

4〜7

PAC更新カウント

4

0

8〜11

未知PAC ルール

4

0

12

未知PACディスク全体フラグ

1

0

13〜14

リザーブ(領域)

2

0

15

セグメント数

1

0

16〜23

セグメント̲0

8

0

24〜31

セグメント̲1

8

0

32〜263

:

29 ×8

0

264〜271

セグメント̲31

8

0

272〜383

リザーブ(領域)

112

0

384

既知PACディスク全体フラグ

1

0

385〜2 047

1663

1

0〜2 047

2048

:

:

:

:

31

0〜2 047

2048

リザーブ(領域)

リザーブ(領域)

リザーブ(領域)

図100−IS1 PAC及びIS2 PACクラスタの一般的な構成 

PAC̲IDは,IS1 PACに対しては,文字“IS1”を表す,49 53 31hに設定する。PAC̲IDは,IS2 PACに

対しては,文字“IS2”を表す,49 53 32hに設定する。 

PACフォーマットフィールドは,両方のPACを共にバージョン0を示す00hに設定する。 

PAC更新カウントは,両方のPACを共に,00 00 00 00hに設定する。 

未知PACルールは,IS1 PACに対しては00 AA 00 00h,IS2 PACに対しては00 AA 00 CBhに設定する。 

未知PACディスク全体フラグバイトは,両方のPACを共に,01hに設定する。 

セグメント数は,両方のPACを共に,00hに設定する。 

セグメント̲iフィールドは,両方のPACを共に,00hに設定する。 

既知PACディスク全体フラグバイトは,両方のPACを共に,01hに設定する。 

22 ディスク管理 

22.1 一般 

ディスク管理は,欠陥管理データを含むデータをディスクに記録する方法を,規定及び制御する。欠陥

管理は,損傷又は汚れによってディスク上の欠陥になるか又は信頼できなくなる可能性がある領域に関連

する問題を解決するために,使用される。 

アプリケーション及び/又は適応ファイルシステムによって,欠陥管理は,ドライブ又はファイルシス

テムによって取り扱うことができる。 

欠陥リストでは,次の二つのタイプの欠陥を区別できる。 

− 再配置不可欠陥という意味の,NRDと呼ばれる欠陥 

− だめな可能性のある領域を意味するPBAと呼ばれる信頼性のないディスク上の領域。データを再配置

background image

136 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

するために,そのようなPBAを用いる前にその領域の信頼性を検査することが望ましい。 

22.2 ディスク管理構造(DMS) 

22.2.1 一般 

ディスク管理構造は,ディスク定義構造(DDS)及び欠陥リスト(DFL)で構成される。ディスク定義

構造は,1クラスタで構成し,堅ろう(牢)性を確保するために4回繰り返して記録する。欠陥リストは,

単層ディスクでは連続した4クラスタで構成し,2層ディスクでは連続した8クラスタで構成する。 

ディスクをレコーダから取り出す場合はいつでも,DMSは,その場合のディスクの状態を正しく反映す

る。 

内側ゾーン及び外側ゾーンのDMAゾーンに記録する全ての四つのDMSは,欠陥リストの最初のPSN

(22.2.2のデータフレーム0のバイト24参照)を除き同じ情報をもつ。DMAゾーンは,想定されるパワ

ーダウンによる失敗に対処しやすくするために,DMA 1,DMA 2,DMA 3,DMA 4の順番で更新する。そ

のような更新の後に,全てのDDS更新カウント(22.2.2のデータフレーム0のバイト4参照)は同じにし,

全てのDFL更新カウント(22.2.2のクラスタ0のデータフレーム0のバイト4及び22.2.5の欠陥リスト終

端子参照)は,同じにする。 

単層ディスクのDMS 

単層ディスクでは,DMAゾーンは,図101に示すとおり32個の連続したクラスタで構成される。 

トラッキング方向

L0層

クラスタ

1

クラスタ

2

クラスタ

3

...

クラスタ

31

クラスタ

32

図101−単層ディスクのDMAゾーンのクラスタ 

各DMAゾーンの最初の4クラスタに常にDDSを記録する。 

DFLは,最初に,各DMAゾーンのクラスタ5〜8に記録される。DMAゾーンのDFLの4クラスタが一

つでも信頼できなくなった場合は,いつでもDFL全体はDMAゾーンの次の4クラスタに移される(図102

参照)。有効なDFLの位置は,DDSに示される。 

クラスタ1 ~ 4

DDS (4 回繰り返し)

クラスタ5 ~ 8

DFLの1番目の位置

損傷DFL

クラスタ9 ~ 12

有効DFL

クラスタ13 ~ 16

:

:

:

クラスタ29 ~ 32

DFLの2番目の位置

DFLの3番目の位置

DFLの7番目の位置

図102−単層ディスクのDMAゾーンの例 

2層ディスクのDMS 

2層ディスクのDMAゾーンは,図103に示すとおり二つの記録層にまたがって分けられる64クラスタ

で構成される。 

background image

137 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

トラッキング方向

L0層

クラスタ

1

クラスタ

2

クラスタ

3

...

クラスタ

31

クラスタ

32

L1層

クラスタ

64

クラスタ

63

...

クラスタ

35

クラスタ

34

クラスタ

33

トラッキング方向

図103−2層ディスクのDMAゾーンのクラスタ 

各DMAゾーンの最初の4クラスタに,常にDDSを記録する。次の4クラスタは,リザーブ(領域)と

される。 

DFLは,最初に,各DMAゾーンのクラスタ9〜16に記録される。DMAゾーンのDFLの8クラスタが

一つでも信頼できなくなった場合は,いつでも,DFL全体は,DMAゾーンの次の8クラスタに移される

(図104参照)。有効なDFLの位置は,DDSに示される。 

クラスタ1 ~ 4

DDS (4 回繰り返し)

クラスタ5 ~ 8

リザーブ(領域)

クラスタ9 ~16

DFLの第1番目の位置

損傷DFL

クラスタ17 ~ 24

有効DFL

クラスタ25 ~ 32

:

:

:

クラスタ57 ~ 64

DFLの第2番目の位置

DFLの第3番目の位置

DFLの第7番目の位置

図104−2層ディスクのDMAゾーンの例 

22.2.2 ディスク定義構造(DDS) 

DDSは,ディスク管理に関わるディスクの状態及びフォーマットを規定する。DDSのフォーマットを,

図105に規定する。 

background image

138 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

データフレームデータフレーム中の

バイト位置

内容

バイト数

0

0〜1

DDS 識別子

2

0

2

DDS フォーマット

1

0

3

リザーブ(領域)

1

0

4〜7

DDS更新カウント

4

0

8〜15

リザーブ(領域)

8

0

16〜19

ドライブ領域の最初のPSN

4

0

20〜23

リザーブ(領域)

4

0

24〜27

欠陥リストの最初のPSN

4

0

28〜31

リザーブ(領域)

4

0

32〜35

使用者データ領域のLSN0の位置

4

0

36〜39

使用者データ領域の最後のPSN

4

0

40〜51

アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ(領域)

12

0

52

フラグA

1

0

53

リザーブ(領域)

1

0

54

1

0

55

リザーブ(領域)

1

0

56〜59

4

0

60〜63

リザーブ(領域)

4

0

64〜71

L0層のINFO1/PAC1位置の状態ビット

8

0

72〜79

8

80〜87

8

88〜95

8

0

96〜2047

1952

1

0〜2047

リザーブ(領域)

2048

:

:

:

:

31

0〜2047

リザーブ(領域)

2048

リザーブ(領域)

L0層のINFO2/PAC2位置の状態ビット

L1層のINFO1/PAC1位置の状態ビット

L1層のINFO2/PAC2位置の状態ビット

アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ(領域)

アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ(領域)

図105−DDSのフォーマット 

DDS識別子は,文字“DS”を表す,44 53hに設定する。 

DDSフォーマットフィールドは,DDSを識別する,00hに設定する。 

DDS更新カウントは,DDSが更新された回数の総数を規定する。このフィールドは,最初のフォーマッ

ト動作の間だけ00 00 00 00hに設定し,そして,DDSを書き換えるごとに一つ増やす。 

ドライブ領域の最初のPSNフィールドは,ドライブ特有情報フレームをもつクラスタ対の最初のクラス

タのPSNを規定する。 

ドライブ領域が未記録の場合は,このフィールドは,00 00 00 00hに設定する。 

LSN 

LSN 

LSN 

background image

139 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

欠陥リストの最初のPSNフィールドは,この特別なDDSを含むDMAゾーンの欠陥リストの最初のPSN

を規定する。 

使用者データ領域のLSN 0の場所フィールドは,リードインゾーンの後の最初のクラスタの最初の使用

者データフレームのPSNを規定する。このフィールドは,アプリケーションに規定する場合を除いて,00 

10 00 00hに設定する。 

使用者データ領域の最後のLSNフィールドは,使用者データ保存に使用できる最後のセクタの論理セク

タ番号(LSN:箇条23参照)を規定し,アプリケーションに規定する場合を除いて,単層ディスクでは

00 BA 73 FFhに,2層ディスクでは01 74 E7 FFhに設定する。 

8ビットフラグAフィールドは,アプリケーションに規定する場合を除いて,単層ディスク又は2層デ

ィスクの状態を規定する。このバイトは,単層ディスクでは03hに,2層ディスクでは0Fhに設定する。 

L0層のINFO 1のPAC 1の場所の状態ビットフィールドは,L0層のINFO 1のPAC 1ゾーンの32クラ

スタ全ての記録状態を規定する(図106参照)。ビットの組合せは,21.3の規定に従って設定する。 

バイト位置

ビット

INFO1のPAC1 位置のPAA

64

b7b6

01 FF 80h

64

b5b4

01 FF 84h

64

b3b2

01 FF 88h

64

b1b0

01 FF 8Ch

65

b7b6

01 FF 90h

:

:

:

:

:

:

70

b1b0

01 FF ECh

71

b7b6

01 FF F0h

71

b5b4

01 FF F4h

71

b3b2

01 FF F8h

71

b1b0

01 FF FCh

図106−L0層の状態ビット及び関連するINFO 1のPAC 1アドレス位置 

L0層のINFO 2のPAC 2の場所の状態ビットフィールドは,L0層のINFO 2のPAC 2ゾーンの32クラ

スタ全ての記録状態を規定する(図107参照)。ビットの組合せは,21.3の規定に従って設定する。 

バイト位置

ビット

INFO2のPAC2 位置のPAA

72

b7b6

01 BA00h

72

b5b4

01 BA 04h

72

b3b2

01 BA 08h

72

b1b0

01 BA 0Ch

73

b7b6

01 BA 10h

:

:

:

:

:

:

78

b1b0

01 BA 6Ch

79

b7b6

01 BA 70h

79

b5b4

01 BA 74h

79

b3b2

01 BA 78h

79

b1b0

01 BA 7Ch

図107−L0層の状態ビット及び関連するINFO 2のPAC 2アドレス位置 

background image

140 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

L1層のINFO 1のPAC 1の場所の状態ビットフィールドは,L1層のINFO 1のPAC 1ゾーンの32クラ

スタ全ての記録状態を規定する(図108参照)。ビットの組合せは,21.3の規定に従って設定する。 

バイト位置

ビット

INFO1のPAC1 位置のPAA

80

b7b6

3E 00 00h

80

b5b4

3E 00 04h

80

b3b2

3E 00 08h

80

b1b0

3E 00 0Ch

81

b7b6

3E 00 10h

:

:

:

:

:

:

86

b1b0

3E 00 6Ch

87

b7b6

3E 00 70h

87

b5b4

3E 00 74h

87

b3b2

3E 00 78h

87

b1b0

3E 00 7Ch

図108−L1層の状態ビット及び関連するINFO 1のPAC 1アドレス位置 

L1層のINFO 2のPAC 2の場所の状態ビットフィールドは,L1層のINFO 2のPAC 2ゾーンの32クラ

スタ全ての記録状態を規定する(図109参照)。ビットの組合せは,21.3の規定に従って設定する。 

バイト位置

ビット

INFO2のPAC2 位置のPAA

88

b7b6

3E 45 80h

88

b5b4

3E 45 84h

88

b3b2

3E 45 88h

88

b1b0

3E 45 8Ch

89

b7b6

3E 45 90h

:

:

:

:

:

:

94

b1b0

3E 45 ECh

95

b7b6

3E 45 F0h

95

b5b4

3E 45 F4h

95

b3b2

3E 45 F8h

95

b1b0

3E 45 FCh

図109−L1層の状態ビット及び関連するINFO 2のPAC 2アドレス位置 

22.2.3 欠陥リスト(DFL) 

DFLを構成する最初の4クラスタ又は8クラスタは,欠陥リストヘッダとそれに続く欠陥のリストとを

もっている。欠陥のリストは,欠陥リスト終端子で終了する。 

DFLは,図110に示すとおり構成する。 

background image

141 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

クラスタ番号/

データフレーム

データフレーム中の
開始バイト位置

内容

バイト数

0 / 0

0

欠陥リストヘッダ

64

0 / 0

:

0 / 31

64

欠陥のリスト

65472

1 / 0

:

1 / 31

0

65536

:

K/ 0

:

:

0

n×8

:

n×8

欠陥リスト終端子

8

:
:

K/ 31

(n+ 1)×8

00hに設定

..

欠陥のリスト

欠陥のリスト

 SLディスクでは,K=3であり,DLディスクでは,K=7である。 

図110−DFLのフォーマット 

欠陥リストヘッダ(DLH)は,欠陥リストを識別し,欠陥リスト構成に関する情報をもっている(22.2.4

参照)。 

欠陥のリストは,ディスク使用中に欠陥と決まったクラスタのリストをもっている(22.2.5参照)。 

欠陥リスト終端子は,欠陥のリストを閉じ,実際の欠陥のリストの最後の入力の直後に記録する。欠陥

リスト終端子は,欠陥のリストの入力数によってDFLを構成する4(単層ディスク)又は8(2層ディス

ク)のクラスタのどこにでも置ける。欠陥リスト終端子の後のバイトは,00hに設定する。 

22.2.4 欠陥リストヘッダ(DLH) 

DLHのフォーマットは,図111に規定する。 

DFL識別子は,文字“DL”を表す,44 4Chに設定する。 

DFLフォーマットフィールドは,DFLを識別する,00hに設定する。 

DFL更新カウントは,欠陥リストの更新動作の総数と規定する。このフィールドは,最初のフォーマッ

ト動作の間だけ00 00 00 00hに設定し,DFLを再記録するごとに一つ増やす。 

DFL入力数は,DFLの総入力数を示し,N̲DFLで表す。アプリケーションに規定する場合を除いてN̲DFL

は(NRDの数+PBAの数)であり,次による。 

− 単層ディスク:N̲DFL≦32 759 

− 2層ディスク:N̲DFL≦65 527 

background image

142 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

クラスタ番号/

データフレーム

データフレーム中の

バイト位置

内容

バイト数

0 / 0

0〜1

DFL 識別子

2

0 / 0

2

DFL フォーマット

1

0 / 0

3

リザーブ(領域)

1

0 / 0

4〜7

DFL更新カウント

4

0 / 0

8〜11

リザーブ(領域)

4

0 / 0

12〜15

DFL入力数(N̲DFL )

4

0 / 0

16〜19

アプリケーションに規定する場合
を除きリザーブ(領域)

4

0 / 0

20〜23

NRD 入力数

4

0 / 0

24〜27

4

0 / 0

28〜31

PBA 入力数

4

0 / 0

32〜35

4

0 / 0

36〜63

リザーブ(領域)

28

アプリケーションに規定する場合
を除きリザーブ(領域)

アプリケーションに規定する場合
を除きリザーブ(領域)

図111−DLHのフォーマット 

NRD入力数は,DFL中のNRD入力総数と規定する。NRD入力数は,ディスク使用中に変えることが

できる変数である。 

PBA入力数は,DFL中のPBA入力総数と規定する。PBA入力数は,ディスク使用中に変えることがで

きる変数である。 

22.2.5 欠陥のリスト 

欠陥のリストのフォーマットを,図112に示す。 

DFL入力は,22.2.6の規定によってフォーマットする。DFL入力は,8バイトで構成され,データフレ

ーム及びクラスタの境界であっても連続でつないで記録される。 

欠陥リスト終端子(DFL終端子)は,次の二つの4バイトで構成する。 

− 最初の4バイトは,FF FF FF FFhに設定する。 

− 2番目の4バイトは,DFLのヘッダ中のDFL更新カウントと同じにする(パワーダウンによる失敗時

の欠陥リストの有効性の検証に使用できる。)。 

background image

143 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

クラスタ番号 / 

データフレーム 

データフレーム中の 

開始バイト位置 

内容 

バイト数 

0 / 0 

64 

DFL入力 0 

0 / 0 

72 

DFL入力1 

… 

.. 

0 / 0 

i×8+64 

DFL入力i 

… 

.. 

0 / 0 

2 032 

DFL入力246 

0 / 0 

2 040 

DFL入力247 

0 / 1 

DFL入力248 

0 / 1 

DFL入力249 

… 

.. 

0 / 1 

2 040 

DFL入力503 

… 

.. 

0 / n 

DFL入力n×256−8 

… 

.. 

… 

.. 

0 / 31 

2 040 

DFL入力8 183 

m / 0 

DFL入力m×8 192−8 

… 

.. 

m / 0 

j×8 

DFL入力m×8 192−8+j 

… 

.. 

m / 0 

2 040 

DFL入力m×8 192−8+255 

m / 1 

DFL入力m×8 192−8+256 

… 

.. 

m / 1 

2 040 

DFL入力m×8 192−8+511 

… 

.. 

m / n 

DFL入力m×8 192+n×256−8 

… 

.. 

… 

.. 

m / 31 

2 040 

DFL入力m×8 192+8 191−8 

… 

.. 

K / n 

(K≧m) 

[(N̲DFL−1)×8+64−n×2 048−K×65 536] 

DFL入力(N̲DFL−1) 

K / n 

[N̲DFL×8+64−n×2 048−K×65 536] 

DFL終端子 

K / n 

[(N̲DFL+1)×8+64−n×2 048−K×65 536] 

00hに設定 

.. 

K / (n+1)to K / 31 

00hに設定 

2 048 

SLディスクでは,K=3であり,DLディスクでは,K=7である。 

図112−欠陥のリストのフォーマット 

22.2.6 DFL入力 

各DFL入力は,図113に示すとおりフォーマットする。DFL入力のバイトは,msbが先頭の64ビット

列に変換される。 

欠陥のリストは,各入力がmsbを無視した(常に“0”と仮定)一つの64ビットの正の整数であるかの

ように昇順で並べ替える。すなわち,最初に状態1を使って並べ替え,状態1の中で欠陥クラスタの最初

background image

144 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

のPSNを使って並べ替え,欠陥クラスタの最初のPSNの中で状態2を使って並べ替え,状態2の中で続

きのクラスタ数を使って並べ替える。 

バイト0 のビット7..4

DFL入力iの

バイト0 のビット3..0 &バイト1 〜3

DFL入力iの

バイト4 のビット7..4バイト4 のビット3..0 &バイト5 〜7

b63

..

b60

b59

..

b32

b31

..

b28

b27

..

b0

状態1

欠陥クラスタ最初のPSN

状態2

続きのクラスタ数

DFL入力iの

DFL入力iの

図113−DFL入力フォーマット 

欠陥クラスタ最初のPSNは,示されるクラスタの最初の物理セクタを示す。PSNの下位28ビットだけ

をb59 .. b32に保存する(上位4ビットは破棄する。)。各欠陥クラスタは,欠陥のリストに一回だけ出現す

る。 

続きのクラスタ数フィールドは,状態1フィールドが0100に設定された場合(図114参照),だめな可

能性のある領域でカバーされる続きのクラスタ数を示す(0 00 00 00hの値は,信頼できないクラスタの数

が未知なことを示す。)。状態1フィールドが0100に設定されない場合は,このフィールドは,アプリケー

ションに規定する場合を除いてリザーブ(領域)とする。 

状態1フィールドは,図114に示すとおり,入力の状態を示す。 

状態1

タイプ゚

規定

0001

NRD

欠陥の有る位置を示す。

0100

PBA

欠陥である可能性が有り検査の必要なディスク上の位置を示す。

欠陥クラスタの最初のPSNは,エラーが発生した事象に関連した最初
のクラスタの最初の物理セクタのアドレスを示す。

PBAは,いかなるNRD 位置も含まない。

他の

設定

アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ(領域)。

図114−DFL入力の状態1の規定 

状態2フィールドは,図115に示すとおり入力の状態を示す。 

状態2

規定

0000

このデフォルトの設定は,次の設定がどれも有効でないときに使用する。

0100

(アプリケーションに規定する場合を除き,状態1 = 0100の組み合わせだけで有効となる。)

クラスタは,いかなる適切な使用者データももっていない。リードモディファイライト
の際に、そのようなクラスタの中身は捨てることができる(関連するSai ,1,Sai,0の
状態ビットは,新しい位置で11に設定できる。)。

PBAでカバーされたクラスタが有効な場合,使用者データをもっていたら,そのような
PBAの状態2は,0000に設定する。

他の

設定

アプリケーションに規定する場合を除き,リザーブ(領域)とする。

図115−DFL入力の状態2の規定 

23 論理セクタ番号(LSN)の割当て 

使用者データを保存するために使用できる全てのクラスタに対しては,連続する使用者データフレーム

ごとに,LSN 0から始まって一つずつ増加する論理セクタ番号が連続で割り当てられる(図116参照)。 

background image

145 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

LSN 0は,(PSN=1 048 576において)リードインゾーンの後の最初のクラスタの最初の使用者データフ

レームに割り当てられる。 

L0層の最後のLSNは,(PSN=8×LAA+15=Xにおいて)8×LAA+15−1 048 576に等しく,外側ゾー

ン0の前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てられる。 

L1層の最初のLSNは,(PSN=8×FAA=

00h

00

00

FE

+

X

において)L0層の最後のLSNよりも一つ大

きくし,外側ゾーン1の後の最初のクラスタの最初の使用者データフレームに割り当てられる。 

L1層の最後のLSNは,(PSN=01 EF FF FFhにおいて)16×LAA+31−2 097 152に等しく,リードイン

ゾーンの前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てられる。 

PSN

LS

N

00 10 00 00h

01 EF FF FFh

0

0

 0

0

 0

0

h

リードイン
ゾーン

外側

ゾーン0

外側

ゾーン1

リードアウト
ゾーン

使用者データ領域

使用者データ領域

X

X+ FE 00 00 00h

L0層

L1層

内周

内周

外周

外周

図116−論理セクタ番号の割当て 

24 グルーブ領域の特性 

箇条24〜箇条27で規定する信号値は,他に規定する場合を除き,全てのディスク容量で有効である。 

この規格では,次の二つのタイプの信号を区別している。 

− ディスクのグルーブ構造を再生した信号 

− 使用者が記録した,マークを再生した信号 

箇条25〜箇条27は,グルーブ構造を再生した信号を定義し規定する(グルーブのフォーマットは,箇

条15に規定されている。)。 

箇条25〜箇条27の全ての要求事項を,他の層の記録状態(未記録,記録又は部分記録)に関係なく,

公称半径22.4 mmのエンボスHFM領域(PICゾーンの開始又は終了)の内径と外側ゾーンの半径+20 μm

(dDZO/2+20 μm)との間で全ての層で満たす。要求事項は,外周ゾーンの残りの領域でも満たすことが望

ましい。 

25 グルーブ領域の試験方法 

25.1 一般 

信号の測定をする場合,ほこり,きずなどの局所欠陥の影響は除外される。局所欠陥は,トラッキング

エラー及び訂正不能データの原因となる可能性がある(箇条34参照)。 

146 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

25.2 環境条件 

ディスクが,8.1.1に規定した許容される環境条件外の場合を除き,全ての信号は規定する範囲内とする。 

25.3 基準ドライブ 

25.3.1 一般 

全ての信号は,基準ドライブの適したチャネルで,箇条9及び附属書Hの規定に従って測定する。 

25.3.2 読取りパワー 

読取りパワーは,ディスクの入射面に照射する光パワーである。読取りパワーは,単層ディスクでは,

(0.35±0.1) mW及び2層ディスクでは(0.70±0.1) mWとする。 

25.3.3 読取りチャネル 

ドライブは,9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号

は,ジッタ測定以外は波形等化しない(附属書H参照)。 

プッシュプル信号の測定には,半径方向PP読取りチャネルに,次の特性をもつ1次のLPFを通す。 

f−3dB=30 kHz 

ウォブル信号の測定には,半径方向PP読取りチャネルに,次の特性をもつ1次のLPFを通す。 

f−3dB=8 MHz 

25.3.4 トラッキング要求事項 

信号の測定の間,光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは最大55 nmとし,光

ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは最大16 nmとする。 

25.3.5 走査速度 

実際のディスクの回転速度は,平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周

波数が956.522 kHzとなる速度とする。 

25.4 信号の規定 

全ての信号の振幅は,フォトディテクタの電流と線形関係にあり,したがって,ディテクタに当たる光

パワーと線形関係にある。 

幾つかの信号は,未記録のグルーブ領域の全ディテクタ電流で正規化される。 

この全ディテクタ電流は,次による。 

IG=(I1+I2)groove 

プッシュプル信号は,次による。 

− プッシュプル信号は,光ビームの焦点がトラックを横切る場合の低域通過フィルタを通した半径方向

PP読取りチャネルの正弦波状差信号(I1−I2)(図8参照)である。プッシュプル信号は,ドライブの半

径方向のトラッキング動作に使用できる(図117参照)。 

− 通常,差信号(I1−I2)は,低域通過フィルタを通した全ディテクタ電流(I1+I2)で正規化される。この実

時間の正規化プッシュプル信号の両ピーク値は,次による。 

()

()

()

()

(

)

(

)

(

)

(

)

1

1

2

2

at

2

1

at

2

1

at

2

1

at

2

1

peak

peak

2

1

2

1

norm

t

t

t

t

I

I

I

I

I

I

I

I

t

I

t

I

t

I

t

I

PP

+

+

+

=

background image

147 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

オントラック

オントラック

半径方向位置
(時間)

(I-I) 
差信号

1         2

(I-I)

1        2  min

(I-I)

1        2  max

(I+ I) 

和信号

1        2

ディテクタ

電流
(mA)

0

t1

t2

図117−プッシュプル信号の規定 

ウォブル信号は,次による。 

− ウォブル信号IWppは,光ビームの焦点が25.3.4に従ってトラックを追いかける場合の,半径方向PP

読取りチャネルの正弦波状差信号(I1−I2)(図8参照)の両ピーク値である。測定方法については,附

属書M及び附属書Eも参照。 

− ウォブル信号は,プッシュプル信号の両ピーク値(I1−I2)ppで正規化し(正規化ウォブル信号:NWS),

次による。 

(

)pp

2

1

Wpp

I

I

I

NWS

=

26 HFMグルーブの信号 

26.1 プッシュプル信号 

実時間の,正規化プッシュプル信号の両ピーク値(PPnorm,HFM)は,エンボスHFM領域で次の要求事項

を満たす。 

0.26≦PPnorm,HFM≦0.52 

26.2 HFMウォブル信号 

正規化HFMウォブル信号は,グルーブトラックの平均中心線からの偏移量を表している。隣接トラッ

クのウォブルとの干渉によってHFMウォブル信号の振幅は,変動している(ウォブルビートと呼ばれる。)。 

HFMウォブル信号が,ウォブルビートによって最小の振幅を示す場所では,正規化HFMウォブル信号

(NHWS)は,次による。 

0.30≦NHWSmin≦0.60 

HFMウォブル信号が,ウォブルビートによって最大の振幅を示す場所では,正規化HFMウォブル信号

は,次による。 

NHWSmax≦3×NHWSmin 

注記 エンボスHFM領域で検出するHFMウォブル信号の形は記録領域のウォブル信号と非常に違う

148 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ため,附属書Eに規定した測定方法は,これらのHFMウォブル信号を測定することに適さな

い。 

26.3 HFM信号のジッタ 

HFMグルーブからのウォブル信号を2値化したものは,PICゾーンのエンボスHFM情報を表している。

この2値信号の前エッジ及び後エッジのジッタは,別々に,PLLクロックを基準に測定する。 

前エッジ及び後エッジ両方のジッタは,4.5 %以下とする。 

ジッタは,次に示す条件で測定する。 

− ac結合(高域通過フィルタ):1次のフィルタでf−3dB=10 kHz 

− 波形等化なし 

− 18Tクロック周期で正規化(15.5.4.2参照) 

27 ウォブルグルーブからの信号 

27.1 位相深さ 

グルーブの単一経路位相深さは,90°を超えない。 

27.2 プッシュプル信号 

正規化プッシュプル信号(PPnorm)の実時間の両ピーク値は,次に示す要求事項を各層で満たす。 

− 未記録領域(全ての隣接トラックが未記録。)で,次による。 

0.21≦PPnorm,unrec≦0.45 

− 未記録領域の150トラック内でのプッシュプル信号の最大変動量は,次による。 

− 単層ディスク: 

(

)

(

)

(

)

(

)

0.15

min

unrec

norm,

max

unrec

norm,

min

unrec

norm,

max

unrec

norm,

PP

PP

PP

PP

+

− 2層ディスク: 

(

)

(

)

(

)

(

)

0.18

min

unrec

norm,

max

unrec

norm,

min

unrec

norm,

max

unrec

norm,

PP

PP

PP

PP

+

− 一つの層内での未記録領域のプッシュプル信号の最大変動量は,次による。 

(

)

(

)

(

)

(

)

0.25

min

unrec

norm,

max

unrec

norm,

min

unrec

norm,

max

unrec

norm,

PP

PP

PP

PP

+

− 記録済み領域(隣接トラック全て記録済み。)で,次による。 

0.21≦PPnorm,rec≦0.45 

− 一つの層内での記録済み領域及び未記録領域の平均プッシュプル信号の比は,次による。 

1.25

0.75

unrec

norm,

rec

norm,

≦PP

PP

27.3 ウォブル信号 

27.3.1 一般 

正規化ウォブル信号(NWS)は,グルーブトラックの平均中心線からの偏移量を表している。平均のト

ラック中心線からのウォブルグルーブトラックの実際の中心の偏移量は,附属書Mに従って計算できる。 

27.3.2 NWSの測定 

隣接トラックとのウォブルの干渉によって,ウォブル信号振幅は変動している(ウォブルビートと呼ば

れる。)。ウォブル信号は,未記録領域でらせんグルーブを連続トラッキングしながら測定する。測定方法

149 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

は,附属書Eに規定されている。 

ウォブル信号が,最小の振幅を示す場所では(MSKマークの影響を除く。)NWSは,次による。 

0.20≦NWSmin≦0.55 

ウォブル信号が,ウォブルビートによって最大の振幅を示す場所では,NWSは,次による。 

NWSmax≦3×NWSmin 

27.3.3 ウォブルCNRの測定 

記録後のウォブル信号の,狭帯域SNR(又はCNR)は,ウォブル信号が最小の振幅を示す場所で26 dB

を超える。 

キャリアは,956.5 kHzで測定し,ノイズレベルは,500 kHzで測定する(附属書E参照)。 

27.3.4 ウォブルの高調波ひずみの測定 

HMW変調の最低限の品質を保証するために,HMW変調の2次高調波の大きさに比べてウォブル信号

の2次高調波ひずみは十分小さくする。 

2次高調波レベル(SHL)及び2次高調波ひずみ(SHD)は,ディスクの2か所で,ウォブルの基本波の

大きさ及び2次高調波の大きさを測定することによって決める。この両方の大きさは,データゾーン及び

保護ゾーン3で測定する。 

局所のウォブル基本周波数レベルで正規化したSHD及びSHLの比は,次のいずれかによる。 

− 半径方向のチルトなしで SHD/SHL<−12 dB 

− 半径方向のチルト±0.70°以内で SHD/SHL<−6 dB 

測定は,スペクトラムアナライザを用いる(附属書E参照)。 

28 記録層の特性 

箇条28〜箇条31で規定する信号値は,他に規定する場合を除き,全ての容量のディスクで有効である。 

この規格では,次に示す二つのタイプの信号を区別している。 

− グルーブ構造を再生した信号 

− 使用者が記録したマークを再生した信号 

箇条28〜箇条31は,データを記録するために用いる記録層の記録特性を評価する一連の試験を規定す

る。 

箇条28〜箇条31の全ての要求事項は,他の記録層の状態(記録,未記録又は部分記録かどうか。)にか

かわらず,記録領域の内径(INFOのOPCゾーンの開始又は終了),公称半径23.2 mmと外部ゾーンの内

径+20 μm(dDZO/2+20 μm)との間で,全ての層で満たす。要求事項は,外部ゾーンの残りの領域でも満

たすことが望ましい。 

29 記録層の試験方法 

29.1 一般 

試験は,書換領域で行う。試験に必要な記録及び読取りの動作は,同じ基準ドライブで行う。 

信号を測定する場合,ほこり,きずなどの局所欠陥の影響は除かれる。局所欠陥は,トラッキングエラ

ー及び訂正不能データの原因となる可能性がある(箇条33参照)。 

29.2 環境条件 

ディスクが8.1.1に規定した許容環境条件内にある場合,全ての信号は,規定する範囲内とする。 

150 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

29.3 基準ドライブ 

29.3.1 一般 

全ての信号は,基準ドライブの適したチャネルで,箇条9及び附属書Hの規定に従い測定する。 

29.3.2 読取りパワー 

読取りパワーは,ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。読取り

パワーは,単層ディスクでは(0.35±0.1) mW及び2層ディスクでは(0.70±0.1) mWとする。 

29.3.3 読取りチャネル 

ドライブは,9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号

は,ジッタ測定以外は,波形等化しない(附属書H参照)。 

29.3.4 トラッキング要求事項 

信号の記録中及び読取り中に,光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは最大55 

nmとし,光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは最大16 nmとする。 

29.3.5 走査速度 

記録の試験は,ディスクにあるDIユニットに規定した速度で行う(15.8.3参照)。 

読取りの間,実際のディスクの回転速度は,平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平

均ウォブル周波数が956.522 kHzとなる速度とする。 

29.4 記録条件 

29.4.1 記録パルス波形 

マーク及びスペースは,レーザをパルス状に照射することによってディスク上に記録される。レーザパ

ワーは,附属書Fの記録パルス波形のうちの一つによって変調される。NRZIの2T〜9Tのラン長は,マル

チパルス列の記録パルスを適用して記録される。 

記録中のレーザパワーは,次に示す四つのレベルがあり,ディスクの入射面に照射される。 

− 記録ピークパワー PW 

− バイアス記録パワー PBW 

− 冷却パワー PC 

− 消去パワー PE(又はN−1記録ストラテジAの場合は,PE1及びPE2で,附属書F参照)。 

マークは記録ピークパワーPWで形成され,スペースは消去パワーPE(又はPE1及びPE2)で形成される。 

PW,PBW,PC,PE(又はPE1,及びPE2)の値は,附属書Gに従って最適化する。 

試験の実際のパワーPW,PBW,PC,PE(又はPE1及びPE2)は,最適値の±5 %以内とする。ここに,PBW,

PC,PE(又はPE1,及びPE2)は,ディスク情報に規定した比例係数εに従ってPWに比例する(15.8.3参

照)。 

29.4.2 記録パワー 

最適化された記録パワーPWO,PBWO,PCO,PEO(又はPE1O及びPE2O)は,図118に示す条件を満たす(値

はmW)。 

background image

151 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

単層ディスク 

2層ディスク 

1x 記録速度 

2x 記録速度 

1x 記録速度 

2x 記録速度 

最小 

最大 

最小 

最大 

最小 

最大 

最小 

最大 

PWO 

3.0 

6.0 

3.0 

7.0 

6.0 

12.0 

6.0 

14.0 

PBWO 

0.1 

4.0 

0.1 

7.0 

0.1 

8.0 

0.1 

14.0 

PCO 

0.1 

4.0 

0.1 

7.0 

0.1 

8.0 

0.1 

14.0 

PEO / PE1O 

0.3 

4.6 

0.3 

5.4 

0.6 

9.2 

0.6 

10.8 

PE2O 

0.3 

4.6 

0.3 

5.4 

0.6 

9.2 

0.6 

10.8 

図118−1x記録速度及び2x記録速度の単層並びに2層ディスクの記録パワー値 

29.4.3 ジッタ測定の記録条件 

ジッタの測定は,ディスクの書換領域の(m−2),(m−1),m,(m+1),(m+2)で示される任意の隣接した

5トラックのグループで行う。 

5トラックは,ランダムデータが29.4.1に規定したとおり,PWOに等しい記録パワーPWで連続して記録

される。n回上書き後のジッタ[ジッタ@DOW(n)]測定のためには,5トラック全部をPWOに等しいPW

の記録パワーでランダムデータがn回上書きされる。 

29.4.4 クロス消去測定の記録条件 

クロス消去の測定は,ディスクの書換領域の(m−2),(m−1),m,(m+1),(m+2)で示される任意の隣接

した5トラックのグループで行う。 

測定の最初に5トラックは,ランダムデータを29.4.1に規定したとおり,PWOに等しい記録パワーPWで

10回繰り返して記録される。その後,必要なパラメタの初期値が測定される。この初期条件をDOW(0)XE

条件と規定する。 

n回上書き後のクロス消去[クロス消去@DOW(n)XE]を測定するために,(m−1)及び(m+1)トラックは,

記録パワーPW=1.1×PWO(全てのパワーレベルは,PWに比例する。29.4.1参照)でn回上書きされる。 

29.4.5 記録速度が異なったトラックへの上書き測定時の記録条件 

記録速度が異なったトラックへの上書きの測定は,ディスクの書換領域の(m−2),(m−1),m,(m+1),

(m+2)で示される任意の隣接した5トラックのグループで行う。 

測定の最初に,5トラックは,規定した一つの記録速度でランダムデータが29.4.1に規定したとおり,

PWOに等しい記録パワーPWで10回繰り返して記録される。その後,5トラックは,規定したもう一つの記

録速度で1回上書きされる。 

29.5 信号の規定 

全ての信号振幅は,フォトディテクタの電流に線形比例している。したがって,ディテクタに当たる光

パワーに線形比例している。 

ジッタは,次による。 

ジッタは,2値化した読取信号の遷移の時間変動の標準偏差σである。この読取り2値信号は,HF読取

りチャネルからのHF信号を,LPF及び波形等化器を通し,スライサに供給して得られる(附属書H参照)。

前エッジのジッタ及び後エッジのジッタは,PLLのクロックに対して別々に測定され,チャネルビットク

ロック周期で正規化される。 

background image

152 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

30 記録領域からの信号 

30.1 HF信号 

4分割フォトディテクタの電流の総和によって,HF信号が得られる。これらの電流は,記録層の情報を

表すマーク及びスペースの異なる反射率によって変調される(図119参照)。 

30.2 変調振幅 

変調振幅I8ppは,最大のマーク及びスペースによって生成されるHF信号の両ピーク値である。ピーク値

I8Hは,HF信号を交流結合する前のHF信号のピーク値である。 

変調振幅I2ppは,最小のマーク及びスペースによって生成されるHF信号の両ピーク値である。0レベル

は,ディスクが挿入されていない場合の測定デバイスの信号レベルである。 

注記 同期パタンでは,実際にラン長9Tが生じる。しかし,この9Tはめったに現れないため,HF

信号の両ピークへの影響は,無視できる。 

0 レベル

I

=I

8H

top

I8pp

I8L

I2H

I2pp

I3pp

I2L

0 レベル

0 レベル

I

=I

8H

top

I8pp

I8L

I2H

I2pp

I3pp

I2L

図119−マーク及びスペースからのHF信号の図 

I2ppは比較的小さい信号なので,その振幅は,ランダムHF信号から確実な値を得られない。したがって,

ある場所に連続した2Tのマーク及びスペースだけを記録し,また,ある場所に連続した8Tのマーク及び

スペースだけを記録することが望ましい。これによって,信号は,適した測定装置を用いれば正確に測定

できる。 

変調信号は,次による。 

− I8pp / I8H≧0.40 

− I3pp / I8pp≧0.25 

− ディスク容量25.0 GB及び50.0 GBのディスクで,I2pp / I8pp≧0.050 

変調信号の変動は,次による。 

− 連続記録したDOW(0)で一つの層内: (I8Hmax−I8Hmin) / I8Hmax≦0.33 

− 連続記録したDOW(0)で一回転内:(I8Hmax−I8Hmin) / I8Hmax≦0.15 

2層ディスクで,L0層及びL1層の変調信号の比は,連続記録された状態で,次による。 

DOW(0)で−0.25≦(I8H,L0−I8H,L1) / (I8H,L0+I8H,L1)≦+0.25 

ここに,I8H,L0及びI8H,L1は,同じ場所で,半径方向及び接線方向の両方向に測定される。 

153 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

30.3 反射率−変調度積 

変調度(正規化したI8pp変調振幅に等しい。)を乗じたディスクの反射率は,次による(附属書B参照)。 

×

=

×

8H

8pp

H

8

I

I

R

M

R

このR×Mは,次による。 

− 単層ディスク: 

0.050≦R×M≦0.15 

− 2層ディスク: 

0.016≦R×M≦0.048 

I2解像度(正規化したI2pp変調振幅に等しい。)を乗じたディスクの反射率は,次による。 

×

=

×

8H

2pp

8H

2

I

I

R

I

R

このR×I2は,次による 

− 25.0 GBの容量の単層ディスク: 

R×I2≧0.005 0 

− 50.0 GBの容量の2層ディスク: 

R×I2≧0.001 2 

30.4 非対称性 

HF信号の非対称性は,次による。 

15

.0

2

2

10

.0

8pp

2L

2H

8L

8H

+

+

+

I

I

I

I

I

30.5 ジッタ 

ジッタを測定するトラックは,29.4.3の規定に従って記録する。 

ジッタは,記録された5トラックの中心のトラックmで基準速度で測定する。 

トラックmをn回上書きした後(0≦n≦10),トラックmで前エッジ及び後エッジ両方(別々に測定)

とも,容量によらず全てのディスクで,次による。 

− 単層ディスク及び2層ディスクのL0層の場合 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定した場合,7.0 %以下とす

る。 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー

ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いた場合,6.5 %以下とする。 

− 2層ディスクのL1層の場合 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定した場合,8.5 %以下とす

る。 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー

ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いた場合,6.5 %以下とする。 

注記 2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを含まないということは,nが3以上かつmが3以上

の場合の,nTマークとmTスペースとの間,及びnTスペースとmTマークとの間にあるエッ

154 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ジだけの,ジッタ測定を行うことを意味している。 

30.6 クロス消去 

クロス消去を測定するトラックは,29.4.4の規定に従って記録する。トラック(m−1)及び(m+1)をn回

上書き後(0≦n≦10)トラックmの変調度は,次による。 

0.90

)

/

(

)0

DOW(

)

/

(

)

(

DOW

8H

8pp

XE

8H

pp

8

XE

I

I

I

I

n

n回上書き後,前エッジ及び後エッジの両方のジッタは(測定は別々),容量によらず全てのディスクで,

次による。 

− 単層ディスク及び2層ディスクのL0層の場合 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定した場合,7.0 %以下とす

る。 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー

ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いた場合,6.5 %以下とする。 

− 2層ディスクのL1層の場合 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定した場合,9.0 %以下とす

る。 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー

ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いた場合,7.0 %以下とする。 

注記 2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを含まないということは,nが3以上及びmが3以上

の場合の,nTマークとmTスペースとの間,及びnTスペースとmTマークとの間にあるエッ

ジだけの,ジッタ測定を行うことを意味している。 

30.7 記録速度が異なったトラックへの上書き 

記録速度が異なったトラックへの上書きを測定するトラックは,全ての規定された記録速度の組合せで,

29.4.5の規定に従って記録する。 

ジッタは,記録された5トラックの中心のトラックmで基準速度で測定し,容量によらず全てのディス

クで,次による。 

− 単層ディスク及び2層ディスクのL0層の場合 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定した場合,7.0 %以下とす

る。 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー

ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いた場合,6.5 %以下とする。 

− 2層ディスクのL1層の場合 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定した場合,8.5 %以下とす

る。 

− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し,ジッタ測定で2Tマー

ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いた場合,6.5 %以下とする。 

注記 2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを含まないということは,nが3以上及びmが3以上

の場合の,nTマークとmTスペースとの間,及びnTスペースとmTマークとの間にあるエッ

ジだけの,ジッタ測定を行うことを意味している。 

background image

155 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

30.8 読取耐久性 

次に示す直流読取りパワーで一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディスクは,その後,動

作環境で全ての規定に適合する。 

− 単層ディスクの1x速度読取り: 

0.40 mW 

− 単層ディスクの2x速度読取り: 

0.44 mW 

− 2層ディスクの1x速度読取り: 

0.70 mW 

− 2層ディスクの2x速度読取り: 

0.80 mW 

次に示す高周波重畳読取りパワー(平均)で,一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディス

クは,その後,動作環境で全ての規定に適合する。 

− 単層ディスクの1x速度読取り: 

0.30 mW 

− 単層ディスクの2x速度読取り: 

0.33 mW 

− 2層ディスクの1x速度読取り: 

0.60 mW 

− 2層ディスクの2x速度読取り: 

0.70 mW 

高周波重畳は,次に示す要求事項を満たすことが望ましい(図120参照)。 

− 重畳周波数(=1/THF-laser): 

(400±40) MHz 

− パルス幅: 

(300±30) ps 

− ピーク間のボトムレベル: 

フラット 

ピーク

平均

パルス幅
(FWHM)

時間

THF-laser

光強度

図120−高周波重畳されたレーザダイオードの光パルス波形の図 

追加で,SER(34.1参照)は,いずれのLDCブロックでも4.2×10−3未満とする[317カウント未満と

等価(=4.2×10−3×75 392バイト)]。 

31 局所欠陥 

“気泡”及び“黒点”(透過積層中に入ったほこり,記録層のピンホールなどの欠陥)といった記録層上

又は透過積層中の欠陥は,いかなる意図しないトラックジャンプ及び訂正不能エラーも引き起こしてはな

らない(33.4及び箇条34も参照)。 

そのような欠陥の大きさは,次による。 

− 気泡: 

直径<100 μm 

− 複屈折を伴う黒点: 

直径<150 μm 

− 複屈折を伴わない黒点: 直径<150 μm 

156 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

32 使用者データの特性 

箇条32〜箇条34は,この規格にディスク上の使用者データが適合するかどうかを測定する一連の測定

方法を規定する。一連の測定は,使用者が記録したデータの読みやすさを確認している。データは,任意

と仮定している。 

使用者が記録したデータは,任意の動作環境,速度,及びドライブで記録されていてもよい。 

33 使用者データの測定方法 

33.1 一般 

箇条32〜箇条34規定の読取試験は,基準ドライブで行う。 

箇条24〜箇条30は,局所欠陥を考慮しなかったが,箇条32〜箇条34は,局所欠陥を読取信号の避けら

れない劣化として含んでいる。欠陥の程度は,次に示す読取りチャネルのエラー検出及びエラー訂正回路

のエラー訂正能力によって決められる。箇条32〜箇条34の要求事項は,データ交換のためのデータ品質

の下限を規定する。 

33.2 環境条件 

ディスクが,8.1.1に規定した許容される環境条件にない場合を除き,全ての信号は,規定した範囲内に

ある。 

33.3 基準ドライブ 

33.3.1 一般 

全ての信号は,箇条9に規定した,基準ドライブの適したチャネルで測定する。 

33.3.2 読取りパワー 

読取りパワーは,ディスクの入射面に照射する光パワーである。読取りパワーは,単層ディスクでは(0.35

±0.1) mWとし,2層ディスクでは(0.70±0.1) mWとする。 

33.3.3 読取りチャネル 

ドライブは,9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号

は,波形等化をし,データ信号処理の前にフィルタを通す。HF信号を2値の読取信号に変換するしきい

値は,記録中のパラメタの変動によるマーク及びスペースの大きさの変動の影響が小さくなるように制御

する。ディスクの品質測定では,波形等化,フィルタ及びスライサの特性,並びにPLLの特性は,ジッタ

測定用の附属書H(リミットイコライザ)に規定したものと同じ特性にする。 

33.3.4 エラー訂正 

データバイトのエラーの訂正は,箇条13の規定に基づいたエラー検出訂正システムで行う。 

33.3.5 トラッキング要求事項 

信号の測定中に,光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは最大55 nmとし,光

ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは最大16 nmとする。 

33.3.6 走査速度 

実際のディスクの回転速度は,平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周

波数が956.522 kHzとなる速度とする。 

33.4 信号の定義 

バイトエラーは,次による。 

バイトエラーは,バイト中の1ビット又はそれ以上のビットが誤った場合に発生し,関連するエラー検

出回路及び/又は訂正回路によって検出される。 

background image

157 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バーストエラーは,次による。 

− バーストエラーは,任意の二つのエラーバイトの間に三つ以上の正しいバイトがない場合の,一連の

バイトで定義される(13.1及び13.8参照)。 

− バーストエラー長は,少なくとも3バイト長以上の正しいバイトで,その前のエラーバイトから分離

された最初のエラーバイトから数え始め,次のエラーバイトの先頭から少なくとも3バイト長以上の

正しいバイトで分離される最後のエラーバイトまでを数えた総バイト数で定義する。 

− バースト中のエラーバイト数は,実際のバースト中で正しくないバイト数で定義される(図121の例

を参照)。 

x

c

c

c

x

x

c

c

x

c

x

x

x

c

c

c

...

c

x

バースト長は,9 バイト

バースト中のエラーバイト数は,6

c = 正しいバイト,x = エラーバイト

図121−バーストエラーの例 

シンボルエラー率は,次による。 

N LDCブロックで平均をとったシンボルエラー率(SER)は,選択したLDCブロックの全てのエラーバ

イトの総和をそのLDCブロックの全バイト数で除したもので定義され,次による。 

392

75

1

a,

×

=

N

E

N

i

i

ここに, Ea,i: LDCブロックi中のエラーバイト数 
 

N: LDCブロック数 

ランダムシンボルエラー率は,次による。 

ランダムシンボルエラー率は,シンボルエラー率でバースト長40バイト以上のバーストエラー中のエラ

ーバイトをSERの式の分子,分母両方から除いた式で定義され,次による。 

(

)

=

=

×

N

i

i

N

i

i

i

E

N

E

E

1

b,

1

b,

a,

392

75

ここに, Ea,i: LDCブロックiの全エラーバイト数 
 

Eb,i: LDCブロックiで40バイト以上のバーストエラー中の全ての

エラーバイト数 

N: LDCブロック数 

34 記録情報の下限品質 

34.1 ランダムシンボルエラー率 

ディスクの品質を確認する場合に,SER及びバーストエラーを決めるために選んだ領域に,任意の使用

者データを10回上書きする。 

10回上書き後のランダムSERは,いかなる連続した10 000 LDCブロックで平均化しても,次を満たす。 

ランダムSER<2.0×10−4 

158 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

34.2 最大バーストエラー 

各記録ユニットブロックで,40バイト以上のバーストエラー個数及びバーストの長さの総和は,次によ

る。 

− バーストエラー個数: 

八つ未満 

− バーストの長さの総和: 

600バイト以下 

34.3 使用者記録データ 

HF読取りチャネルで読み取る,記録ユニットブロック(RUB)の中の使用者記録データは,箇条13に

規定したエラー訂正システムで訂正不能となるバイトがあってはならない。 

35 BCA 

r1とr3との間のゾーンは,バーストカッティング領域(BCA)に使うために予約している(15.2及び図

54参照)。 

BCA領域は,製造工程が終わった後にディスクに情報を追加するために用いる。 

BCA符号は,書換形ディスクの場合,高パワーレーザシステム又は初期化器によって記録できる。 

BCA符号の全ての情報は,全ての同心円上で全く同じ情報であり,内容は,半径方向に整列しており,

CAVモードで記録する(図122参照)。 

BCA符号は,L0層の半径

0.0
3.0

3.

21

− mmと

2.0

0.0

0.

22

+ mmとの間に記録する(BCA符号は,保護ゾーン1の

一部と重なってもよい。)。 

BCA符号は,L1層には書かない。しかし,L0層にBCA符号を記録する影響がL1層に見えてもよい。 

BCA符号は,円周方向に配置した低反射率のストライプの連続で記録する。各ストライプは,BCA領

域の半径方向の幅最大限に伸ばす。 

BCA符号の情報は,L0層の半径21.3 mmと22.0 mmとの間の任意の半径位置で,ドライブで読むこと

ができる。 

BCA符号を記録するかどうかは,アプリケーションによって決められる。アプリケーションに規定する

場合を除いて,BCA符号は,BCA領域に記録しない。BCA符号のフォーマット及び内容は,関連団体の

合意によって定義をしている。 

background image

159 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

バーストカッティング領域

BCA符号

バーストカッティング領域

BCA符号

図122−BCAの図 

160 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書A 

(規定) 

多層の場合の透過積層の厚さ 

A.1 一般 

透過積層全体がk層の構成の場合,個々の層の厚さを決めるためにこの附属書の方法を用いる。 

− d1 .. dk: 層1..kの厚さ 

− n1 .. nk: 層1..kの屈折率 

− D(n): 

図15の屈折率nの場合の公称厚さ 

層kの厚さdkは,次の式と等しくなることが望ましい。 

×

=

=

1

1

)

(

1

)

(

k

i

i

i

k

k

n

D

d

n

D

d

A.2 カバー層及びスペーサ層の全ての層の屈折率ni 

カバー層及びスペーサ層の各層の屈折率niは,次による。 

1.45≦ni≦1.70 

A.3 透過積層の厚さばらつき 

透過積層jの相対厚さは,次による。 

()

=

=

k

i

i

i

j

n

D

d

RT

1

ディスク全体で測定する全透過積層の相対厚さRTは,次による。 

a) TS0の相対厚さRT0: 95≦100×RT0≦105 

b) TS1の相対厚さRT1: 70≦75×RT1≦80 

注記 記録層の厚さは,大変薄く,タイプDLディスクの場合の厚さの計算では無視できる。 

A.4 単層の厚さ計算例 

屈折率がn1=1.70であり,公称厚さ75 μmのカバーシートが,基板に屈折率がn2=1.45の接着シートで

付けられていると仮定する。 

図15から,次のことが分かる。 

D(n1)=102.4及びD(n2)=98.5 

上の式によって,次の計算ができる。 

μm

356

.

26

4.

102

75

1

5.

98

2

=

×

=

d

background image

161 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書B 

(規定) 

反射率の測定 

B.1 

一般 

ディスクの反射率は,幾つかの方法で測定できる。二つの一般的な方法を,次に示す。 

− 平行光測定法 

− 収束光測定法 

ディスクの反射率は,既知の反射率の基準ディスクを使うことによって収束光測定法で測定される。一

方で,基準ディスクの反射率は,平行光測定法で校正される。 

収束光測定法で反射率を測定する場合,ディスクの反射層から帰ってきた光(Rm)だけがフォトディテ

クタに当たる。ディスク表面での反射光及びディスク内部の付随した折返し反射光は,大部分は,フォト

ディテクタの外に出る。平行光測定法では,全体反射(R//)だけが測定でき,反射層からの主反射を決め

るためには計算が必要となる。 

B.2 

校正方法 

例えば,0.1 mmのガラスのカバー層で,金の反射ミラーをもつような複屈折の影響がない良い基準ディ

スクを選ぶ。図B.1に示すとおり,基準ディスクは,平行光測定法で測定する。 

I

入射ビーム

B

R

ディテクタへ

//

Rint

Rm

Rs

r

R

図B.1−反射率校正 

この図で,次の式を適用する。 

=記録層の反射率(透過積層内の折返し反射光を含む。) 

=表面反射率 

Rref =収束光によって測定した反射率(Rm / IBで規定) 

IB =入射ビーム 

Rs =入射面の反射率による反射 

Rm =記録層の反射率による主反射 

162 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

Rint =入射面と記録層との間の,内部反射による反射 

R// =測定値(Rs+Rm+Rint) 

入射面の反射率は,次による。 

2

1

1

+−

=nn

r

ここに, 

n: カバー層の屈折率 

記録層の反射率による主反射によって,次の式が導かれる。 

×

×

=

=

B

//

B

//

2

B

m

ref

2

1

)

1(

I

R

r

r

I

R

r

I

R

R

ここに, 

Rm: 次の式による主反射 

Rm=R//−Rs−Rint 

基準ディスクは,基準ドライブで測定する。収束光で測定し,基準ディスクで得られるディテクタの全

電流(4分割の総和=Itotal)によって,上に規定したRmが計算される。 

これで,装置は校正され,収束光反射率は,入射面の反射とは関係なく記録層及び透過積層の折返し反

射光の反射率に比例することになる。 

B.3 

測定方法 

B.3.1 未記録の未使用書換領域の反射率 

基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。 

a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)refを測定する。 

b) 測定するグルーブ及び読み取る両側の隣接する2トラックが記録されていない調査対象のディスクの

グルーブトラックからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)Gを測定する。 

c) 未記録ディスクの書換領域のグルーブトラックの反射率Rg−vは,次による。 

(

)

(

)

ref

ref

2

1

G

2

1

v

g

R

I

I

I

I

R

×

+

+

=

B.3.2 未記録の消去した書換領域の反射率 

基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。 

a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)refを測定する。 

b) 測定するグルーブ及びグルーブの両側の隣接する2トラックが消去されている調査対象のディスクの

グルーブトラックからの反射光による全ディテクタ電流(I1+I2)Gを測定する。これらのトラックの消

去は,OPCアルゴリズム(附属書G参照)によって決めたPEパワーだけを使って照射する。 

c) 未記録ディスクの書換領域の,グルーブトラックの反射率Rg−vは,次による。 

(

)

(

)

ref

ref

2

1

G

2

1

g

R

I

I

I

I

Rv

×

+

+

=

B.3.3 記録済み書換領域の反射率 

基準ドライブを使った反射率測定法は,次による。 

a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による,全ディテクタ電流(I1+I2)refを測定する。 

163 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

b) 調査対象のディスクのエリアの中の記録済みトラックで,測定するグルーブの両側のトラックが2本

以上記録済みになっているトラックからのI8Hを測定する。トラックの記録は,OPCアルゴリズム(附

属書G参照)の規定による最適パワーで行う。 

c) 記録領域のグルーブトラックの,記録済みディスクの反射率R8Hは,次による。 

ref

ref

2

1

8H

8H

)

(

R

I

I

I

R

×

+

=

background image

164 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書C 
(規定) 

カバー層のきず耐久性の測定 

C.1 一般 

ディスクの入射面は,十分なきず耐久性をもつ。保護コートをして改善してもよい(11.6.2参照)。 

C.2 テーバ摩耗試験 

“テーバ摩耗”と呼ばれる試験は,ディスクの入射面のきず耐久性が十分かどうか検証する。 

摩耗素材に覆われた2本の輪が,規格値の負荷をかけて試験を受けるディスクに載せられる(図C.1参

照)。 

ディスクの回転軸

輪の回転

回転方向

ディスクの

ディスクの中心を
通る線

輪の回転軸の投影

図C.1−標準的な摩耗試験の構成 

試験条件は,次による。 

試験の構成は,JIS K 7204に従い,次に詳細を示す。 

− 輪のタイプ: 

CS10F 

− 各輪への負荷値: 2.5 N 

− 回転回数: 

− 摩耗試験は,試験に必要な記録を行う前に実施する。 

165 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

試験後の結果は,次による。 

附属書Hに規定するリミットイコライザモードに設定した回路の波形等化後で,L0層測定のジッタは,

10 %以下とする。 

摩耗輪の取扱いは,次による。 

摩耗輪の取扱いは,ASTM D1044[1]の規定に従うことが望ましい。 

テーバ摩耗試験を行う前に,毎回両方の摩耗輪は,ST-11研磨石で表面を研磨することが望ましく,次

による。 

− 新しい輪は,100回研磨する。 

− 前に用いた輪は,25回研磨する。 

background image

166 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書D 
(規定) 

カバー層の汚れはつ(撥)油性の測定 

D.1 一般 

この附属書は,ディスクの指紋に対する感度を決めるために,人工の指紋(AFP)をディスクに付ける

方法を規定する。図D.1は,基本的な方法を示している。 

シリコンゴムスタンプ

4.9Nで10秒

4.9 Nで10秒

インクパッド

スタンプにインクを付ける

テストされるディスクに

スタンピング

テストされるディスク

AFP付き

図D.1−ディスクへのAFPの付着 

AFP付着後,AFPを付けた領域の各物理クラスタのランダムSER(33.4参照)は,AFPを通して記録し

再生してL0層を測定した場合,4.2×10−3未満とする。各物理クラスタで40バイト長以上のバーストエラ

ー数は,8未満及びバースト長の総和は,800バイト以下とする。 

D.2 スタンプの規格 

シリコンゴムスタンプは,次による(図D.2参照)。 

− 寸法:スタンプの形状: φ16 mm×φ12 mm×高さ20 mm 

− スタンプ柱の固さ: 

A60 

図D.2−スタンプの形及び準備 

ランダムなきずがあるスタンプを作るために,#240番のサンドペーパで磨く。 

background image

167 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

サンドペーパは,ゆっくり一方向に10回〜20回の間動かす。サンドペーパに加える力は,4.9 Nと9.8 N

との間とする。 

スタンプを,任意の角度回転させ前記の方法を繰り返す。 

回転及び研磨は,少なくとも30回は繰り返す。 

D.3 インクの準備 

AFPを付けるインクは,次の成分によって構成する。 

− M:メトキシプロパノール(M)。正確には,1−メトキシ 2−プロパノール 

− T:トリオレイン(T)。純度は,少なくとも60 %とする。 

− D:標準ほこり(D)。JIS Z 8901の規定に従い,試験用粉体1の11種(関東ローム)を選ぶ。さらに,

詳細の情報は,一般社団法人日本粉体工業技術協会(http://www.appie.or.jp/)で入手する。 

インクのクリーニング用としては,エタノールを用いる。 

M,T及びDの成分は,質量比240:20:8で合成する。混ぜたものは,プラスチックの棒を使い手で少

なくとも15秒間かき混ぜる。 

D.4 インクパッドの準備 

スタンプに決まった量のインクが付くように,インクは,インクパッドの上にスピンコートされる。こ

こに,インクパッドは,ピット及びグルーブのパタンのないポリカーボネートの成形基板とする。インク

をディスクに付ける前に,基板は,例えば,超音波振動などで少なくとも30秒間十分にゆする。 

基板をスピナー上で60回毎分で回転しながら,10秒間以内に少なくとも2 mlのインク液を概略12 mm

の半径位置に垂らす(図D.3参照)。 

solution

put on

substrate

spreading

the solution

by spinnig

radius
12 mm

基板に付けた

溶剤

回転による
溶剤の広がり

12 mm

半径

図D.3−インクパッドスピンコート 

ディスクにインクを付けた後,回転速度100回毎分で1秒間回す。そして,回転速度を5秒間の間に直

線的に5 000回毎分に上げ,その速度で1秒間維持する(図D.4参照)。回転降下時間は,問題とならない。 

background image

168 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

60回毎分

100

5 000

1秒

1秒

5秒

0.1秒~1秒

<100

インク溶剤を
注ぐ

回毎分

回毎分

回毎分

図D.4−インクパッドスピンコートの速度プロファイル 

D.5 インクパッド及びスタンプの使用 

スタンプにインクを付けるのは,半径30 mm辺りがよい。 

スタンプは,ベンコットのような糸くずの出ないティシュできれいにできる。 

スタンプは,最初にエチルアルコールでぬらしたティシュできれいにし,その後乾いたティシュで拭き

取ることができる。 

background image

169 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書E 

(規定) 

ウォブル振幅の測定 

E.1 

測定方法 

ウォブル信号及びプッシュプル信号は,測定前にフィルタを通す。ウォブル信号は8 MHzの低域通過フ

ィルタを通し,プッシュプル信号は30 kHzの低域通過フィルタを通す。 

グルーブの変調及びウォブルビートのために,ウォブル信号を普通のオシロスコープを使って十分正確

に求めることは,非常に難しい。したがって,ウォブル信号をスペクトラムアナライザを使って測定する

方法(らせんグルーブを連続トラッキングしながら)の手順を,次に示す。 

a) ステップ1:正規化していないウォブル信号の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で,プッシ

ュプル信号を次の設定で測定する。 

− 中心周波数: 

956.5 kHz 

− スパン: 

ゼロスパン 

− 分解能帯域幅: 30 kHz 

− ビデオ帯域幅: 100 Hz 

− 掃引時間: 

ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。 

この条件下で,スペクトラムアナライザは,時間に対しての入力信号の実効値を示す(図E.1参照)。 

Mkr1

Mkr2

Ref -32 dBV

Log
2 dB/

Mkr1 533 ms-39.6 dBV
Mkr2 367 ms-46.4 dBV

中心956.5 kHz

分解能帯域幅30 kHz

スパン0 Hz

掃引時間750 ms

ビデオ帯域幅100 Hz

Atten 0 dB

図E.1−ウォブル信号を示すスペクトラムアナライザの例 

マーカMkr2での信号レベルは,最小ウォブル信号WSminのdBV値を表している。スペクトラムア

ナライザは,実効値を測定するため

2

の係数を乗じて,測定値を電圧の両ピーク値に変換する(例

background image

170 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

の中の−46.4 dBVは,13.5 mVppに相当する。)。 

b) ステップ2:正規化していないプッシュプル信号の測定 次に,トラッキングサーボオフのプッシュ

プル信号(I1−I2)ppを測定する(25.4参照)。 

この例では,30 mVppであったとする。 

c) ステップ3:正規化ウォブル信号(NWS)の計算 

(

)

45

.0

30

5.

13

pp

2

1

min

min

=

=

=

I

I

WS

NWS

d) ステップ4:ウォブルビートの決定 マーカMkr1の信号レベルは,最大ウォブル信号WSmaxのdBV

値を表す。 

ウォブルビートは,次による。 

WSmax−WSmin=6.8 dB又はNWSmax=2.2×NWSmin 

e) ステップ5:ウォブル信号のキャリアノイズ比の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で,プッ

シュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザを使って測定する。 

− 中心周波数: 

500 kHz 

− スパン: 

ゼロスパン 

− 分解能帯域幅: 30 kHz 

− ビデオ帯域幅: 10 Hz 

− 掃引時間: 

ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。 

これらの条件下でスペクトラムアナライザは,時間に対しての500 kHzの帯域幅のノイズ信号の実

効値を示す(図E.2参照)。 

Mkr1

Ref -60 dBV

Log
2 dB/

Mkr1 1.27秒-75,4 dBV

中心500 kHz
分解能帯域幅30 kHz

スパン0 Hz

掃引時間1.767 秒

ビデオ帯域幅10 Hz

Atten 0 dB

図E.2−ノイズ信号を示すスペクトラムアナライザの例 

マーカMkr1の信号レベルは,ノイズ信号の信号レベルをdBV値で表している。 

background image

171 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ウォブルCNRは,このように簡単に計算でき,次のとおりになる。 

WSmin−ノイズレベル=−46.4+75.4=29 dB(例の値の場合) 

f) 

ステップ6:SHD/SHLの測定 この測定は,27.3.4に従って行う。 

25.3.4のトラッキングの要求事項の下で,プッシュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザ

を用いて測定する。 

基本波レベルの測定は,次の設定とする。 

− 中心周波数: 

956.5 kHz 

− スパン: 

ゼロスパン 

− 分解能帯域幅: 10 kHz 

− ビデオ帯域幅: 1 Hz 

− 掃引時間: 

約5秒 

2次高調波レベルの測定は,次の設定とする。 

− 中心周波数: 

1 913 kHz 

− スパン: 

ゼロスパン 

− 分解能帯域幅: 10 kHz 

− ビデオ帯域幅: 1 Hz 

− 掃引時間: 

約5秒 

これらの条件下でスペクトラムアナライザは,時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の基

本波レベルの実効値を示す(図E.3参照)。 

Ref-10dBm

Log

10dB/

A-viewB-view

中心956.5kHz

分解能帯域幅10kHz

スパン0Hz

掃引時間5秒

ビデオ帯域幅1Hz

Atten10dB

3dB

FPZ3

FDZ

図E.3−ウォブル基本波レベル測定の例 

図E.3で下側の軌跡は,データゾーンの任意の記録領域で測定したFDZで示す基本波レベルを表す。 

図E.3で上側の軌跡は,保護ゾーン3で測定したFPZ3で示す基本波レベルを表す。 

FDZ及びFPZ3の値は,FDZ及びFPZ3の軌跡の平均値で決められる。 

background image

172 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

同様に,スペクトラムアナライザは,時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の2次高調波レベ

ルの実効値を示す(図E.4参照)。 

-10.9dB

Ref-10dBm

Log

10dB/

A-viewB-view

中心1913kHz
分解能帯域幅10kHz

スパン0Hz

掃引時間5秒

ビデオ帯域幅1Hz

Atten10dB

SDZ

SPZ3

図E.4−2次高調波レベルの測定例 

図E.4で上側の軌跡は,データゾーンの任意の記録領域のSDZで示す2次高調波レベルを表す。 

図E.4で下側の軌跡は,保護ゾーン3の任意の記録領域のSPZ3で示す2次高調波レベルを表す。 

SDZ及びSPZ3の値は,SDZ及びSPZ3の軌跡の平均値で決められる。 

SHD/SHLは,次による。 

(

)(

)

DZ

PZ3

DZ

PZ3

F

F

S

S

SHL

SHD

=

例では, 

dB

9.

13

)3(

)9.

10

(

=

=

SHL

SHD

E.2 

フィルタの校正 

ノイズ測定の分解能帯域幅フィルタの形は,理想的には方形である。そのようなフィルタは実現できな

いため,実際のスペクトラムアナライザのフィルタは測定値に影響を与える。ノイズの真の実効値を決め

るために,補正係数を適用することが望ましい。そのような補正係数は,通常,測定器の製造業者から与

えられ実際のフィルタの形及びタイプに依存する。 

173 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書F 

(規定) 

試験のための記録パルス波形 

F.1 

記録パルス波形概要 

この規格では,次に示す三つのタイプの記録ストラテジを規定する。 

− 1x記録速度だけで用いるN−1記録ストラテジ(N−1記録ストラテジA) 

− 1x及び2x記録速度で使用できるN−1記録ストラテジ(N−1記録ストラテジB) 

− 1x及び2x記録速度で使用できるN/2記録ストラテジ(N/2記録ストラテジ) 

これらの記録ストラテジの規定で,Nは,チャネルクロックサイクル(T)で表すNRZIパルスのラン長

を表している。 

F.2規定のN−1記録ストラテジAは,低記録速度の応用だけに適している。パルス幅は,実際のマーク

長だけに依存している。 

F.3規定のN−1記録ストラテジBは,高記録速度にも適している。パルス幅は,実際のマーク長だけで

なく前のスペース長にも依存している(熱バランスと呼ばれる特徴)。 

F.4規定のN/2記録ストラテジは,記録パルスの幅広い分離が必要な(2T距離)高速記録層用に,特別

に設計されている。 

F.2 

N−1記録ストラテジA 

NRZIデータ及びチャネルクロックによって得られた記録パルス波形の例を,図F.1に示す。それは,二

つのマルチパルス列で構成し,最初のマルチパルス列は,NRZI信号の高レベルを保存するマークを記録

し,2番目のマルチパルス列は,NRZI信号の低レベルを保存するスペースを記録(又は実際は消去)する。

NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移でパルス列は,“冷却レベル”(PC)と呼ばれるレベルでつな

げられる。 

記録パルス列は,次による。 

最初の記録パルスは,幅Ttopであり,その後に続く記録パルス(Nが3以上の場合)は,幅TMPである。

マーク長Nの最初の記録パルスは,NRZIパルスの開始位置より1T後の位置から相対的にdTtopの時間で

開始し,それに続く各記録パルスは,NRZIパルスの開始から2T,3T,.. (n−1)Tの位置で開始する。dTtop

は速度によって変えることができ,三つの記録速度について値がある。 

記録パルスはパワーレベルPWとし,これらのパルスの間のバイアスパワーはPBWとする。最初の記録

パルスの前のパワーレベルは,PELとする。最後の記録パルス及び最初の消去パルスの間のパワーレベル

は,PCとする。 

消去パルス列は,次による。 

各クロック周期の消去パルスは,最初のパルスを除きPE1及びPE2の二つのレベルで構成される。PE1は,

TEの間維持され,PE2は残りのクロック周期維持される。 

PE1は,PE2以上とすることができ,同様にPE2未満とすることもできる。 

最初の消去パルスは,一つのレベルPEFで構成される。このパルスは,NRZIパルスの終わりから相対的

にdTEの時間で始まり,TW+dTEの幅である(図F.1の例では,dTEは,負の値をもつ。)。dTEは,速度に

background image

174 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

よって変えることができ,三つの記録速度について値がある。 

PEFは,PE1に等しくするか又はPE2に等しくする。 

消去パルスの列の,最後のクロック周期の終わりと最初の記録パルスとの間のパワーレベルは,PELと

しPELは,PE1に等しくするか又はPE2に等しくする。 

PW

PC

PE1

PEF

PEL

PEL

PE2

PBW

0 mW

Ttop

TMP

TW

TW

TMP

TE

TE

dTtop

dTE

NRZI

PW

PC

PE1

PEF

PEL

PEL

PE2

PBW

0 mW

Ttop

TMP

TW

TW

TMP

TE

TE

dTtop

dTE

NRZI

チャネルビット

PW

PC

PE1

PEF

PEL

PEL

PE2

PBW

0 mW

Ttop

TMP

TW

TW

TMP

TE

TE

dTtop

dTE

NRZI

図F.1−N−1記録ストラテジAの記録パルス波形 

記録パルス幅は,次による。 

パルス幅は,固定(ナノ秒で)か,若しくは実際のチャネルクロックTWに関連している(TW/16の倍数)

か,又は両方の組合せである。組合せは,連続的に速度が変わる(例えば,将来のバージョンのシステム

でCAV記録モードを許容する場合。)記録で,最適なパルス周期を規定することを意図している。 

全ての許容される記録速度で許されるパルス幅は,次に示す値で構成する(図F.1のdTtopに示すとおり

正の値は進みで,dTEに示されるように負の値は遅れである。)。 

dTtop=i×(TW/16) 

ここに, 

i: −14,−13,..,−1,0,1,2,.. 又は15 

(dTtopは,2T,3T又は4Tマーク長以上の場合によって,異
なる値に設定できる。) 

Ttop=j×(TW/16)+k×(1 ns) 

ここに, 

j: 0,1,2,.. 又は15 

k: 0,1,2,.. 又は15 

Ttop: ≧2.5 ns 

(Ttopは,2T,3T又は4T以上マーク長の場合によって,異な
る値に設定できる。) 

TMP=p×(TW/16)+q×(1 ns) 

ここに, 

p: 0,1,2,.. 又は15 

q: 0,1,2,.. 又は15 

TMP: ≧2.5 ns 

dTE=u×(TW/16) 

ここに, 

u: −16,−15,..,−1,0,1,2,.. 又は15 

(dTEは,2T,3T又は4Tマーク長以上の場合によって,異な
る値に設定できる。) 

TE=v×(TW/16)+w×(1 ns) 

ここに, 

v: 0,1,2,.. 又は15 

w: 0,1,2,.. 又は15 

background image

175 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

TE: ≧2.5 ns 

注記 j及びk,p及びq,並びにv及びwの組合せは,一つの記録速度におけるパルス継続時間の“微

調整”の意図はない。事実,0.2 nsのパルス継続時間の精度は,そのような“微調整”の効果

の意味をなくしてしまう(TW/16及び1 nsの違いは,たった0.053 nsである。)。 

図F.7に規定した,全てのパルス幅の精度は,±0.2 nsよりも小さい。 

PC,PBW及びPE2を使う場合は,それらは全ての場合で少なくとも1 nsの期間維持する。 

図F.7に規定する立上がり時間及び立下がり時間は1.0 nsを超えない。 

パラメタは,ディスクに依存し,最適値は,15.8.3.3に示すようである。PW,PC,PBW及びPE1は,OPC

アルゴリズムによって決定される(附属書G参照)。 

例 最小マーク,最小スペース,5Tマーク,及び5Tスペースの記録パルス波形の例を,図F.2に示

す。この例では,PE1は,<PE2,PEF=PE2及びPEL=PE1である。 

2 T

2 T

スペース

5 T

マーク

5 T

スペース

NRZI データ

2 T

マーク

2 T

5 T

5 T

図F.2−N−1記録ストラテジAのマルチパルス記録信号の例 

N−1記録ストラテジAの制限は,次による。 

この規格に基づくシステムでは,分離した冷却レベルは許容されない(PC=PBWであり,したがって,εc

はεBWに等しい。)し,パルスの形の消去は許さない(PE1=PE2であり,したがって,εE1はεE2に等しい。)。 

図F.7に規定する,立上がり時間及び立下がり時間は,2.0 nsを超えない。 

図F.3は,簡単にした記録ストラテジの例を示す。 

2 T

マーク

2 T

スペース

5 T

マーク

5 T

スペース

NRZI データ

PW

PE

P

= PBW

C

PBW

P

= P

E

E1

2 T

2 T

5 T

5 T

PW

PE

P

= PBW

C

P

= P

E

E1

図F.3−N−1記録ストラテジAの記録信号の例 

F.3 

N−1記録ストラテジB 

NRZIデータ及びチャネルクロックによって得られた記録パルス波形の例を,図F.4に示す。それは,記

background image

176 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

録マルチパルス列で構成し,NRZI信号の高レベルを保存するマークを記録する。これらのパルス列は,

NRZI信号の低レベルを保存するスペースを記録する(又は実際は消去),固定の消去レベル(PE)につな

がる。NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で,パルス列及び消去レベルは,“冷却レベル”(PC)

と呼ばれるレベルでつなげられる。 

記録パルス列は,次による。 

最初の記録パルスは,幅Ttopであり,最後の記録パルス(Nが3以上の場合)は幅TLPであり,その間の

記録パルス(Nが4以上の場合)は幅TMPである。マーク長Nの最初の記録パルスは,NRZIパルスの開

始位置よりも1T後の位置から相対的にdTtopの時間で開始し,それに続く各記録パルスは,NRZIパルスの

開始から2T,3T,.. (n−1)T後で開始する。 

前に来るスペースの長さによって,最初の記録パルスの幅(Ttop)及び開始位置(dTtop)は,最適な熱バ

ランスになるように変えることができる。 

記録パルスはパワーレベルPWとし,これらのパルスの間はバイアスレベルPBWとする。最初の記録パ

ルスの前のパワーレベルは,PEとする。最後の記録パルスと消去レベルとの間のパワーレベルは,PCとす

る。 

消去レベルは,次による。 

消去レベルPEは,NRZIパルスの終わりから相対的にdTEの時間で始まり,次に来る最初の記録パルス

まで継続する。 

PW

PC

PE

PBW

0 mW

Ttop

TMP

TW

TW

TLP

dTtop

dTE

NRZI

PW

PC

PW

PC

PE

PBW

0 mW

Ttop

TMP

TW

TW

TLP

dTtop

dTE

NRZI

チャネルビット

図F.4−N−1記録ストラテジBの記録パルス波形 

記録パルス幅は,次による。 

パルス幅は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連しているか若しくはTXに関連した

固定値(TX/16の整数倍で,1×記録速度の場合,TX=15.15 ns又は2x記録速度の場合,TX=7.58 ns)に関

連しているか,又はこれらの組合せである。組合せは,連続的に速度が変わる(例えば,将来のバージョ

ンのシステムでCAV記録モードを許容する場合。)記録で,最適なパルス周期を規定することを意図して

いる。 

全ての許容される記録速度で許されるパルス幅は,次に示す値で構成する(図F.4のdTtopに示すとおり

正の値は進みで,dTEに示されるように負の値は遅れである。)。 

dTtop=i×(TW/16) 

ここに, 

i: −14,−13,..,−1,0,1,2,.. 又は15 

(dTtopは,2T,3T又は4T以上のマーク長並びにその前の2T,
3T,4T及び5T以上のスペースの場合によって,異なる値に
設定できる。) 

177 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

Ttop=j×(TW/16)+k×(TX/16) 

ここに, 

j: 0,1,2,.. 又は30 

k: 0,1,2,.. 又は30 

 0≦j+k≦i+15 

k=0(この規格では) 

(Ttopは,2T,3T又は4T以上のマーク長並びにその前の2T,
3T,4T及び5T以上のスペースの場合によって,異なる値に
設定できる。) 

TMP=p×(TW/16)+q×(1 ns) 

ここに, 

p: 0,1,2,.. 又は15 

q: 0,1,2,.. 又は15 

 0≦p+q≦15 

q=0(この規格では) 

TLP=s×(TW/16)+t×(TX/16) 

ここに, 

s: 0,1,2,.. 又は15 

t: 0,1,2,.. 又は15 

 0≦s+t≦15 

t=0(この規格では) 

(TLPは,3T及び4T以上のマーク長の場合によって,異なる
値に設定できる。) 

dTE=u×(TW/16) 

ここに, 

u: −24,−23,..,−1,0,1,2,.. 又は15 

(dTEは,2T,3T又は4T以上のマーク長の場合によって,異
なる値に設定できる。) 

パルスの幅は,次のとおりに制限を受ける。 

− j+k,p+q,及びs+tの最小値は,1x記録速度の場合3となり,2x記録速度の場合5となる。 

− j+k−i(3T以上)及びp+qの最大値は,1x記録速度の場合13となり,2x記録速度の場合11となる。 

各パワーレベルPW,PBW,PC及びPEは,1x記録速度の場合,継続時間は2.5 ns以上とし,2x記録速度

の場合2.0 ns以上とする。 

図F.7に規定した,全てのパルス幅の精度は,±0.2 nsよりも小さい。 

図F.7に規定する,立上がり時間及び立下がり時間は,1x記録速度の場合2.0 nsを超えず,2x記録速度

の場合1.5 nsを超えない。 

パラメタは,ディスクに依存し最適値は,15.8.3.4に示すとおりである。PW,PBW,PC及びPEは,OPC

アルゴリズムによって決定される(附属書G参照)。 

例 最小マーク,最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例を,図F.5に

示す。 

background image

178 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

2 T

マーク

2 T

スペース

5 T

マーク

5 T

スペース

NRZI データ

PW

PE

PC

P

PBW

2 T

2 T

5 T

5 T

PW

PE

PC

P

BW

P

図F.5−N−1記録ストラテジBの記録信号の例 

F.4 

N/2記録ストラテジ 

NRZIデータ及びチャネルクロックによって得られた記録パルス波形の例を,図F.6に示す。それは,記

録マルチパルス列で構成し,NRZI信号の高レベルを保存するマークを記録する。これらのパルス列は,

NRZI信号の低レベルを保存するスペースを記録する(又は実際は消去),固定の消去レベル(PE)につな

がる。NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で,パルス列及び消去レベルは,“冷却レベル”(PC)

と呼ばれるレベルでつなげられる。 

記録パルス列は,次による。 

最初の記録パルスは幅Ttopであり,最後の記録パルス(Nが4以上の場合)は幅TLPであり,その間の記

録パルス(Nが6以上の場合)は幅TMPである。 

マーク長Nの最初の記録パルスは,NRZIパルスの開始位置よりも1T後の位置から相対的にdTtopの時

間で開始し,それに続く各記録パルスは偶数ラン長(N=4,6又は8)の場合,NRZIパルスの開始から3T,

5T,.. (n−1)T後で開始し,奇数ラン長(N=5,7又は9)の場合,NRZIパルスの開始から3.5T,5.5T .. (n

−1.5)T後で開始する。 

記録パルスはパワーレベルPWとし,これらのパルスの間はバイアスレベルPBWとする。最初の記録パ

ルスの前のパワーレベルは,PEとする。最後の記録パルスと消去レベルとの間のパワーレベルは,PCとす

る。 

消去レベルは,次による。 

消去レベルPEは,NRZIパルスの終わりから相対的にdTEの時間で始まり,次に来る最初の記録パルス

まで継続する。 

パルス幅は,次による。 

パルス幅は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連しているか若しくはTXに関連した

固定値(TX/16の整数倍で,1x記録速度の場合TX=15.15 ns又は2x記録速度の場合TX=7.58 ns)に関連し

ているか,又はこれらの組合せである。 

全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は,次に示す値で構成する(負の値は,図F.6で

示すとおり遅れである。)。 

dTtop=i×(TW/16) 

ここに, 

i: −16,−15,..,−1,0,1,2,.. 又は15 

(dTtopは,2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長
の場合によって,異なる値に設定できる。) 

179 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

注記 記録ストラテジの表記において,4T以上の偶数パルスのいずれか又は4T以上の奇数パルスの

いずれかに対して,同様の記録ストラテジを適用する場合に偶数及び奇数のパルスセットを[4T,

6T,8T],[5T,7T,9T]のように[]で囲う表記をしている。 

Ttop=j×(TW/16)+k×(TX/16) 

ここに, 

j: 0,1,2,.. 又は46 

k: 0,1,2,.. 又は46 

 0≦j+k≦i+31 

k=0(この規格では) 

(Ttopは,2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長の
場合によって,異なる値に設定できる。) 

TMP=p×(TW/16)+q×(TX/16) 

ここに, 

p: 0,1,2,.. 又は31 

q: 0,1,2,.. 又は31 

 0≦p+q≦31 

q=0(この規格では) 

TLP=s×(TW/16)+t×(TX/16) 

ここに, 

s: 0,1,2,.. 又は31 

t: 0,1,2,.. 又は31 

 0≦s+t≦32 

t=0(この規格では) 

(TLPは,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長の場合によ
って,異なる値に設定できる。) 

dTE=u×(TW/16) 

ここに, 

u: −31,−30,..,−1,0,1,2,.. 又は15 

(dTEは,2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長の
場合によって,異なる値に設定できる。) 

パルスの幅は,次のとおりに制限を受ける。 

− j+k,p+q,及びs+tの最小値は,1x記録速度の場合3となり,2x記録速度の場合5となる。 

− j+k−i (4T以上)及びp+qの最大値は,1x記録速度の場合29となり,2x記録速度の場合27となる。 

background image

180 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

PBW

PBW

TLP,even

TLP,even

TLP,even

9T

0

PW

PBW

PE

5T

0

PW

PE

dTtop,odd

dTtop,odd

dTtop,odd

0

6T

TMP

PW

PE

7T

0

PW

PBW

PE

8T

0

TMP

PW

PBW

PE

4T

0

PW

PBW

PE

dTtop,even

dTtop,even

dTtop,even

3T

0

PW

PC

PE

Ttop3T

dTtop3T

dTE3T

PE

Ttop2T

PC

2T

0

PW

dTE2T

dTtop2T

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

TLP,odd

TLP,odd

TLP,odd

TMP

TMP

TMP

dTE,odd

dTE,odd

dTE,odd

TMP

PC

PC

PC

PC

PC

PC

dTE,even

dTE,even

dTE,even

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,even

Ttop,even

Ttop,even

NRZI チャネルビット

PBW

PBW

PBW

PBW

TLP,even

TLP,even

TLP,even

9T

0

PW

PBW

PE

5T

0

PW

PE

dTtop,odd

dTtop,odd

dTtop,odd

0

6T

TMP

PW

PE

7T

0

PW

PBW

PE

8T

0

TMP

PW

PBW

PE

4T

0

PW

PBW

PE

dTtop,even

dTtop,even

dTtop,even

3T

0

PW

PC

PE

Ttop3T

dTtop3T

dTE3T

PE

Ttop2T

PC

2T

0

PW

dTE2T

dTtop2T

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

TLP,odd

TLP,odd

TLP,odd

TMP

TMP

TMP

dTE,odd

dTE,odd

dTE,odd

TMP

PC

PC

PC

PC

PC

PC

dTE,even

dTE,even

dTE,even

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,even

Ttop,even

Ttop,even

PBW

PBW

PBW

PBW

TLP,even

TLP,even

TLP,even

9T

0

PW

PBW

PE

5T

0

PW

PE

dTtop,odd

dTtop,odd

dTtop,odd

0

6T

TMP

PW

PE

7T

0

PW

PBW

PE

8T

0

TMP

PW

PBW

PE

4T

0

PW

PBW

PE

dTtop,even

dTtop,even

dTtop,even

3T

0

PW

PC

PE

Ttop3T

dTtop3T

dTE3T

PE

Ttop2T

PC

2T

0

PW

dTE2T

dTtop2T

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

TLP,odd

TLP,odd

TLP,odd

TMP

TMP

TMP

dTE,odd

dTE,odd

dTE,odd

TMP

PC

PC

PC

PC

PC

PC

dTE,even

dTE,even

dTE,even

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,even

Ttop,even

Ttop,even

NRZI チャネルビット

PBW

PBW

PBW

PBW

TLP,even

TLP,even

TLP,even

9T

0

PW

PBW

PE

5T

0

PW

PE

dTtop,odd

dTtop,odd

dTtop,odd

0

6T

TMP

PW

PE

7T

0

PW

PBW

PE

8T

0

TMP

PW

PBW

PE

4T

0

PW

PBW

PE

dTtop,even

dTtop,even

dTtop,even

3T

0

PW

PC

PE

Ttop3T

dTtop3T

dTE3T

PE

Ttop2T

PC

2T

0

PW

dTE2T

dTtop2T

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

T/2

TLP,odd

TLP,odd

TLP,odd

TMP

TMP

TMP

dTE,odd

dTE,odd

dTE,odd

TMP

PC

PC

PC

PC

PC

PC

dTE,even

dTE,even

dTE,even

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,odd

Ttop,even

Ttop,even

Ttop,even

NRZI チャネルビット

図F.6−N/2記録ストラテジを表す記録パルス波形 

各パワーレベルPW,PBW,PC及びPEは,1x記録速度の場合,継続時間は2.5 ns以上とし,2x記録速度

の場合,2.0 ns以上とする。 

background image

181 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

図F.7に規定した全てのパルス幅の精度は,±0.2 nsよりも小さい。 

図F.7に規定する,立上がり時間及び立下がり時間は,1x記録速度の場合2.0 nsを超えず,2x記録速度

の場合1.5 nsを超えない。 

パラメタは,ディスクに依存し,最適値は15.8.3.5に示すとおりである。PW,PBW,PC及びPEは,OPC

アルゴリズムによって決定される(附属書G参照)。 

F.5 

パルス幅並びに立上がり時間及び立下がり時間の規定 

立上がり時間及び立下がり時間は,実際の記録パワーの変化の10 %に等価なレベルから90 %に等価な

レベルまでにかかる時間,又はその逆の時間で規定する。 

立上がり時間Trise及び立下がり時間Tfallを,図F.7に規定する。 

いかなるオーバーシュートも10 %未満とする。 

パルスの持続時間及びパルス間のスペースは,関連するパワー変化の50 %と等価のレベルで測定する

(図F.7参照)。 

P1

P2

0.9P1

0.9P2

0.5P1

0.5P2

0.1P1

0.1P2

Twidth

Twidth

Twidth

Trise

Tfall

P1

P2

0.9P1

0.9P2

0.5P1

0.5P2

0.1P1

0.1P2

Twidth

Twidth

Twidth

Trise

Tfall

図F.7−立上がり時間及び立下がり時間 

182 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書G 
(規定) 

ディスクの最適パワー制御(OPC)方法 

G.1 

一般 

この附属書では,最適パワーPWO,PBWO,PCO,PE1O及びPE2O(附属書F参照)並びにディスク情報(15.8.3.3,

15.8.3.4及び15.8.3.5参照)に含む関連するパラメタκ,PIND,mIND,ρ,εBW,εC,εE1及びεE2について,規

定する。 

全ての記録ストラテジーが,二つのPEレベルを用いるわけではない。一つのレベルしか使用しない場合

には,次に示す二つのPE1O及びPE2Oの規定のうち一つはPEOと解釈し,他は無視できる。 

G.2 

記録パワーに対する変調度の関数の数学的モデル 

HF信号の変調度は,m=I8pp / I8Hで規定する。記録パワーに対する変調度のカーブm(PW)は,図G.1に示

すような形となる。感度の高いOPCのために,変調度の測定は,変調度が飽和するレベルの前のパワー範

囲で行う。 

この目的のために,次に示すPtargetを規定する。 

ρ

P

P

WO

target=

ここに, 

ρ: PtargetからPWOを求めるための乗算係数 

ρ≧1.15 

m

P

P

target

WO

P

P

×

=

ρ

記録パワーPW 

図G.1−記録パワーに対する変調度の関数 

ランダムな測定エラー及びノイズの影響を最小にするために,記録パワーに対する変調度のカーブは,

次に示す関数で近似する。 

()

×

=

W

thr

max

W

1

P

P

m

P

m

ここに, mmax: 最大変調度(飽和レベル) 
 

Pthr: しきい値パワー 

この(簡単にした)モデルで,関数f(PW)=PW×m(PW)は直線となり,次による。 

PW×m(PW)=mmax×(PW−Pthr) 

 Ptarget 

PWO 

PWO=Ptarget×ρ 

background image

183 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

P

m

(P

)

W

×

W

Pthr

Ptarget

Ptarget=      P

κ×thr

記録パワーPW

直線近似

図G.2−変調度に記録パワー乗じたもの 対 記録パワーの関数 

κの値は,PtargetとPthrとの比で規定し,次による。 

thr

target

P

P

κ=

PWO,PBWO,PCO,PE1O及びPE2O,並びにその関係を決めるために必要なパラメタを,次に示す定義並び

に図G.1及び図G.2に示す。 

− mIND: 

ディスク情報に,PINDの場合の変調度として示す。 

− κ: 

変調度カーブの中で,OPCを行うべきポイントを示すPW及びPthrのターゲット比 

− PIND: 

ディスク情報中に示すPtargetの推定値 

− Ptarget=κ×Pthr: 

κにおける実際の記録ピークパワー 

− ρ: 

PtargetからPWOを求めるための乗算係数 

− PWO=ρ×Ptarget: 最適記録ピークパワーPWO 

− εBW: 

記録バイアスパワーと記録ピークパワーとの比 

− PBWO=εBW×PWO: 最適記録バイアスパワーPBWO 

− εC: 

冷却パワーと記録ピークパワーとの比 

− PCO=εC×PWO: 

最適冷却パワーPCO 

− εE1: 

消去パワーと記録ピークパワーとの比1 

− PE1O=εE1×PWO: 最適消去パワーPE1O 

− εE2: 

消去パワーと記録ピークパワーとの比2 

− PE2O=εE2×PWO: 最適消去パワーPE2O 

直線近似方法は,次による。 

PBW=εBW×ρ×PIND,PC=εC×ρ×PIND,PE1=εE1×PWi及びPE2=εE2×PWiを使って異なる記録パワーPWi

でランダムデータを試験記録することによって,それに伴う変調度=miが求められる。 

PW×m(PW)=mmax×(PW− Pthr)の直線を幾つかのポイント(PWi,mi×PWi)に当てはめることによって,こ

れらのポイントに対応するmmax及びPthrを簡単に決めることができる(モデルの正確度の限界から,mmax

は1よりも大となる可能性があることを,認識しておくことが望ましい。)。 

G.3 

ディスクのOPCパラメタを決める方法 

メディア製造業者は,最初に,ディスクの最適パワーPWO,PBWO,PCO,PE1O及びPE2Oを決めなければ

ならない。これは,幾つかのPW,PBW,PC,PE1及びPE2の条件で試験記録をし,箇条30に従って記録パ

184 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

ラメタの結果を測定することによってできる。記録及び測定は,箇条9に適合した基準ドライブを使用し,

T=23 ℃で行う。 

最適記録パラメタとなるPW=PWO,PBW=PBWO,PC=PCO,PE1=PE1O及びPE2=PE2Oの組合せを選んだ後

に,εBW=PBWO / PWO,εC=PCO / PWO,εE1=PE1O / PWO及びεE2=PE2O / PWOの比が決められる。 

次のステップでは,内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に規定する,他のパラメタ(κ,

PIND,mIND及びρ)を決める。メディア製造業者は,ターゲット記録パワーの推定指示値PINDを選び,こ

のPINDでの変調度mINDを測定する。乗算係数は,ρ=PWO / PINDとする。 

κの値を決める方法は,次による。 

PBW=PBWO,PC=PCO,PE1=εE1×PWi及びPE2=εE2×PWiを使って,0.9×PIND〜1.1×PINDの範囲で異なる

記録パワーPWiでランダムデータを記録した後に,その結果の変調度,miを測定する。記録及び変調度mi

の測定の両方を,基準ドライブを使いT=23 ℃で行う。 

次に,G.1に従って,得られた測定ポイントに対して直線近似を行い,それによってPthrが決まり,κが

次のとおりに計算できる。 

thr

IND

P

P

κ=

留意事項1 必ずしも全ての記録パラメタは,独立には最適化できないであろうことから,製造業者

のディスクに対しての記録パラメタの最適値の組合せを決めることは,製造業者に任せ

る。 

留意事項2 変調度の測定は,値が小さい場合には幾分か不正確になるため,記録パワーの範囲(す

なわち,PIND)は,一番低いパワーでの変調度が30 %を超えるように選ぶことが望まし

い。さらに,変調度及び記録パワーの測定は,変調度が飽和レベルよりも十分に下のレ

ベルで行うことが望ましい。 

留意事項3 上記の方法によって,κの値を決める前に,測定に用いるトラックは,PEパワー(PE1=

εE1×PWO及びPE2=εE2×PWO)だけを使用して一回照射することによって消去する。 

G.4 

記録パワー窓 

ドライブ実装の,実際の正確性の要求事項に対して幾らかの余裕度を作るために,ディスクは,最適パ

ワー値からの記録パワーのずれ及び経時変化を許容することが望ましい。したがって,次に示す規格を満

たすことを推奨する。 

εBW,εC,εE1及びεE2が15.8.3.3,15.8.3.4又は15.8.3.5に示す公称値で,記録パワーPWが0.85×PWO〜1.1

×PWOの範囲にあり,かつ,PBW=εBW×PW,PC=εC×PW,PE1=εE1×PW及びPE2=εE2×PWを適用した場合

に,ディスクは,0≦n≦1 000で,DOW(n)が全て規格を満たすように記録できることが望ましい。 

background image

185 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書H 
(規定) 

ジッタ測定のためのHF信号の前処理 

H.1 一般 

ディスク上のデータは高密度であり,結果I2pp変調振幅はかなり小さい。光ディスクの読取りシステム

に用いる装置には,次がある。 

a) 従来波形等化器 一般的に,光ディスクの読取りシステムで使う従来波形等化器は,少しの高周波の

強調しかできない。なぜならば,そのような形の波形等化器でもっと高域強調をすると符号間干渉が

更に増え,良いジッタ値が得られないからである。 

b) リミットイコライザ リミットイコライザと呼ばれる波形等化器は非線形の波形等化器だが,符号間

干渉を起こすことなく高周波成分を強調することができる。そのような波形等化器は,スライサに入

れるHF信号の品質の改善ができジッタが小さくなりシステムのマージンが増える。 

この附属書では,従来波形等化器モードとリミットイコライザモードとの切替えができる,HF信号の

前処理の流れ全体を規定する。 

H.2 波形等化器の実装一般 

図H.1の回路は,切替えができる波形等化器及びその周辺回路の実装例を示す。 

A/D

D/A

スライサ

2値
HF 読取り
信号

アナログ゙
HF 読取り
信号

ポスト

LPF

HPF

プリ

LPF

従来の

波形等化器

リミットイコライザ

PLL

TIA

プリアンプ

4分割

フォトディテクタ

図H.1−前処理回路の実装例 

9.5に規定したHF読取りチャネルからのHF信号は,図H.1に示す高域通過フィルタ(HPF)によって

信号処理回路に交流結合される。 

低域通過フィルタ(プリLPF)は,折返しひずみを防ぐために,ナイキスト周波数以上の周波数成分を

除く。 

8ビット以上の分解能のA/Dコンバータによって,チャネルビットレートに同期したクロック信号で,

HF信号をサンプリングする。サンプリングは,チャネルビットのエッジがアイパタンのゼロクロスに相

当するため,チャネルビットの中央で行う(図H.2参照)。 

background image

186 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

サンプリング後に,HF信号は,デジタル的に波形等化される。 

デジタル信号処理の後で,信号は,D/Aコンバータ及びその後の適度な低域通過フィルタ(ポストLPF)

にて変換されアナログ信号に戻る。アナログの波形等化されたHF信号は,スライサによって2値化され

る。 

2値化されたHF信号は,箇条30に規定されたタイムインタバルアナライザ(TIA)を使って,ジッタ

の測定及び箇条34の規定によるシンボルエラー率(SER)の測定に使用される。 

アナログHF読取信号は,箇条30の規定による信号パラメタの決定に使用される。 

サンプリングタイミング

ゼロクロスレベル

図H.2−サンプリングタイミングの規定 

H.3 従来の波形等化回路 

HF信号前処理ユニットが従来波形等化器モードに設定されると,リミットイコライザ回路はオフとな

り,この従来波形等化器回路(図H.3参照)が高域の強調を行う。 

リミットイコライザモードに設定されると,この従来波形等化器回路はプリ波形等化器として機能する。 

従来波形等化器回路は,次の伝達関数をもつ4タップのトランスバーサルフィルタである。 

()

×

×

+

+

×

+

+

=

3

2

1

2

2

1

2

1

2

z

r

z

r

z

r

r

z

H

+

T

T

T

-r

2

-r

2

1+r

2

1+r

2

波形等化器

出力

波形等化器

入力

+

T

T

T

-r

2

-r

2

1+r

2

1+r

2

波形等化器

出力

波形等化器

入力

図H.3−従来波形等化器回路の例 

従来波形等化器モードで,係数rを,次のとおりに設定する。 

r=33/32 (5.8 dB) 

background image

187 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

リミットイコライザモードで,係数rを,次のとおりに設定する。 

r=29/32 (5.0 dB) 

H.4 リミットイコライザ回路 

リミットイコライザ回路は,図H.4に示すとおり,補間器,適応リミッタ,及び高域強調回路で構成さ

れる。 

HF前処理回路が従来波形等化器モードに設定されると,リミットイコライザは,適応リミッタの出力

を0に変えるか又は高域強調部の係数mを0に設定することによって,オフに切替えができる。 

-m

+m

+m

-m

+

+

+

適応リミッタ

T

T

T

T

T

T

T

T

T

補間器

高域強調

-k

2

-k

2

1+k

2

1+k

2

リミットイコライザ

出力

リミットイコライザ

入力

IP(i)

OP(i)

図H.4−リミットイコライザの例 

補間器は,次の伝達関数をもつトランスバーサルフィルタである。 

()

×

×

+

+

×

+

+

=

3

2

1

2

2

1

2

1

2

z

k

z

k

z

k

k

z

H

ここに, 

k: 3/16 

適応リミッタの出力信号OP(i)は,次による。 

− abs[IP(i)]≦Thの場合, 

OP(i)=IP(i) 

− そうでない場合, 

OP(i)=sgn[IP(i)]×Th 

ここに, 

Th: しきい値 

abs (x): 変数xの絶対値 

sgn (x): 変数xの極性(+又は−) 

適応リミッタのしきい値は,IP(i)の各ゼロクロスごとに,次の方法で更新する。 

− sgn[IP(i)] ≠ sgn[IP(i−1)]の場合, 

188 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

n

Th

i

IP

i

IP

c

Th

Th

×

+

=

)]

1

(

)

(

abs[

:

− そうでない場合, 

Th:=Th 

ここに, 

c: 1/2 

n: 256 

高域強調の部分は,次の伝達関数のトランスバーサルフィルタである。 

()

3

2

1

×

×

+

×

+

=

z

m

z

m

z

m

m

z

H

ここに, 

m: 1 

高域強調部分の出力は,適度に遅らせたリミットイコライザの入力信号に加算する。 

H.5 周辺回路の規定 

H.5.1 増幅器及びフィルタ 

HF信号前処理回路ユニットのフィルタの部分は,次による。 

− 交流結合(高域通過フィルタ): 1次,f−3dB=10 kHz 

− プリLPF: 

f−3dB=25 MHz〜33 MHz 

50 MHzを超える周波数の抑圧は,−30 dBよりも小さい 

− ポストLPF: 

f−3dB=30 MHz±3 MHz 

50 MHzを超える周波数の抑圧は,−50 dBよりも小さい 

プリLPFの入力からポストLPFの出力まで(r=33/32に設定した,従来波形等化器モードの波形等化器

及びゼロ次ホールドのD/Aコンバータを含む。)を測定したHF信号前処理回路の周波数特性は,図H.5

に示すものとする。 

(16.5 MHzの利得−0.1 MHzの利得)=5.8 dB±0.5 dB 

background image

189 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

等化器単体特性

全体特性

周波数(MHz)

利得(dB)

等化器単体特性

全体特性

周波数(MHz)

利得(dB)

図H.5−従来波形等化器の周波数特性 

フォトディテクタ,プリアンプ,交流結合,プリLPF,従来波形等化器モード設定の波形等化回路セッ

ト,D/Aコンバータ及びポストLPFの全体の特性は,図H.5に示した特性に対し,3 MHzと22 MHzとの

間で,次に示す範囲に入る。 

− 利得の偏移: 

0.0 dB±1 dB 

− 群遅延の最大変動: 2 ns pp 

H.5.2 PLLの開ループ伝達特性 

PLLの開ループ伝達特性は,図H.6に示すものとする。 

利得

周波数

(dB)

0 dB

8

32

100

(kHz)

−40 dB/decade

−40 dB/decade

−20 dB/decade

図H.6−PLL開ループ伝達関数の図 

background image

190 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

H.5.3 スライサ 

スライサは,−3 dB閉ループ帯域幅が10 kHzの1次の積分帰還形自動スライサとする。スライサの帰

還は,2値出力の平均デューティサイクルを50 %に制御する。 

図H.7に,このようなスライサの例を示す。 

+VS

UO

Ri

Ri

Ui

RO

RO

CO

CO

Ci

図H.7−帰還自動スライサの例 

H.6 測定条件 

ジッタは,箇条9の条件及び附属書Hに規定した追加条件のもとで測定する。 

全てサーボは,固定利得及び次に示すオフセット設定とする。 

a) 半径方向のトラッキングサーボは,記録層上の光スポットの中心がトラックの中心から9 nm以内と

なる直流オフセットを与える。 

b) フォーカスサーボは,対物レンズが,図H.8に示すとおり最適位置Dから最大でも0.03 μm以内とな

るような直流オフセットを与える。最適フォーカス位置Dは,ディスクのボトムジッタの位置に相当

する。 

background image

191 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

フォーカスエラー
電圧
(S-カーブ)

ジッタ

対物レンズとディスクの
距離

最適フォーカス位置

最適距離

D

0.03   m

0.03   m

ボトムジッタ

μ

μ

距離

対物レンズ゙とディスクの

図H.8−最適フォーカスオフセットを含むジッタ曲線及びフォーカスS曲線の例 

H.7 ジッタ測定 

ジッタは,1トラック分を平均する。そして,前エッジと後エッジとを別々に測定する。 

他に規定する場合を除き,ジッタは,全てのラン長のエッジを使って測定する。 

192 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書I 

(規定) 
測定方法 

I.1 

一般 

ディスクの品質を検証するために,この規格に,多くの規定がされている。BD書換形ディスクの品質

を決めるために,必要な測定の再現性を最大化するためにこの附属書に幾つかの測定方法を規定する。 

I.2 

基準ドライブの初期調整 

BD書換形ディスクの評価の前に,基準ドライブを調整する。 

幾つかの項目を調整する。 

初期調整は,ディスクの各測定場所で行う。 

調整順は,次による。 

a) 球面収差 

b) フォーカスオフセット 

c) 半径方向の傾き 

d) 接線方向の傾き 

e) トラッキングサーボ利得(AGCがない場合だけ適用する。) 

f) 

フォーカスサーボ利得 

g) トラッキングオフセット 

h) 自動スライサオフセット(任意) 

上記のa)〜g)の調整の準備として,未記録ディスクに,29.4.3,29.4.4及び29.4.5の規定に従ってランダ

ムデータを11回記録する(ジッタ,クロス消去,及び記録速度違い上書きの,それぞれの準備として)。

そして,基準ドライブの初期設定条件で,a)〜c)の調整を,I8ppが最大になるまで繰り返す。 

次に,記録ディスクを基準速度で読み取り,全てのエッジのジッタが最小になるように,a)〜h)の調整

を繰り返す。全てのエッジのジッタは,PLLクロックに対して測定し,チャネルクロック周期で正規化す

る。ジッタは,トラックジャンプの領域を除き,全ての連続したマーク及びスペースの期間を1回転分測

定する。 

調整手順を,規定した順番でジッタの測定結果が前回よりも良くなることが0.1 %未満となるまで繰り

返す。 

I.3 

ジッタ測定 

ジッタ測定を行うために,測定条件(附属書H参照)を満たす。 

ジッタは,1トラック分を平均化し,前エッジと後エッジとを別々に測定する。 

ほかに規定する場合を除き,ジッタは,全てのラン長のエッジで測定する。 

ジッタ測定を行うために,次の方法を順番に行うのが望ましい。 

a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか

かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。 

b) タイムインタバルアナライザ(TIA)を準備する。TIAの測定窓幅TWを,トラックジャンプ領域を除

193 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

いた1回転に設定する。最小の測定窓幅は,次の式で計算できる。 

005

.0

V

π

2

ref

W

×

×

=

R

T

秒 

ここに, 

Vref: 基準速度 

R: 測定半径 

0.005: トラックジャンプ及びPLLのプルインの時間を表す。 

TIAの取込み回数は,この測定期間を使い,次のとおりに計算できる。 

TIAの取込み回数

9

W

10

51

.

51

×

=

T

ここに, 51.51×10−9: Vrefで1回転中のマーク又はスペースの平均時間を表す。

TIAのトリガ遅延は,各基準ドライブによる。適度な値に設定することが望ましい。 

c) ジッタは,29.5の規定に従って,信号を供給して測定することが望ましい。 

d) 前エッジの測定を行う。 

e) 後エッジの測定を行う。 

I.4 

変調振幅測定 

変調振幅測定を行うためには,測定条件(30.2参照)を満たす。 

I.5 

I2pp / I8pp及びI3pp / I8ppの解像度の測定 

I.5.1 

I2pp及びI8ppの測定方法 

解像度の測定は,29.3.3の規定によって行う。I2ppは,スペクトラムアナライザを使って測定する。I8pp

は,デジタルストレージオシロスコープ(DSO)を使って測定する。スペクトラムアナライザ及びDSO

は,同じHF基準ドライブの出力を測定しケーブル終端を用いる。 

次の測定方法を順番に行う。 

a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか

かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。 

b) I2pp及びI8ppの測定条件 

− スペクトラムアナライザの設定 

− 中心周波数: 

16.5 MHz(2T) 

− スパン: 

500 kHz 

− 分解能帯域幅(RBW): 30 kHz 

− ビデオ帯域幅(VBW): 10 Hz 

− 掃引時間(SWT): 

約5秒 

− ディスク信号 

− 信号: 

I2単一周波数,I8ランダム信号 

− トラック: 

1トラック 

− 測定方法 

− I2ppは,単一周波数信号をスペクトラムアナライザを使って測定する(図I.1参照)。 

− I8ppは,HF信号をデジタルストレージオシロスコープを使って測定する(図119参照)。 

background image

194 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

中心周波数16.5MHz

スパン500kHz

50kHz/

Ref

47dBmV

Att30dB

30kHz
10Hz
5秒

A

SGL

-50

-40

-30

-20

-10

0

10

20

30

40

1

Marker1[T1]

11.21dBmV

16.500000000MHz

分解能帯域幅

ビデオ帯域幅

掃引時間

図I.1−スペクトラムアナライザを用いたI2変調度の測定例 

スペクトラムアナライザで得られる,I2ppの単位はdBmVであり,一方,I8ppはmVの値が得られる。そ

こで,I2pp / I8ppは,次による。 

(

)

(

)

pp

8pp

20

dBmV

8pp

2pp

mV

10

2

2

/

2pp

I

I

I

I

×

=

I.5.2 

I3pp / I8pp,I8pp / I8H及び非対称性の測定方法 

I3pp / I8pp,I8pp / I8H及び非対称性の測定は,29.3.3に規定した条件を適用して行う。 

I3pp / I8pp,I8pp / I8H及び非対称性の測定は,次の方法を順番に行う。 

a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか

かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。 

b) スライサによって2値化したHFデータ信号は,デジタルストレージオシロスコープ(DSO)のトリ

ガ信号として用いる。 

c) I2L,I2H,I3L,I3H,I8L及びI8Hの値を,DSO又はアナログオシロスコープで測定する。 

d) DSOを使う場合,各波形は,周内に均等に分散している1 000回測定分で平均化する。 

e) I3pp / I8ppの値は,次による。 

8L

8H

3L

3H

8pp

3pp/

I

I

I

I

I

I

=

f) I8pp / I8Hの値は,次による。 

8H

8L

8H

8H

8pp/

I

I

I

I

I

=

g) 非対称性の値は,次による。 

background image

195 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

非対称性

8L

8H

2L

2H

8L

8H

2

2

I

I

I

I

I

I

+

+

=

I.6 

トラッキングエラー信号測定(PPnorm測定方法) 

PPnormの測定は,25.3.3及び25.4に規定した信号を使って行う。 

PPnorm信号は,ディスク1回転中にDSOでサンプリングされる。測定は,図I.2の測定領域として示し

た場所で測定する。 

PPnorm信号は,ディスク1回転中少なくとも15波は出現するようにする。 

基準ドライブの調整は,フォーカスオフセット及び球面収差の調整(記録トラックのI8ppの振幅が最大

になるようにする。)の後に,PPnorm,recを測定する。 

次のステップとしてPPnorm,rec測定で得られたのと同じフォーカスオフセット及び球面収差の設定条件で,

未記録トラックでPPnorm,unrecを測定する。 

PPnormの値の測定は,次の方法を順番に用いることが望ましい。 

a) 基準ドライブを,半径方向トラッキングオープンモード(フォーカスサーボオンで,半径方向サーボ

オフ。)にする。 

b) DSOのトリガに,1回転パルス(PPR)を使い1回転分のPPnorm信号を表示する。 

c) 10トラック連続の,PPnorm振幅を決める(例えば,図I.2の測定領域1)。 

d) 得られた10個の値の平均をとる。 

e) c)で測定した場所の反対側(トリガをディスク1回転の半分遅らせる。)に位置する,10トラック連

続のPPnorm振幅を決める(例えば,図I.2に示す測定領域2)。 

f) 

得られた10個の値の平均をとる。 

g) d)及びf)の二つの値の平均をとる。 

h) b)で得られたPPnorm信号の最大値及び最小値を決める。 

0.025

0.015

0

0.020

0.005

0.010

t(秒)

測定領域1

測定領域2

−30

−10

−20

0

10

20

30

(V

図I.2−PP測定領域の指示 

196 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

I.7 

軸方向トラッキングの残留エラー測定方法 

軸方向トラッキングの残留エラー測定は,11.4に規定したフィルタを通したフォーカスエラー信号を使

って行う。測定を行う前に,信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を

超える場合は,欠陥部の測定を避けるために,信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位

置を動かす。 

次に示す方法を,軸方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。 

a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか

かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。 

b) 9.10に規定したとおりに,軸方向のトラッキング基準サーボの軸方向サーボ特性を調整する。 

c) 11.4に規定した特性のフィルタを準備する。 

d) 次の手順で,ピーク値を測定する。 

− フィルタをLPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。 

カットオフ周波数:1.6 kHz 

− トラックジャンプ領域を除き,1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。

得られた10個の値を平均化する。 

e) ノイズの実効値を,次に示す方法で測定する。 

− フィルタをBPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。 

カットオフ周波数:1.6 kHz & 10 kHz 

− 1回転分のエラー信号波形を表示する。 

− ノイズの実効値を,トラックジャンプ領域を除き,DSOの機能(積分時間20 msとする。)を使っ

て測定する。 

注記 この値は,他の測定器でも測定できる。 

I.8 

半径方向トラッキング残留エラーの測定方法 

半径方向トラッキングの,残留エラー測定は,11.5に規定したフィルタを通した半径方向エラー信号を

使って行う。測定を行う前に信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を

超える場合は,欠陥部の測定を避けるために,信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位

置を動かす。 

次に示す方法を,半径方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。 

a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか

かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。 

b) 9.11に規定したように,半径方向のトラッキング基準サーボの半径方向サーボ特性を調整する。 

c) 11.5に規定した特性のフィルタを準備する。 

d) 次の手順で,ピーク値を測定する。 

− フィルタをLPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。 

カットオフ周波数:1.8 kHz 

− トラックジャンプ領域を除き,1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。

得られた10個の値を平均化する。 

e) ノイズの実効値を,次に示す方法で測定する。 

− フィルタをBPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。 

197 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

カットオフ周波数:1.8 kHz & 10 kHz 

− 1回転分のエラー信号波形を表示する。 

− ノイズの実効値を,トラックジャンプ領域を除き,DSOの機能(積分時間は20 msとする。)を使

って測定する。 

注記 この値は,他の測定器でも測定できる。 

I.9 

ランダムSER測定 

測定条件は,33.4に規定されている。 

background image

198 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書J 

(参考) 

複屈折の測定 

J.1 

測定の原理 

複屈折の測定には,偏光平行光が使用される。位相遅延は,反射光の偏光のだ円率を見ることによって

測定される。 

この規格では,複屈折を測定する特定の装置の指定はしないが,図J.1に例示する装置は,この測定に

適している。 

入力するレーザ光の二つの偏光の方位は,既知であると仮定する。 

透過積層中でのレーザ光の入射角は,θとする。この角度は,空気中でのレーザ光の入射角θ0と,次の

関係式で表される。 

n×sin(θ)=sin(θ0) 

ここに, 

n: 平均の(面方向の)屈折率 

ディスク

1/4 波長板

偏光子

レーザ

回転アナライザ

コリメータレンズ

フォトディテクタ

図J.1−複屈折を測定する装置の例 

J.2 

測定条件 

上記に規定した複屈折の測定は,次の条件で測定することが望ましい。 

− 測定モード: 

反射で透過積層を通過するダブルパス 

− レーザビームの波長(λ): 405 nm±10 nm 

− ビーム半径(FWHM): 

1.0 mm±0.2 mm 

− 入射角θ0: 

25°〜60° 

− ディスク設置方向: 

水平方向 

− 温度及び相対湿度: 

8.1.1の規定による 

199 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

J.3 

測定方法の例 

複屈折の測定を行うためには,測定条件(J.2参照)が満たされている。 

複屈折の測定方法 

次に示す方法によって,複屈折が,ディスクの透過積層の中では均一であるという仮定のもとに,平面

方向複屈折Δn//及び垂直方向複屈折Δn⊥を明確に決めることができる。さらに,複屈折Δn//及びΔn⊥の絶対

値は,1よりも十分小さいと仮定する。 

a) アナライザを,入力光のs偏光軸又はp偏光軸に平行に合わせる。1/4波長板を通過した光が,直線偏

光となるように合わせる。 

b) ディスクを,表面に垂直な軸の周りに,アナライザを通過した光が最小又は最大となるように回転す

る。 

c) この位置から,ディスクを45°回す。1/4波長板を45°回す。 

d) アナライザ通過光が,再び最小又は最大となるように回転する。アナライザの回転角の変化幅Δφを,

記録する(ラジアンで)。最小の通過Tmin及び最大の通過Tmaxを記録する。 

e) 位相遅れRを得るために,次の式を計算する。 

+

×

=

min

max

min

max

arcsin

π

4

T

T

T

T

λ

R

f) 

次の二つの式の中で,Rの値をΔφ及びθと組み合わせ,Δn//及びΔn⊥の値を,得る。 

(

)

φ

d

R

n

Δ

2

cos

Δ

//

×

×

=

()()

(

)

φ

θ

θ

d

R

n

Δ

2

sin

sin

cos

Δ

2

×

×

×

=

ここに, 

d: 透過積層の厚さ 

入射角は,平行方向及び垂直方向の両方の複屈折が正確に測定できるように選ぶことが望ましい。適し

た値は,Δn//及びΔn⊥の比による。 

J.4 

測定結果の互換性 

J.2の測定条件を基にしている場合は,他の種々の測定方法が可能であり使ってもよい。測定結果の互換

性を保証するために,次に示す影響を考慮することが望ましい。 

反射光の解析の際,カバー層の表面による反射光を考慮に入れる。 

表面による反射光の直接の影響を別にしても,表面の反射光及び記録層の反射光の干渉に起因する全反

射光の変動が起こる可能性がある。この反射光の変動が顕著なのは,ディスクのカバー層が非常に正確に

平たんであり,かつ,光源のコヒーレンスが高い場合だけである。 

background image

200 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書K 

(参考) 

カバー層及びスペーサ層の厚さの測定 

K.1 フォーカス方法 

レーザ光は,対物レンズによってカバー層の表面から各記録層へと順番に焦点を合わす。カバー層及び

スペーサ層の厚さは,レンズの動きを測定することによって決めることができる。図K.1は,この方法で

ディスクの測定をする例を図示している。 

カバー層
L1層
スペーサ層
L0層
基板

d1

d2

図K.1−カバー層及びスペーサ層の厚さの測定例 

上記規定した,カバー層及びスペーサ層の厚さの測定は,次に示す条件で行うことが望ましい。 

− レーザビームの波長: 405 nm±5 nm 

− 試験環境: 

8.1.1の規定による。 

測定器によって,レンズの移動距離が各層の厚さd1及びd2に変換できる。 

この測定では,フォーカスシステムの引込み範囲の幅は,スペーサ層の厚さよりも十分短くすることが

望ましい。 

K.2 干渉計方法 

この方法では,波長の変化可能な光源が使用される。反射光の強度は,次のパラメタ:厚さ,屈折率及

び波長によって変わる。 

反射光の干渉パタンを測定した標準的な例を,図K.2に示す。 

560580600620640660680700720740760780800820840860880900

0

100

200

300

400

500

波長,

(nm)

F

F

T

強度

(a

rb

.)

λ

図K.2−反射光強度の例 

background image

201 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

この波形から開始し,層の厚さは,高速フーリエ変換(FFT)の手法を使って得ることができる。しか

し,屈折率は,波長の関数であるためFFTで,次に示す方法を行うことが望ましい。 

最初に,波長空間は,波長の逆数及び波長依存の屈折率の積に変換される。この変換した結果の波形を,

図K.3に示す。ここに,横軸はn(λ)/2λに変換されている。 

0.9

1.0

1.1

1.2

1.3

1.4

0

100

200

300

400

500

n()/2

( ×106m-1)

F

F

T

 強

(a

rb

.)

λλ

図K.3−反射光強度の例 

FFT法を使い,この変換した波形は,図K.4に示すとおり,厚さの空間の干渉空間へ変換できる。横軸

は,干渉距離の値を示している。d1及びd2の位置は光強度がピークになる場所で,それぞれスペーサ層及

びカバー層の厚さを示している。 

0

20

40

60

80

100

120

0

50

100

d2

d1

F

F

T

 強

(a

rb

.)

干渉距離, d(

m)

μ

図K.4−反射光強度のFFTの例 

それによって,スペーサ層の厚さ=d1かつカバー層の厚さ=d2となる。 

注記 スペーサ層の厚さを得るために,スペーサ層の屈折率n1(λ)を用いる必要があり,カバー層の厚

さを得るために,カバー層の屈折率n2(λ)を用いる必要がある。 

この方法は,層の厚さが薄めの場合,特にフォーカス方法で二つの層の表面の区別が難しい場合に,正

確に厚さを測定することに向いている。 

202 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書L 

(参考) 

カバー層の衝突耐久性の測定 

L.1 

一般 

BD書換形ディスクシステム構成は,次の特徴がある。 

− ディスクに入射するレーザのスポットサイズは,以前の光記録システムのものよりも小さい。 

− レンズの自由作動距離(FWD)は,前の光記録システムのものよりも短い。 

L.2 

ドライブの推奨 

L.1の両方の結果から,光学ピックアップユニットの先端とディスクとの機械的接触の危険性及び実際

に衝突することが増えた。そこで,ドライブはディスクに衝突した後でも,SER(33.4参照)が許容限度

内にあるようなレンズ及びディスクを保護する十分な手段をもつことが望ましい。そこで,バンパ(例え

ば,衝撃ダンパ)をOPUの先端に付けるのが推奨される。このバンパは,円柱状の形でもよく,ポリマ,

ポリオキシメチレン(POM)のようなポリマ化合物で作ることができる。 

L.3 

カバー層の衝突耐久性の測定 

さらに,ディスクの入射面は,十分な衝突耐久性をもつことが望ましい。衝突耐久性は,保護コートに

よって改善できる。 

次に示す試験は,ディスクの入射面の衝突耐久性が十分かどうか検証する。 

球面形状のピン(図L.1参照)が,ディスクに対しピンを当てることができる機械装置の先端に装着さ

れる。ピンは,回転するディスクを規定の衝撃で打つ。 

R

図L.1−標準的ピン形状 

試験開始前は,次のとおりに確認する。 

ディスクに,任意のデータを記録する。半径24.5 mmから25.5 mmまでの全てのデータエラーが,箇条

31及び34.1の規定を満たすことを検証する。 

バンパ及びディスク入射面がきれいであることを確認する。 

試験条件は,次による。 

− ピンの材料: 

ポリオキシメチレン(POM:自然グレード,成形ピース) 

− ピンの半径: 

先端:球形で半径R=1.0 mm 

− 表面の最大粗さ: 

0.1 μm(山から谷まで) 

− 可動部質量(ピン及びピン保持部): (0.5±0.1)グラム 

203 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

− 衝突直前速度: 

(0.20±0.05) m/s 

− ディスクの線速度: 

5.0 m/s 

− テスト領域半径: 

(25.0±0.2) mm 

− 衝突回数: 

1回 

− 環境: 

8.1.1に規定した全ての動作条件 

試験の後の結果は,次による。 

ディスクの関係した領域で生じたエラーは,いずれのLDCブロックのSER(33.4参照)も 4.2×10−3

未満を満たすことが望ましい。 

204 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

附属書M 

(参考) 

グルーブ偏移及びウォブル振幅 

M.1 正規化ウォブル信号及びウォブル振幅の関係 

nm単位のウォブル振幅を直接測定することは,簡単にはできない。しかし,正規化ウォブル信号から,

求めることができる。このように求めた誘導の近似式を,次に示す。 

ウォブル信号のピーク値IWは,次のとおりに表すことができる。 

×

×

×

=

p

Wp

π

2

sin

T

a

A

I

ここに, 

a: nm単位のウォブル振幅 

Tp: 半径方向エラー信号のトラックピッチ 

A: 半径方向エラー信号のピーク値 

図M.1に,パラメタa,Tp,A及びIWpが示される。トラックの平均中心は,“O”点にとられる。トラ

ックは,トラックの平均中心から実際のトラック中心までピーク偏移“a”(ウォブル振幅)となる。正規

化ウォブル信号は,それらを用いて,次による。 

(

)

×

×

=

×

×

=

p

Wp

pp

2

1

Wpp

π

2

sin

2

2

T

a

A

I

I

I

I

          ここに, 

 (I1−I2)pp=2×A 

ウォブル信号IWは,ウォブル振幅aだけではなく,トラックピッチTpにも依存する。 

正規化によってグルーブ構造及びスポット形状並びに光学収差要因を除く。 

M.2 正規化ウォブル信号の許容値 

M.1の正規化ウォブル信号の式によって,27.3の許容値は,与えられたトラックピッチTp=0.32 μmで

のnm単位のウォブル振幅に変換できる。 

− 下限: 0.20は,10 nmに相当する。 

− 上限: 0.55は,30 nmに相当する。 

background image

205 

X 6232:2017 (ISO/IEC 30192:2017) 

O

A

Tp

IWp

ランド

グルーブ

ランド

半径方向

a

平均の
トラック中心

実際の
トラック中心

ウォブル振幅

接線方向

半径方向
エラー信号

図M.1−グルーブ上のウォブル信号生成 

参考文献 

[1] ASTM D1044:2005,Standard Test Method for Resistance of Transparent Plastic to Surface Abrasion. 

American Society for Testing and Materials