JISX6144:2000 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，ＤＡ

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

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序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

2.1 カートリッジ ················································································································ 1

2.2 書込み装置 ··················································································································· 1

2.3 読取り装置 ··················································································································· 1

3. 引用規格 ························································································································ 2

4. 定義 ······························································································································ 2

4.1 交流消去 ······················································································································ 2

4.2 アルゴリズム ················································································································ 2

4.3 追記録点 ······················································································································ 2

4.4 平均信号振幅 ················································································································ 2

4.5 アジマス ······················································································································ 2

4.6 裏面 ···························································································································· 2

4.7 ビットセル ··················································································································· 2

4.8 バイト ························································································································· 2

4.9 カートリッジ ················································································································ 2

4.10 ···································································································································· 2

4.11 クラスタ ····················································································································· 2

4.12 巡回冗長検査文字 ········································································································· 2

4.13 ディジタルサムバリエーション ······················································································· 2

4.14 誤り訂正符号 ··············································································································· 2

4.15 ファイルマーク ············································································································ 2

4.16 磁束反転間隔 ··············································································································· 2

4.17 LBOP ························································································································· 2

4.18 論理ブロック ··············································································································· 2

4.19 磁気テープ ·················································································································· 2

4.20 主基準テー ·················································································································· 3

4.21 パーティション ············································································································ 3

4.22 PBOP ························································································································· 3

4.23 PBOT ························································································································· 3

4.24 PEOP·························································································································· 3

4.25 PEOT ························································································································· 3

4.26 記録密度 ····················································································································· 3

4.27 リードバックチェック ··································································································· 3

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4.28 基準磁界 ····················································································································· 3

4.29 二次基準テープ ············································································································ 3

4.30 セットマーク ··············································································································· 3

4.31 標準信号振幅 ··············································································································· 3

4.32 基準電流 ····················································································································· 3

4.33 テープ基準縁 ··············································································································· 3

4.34 試験記録電流 ··············································································································· 3

4.35 トラック ····················································································································· 3

4.36 ティピカル磁界 ············································································································ 3

5. 表記法 ··························································································································· 3

5.1 数字の表現 ··················································································································· 3

5.2 エンティティの名称 ······································································································· 4

5.3 予備フィールド ············································································································· 4

6. 略号 ······························································································································ 4

7. 環境条件及び安全性 ········································································································· 4

7.1 試験環境条件 ················································································································ 4

7.2 使用環境条件 ················································································································ 4

7.3 保存環境条件 ················································································································ 5

7.4 輸送 ···························································································································· 5

7.5 安全性 ························································································································· 5

7.6 難燃性 ························································································································· 5

8. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 5

8.1 概要 ···························································································································· 5

8.2 全体の寸法（図5及び図6） ···························································································· 6

8.3 保持領域 ······················································································································ 6

8.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 6

8.5 窓（図1） ···················································································································· 7

8.6 ローディンググリップ（図5及び図7） ············································································· 7

8.7 ラベル領域（図6及び図8） ···························································································· 7

8.8 基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11） ····································································· 8

8.9 支持領域（図9） ··········································································································· 8

8.10 識別孔（図10，図11及び図12） ···················································································· 9

8.11 書込み禁止孔（図11及び図12） ···················································································· 10

8.12 位置決め面（図4及び図10） ························································································ 10

8.13 リッド（図6及び図13） ······························································································ 10

8.14 リールロック（図16） ································································································· 11

8.15 リール受け孔（図10） ································································································· 12

8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ············································································· 12

8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21）···································································· 13

8.18 ケース内のテープの位置（図21） ·················································································· 14

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8.19 テープ走行領域（図21） ······························································································ 14

8.20 テープ引出し開口部（図10） ························································································ 14

8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24）···································································· 14

9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 28

9.1 材料 ··························································································································· 28

9.2 テープの長さ ··············································································································· 29

9.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 29

9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 29

9.2.3 スプライシングテープの長さ ························································································ 29

9.3 テープの幅 ·················································································································· 29

9.3.1 磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 ··························································· 29

9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置 ··············································································· 29

9.4 連続性 ························································································································ 29

9.5 テープの厚さ ··············································································································· 29

9.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 29

9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 29

9.5.3 スプライシングテープの厚さ ························································································ 29

9.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 29

9.7 カッピング ·················································································································· 29

9.8 磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度 ············································································ 30

9.9 層間の粘着 ·················································································································· 30

9.10 引張強度 ···················································································································· 30

9.10.1 破断強度 ·················································································································· 30

9.10.2 降伏強度 ·················································································································· 30

9.11 残留伸び ···················································································································· 30

9.12 磁性面の電気抵抗 ········································································································ 30

9.13 テープの巻き方 ··········································································································· 31

9.14 テープの光透過率 ········································································································ 31

9.15 媒体識別システム (MRS) ······························································································ 31

10 磁気的特性 ··················································································································· 32

10.1 試験条件 ···················································································································· 32

10.2 ティピカル磁界 ··········································································································· 32

10.3 平均信号振幅 ·············································································································· 32

10.4 分解能 ······················································································································· 32

10.5 狭帯域の信号対雑音比 (NB−SNR) ·················································································· 32

10.6 消去特性 ···················································································································· 33

10.7 テープの品質 ·············································································································· 33

10.7.1 ミッシングパルス ······································································································ 33

10.7.2 ミッシングパルスゾーン ····························································································· 33

10.7.3 重ね書き ·················································································································· 33

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11. フォーマット················································································································ 33

11.1 概要 ·························································································································· 33

11.2 物理ブロックのフォーマット ························································································· 35

11.2.1 概要 ························································································································ 35

11.2.2 共通ヘッダフィールド ································································································ 36

11.2.3 データブロック ········································································································· 37

11.2.4 消去ブロック ············································································································ 38

11.2.5 診断ブロック ············································································································ 38

11.2.6 PBOPブロック·········································································································· 38

11.2.7 ロングファイルマークブロック ···················································································· 39

11.2.8 ショートファイルマークブロック ················································································· 39

11.2.9 LBOPブロック ········································································································· 39

11.2.10 セットマークブロック ······························································································ 41

11.2.11 ギャップブロック ···································································································· 41

11.2.12 EODブロック ········································································································· 41

11.2.13 記録パターン ·········································································································· 42

11.3 サーチフィールドフォーマット ······················································································ 43

11.3.1 サーチフィールドデータ ····························································································· 43

11.3.2 サーチフィールドECC ······························································································· 44

11.3.3 サーチフィールド記録パターン ···················································································· 44

11.4 サーボ領域 ················································································································· 45

11.5 トラックの配置 ··········································································································· 45

12. 記録方式 ····················································································································· 47

12.1 記録密度 ···················································································································· 47

12.1.1 長周期平均ビットセル長 ····························································································· 47

12.1.2 短周期平均ビットセル長 ····························································································· 47

12.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 ················································································· 47

12.2 ビットシフト ·············································································································· 47

12.3 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 47

13. トラックの構成 ············································································································ 47

13.1 概要 ·························································································································· 47

13.2 平均トラック間隔 ········································································································ 48

13.3 トラック間隔の変化 ····································································································· 48

13.4 トラック幅 ················································································································· 48

13.5 トラック角 ················································································································· 48

13.6 トラック長 ················································································································· 48

13.7 ガードバンド ·············································································································· 48

13.8 アジマス角 ················································································································· 48

13.9 トラックエッジの直線性 ······························································································· 48

14. テープの構成 ··············································································································· 48

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998) 目次

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

14.1 概要 ·························································································································· 49

14.2 テープ履歴ログ (THL) ·································································································· 49

14.3 PBOP ························································································································ 49

14.4 LBOP ························································································································ 50

14.5 データ領域 ················································································································· 50

14.5.1 概要 ························································································································ 50

14.5.2 ショートファイルマーク ····························································································· 50

14.5.3 ロングファイルマーク ································································································ 50

14.5.4 セットマーク ············································································································ 50

14.6 EOD ·························································································································· 50

14.7 PEOP························································································································· 50

附属書A（規定）テープの光透過率の測定法·········································································· 51

附属書B（規定）ビットシフトの測定法 ················································································ 53

附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換 ·············································· 55

附属書D（規定）データ領域のCRCの生成 ··········································································· 63

附属書E（規定） ECCの生成 ······························································································ 64

附属書F（規定）論理ブロックのCRCの生成········································································· 66

附属書G（規定）ハミングコードECCの生成 ········································································ 67

附属書H（規定）サーチフィールドのCRCの生成 ·································································· 68

附属書J（規定）乱数化 ····································································································· 69

附属書K（参考）輸送条件 ································································································· 70

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6144 : 2000

(ISO/IEC 15757 : 1998)

8mm幅，ヘリカル走査記録，

情報交換用

磁気テープカートリッジ，DA-2様式

8mm widemagnetic tape cartridge for information interchange−

Helical scan recording−DA-2 format

序文この規格は，1998年に第1版として発行されたISO/IEC 15757, Information technology−Data

interchange on 8mm widemagnetic tape cartridge−Helical scan recording−DA-2 formatを翻訳し，技術的内容及

び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

この規格に記載のIEC規格番号は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものである。

これより前に発行された規格については，規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切り替え

る。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一である。

1. 適用範囲この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い

る8mm幅，ヘリカル走査記録，DA-2 (Dual Azimuth-2) 様式，磁気テープカートリッジ（以下，カートリ

ッジという。）の構造，寸法，物理的特性，機械的特性，磁気的特性及び情報の規格様式について規定する。

この規格は，情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる

ことでシステム相互の情報交換に適用する。

備考この規格の対応国際規格を次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

ISO/IEC 15757 : 1998 Information technology−Data interchange on 8mm wide magnetic tape

cartridge−Helical scan recording−DA-2 format (IDT)

2. 適合性

2.1

カートリッジカートリッジは，この規格のすべてを満足するとき，この規格に適合する。

2.2

書込み装置情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は，テープに書き込むすべての記録がこ

の規格に適合するとき，この規格に適合する。

適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示する。

− 登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。

2.3

読取り装置情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は，この規格に適合するテープ上の記録

を処理でき，次の機能をもつとき，この規格に適合する。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し，ホストが利用できる登録番号を取り出す。

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は，記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・

追補には，適用しない。

JIS K 7161 : 1994 プラスチック−引張特性の試験方法第1部：通則

備考 ISO 527-1 : 1993 Plastics−Determination of tensile properties−Part 1：General principlesが，こ

の規格と一致している。

ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings

ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

IEC 60950 : 1996 Safety of information technology equipment

4. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

4.1

交流消去 (a.c.erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

アルゴリズム (algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。

4.3

追記録点 (append point) ロングファイルマーク，セットマーク又はデータの終端，EODに先行し，

論理ブロックを含む最後のトラック対と2個のギャップストライプに続く最初のトラックにある最初の物

理ブロック。

4.4

平均信号振幅 (average signal amplitude) 規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ

ルスのない部分を3 000回以上の磁束反転にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。

4.5

アジマス (azimuth) 磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.6

裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.7

ビットセル (bit cell) トラックに記録するデータの1ビットの領域。

4.8

バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。

4.9

カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.10 チャネルビット (channel bit) 8ビットから10ビットに変換後のビット。

4.11 クラスタ (cluster) 同種のブロックで連続するブロック群。

4.12 巡回冗長検査文字 [cyclic redundancy check (CRC) character] 誤り検出のために巡回符号として用

いる16ビットの文字。

4.13 ディジタルサムバリエーション [digital sum variation (DSV)] 各トラックの最初からチャネルビッ

ト “1” を＋1として “0” を−1とした総和。

4.14 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC)] 誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.15 ファイルマーク (filemark) ファイルを分離するため，又はスプライスポイントを示すためテープ

上に記録するマーク。ロングファイルマーク及びショートファイルマークがある。

4.16 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。

4.17 LBOP (logical beginning of partition) パーティション内でのデータの記録開始位置。

4.18 論理ブロック (logical block) 情報の単位として扱うデータ，ファイルマーク又はセットマーク。

4.19 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.20 主基準テープ (master standard reference tape) 基準磁界，信号振幅，分解能及び重ね書きの標準と

して用いるテープ。

参考この主基準テープは，Pericomp社によって管理されている。

4.21 パーティション (partition) データを記録するためのテープの長さ方向の分割。テープを短い領域

に分割するために使う。

4.22 PBOP (physical beginning of partition) パーティションのテープの長さ方向の始端。

4.23 PBOT (physical beginning of tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.24 PEOP (physical end of partition) パーティションのテープの長さ方向の終端。

4.25 PEOT (physical end of tape) テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.26 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm) 。

4.27 リードバックチェック [read back check (RBC)] 書込み中にデータの読取り誤りの有無の検査。

4.28 基準磁界 (reference field) 主基準テープのティピカル磁界。

4.29 二次基準テープ [secondary standard reference tape (SSRT)] テープの基準磁界，信号振幅，分解能及

び重ね書きを主基準テープのそれと比較するために用い，その特性値と主基準テープの特性との偏差を明

示して，実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと主基準テープとの特性の比較を行

うことを可能にするテープ。

参考二次基準テープは，Pericomp社 (14 Huron Drive, Natick, MA 01760 USA) が部品番号

SSRT/M.AME/PC 97で1998年から10年間供給する。

4.30 セットマーク (set mark) データセットを分離するため，又はスプライスポイントを示すためテー

プ上に記録するマーク。

4.31 標準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] 記録密度3 819ftpmmの信号を試験記録電流で記

録したときの主基準テープの平均信号振幅。

4.32 基準電流 [standard reference current (Ir)] 基準磁界を発生させる記録電流。

4.33 テープ基準縁 (tape reference edge) リールが左側になるようにテープの記録面から見たときのテ

ープの下端。

4.34 試験記録電流 [test recording current (TRC)] 基準電流の1.5倍の電流。

4.35 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.36 ティピカル磁界 (typical field) 記録密度3 819ftpmmで記録して，再生したとき，その平均信号振

幅が最大値の90%を示す最小の印加磁界。

5. 表記法

5.1

数字の表現測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち，規定値が1.26，

正の許容誤差が0.01，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未満を許容する。

16進数は，丸括弧に数字及び英文字で表す。

ビットの設定は， “0” 又は “1” で表す。

ビットパターン及び2進数表現の数字は， “0” 又は “1” の列で表す。

ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。

2進数の負の表現は，2の補数で表す。

各フィールド内では，データバイト0を最上位バイトとし，最初に記録する。各バイト内では，最上位

ビット（8ビットバイトのビット7）を最初に記録する。この順序は，特に規定がない限り，誤り検出符号

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

及び誤り訂正符号の入出力にも適用する。

5.2

エンティティの名称エンティティの名称は，この規格では規定しない。

5.3

予備フィールド resvで示すフィールドは将来の拡張の際に使用し，フィールド内の全ビットは “0”

とする。

6. 略号略号を次に示す。

BID

ブロックID (block identifier)

CRC

巡回冗長検査 (cyclic redundancy check)

ECC

誤り訂正符号 (error correcting code)

EOD

EOD (end of data)

FID

フィールドID (field identifier)

LBOP

LBOP (logical beginning of partition)

lsb

最下位ビット (least significant bit)

LSB

最下位バイト (least significant byte)

LID

論理ブロックID (logical block identifier)

msb

最上位ビット (most significant bit)

MSB

最上位バイト (most significant byte)

PBOP

PBOP (physical beginning of partition)

PEOP

PEOP (physical end of partition)

PBOT

PBOT (physical beginning of tape)

PEOT

PEOT (physical end of tape)

PID

物理ID (physical identifier)

RBC

リードバックチェック (read back check)

SID

ストリームID (stream identifier)

SMID

セットマークID (setmark identifier)

SRA

標準信号振幅 (standard reference amplitude)

SSRT

二次基準テープ (secondary standard reference tape)

TRC

試験記録電流 (test recording current)

7. 環境条件及び安全性次に規定する条件は，カートリッジ近傍の環境条件とする。カートリッジをこ

れらの規定を超えた環境に放置した場合，永久的な損傷を与えることがある。

7.1

試験環境条件試験環境条件は，規定がない限り次による。

温度

23℃±2℃

相対湿度

40%〜60%

試験前放置時間

24時間

7.2

使用環境条件使用環境条件は，次による。

温度

5℃〜45℃

相対湿度

20%〜80%

湿球温度

26℃以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

カートリッジ近傍の平均温度は，45℃を超えてはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上，又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用する。

7.3

保存環境条件保存環境条件は，次による。

温度

5℃〜32℃

相対湿度

20%〜60%

周辺磁界は，テープ上で4 000A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては

ならない。

7.4

輸送カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Kによ

る。

7.5

安全性カートリッジ及びその構成部品は，IEC 60950の要求を満たさなければならない。

7.6

難燃性カートリッジ及びその構成部品の材料は，IEC 60950に規定されたHB材，又は同等以上に

適合したものでなければならない。

8. ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要カートリッジは，次の構成要素からなる。

− ケース

− 識別孔

− 書込み禁止機構

− 磁気テープを巻いた一対のリール

− リールロック機構

構成要素の寸法の規定は，情報交換のための要求事項とする。具体図は，次による。

図1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図3 基準面X，基準面Y及び基準面Z

図4 リッドが閉じた状態の前面

図5 リッドが閉じた状態の左側面

図6 リッドが閉じた状態の上面

図7 リッドが閉じた状態の右側面

図8 リッドが閉じた状態の背面

図9 底面，基準領域及び支持領域

図10 リッドがない状態の底面

図11 基準孔及び識別孔の詳細図

図12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図13 リッドの詳細図

図14 リッドロック解除機構の挿入経路

図15 リッドロック解除機構

図16 リールロック解除機構

図17 リールロックの解除に必要な力の方向

図18 リッドのロック解除に必要な力の方向

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図19 リッドを開けるために必要な力の方向

図20 光通過経路及び光通過窓

図21 内部のテープ通過経路及び光通過経路

図22 リールの外観及び断面図

図23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

図24 テープ引出し開口部

寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図3参照）。

基準面Xは，基準孔A及び基準孔Bの中心を通り，基準面Zに垂直とする。

基準面Yは，基準孔Aの中心を通り，基準面X及び基準面Zに垂直とする。

基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，基準面Z内とする。

8.2

全体の寸法（図5及び図6）ケースの長さは，次による。

l1＝62.5mm±0.3mm

ケースの幅は，次による。

l2＝95.0mm±0.2mm

ケースの上面から基準面Zまでの長さは，次による。

l3＝15.0mm±0.2mm

背面から基準面Xまでの長さは，次による。

l4＝47.35mm±0.15mm

右側面から基準面Yまでの長さは，次による。

l5＝13.0mm±0.1mm

8.3

保持領域カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の斜線の領域とする。

基準面Xから保持領域までの長さは，次による。

l6≦12.0mm

ケースの端からの幅は，次による。

l7≧3.0mm

8.4

カートリッジ挿入部カートリッジ挿入部は，誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ

ために，溝，切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は，リッドが閉じてロックした状態のとき，ロック解除を可能にするために，リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面Yからの長さは，次による（図4及び図14参照）。

l8＝79.7mm±0.2mm

溝の端部の面取りは，次による。

l9＝1.0mm±0.1mm

l16＝1.5mm±0.1mm

溝の内部の面取りは，次による。

l10＝0.7mm±0.1mm

l17＝1.0mm±0.1mm

l18＝3.8mm±0.1mm

溝の内部の幅は，次による。

l11≧1.0mm

リッドの厚さは，次による。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l12＝1.2mm±0.1mm

リッドの面取りは，次による。

l13＝0.8mm±0.1mm

l14＝1.2mm±0.1mm

リッドのケースからの突出は，次による。

l15＝0.5mm±0.1mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは，次による。

l19＝0.2mm±0.2mm

挿入領域の高さは，次による。

l20≧2.3mm

l21＝2.5mm

mm
mm

2.00.0

+−

切込みは，カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は，次による（図5，図7及び図10参照）。

l22≦7.5mm

l23＝11.0mm±0.2mm

l24＝1.5mm±0.1mm

切込みの深さは，次による。

l25＝1.5mm±0.1mm

こう配面は，リッドの構造の一部とし，基準面Xからの長さは，次による［図13a)参照］。

l26＝7.7mm

mm
mm

0.05.2

+−

こう配面の角度は，次による。

a1＝20°±1°

8.5

窓（図1）窓は，リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合，カ

ートリッジの高さを超えてはならない。

8.6

ローディンググリップ（図5及び図7）ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジ

を自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面Xからの長さは，次による。

l28＝39.35mm±0.20mm

ローディンググリップの基準面Z及びカートリッジ上面からの長さは，次による。

l29＝1.5mm±0.1mm

ローディンググリップのくぼみの幅は，次による。

l30＝5.0mm±0.3mm

ローディンググリップのくぼみの深さは，次による。

l31＝2.0mm±0.2mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は，次による。

a2＝90°±5°

8.7

ラベル領域（図6及び図8）ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は，カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域はl6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。

l32≧0.5mm

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l33≧1.5mm

l34≦80.0mm

ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。

8.8

基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11）環状の基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，

基準面Z上に設け，磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径d1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔A及び基準孔Bの中心は，基準面X上とする。

円形の基準孔Aの中心は，基準面X及び基準面Yの交線とする（図10参照）。

基準孔Bの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図9参照）。

l35＝68.0mm±0.1mm

円形の基準孔Cの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。

l36＝10.20mm±0.05mm

基準孔Dの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。

l37＝79.2mm±0.2mm

基準孔C及び基準孔Dの中心から基準面Xまでの長さは，次による（図10参照）。

l38＝36.35mm±0.08mm

基準領域のケースの厚さは，次による。

l39＝1.2mm±0.1mm

基準孔A及び基準孔Cの深部の直径は，次による。

l40≧2.6mm

基準孔の深さは，次による。

l42≧4.0mm

基準孔A及び基準孔Cの開口部付近の直径は，次による。

l44＝3.00mm

mm
mm

.000
.0

+−

基準孔A及び基準孔Cの直径がl44となる部分の深さは，次による。

l41≧1.5mm

基準孔A及び基準孔Cの開口部の面取りは，次による。

l43≦0.3mm

a3＝45°±1°

基準孔B及び基準孔Dの深部の幅は，l40とする。

基準孔B及び基準孔Dの深さは，l42とする。

基準孔B及び基準孔Dの開口部付近の寸法は，次による。

l45＝3.5mm±0.1mm

l46＝3.00mm

mm
mm

.000
.0

+−

r1＝1.75mm±0.05mm

基準孔B及び基準孔Dの寸法がl45，l46及びr1となる部分の深さは，l41とする。

基準孔B及び基準孔Dの開口部の面取りは，l43及びa3とする。

8.9

支持領域（図9）カートリッジ支持領域は，図9の網掛け部分とする。支持領域Aʼ，支持領域Bʼ 及

び支持領域Cʼ は，それぞれ，基準領域A，基準領域B及び基準領域Cから±0.1mm以内で同一の平面上

とする。支持領域Dʼ は，基準面Zから±0.15mm以内で同一の平面上とする。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

カートリッジの端からl49の長さの領域は，支持領域から除かなければならない。

l49＝0.5mm±0.1mm

基準面Xから支持領域Aʼ 及び支持領域Bʼ のケース前面側の端までの長さは，次による。

l47＝10.0mm±0.1mm

基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域Aʼ 及び支持領域Bʼ のケース側面側の端までの

長さは，l47とする。

基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域Aʼ 及び支持領域Bʼ のケース内側の端までの長

さは，次による。

l48＝11.0mm±0.1mm

基準面Xから支持領域Aʼ 及び支持領域Bʼ のケース背面側の端までの長さは，次による。

l50＝7.0mm±0.1mm

基準面Xから支持領域Cʼ 及び支持領域Dʼ までの長さは，次による。

l51＝30.0mm±0.1mm

支持領域Cʼ 及び支持領域Dʼ の寸法は，l47及び次による。

l52＝5.5mm±0.1mm

l53＝64.5mm±0.2mm

8.10 識別孔（図10，図11及び図12）識別孔は，図11に示す1〜5の番号を付けた5個を設ける。

識別孔1の中心の位置は，次による。

l54＝43.35mm±0.15mm

l57＝6.4mm±0.1mm

識別孔2の中心の位置は，l54及びl57とする。

識別孔3の中心の位置は，l54及び次による。

l58＝79.0mm±0.2mm

識別孔4の中心の位置は，次による。

l55＝3.7mm±0.1mm

l56＝2.3mm±0.1mm

識別孔5の中心の位置は，l55及びl56とする。

すべての識別孔は，図12のE-E及び図12のF-Fに示す断面構造をもち，その直径は，3.0mm±0.1mm

とする。

閉じた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。

l59＝1.2mm

mm
mm

3.01.0

+−

開いた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。

l60≧5.0mm

図12のE-Eは，識別孔をプラグで閉じた状態を示し，図12のF-Fは，二つの識別孔のうち一つをプラ

グで閉じ，もう一方は，プラグを打ち抜いて開いた状態を示す。これらのプラグは，最大0.5Nの力を加え

ても打ち抜かれてはならない。

識別孔の開閉状態は，次による。

識別孔1は，開く。

識別孔2は，開く。

識別孔3は，開く。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

識別孔4は，閉じる。

識別孔5は，閉じる。

8.11 書込み禁止孔（図11及び図12）書込み禁止孔の位置は，l54及び次による。

l61＝10.0mm±0.1mm

書込み禁止孔の直径は，3.0mm±0.1mmとする。

閉じた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l59とする。

開いた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l60とする。

書込み禁止孔は，開いた状態で書込み禁止とし，閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は，可動の機構としてもよい。このとき，書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ

ならない（図8参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止

孔の開閉に要する力は，1N〜15Nとする。

8.12 位置決め面（図4及び図10）位置決め面は，カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき，カ

ートリッジの位置決めに用い，その寸法は，次による。

基準面Zからの長さは，次による。

l62＝2.4mm

mm
mm

0.01.0

+−

基準面Yからの長さは，次による。

l63＝1.0mm±0.1mm

l64＝69.0mm±0.2mm

基準面Xからの長さは，次による。

l65＝14.65mm±0.10mm

位置決め面の面取りは，次による。

l66＝13.15mm±0.10mm

a4＝45°±1°

8.13 リッド（図6及び図13）リッドは，カートリッジの取扱い中，保管中及び運搬中にテープを保護

するために設け，主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは，ケースに取り付けた軸Aを軸として回転する（図13参照）。

軸Aの位置は，次による。

l27＝0.55mm

mm
mm

.010
.0

+−

l67＝7.5mm±0.1mm

副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動く軸Bを軸として回転する。リッドが閉じた状

態では，軸Bの位置は，次による。

l68＝7.0mm±0.1mm

l69＝10.1mm±0.1mm

副リッドの回転は，両側のカムによって，図13に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの開口部の長さは，次による。

l70≧14.8mm

l71＝11.5mm

mm
mm

2.00.0

+−

l72＝1.2mm±0.1mm

リッドは，完全に開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl73離れた平面を超え

てはならない。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l73≦22.3mm

完全に開いたリッドの底面が基準面Zに対する角度は，次による。

a5＝85°

+°

−12

リッドは，途中まで開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl74離れた平面を超

えてはならない。

l74≦22.5mm

リッドが開くとき，リッドの頂点の通過経路は，次による。

r2≦14.9mm

ケースと主リッドの継ぎ目は，次による（図6のB-B参照）。

l75≦8.4mm

主リッドの基準面Zからの高さは，次による（図13参照）。

l76＝15.2mm

mm
mm

0.05.0

+−

主リッドの前面の基準面Xからの長さは，次による。

l77＝15.3mm

mm
mm

0.03.0

+−

リッドの内側のすきまは，次による。

l78＝13.15mm±0.10mm

リッド前面の曲面の中心は，軸Aとし，半径は，次による。

r3＝14.7mm

mm
mm

0.03.0

+−

リッドロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。

解除ピンは，図15の網掛け領域にあるとき，リッドロック機構を解除する。図15の網掛け領域は，次

による。

l79＝2.0mm±0.1mm

l80＝8.2mm±0.2mm

l81＝0.7mm±0.2mm

a6＝30°±1°

リッドロックの解除に要する力は，図18に示す方向に0.25N以下とする。

リッドを開く力は，図19に示す方向に1.0N以下とする。

8.14 リールロック（図16）リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき，ロックし

なければならない。ロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は，図10に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面Yからの長さは，

次による。

l82＝34.5mm±0.1mm

方形孔の基準面Xからの寸法は，次による（図10参照）。

l83＝35.85mm±0.15mm

l84＝4.0mm±0.1mm

l85≧6.5mm

ロック機構の寸法は，次による。

l86＝3.2mm

3.02.0

+−

l87＝4.0mm±0.1mm

a7＝60.0°±1.0°

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

解除ピンの動作面が基準面Xからl88に位置するとき，リールはロックする。

l88＝39.0mm

mm
mm

0.20.0

+−

解除ピンの動作面が基準面Xからl89に位置するとき，リールはロックしてはならない。

l89＝41.75mm

mm
mm

.000
.0

+−

カートリッジの背面板の内側とロック機構の間にl90のすきまを設ける。

l90≧0.5mm

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは，次による。

l91≦7.8mm

ロック機構のすきまは，次による。

l92＝4.0mm±0.1mm

r4≦0.3mm

リールロックの解除に要する力は，図17に示す方向に1.0N以下とする。

8.15 リール受け孔（図10）二つのリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は，次による。

l93＝23.00mm±0.05mm

l94＝11.40mm±0.05mm

l95＝46.2mm±0.1mm

リール受け孔の直径は，次による。

d2＝18.80mm±0.05mm

8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域リールと駆動スピンドルの接触領域は，次による（図22及

び図23）。

l96＝11.75mm±0.15mm

l97＝8.30mm±0.05mm

l98＝0.6mm±0.1mm

l99＝0.3mm±0.1mm

l100＝1.10mm±0.05mm

l101≦0.6mm

l102＝5.4mm±0.1mm

l103＝4.4mm±0.1mm

l104≦0.6mm

d4＝10.00mm

mm
mm

.000
.0

+−

d5≦16.0mm

d6＝18.0mm

mm
mm

0.01.0

+−

d7＝16.0mm

mm
mm

0.01.0

+−

d8＝45.1mm

mm
mm

0.05.0

+−

d9＝45.1mm

mm
mm

0.02.0

+−

リール駆動孔の面取りは，次による。

l105＝2.4mm±0.1mm

a9＝15°±1°

リール底面の外側のエッジの面取りは，次による。

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l106≦0.2mm

a8＝45°±1°

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は，次による。

l107＝2.4mm

mm
mm

2.00.0

+−

a10＝60°±1°

リール駆動孔の歯の半径は，次による。

r5≦0.2mm

リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。

l108≧9.4mm

d3＝6.50mm

mm
mm

.000
.0

+−

基準面Zからのテープ中心線の位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。

l109＝7.05mm±0.10mm

基準面Zからのリールの位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。

l110＝0.6mm±0.2mm

リールを挿入したとき，リールと駆動スピンドルとのかみ合いは，次による。

l111≦7.5mm

l112≦8.0mm

l113＝1.20mm±0.05mm

l114＝1.40mm±0.05mm

a11＝60°±1°

リールのばね力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持部が基準面Zからl110の位置にあ

るとき，図23に示す方向に0.6N±0.2Nとする。

8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21）光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径d10の光通過孔から一辺がl118の正方形

の窓，及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない（図12のD-D参照）。

光通過孔の中心の位置は，l82及び次による。

l115＝8.35mm±0.10mm

光通過孔の直径は，次による。

d10＝6.5mm

3.00.0

+−

光通過孔の開口部の面取りは，次による。

l116≦0.5mm

a12＝45°±1°

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は，次による。

l117＝6.05mm±0.10mm

l118＝2.5mm

mm
mm

4.00.0

+−

光通過孔は，発光素子を挿入するため，次の深さとする。

l119≧12.5mm

光通過経路の角度は，次による。

a13＝5.50°±0.25°

リッドの光通過窓の位置及び寸法は，次による。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l120＝3.8mm±0.1mm

l121＝2.5mm

mm
mm

4.00.0

+−

l122＝6.05mm±0.10mm

8.18 ケース内のテープの位置（図21）テープは，基準面Xに平行な二つのガイド面を通る。基準面X

からガイド面までの長さは，次による。

l123＝10.15mm±0.10mm

ガイド面は，r6の半径をもち，図21に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

r6＝3.0mm±0.1mm

これらの点の位置及び寸法は，次による。

l124＝76.28mm±0.30mm

l125＝27.15mm±0.20mm

l126＝31.15mm±0.20mm

l127＝9.67mm±0.10mm

8.19 テープ走行領域（図21）カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，l124からl127及び次による。

l128＝23.0mm±0.1mm

l129≧0.3mm

l130＝46.2mm±0.2mm

l131＝11.4mm±0.1mm

テープとガイドのすきまは，次による。

l132≧0.3mm

8.20 テープ引出し開口部（図10）磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置のテ

ープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。二つの半径r7の中心は，基準孔A及び基準孔Bの

中心とする。

テープ引出し開口部の形状及び寸法は，l63，l64及び次による。

r7＝2.3mm±0.1mm

二つの半径r8の中心は，二つのリール受け孔の中心とする。

r8＝24.15mm±0.10mm

l133＝3.85mm±0.10mm

8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24）ケースは，テープ引出し機構のためのすきまを設け，

開口部への要求事項は，次による。

l134≦1.2mm

l135＝1.15mm

mm
mm

.000
.0

+−

l136＝14.0mm

mm
mm

0.02.0

+−

l137≧66.8mm

l138≧10.0mm

l139＝14.8mm±0.1mm

a14≦49°

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

リーダテープ及びトレーラテープは，それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは，ポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）とし，片面にはアクリル系

接着剤（又はこれと同等品）を塗布する。

9.2

テープの長さ

9.2.1

磁気テープの長さ PBOTとPEOTの間のテープの長さは，22.5m〜172.0mとする。

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さリーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜

90mmとする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は，テープ基準縁の垂直方向に1°

以内とする。

9.2.3

スプライシングテープの長さスプライシングテープの長さは，13mm以下とし，リーダテープ及

びトレーラテープ上で6.5mm±1.5mmとする。

9.3

テープの幅

9.3.1

磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとする。

幅の最大値と最小値の差は，6μmを超えてはならない。

リーダテープ及びトレーラテープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。

磁気テープの幅の測定方法は，次による。

a) 顕微鏡用のスライドガラスを試験片にかぶせる。

b) 少なくとも2.5μmの精度の顕微鏡，投影機又はこれと同等の装置を使用し，張力をかけないで幅を測

定する。

c) 長さ1m以上のテープで異なる位置5か所以上の測定を繰り返す。

測定した値の平均をテープの幅とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ，トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は，次による。

スプライシングテープの下端は，その他のテープの下端から0.60mm以下とし，スプライシングテープ

の上端は，その他のテープの上端から0.60mm以下とする。スプライシングテープの端がリーダテープ，

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.4

連続性テープは，PBOTとPEOTとの間に継ぎ目及び孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ磁気テープの厚さは，6.5μm〜7.3μmとする。

9.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さリーダテープ及びトレーラテープの厚さは，9μm〜17

μmとする。

9.5.3

スプライシングテープの厚さスプライシングテープの厚さは，27μm以下とする。

9.6

長手方向の湾曲長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。

長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以下と

する。

この偏差は，33mの曲率半径と一致する。

9.7

カッピングカッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.7mm以下とする。試

験方法は，次による。

a) テープを長さ150mm±10mmに切り取る。

b) 磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以上放置する。

c) 中心間35mm離して水平に置いた2個の円筒型ガイドにテープを置く。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

d) テープの両端に0.3gのおもりを付ける。

e) テープの端で決まる面とこの面からの最大偏差の距離を測定する。

9.8

磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度磁性面の接着強度は，磁性面をテープのベース材料から

はがす力とし，0.10N以上とする。試験方法は，次による（図25参照）。

a) 長さ約380mmのテープの試験片を採り，一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき線をベ

ース面に達するまで引く。

b) 磁性面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。

c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254mm/minで引っ

張る。

d) 磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が0.10Nに達

する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テープを使用する。

テープの裏面に塗布されている場合は，a)〜d)に準じ，裏面の試験を行う。

図25 磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着層間の粘着は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び磁性面又は磁

気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。

a) 直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。

b) 1.1Nの張力でガラス管にテープを巻く。

c) 巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。

d) さらに，試験環境条件に24時間放置する。

e) 試験片の自由端に0.1Nの力を加え，ゆっくりほどく。

9.10 引張強度引張強度は，JIS K 7161の試験方法による。

テープの試験片の長さは，200mmとする。リーダテープの試験片の長さは，50mmとする。トレーラテ

ープの試験片の長さは，50mmとする。引張速度は，100mm/minとする。

9.10.1 破断強度破断強度は，テープが破断するのに要する力とし，8N以上とする。

9.10.2 降伏強度降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，4N以上とする。

9.11 残留伸び残留伸びは，元のテープの長さの0.04%未満とする。試験方法は，次による。

0.20N以下の張力で，約1m長の試験片の初期の長さを測定する。さらに全断面に20.5N/mm2の力を10

分間加える。加えた力を取り除き，10分後にテープ長を測定する。

9.12 磁性面の電気抵抗テープの磁性面の電気抵抗は，103Ω以下とする。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

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図27 識別ストライプの位置

10 磁気的特性磁気的特性の試験は，次による。

この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，主基準テープ，供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し，記録時再生によって行う。

規定がない限り，正アジマストラックを使用して試験する。

10.1 試験条件磁気的特性の試験条件は，次による。

テープの状態

：記録密度3 819ftpmmの平均信号振幅の2%未満に交流消去。

ヘッド／テープ速度

： 13.876 8m/sec±0.027 8m/sec

テープ張力

：スキャナ（ドラム）入口で0.10N±0.02N

トラック幅

： 11.5μm±1.0μm

記録ヘッドのギャップ長

： 0.20μm±0.03μm

再生ヘッドのギャップ長

： 0.20μm±0.03μm

ギャップアジマス

： 20.009°±0.200°

記録電流

：試験記録電流

記録波形

：方形波

10.2 ティピカル磁界ティピカル磁界は，基準磁界の80%〜120%とする。

基準磁界の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.3 平均信号振幅平均信号振幅は，記録密度3819ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号振

幅の80%〜130%とする。

主基準テープの平均信号振幅の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.4 分解能分解能は，記録密度3819ftpmmの平均信号振幅を954.75ftpmmの平均信号振幅で除した値

とし，その値は，主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して80%〜120%とする。

主基準テープの分解能の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.5 狭帯域の信号対雑音比 (NB−SNR) 狭帯域の信号対雑音比は，実効電力の平均信号振幅を雑音の

実効電力の積分（側帯波）で除した値とし，デシベル (dB) で表す。

NB-SNRは，トラック幅を11.5μmとしたとき，24dB以上とする。

正規化は，次の式で算出する。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

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dB (11.5) ＝dB (W) ＋10log11.5/W

ここに， W：測定に用いたトラック幅

試験方法

a) 分解能3kHz及びビデオ帯域幅30Hzのスペクトラムアナライザを使用する。

b) 記録密度3819ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ6m以上にわたり，150か所以上のサンプルにつ

いて測定する。

c) 次の走行（再生時）でテープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電力を1MHz

から33MHzまで，実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。

10.6 消去特性消去特性は，次による。

試験記録電流3819ftpmmで記録密度954.75ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に320000A/m

の均一な磁界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，標準信号振幅の2%以下とする。

消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。また，測定はバンドパス

フィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。

10.7 テープの品質テープの品質は，次による。

10.7.1 ミッシングパルスミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0 V

を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度3819ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の40%以下とする。

10.7.2 ミッシングパルスゾーンミッシングパルスゾーンは，次による。

ミッシングパルスゾーンは，ミッシングパルスによって開始し，トラック方向に1mmの長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して1mmを超えて発生したとき，次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について5×106の

磁束反転当たり1個未満とする。

10.7.3 重ね書き重ね書きは，低記録密度の信号を記録をした後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残

留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は，次による。

交流消去したテープを用い記録密度954.75ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を測定する。記録密度

3 819ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度954.75ftpmmの信号の平均信号振幅を測定する。二次

基準テープについて繰り返し測定する。

要求事項は，次による。

記録密度954.75ftpmmの重ね書きは，次の比によって求めたとき，主基準テープの120%未満とする。

の信号の平均信号振幅

記録密度

の信号の平均信号振幅

記録密度

重ね書き後に残留する

ftpmm

954

11. フォーマット

11.1 概要テープサブシステムは，ホストコンピュータから論理ブロックのデータバイト，ロングファ

イルマーク，ショートファイルマーク，又はセットファイルマークを受け取る。論理ブロックは，物理ブ

ロックに変換する（11.2参照）。

一対のトラックのフォーマット構成は，次による（図28参照）。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

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11.2 物理ブロックのフォーマット

11.2.1 概要物理ブロックのフォーマットは，32物理ブロックタイプがあり，そのうち10物理ブロック

タイプを表1に示す。残りの22物理ブロックタイプは，将来使用するための予備とする

表1 物理ブロックタイプ

ブロックID

定義

(0)

データ

(5)

消去

(8)

診断

(9)

PBOP

(A)

ロングファイルマーク

(B)

ショートファイルマーク

(C)

LBOP

(D)

セットマーク

(E)

ギャップ

(F)

EOD

各物理ブロックの情報は，次による。

ヘッダデータ

24バイト

データ

1014バイト

CRCデータ

2バイト

ECCデータ

400バイト

ヘッダデータ領域とデータ領域の内容は，物理ブロックタイプによって異なる（11.2.2〜11.2.12参照）。

情報マトリクスは，1440バイトとし，60列24行の配列とする（図29参照）。情報マトリクスの各セル

は，1バイトとし，列番号及び行番号によって識別する。列番号及び行番号は，列／行の形式で00/00〜59/23

と表記する。

情報マトリクスの内容は，次による。

・24バイトへのヘッダデータは，00/00〜00/19及び02/00〜02/03に順次格納する。

・1014バイトのデータは，最初の16バイトを02/04〜02/19に格納する。次の20バイトは，04/00〜04/19

に格納する。以降50/00〜50/19までの偶数列に順次格納する。次に奇数列01〜49の行00〜19まで順次格

納する。最後の18バイトは，51/00〜51/17に格納する。

・2バイトのCRCデータは，51/18〜51/19に格納する。CRCデータの生成は，附属書Dによる。

・160バイトの水平ECCは，52/00〜59/19に格納する。バイトの垂直ECCバイトは，列00〜59の行20

〜23に格納する。400バイトのECCデータの生成は，附属書Eによる。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図29 情報マトリクス

11.2.2 共通ヘッダフィールド次のフィールドは，複数のヘッダで使用する。

11.2.2.1 物理ID (PID) PIDは，テープ上の物理ブロックの絶対位置を示し，計数を4バイトで表す。

PID番号は，物理ブロックのタイプにかかわらず，ブロックごとに1を加算する。パーティション間の空

白領域へもPID番号を割り当てる。テープ履歴ログを表す最初の物理ブロックのPID番号は， (0000F040)

とする。テープ上の最初のパーティションにあるPID番号は， (00014B80) とする。

11.2.2.2 ブロックID (BID) BIDは，ホストから受信した論理ブロックの順序を示し，計数を4バイト

で表す。BIDは，各パーティションで (00000000) から始まり，ホスト情報を含む最初の物理ブロックは，

(00000001) とし，物理ブロックごとに1を加算する。

11.2.2.3 ストリームID (SID) SIDは，書込み時に連続した物理ブロックの中で無効物理ブロックを示し，

計数を1バイトで表す。SIDは，テープ動作が停止するごとに1を加算する。

11.2.2.4 再書込みステータス (Rwstat) 再書込みステータスは，物理ブロックの再書込み状態を示し，

フィールドを2ビットで表す。その値は，次による。

00：最初に書き込んだ物理ブロック

01：将来の予備

10：リードバックチェック (RBC) で書込み不良を検出後，再書込みした物理ブロック

11：RBCによる書込み不良検出以外の原因で再書込みした物理ブロックで，データ交換時には，無視

する。

11.2.2.5 セットマークID (SMID) SMIDは，物理ブロックが属しているセットを示し，フィールドを3

バイトで表す。SMIDは，パーティションに書かれた最初のセットマークを含む物理ブロックを (000000)

に設定し，各セットマークごとに1を加算する。

11.2.2.6 フィールドID (FID) FIDは，物理ブロックが属しているファイルを示し，計数を4バイトで表

す。FIDは，パーティションに書かれた最初のファイルマークを含む物理ブロックを (00000000) に設定

し，各ショートファイルマーク又はロングファイルマークごとに1を加算する。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.2.7 論理ブロックID (LID) LIDは，ホストシステムからの論理ブロックの計数を4バイトで表す。

LIDは，パーティション内の最初の論理ブロックを (00000000) に設定し，各論理ブロック，ファイルマ

ーク又はセットマークごとに1を加算する。ヘッダデータに格納されるLIDは，物理ブロックの一部又は

全体に含む最初の論理ブロックのLIDとする。

11.2.3 データブロックデータブロックは，ホストからのデータバイトを記録する。データブロックのデ

ータは，圧縮アルゴリズムで圧縮してもよい。論理ブロックは，可変長で，物理ブロックにまたがり，又

は物理ブロックに含んでもよい。

11.2.3.1 データブロックヘッダ

バイト／

ビット

00-03

PID

04-07

BID

(resv)

rwcount

SID

Rwtstat

(resv)

13-15

SMID

16-19

FID

20-23

LID

図30 データブロックヘッダ

データブロックヘッダは，図30に示す。rwcountバイトは，物理ブロックのコピーを識別し，計数を1

バイトで表す（図30参照）。物理ブロックの最初の書込み時に，計数を0に設定する。物理ブロックを再

書込みするごとに，計数に1を加算する。LIDは，データブロックの一部又は全体に含む最初とする。

11.2.3.2 データ領域データ領域は，ホストから送信したデータを含む。2バイトの論理ブロックヘッダ

は，論理ブロックに先行する。論理ブロックが一つ以上の物理ブロックにまたがる場合，論理ブロックヘ

ッダは，連続する論理ブロックに先行するデータブロックのデータ領域の最初の2バイトとする。2バイ

トの論理ブロックCRCは，論理ブロックに続くこととする。

11.2.3.2.1 論理ブロックヘッダ (LBH)

バイト0

NDB

(resv)

Appnd

Cmprsd

Last

End

Length msb

バイト1

Length

lsb

図31 論理ブロックヘッダ

論理ブロックヘッダは，次による（図31参照）。

NDB−全論理ブロックがホストデータを含まないとき，1に設定し，含むとき，0に設定する。

Appnd−論理ブロックが直前のデータブロックから続くとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定す

る。

Cmprsd−論理ブロック内のデータが圧縮アルゴリズムで圧縮しているとき，1に設定し，それ以外のと

き，0に設定する。

Last−データブロック内の最後の論理ブロックのとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定する。

End−論理ブロックがこのデータブロックで終わるとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定する。

Length−論理ブロックがこのデータブロックで終了するとき，2バイトの論理ブロックCRCを含んでデ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ータブロックにある論理ブロックのバイト数より1小さい数を10ビットの計数で表す。

11.2.3.2.2 論理ブロックCRC 2バイトの論理ブロックCRCの生成は，附属書Fによる。

11.2.4 消去ブロック消去ブロックは，テープ上の古いデータに重ね書きするときに用いる。

11.2.4.1 消去ブロックヘッダ消去ブロックヘッダは，図32に示す。

バイト／ビット

0-3

PID

4-9

(resv)

SID

(resv)

12-23

(resv)

図32 消去ブロックヘッダ

11.2.4.2 データ領域消去ブロックのデータ領域は，規定しない。データ交換時には，無視する。

11.2.5 診断ブロック診断ブロックは，テープ装置又は媒体の実行状態を表す装置固有の情報とし，周期

的にテープ上に書き込んでもよい。

11.2.5.1 診断ブロックヘッダ診断ブロックヘッダは，図33に示す。

バイト／ビット

0-3

PID

4-7

DID

8-9

(resv)

SID

(resv)

12-23

(resv)

図33 診断ブロックヘッダ

診断ID (DID) は，テープ上に書き込む最初の診断ブロックを (00000000) に設定し，各診断ブロックご

とに1を加算する。

11.2.5.2 データ領域診断ブロックのデータ領域は，装置固有の情報で，データ交換時には無視する。

11.2.6 PBOPブロック PBOPブロックは，パーティションの開始を表す。

11.2.6.1 PBOPブロックヘッダ PBOPブロックヘッダは，図34に示す。

バイト／ビット

00-03

PID

04-07

BID

08-09

(resv)

SID

(resv)

12-17

(resv)

TotalParts

CurPartNum

20-23

(resv)

図34 PBOPブロックヘッダ

BID− (00000000) に設定する。

TotalParts−テープ上のパーティションの総数をバイトで表し，有効な計数値は， (1) 〜 (40) とする。

CurPartNum−現在のパーティションの番号をバイトで表し，有効な計数値は， (00) 〜 (3F) とする。

11.2.6.2 データ領域 PBOPブロックのデータ領域は，規定しない。データ交換時には，無視する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.7 ロングファイルマークブロックロングファイルマークブロックは，テープ上のファイルの分離及

び追記録点に用い，ホストからの要求によって書き込む。

11.2.7.1 ロングファイルマークブロックヘッダロングファイルマークブロックヘッダは，図35に示す。

バイト／ビット

00-03

PID

04-07

BID

08-09

(resv)

SID

(resv)

13-15

SMID

16-19

FID

20-23

LID

図35 ロングファイルマークブロックヘッダ

11.2.7.2 データ領域ロングファイルマークブロックのデータ領域は，論理ブロックヘッダ (LBH) の

NDBビットを0に設定する。LBHに続く4バイトのデータは，ロングファイルマークを重ね書きした場

合，使用する追記録点用のPID番号を表す。残りのデータバイトは，規定しない。データ交換時には，無

視する。

11.2.8 ショートファイルマークブロックショートファイルマークは，データの分離に用い，ホストから

の要求によって書き込む。

11.2.8.1 ショートファイルマークブロックヘッダショートファイルマークブロックヘッダは，図36に

示す。

バイト／ビット

00-03

PID

04-07

BID

08-09

(resv)

SID

Rwt Stat

(resv)

13-15

SMID

16-19

FID

20-23

LID

図36 ショートファイルマークブロックヘッダ

11.2.8.2 データ領域ショートファイルマークブロックのデータ領域は，規定しない。データ交換時には，

無視する。

11.2.9 LBOPブロック LBOPブロックは，パーティションの特性を規定する。

11.2.9.1 LBOPブロックヘッダ LBOPブロックヘッダは，図37に示す。

バイト／ビット

00-03

PID

04-07

BID

08-09

(resv)

SID

(resv)

12-13

(resv)

LBCRC

REW

(resv)

ClstrSize

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バイト／ビット

(resv)

ComprsAlg

(resv)

TotalParts

CurPartNum

20-23

(resv)

図37 LBOPブロックヘッダ

BID− (00000000) に設定する。

LBCRC−パーティション内のすべての論理ブロックで，論理ブロックの次に2バイトの論理ブロック

CRCがあるとき，1に設定する。

REW−このパーティション内で物理ブロックが再書込みしたとき，1に設定し，それ以外のとき，0に

設定する。

ClstrSize−各クラスタに割り当てた物理ブロックの番号で，そのフィールドを4ビットで表す。この規

格の場合，フィールドの有効値は， (1), (2), (3) 又は (4) とする。

ComprsAlg−ISO/IEC 11576で規定した登録アルゴリズムの識別子を，2進法で規定する。

TotalParts−テープ上のパーティションの総数をバイトで表し，有効な計数値は， (01) 〜 (40) とする。

CurPartNum−現在のパーティションの番号をバイトで表し，有効な計数値は， (00) 〜 (3F) とする。

11.2.9.2 データ領域 LBOPのデータ領域は，テープ上のすべてのパーティションの配置情報を含む。各

パーティションのパーティションレコードは，パーティションの大きさ及び位置を含むこととする（図38

参照）。

バイト／ビット

0-1

LBH

2-3

PartSize

4-7

PBOP PID

8-11

PEOP PID

図38 パーティションレコード

パーティションレコードのフィールドは，次による。

PartSize−パーティションのデータ領域の長さをメガバイト単位で2バイトのフィールドで表す。

PBOP PID−パーティションの最初のPBOPブロックのPIDを4バイトのフィールドで表す。

PEOP PID−パーティションに書き込む最後のPEOPブロックのPIDを4バイトのフィールドで表し，ト

ラック2の最後の物理ブロックとする。

パーティションレコードのデータ領域への配置は，次による（図39参照）。

バイト／ビット

0-1

LBH

2-15

テープID

16-27

パーティションレコード0

28-39

パーティションレコード1

…

図39 パーティションデータ領域

テープID−装置固有の情報で，データ交換時には無視する。

パーティションレコードは，昇順に配置する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.10 セットマークブロックセットマークブロックは，テープ上のデータグループの分離及び追記録点

に用い，ホストからの要求によって書き込む。

11.2.10.1 セットマークブロックヘッダセットマークブロックヘッダは，図40に示す。

バイト／ビット

00-03

PID

04-07

BID

08-09

(resv)

SID

(resv)

13-15

SMID

16-19

FID

20-23

LID

図40 セットマークブロックヘッダ

11.2.10.2 データ領域セットマークブロックのデータ領域は，論理ブロックヘッダ (LBH) のNDBビット

を0に設定する。LBHに続く4バイトのデータは，セットマークを重ね書きした場合，使用する追記録点

用のPID番号を表す。

11.2.11 ギャップブロックギャップブロックは，書込み動作が終了したとき不完全なトラックのパッドに

用いる。

11.2.11.1 ギャップブロックヘッダギャップブロックヘッダは，図41に示す。

バイト／ビット

0-3

PID

4-7

ABID

8-9

(resv)

SID

(resv)

12-23

(resv)

図41 ギャップブロックヘッダ

ABID−前の一対のトラックの終端とLBOPとの間に大きなBIDを発生しないように書き込む最小の

BIDで，4バイトのフィールドで表す。

11.2.11.2 データ領域ギャップブロックのデータ領域は，規定しない。データ交換時には，無視する。

11.2.12 EODブロック EODブロックは，パーティション内の書込みデータの終わりを示す。

11.2.12.1 EODブロックヘッダ EODブロックヘッダは，図42に示す。

バイト／ビット

00-03

PID

04-07

BID

08-09

(resv)

SID

(resv)

13-15

SMID

16-19

FID

20-23

LID

図42 EODブロックヘッダ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.12.2 データ領域 EODブロックのデータ領域は，論理ブロックヘッダ (LBH) のNDBビットを0に

設定する。LBHに続く4バイトのデータは，EODを重ね書きした場合，使用する追記録点用のPID番号

を表す。残りのデータバイトは，規定しない。データ交換時には，無視する。

11.2.13 記録パターン情報マトリクスからのデータは，0〜47に番号付けした48セグメントでテープに

順次記録する。各セグメントは，20ビットの同期フィールドに続く10ビットのセグメントID及び情報マ

トリクスからの30バイトで構成する。

11.2.13.1 ビット同期フィールドビット同期フィールドは，01111111111111111101からなる。

11.2.13.2 セグメントID 各セグメントIDは，表2に示す10ビットパターンで表す。

表2 セグメントIDパターン

データセグメントID

コードワード

データセグメントID

コードワード

0111111101

0101101011

0111111010

0101011010

0111110111

0010101011

0111110101

0010101110

0111101110

0010110101

0111101011

0010110111

0111011111

0010111010

0111011101

0010111101

0111010111

0010111111

0111010101

0011010110

0110111110

0011101010

0110111011

0011101101

0110101111

0011101111

0110101010

0011111011

0101111111

0011111110

0101111101

1010101011

0101110111

1010101110

0101110101

1010110101

0101011111

1010110111

0101011101

1010111010

0111011010

1010111101

0110101101

0101010111

0101111010

0101010101

0101101110

1011111011

11.2.13.3 情報マトリックス情報マトリックスのセグメントのデータは，附属書Jによって乱数化する。

30バイトのデータは，附属書Cによって8ビットから10ビットのチャネルビットに変換する。情報マト

リックスのデータは，次の順序で48セグメントに配置する。

セグメント0

00行，00〜29列

セグメント1

00行，30〜59列

セグメント2

01行，00〜29列

セグメント3

01行，30〜59列

・

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

セグメント46

23行，00〜29列

セグメント47

23行，30〜59列

11.3 サーチフィールドフォーマット

11.3.1 サーチフィールドデータサーチフィールドデータのフォーマットは，図43に示す。

バイト／ビット

パーティション

01-03

SMID

04-07

FID

08-11

LID

12-15

PID

16-19

ABID

20-23

DBID

EOM

BOP

THL

消去

(resv)

PSID

SID

図43 サーチフィールドデータ

サーチフィールドデータの各フィールドは，次による。

パーティション−現在のパーティションのパーティション番号を1バイトのフィールドで表す。

SMID−次に書き込むセットマークのセットマーク番号を3バイトのフィールドで表す。一対のセットマ

ークトラックの両トラックにあるサーチフィールドは，セットマークブロックのヘッダブロックのSMID

と同じSMIDとする。

FID−次に書き込むファイルマークのファイルマーク番号を4バイトのフィールドで表す。一対のロン

グファイルマークトラックの両トラックにあるサーチフィールドは，ロングファイルマークブロックのヘ

ッダブロックのFIDと同じFIDとする。ショートファイルマークに続くトラックにあるサーチフィールド

のFIDは，前のトラックにある最後のショートファイルマークブロックのブロックヘッダFIDと同じFID

とする。

LID−このサーチフィールドを含むトラックの前にテープ上に書き込んだ最大の論理ブロック番号を4

バイトのフィールドで表す。

PID−前に書き込んだトラックにある最後の物理ブロックのPID番号を4バイトのフィールドで表す。

ABID−前の一対のトラックの終端とLBOPの間に大きなBIDを発生させないように書き込む最小の

BIDで，4バイトのフィールドで表す。

DBID−前の一対のトラック終端とこのパーティションのEODの間に小さなBIDを発生させないように

書き込む最大のBIDで，4バイトのフィールドで表す。

EOD−サーチフィールドがEODトラックのうちの一つに配置するとき，1に設定し，それ以外のとき，

0に設定する。

BOP−サーチフィールドをLBOP又はPBOPトラックのうちの一つに配置するとき，1に設定し，それ

以外のとき，0に設定する。

THL−サーチフィールドをテープ履歴ログに配置するとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定する。

消去−サーチフィールドを消去動作の一部として書き込むとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定

する。

PSID−テープを最初にパーティションするとき，0に設定し，テープをパーティションするごとに1を

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

加算する。

SID−SIDは，書き込むとき，連続した物理ブロックのなかの無効物理ブロックを示し，計数を1バイト

で表す。SIDは，テープ動作が停止するごとに1を加算する。

11.3.2 サーチフィールドECC 2ビットハミングコードECCは，サーチフィールドデータの各バイトに

加える（図44参照）。ハミングコードECCの生成は，附属書Gによる。2バイトのCRCは，附属書Hに

よってサーチフィールドから生成し，サーチフィールドデータの終わりに付加する。ECCキャラクタに関

する2個の5ビットCRCキャラクタは，附属書Gによって生成し，ECCキャラクタの列に加える。

データ(00)

ECC(00)

データ(01)

ECC(01)

データ(02)

ECC(02)

データ(03)

ECC(03)

データ(04)

ECC(04)

データ(05)

ECC(05)

データ(06)

ECC(06)

データ(07)

ECC(07)

データ(08)

ECC(08)

データ(09)

ECC(09)

データ(0A)

ECC(0A)

データ(0B)

ECC(0B)

データ(0C)

ECC(0C)

データ(0D)

ECC(0D)

データ(0E)

ECC(0E)

データ(0F)

ECC(0F)

データ(10)

ECC(10)

データ(11)

ECC(11)

データ(12)

ECC(12)

データ(13)

ECC(13)

データ(14)

ECC(14)

データ(15)

ECC(15)

データ(16)

ECC(16)

データ(17)

ECC(17)

データ(18)

ECC(18)

データ(19)

ECC(19)

データ(1A)

ECC(1A)

データ(1B)

ECC(1B)

CRC上位

ECC CRC上位

CRC下位

ECC CRC下位

図44 サーチフィールド構成（ECCを含む）

11.3.3 サーチフィールド記録パターンサーチフィールドは， “1” に設定した160チャネルビットのク

ロック検出領域に続き， “01111111111111111110” に設定した20同期ビット及び10ビットのサーチフィー

ルドID (SFID) に続くこととする。トラック1にある3番，6番及び16番のサーチフィールドのSFIDは，

“1101101101” に設定する。他のサーチフィールドのSFIDは， “1010101101” に設定する。49バイトのサ

ーチフィールドデータは，最初のバイトを0番バイトとしマトリクスに垂直に配置する（図45参照）。48

番バイトは，2ビットの0を加える。バイトは，附属書Cによって8ビットから10ビットに変換しチャネ

ルビットに符号化する。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

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b12

b11

b10

ワード0

msb

ワード1

ワード2

ワード3

ワード4

ワード5

ワード6

ワード7

lsb

ワード8

ワード9

ワード10

ワード11

ワード12

ワード13

ワード14

ワード15

ワード16

ワード17

ワード18

ワード19

ワード20

ワード21

ワード22

ワード23

ワード24

ワード25

ワード26

ワード27

CRC1

CRC2

図45 サーチフィールドの構成

11.4 サーボ領域一対のトラックのトラック2上のサーボ領域は，3個とする。各サーボ領域の前後にサ

ーボパッド領域を955ftpmm (4T) で記録する。サーボ領域は，76.38ftpmm（トーン）で記録する。

11.5 トラックの配置 11.1〜11.4で規定したトラックの構成要素の配置は，図46及び図47による。

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

プリアンブル

2700

“1”

SF10同期

160

“1”

SF0データ

520

データ

SF10データ

520

データ

SF1同期

160

“1”

SF11同期

160

“1”

SF1データ

520

データ

SF11データ

520

データ

SF2同期

160

“1”

SF12同期

160

“1”

SF2データ

520

データ

SF12データ

520

データ

SF3同期

160

“1”

同期クロック

160

“1”

SF3データ

520

データ

データB8

15840

データ

パッド0

2000

データB9

15840

データ

SF4同期

160

“1”

データB10

15840

データ

SF4データ

520

データ

データB11

15840

データ

同期クロック

160

“1”

データB12

15840

データ

データB0

15840

データ

データB13

15840

データ

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

データB1

15840

データ

データB14

15840

データ

データB2

15840

データ

データB15

15840

データ

データB3

15840

データ

SF13同期

160

“1”

データB4

15840

データ

SF13データ

520

データ

データB5

15840

データ

SF14同期

160

“1”

データB6

15840

データ

SF14データ

520

データ

データB7

15840

データ

SF15同期

160

“1”

SF5同期

160

“1”

SF15データ

520

データ

SF5データ

520

データ

SF16同期

160

“1”

SF6同期

160

“1”

SF16データ

520

データ

SF6データ

520

データ

パッド2

2000

SF7同期

160

“1”

SF17同期

160

“1”

SF7データ

520

データ

SF17データ

520

データ

SF8同期

160

“1”

SF18同期

160

“1”

SF8データ

520

データ

SF18データ

520

データ

SF9同期

160

“1”

SF19同期

160

“1”

SF9データ

520

データ

SF19データ

520

データ

パッド1

2000

ポストアンブル

4960

“1”

合計

280860

図46 トラック1の配置

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

プリアンブル

4740

“1”

SF7同期

160

“1”

SF0データ

520

データ

SF7データ

520

データ

SF1同期

160

“1”

SF8同期

160

“1”

SF1データ

520

データ

SF8データ

520

データ

SF2同期

160

“1”

SF9同期

160

“1”

SF2データ

520

データ

SF9データ

520

データ

サーボパッド

960

同期クロック

160

“1”

サーボゾーン

900

トーン

データB8

15840

データ

サーボパッド

1020

データB9

15840

データ

SF3同期

160

“1”

データB10

15840

データ

SF3データ

520

データ

データB11

15840

データ

同期クロック

160

“1”

データB12

15840

データ

データB0

15840

データ

データB13

15840

データ

データB1

15840

データ

データB14

15840

データ

データB2

15840

データ

データB15

15840

データ

データB3

15840

データ

SF10同期

160

“1”

データB4

15840

データ

SF10データ

520

データ

データB5

15840

データ

SF11同期

160

“1”

データB6

15840

データ

SF11データ

520

データ

データB7

15840

データ

サーボパッド

1440

SF4同期

160

“1”

サーボゾーン2

900

トーン

SF4データ

520

データ

サーボパッド

1020

SF5同期

160

“1”

SF12同期

160

“1”

SF5データ

520

データ

SF12データ

520

データ

SF6同期

160

“1”

SF13同期

160

“1”

SF6データ

520

データ

SF13データ

520

データ

サーボパッド

1440

SF14同期

160

“1”

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

要素

ビットセル

データ

要素

ビットセル

データ

サーボゾーン1

900

トーン

SF14データ

520

データ

サーボパッド

1020

ポストアンブル

2720

“1”

合計

280860

図47 トラック2の配置

12. 記録方式記録方式は， “1” の場合，ビットセルの中央で磁束を反転し， “0” の場合，ビットセル

で磁束を反転しないこととする。

12.1 記録密度最大記録密度は，公称3 819ftpmmとし，公称ビットセル長は，0.262μmとする。

12.1.1 長周期平均ビットセル長長周期平均ビットセル長は，各トラックについて133060個以上の連続

するビットセルの記録を測定し，その値は，公称ビットセル長の±0.20%以内とする。

12.1.2 短周期平均ビットセル長短周期平均ビットセル長は，任意のビットセルを基準とし，その前の

16個のビットセルの平均とする。その値は，同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長

の±0.35%以内とする。

12.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率短周期平均ビットセル長は，任意の2個の連続する16ビット

セル長当たり0.05%を超えて変化してはならない。

12.2 ビットシフトミッシングパルスを除去して “1” を再生したときの再生信号のゼロ交差は，短周期

平均ビットセル長の規定による予測位置から25%以上ずれてはならない。ビットシフトの測定は，附属書

Bによる。

12.3 情報交換時の再生信号振幅記録密度3819ftpmmで3000磁束反転以上にわたる平均信号振幅は，標

準信号振幅の80%〜130%とする。

13. トラックの構成

13.1 概要トラックパターンは，テープ走行方向と一対の二つのヘッドの回転軸との相対関係で形成す

る。この一対のヘッドの一つは，正のアジマス角をもち，他のヘッドは，負のアジマス角をもつ。記録の

方向は，テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの位置及び寸法は，図48による

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

14.4 LBOP LBOPは，PBOPに続いて記録し，400トラックのLBOPブロックからなる。すべてのLBOP

のBIDは，0に設定する。

14.5 データ領域

14.5.1 概要データ領域は，LBOPに続いて記録され，データブロック及びギャップブロックからなる。

ファイルマーク及びセットマークは，ホストからの要求で記録する。診断ブロックは，周期的にデータブ

ロックに記録してもよい。データブロック又はショートファイルマークブロックは，誤りがあるとき，再

書込みしてもよい。クラスタ内の任意の物理ブロックの再書込みが必要な場合，クラスタ内のすべての物

理ブロックは，再書込みする。再書込み物理ブロックのブロックヘッダは，テープ上の位置を示すPIDを

除いて元のブロックヘッダと同じとする。物理ブロックをテープ上にさらに再書込みできるかは，DBID

フィールドによって決まる。クラスタは，繰り返し再書込みしてもよい。

14.5.2 ショートファイルマークショートファイルマークは，1個のショートファイルマークブロックか

らなる。

14.5.3 ロングファイルマークロングファイルマークは，2トラックのギャップブロック，それに続く2

トラック以上のロングファイルマークブロック及びそれに続く2トラックのギャップブロックからなる。

ロングファイルマークブロックの最初のトラックは，トラック1で始まる。すべてのロングファイルマー

クブロックのBIDは，同じとする。すべてのデータブロックは，RBCによって照合し，ロングファイルマ

ークを書き込む前に再書込みする。

14.5.4 セットマークセットマークは，2トラックのギャップブロック，それに続く2トラックのセット

マークブロック及びそれに続く2トラック以上のギャップブロックからなる。セットマークブロックの最

初のトラックは，トラック1で始まる。すべてのセットマークブロックのBIDは，同じとする。すべての

データブロックは，RBCによって照合し，セットマークを書き込む前に再書込みする。

14.6 EOD EODは，データ領域の直後に書き込む。EODは，2トラックのギャップブロック及びそれに

続く400トラックのEODブロックからなる。データ領域は，EODに重ね書きし，追記録してもよい。

14.7 PEOP PEOPは，テープ上に記録しない。PEOPは，パーティションの終端で，パーティションの

データを次のパーティションに重ね書きしないようにする。PEOPのPIDは，LBOPブロックに記録する。

PIDがPEOPのPIDに一致したとき，すべてのホストデータの書込みは終了する。PEOPのPIDに続いて，

追加の32トラックを書き込む。このトラックの内容は，規定しない。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A（規定）テープの光透過率の測定法

A.1 概要この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。

光透過率は，測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率 (%) で表す。

A.2 測定装置の構成測定装置の構成は，次による。

− 光源

− 光検出部

− 測定用マスク

− 光学系

− 測定回路

A.2.1 光源光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。

波長

：850 nm±50 nm

半値幅：±50 nm

A.2.2 光検出部光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。

A.2.3 測定用マスク測定用マスクは，厚さを2mmとし，孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の

80%〜100%の大きさに設定する。

表面は，黒のつや消しとする。

試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4 光学系（附属書A図1）光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離 (L) は，次の

式による。

tan

ここに，

d： mm

α：光軸上の最大光量に対して95%以上の光量がある領域に設定

A.2.5 仕上げ装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6 測定回路（附属書A図2）測定回路は，次による。

：出力電圧可変の定電圧電源

：電流制限用の抵抗器

LED

：赤外線発光ダイオード

：シリコンフォトダイオード

：演算増幅器

Rf0, Rf1

：帰還用の抵抗器

：増幅率切替えスイッチ

：電圧計

LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧 (E) によって変化させる。

Diは，回路を閉じて動作させる。

演算増幅器の出力電圧は，次による。

V0＝Ik×Rf

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附属書B（規定）ビットシフトの測定法

B.1 記録装置試験テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。

テープは，システムの動作に支障がないように記録されているものを用いる。

B.2 読取り装置トラックの直線性が6μmの範囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを

読み取る。読取りヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。ただし，読取りヘッド，前置増幅器，回転

トランス及びヘッドとテープの相対速度は，低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択す

る。ヘッド，トランス，前置増幅器及び関連する回路の周波数応答特性は，低周波の場合，トランスによ

る。高周波の場合，前置増幅器による。

読取りヘッド

− ギャップ長：0.20μm±0.02μm

− トラック幅：11.5μm±1.0μm

− 正アジマス：20.009°±0.200°

− 負アジマス：−9.991°±0.200°

ヘッドとテープとの接触及び読取りチャネルヘッド，回転トランス，前置増幅器及び等化器の総合周

波数応答特性と共に，信号を測定する間ヘッドとテープとを安定に接触させ，信号対雑音比を15 dB以上

にする。

B.3 測定方法平均ビットセルの長さ (L) は，試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差

点 (RZC) の間隔から得る。基準ゼロ交差点は，少なくとも両側にそれぞれ2個以上のビット “1” のゼロ

交差点をもつようなビット “1” のゼロ交差点とし，その変化率を2%未満に保つため，40ビットセル以下

とする。

12.2に規定したビットシフト値は，ユーザーデータが11.〜14.の規定によって記録した場合に適用する。

B.4 データ分析二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数をnとしたとき，平均ビットセル長は，

次による。

3−

最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間にmビットの間隔がある場合，ビットシフトは，次によ

る。

(

)100

−

ここに， BS：ビットシフト

L：平均ビットセル長

Pn： n番目の “1” パターンのゼロ交差点

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附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換

8ビットバイトから10ビットパターンへの変換アルゴリズムは，次による。8ビットバイトは，10進数

で表す。

前に記録したビット “1” の数が偶数の場合，no̲of̲onesは，0とする。前に記録したビット “1” の数が

奇数の場合，no̲of̲onesは，1とする。

Chargeは，前に記録したビットの直流成分の値である。Chargeは，NRZのデータストリームで計算し，

次による。

charge＝0

no̲of̲ones＝0

while (there are input̲nrz̲bits)

if (input̲nrz̲bit＝＝1)

if (no̲of̲ones＝＝0)

charge＝charge−1

else

charge＝charge＋1

no̲of̲ones＝-no̲of̲ones

else

if (no̲of̲ones＝＝0)

charge＝charge＋1

else

charge＝charge−1

符号化の規則は，次による。

no̲of̲ones＝＝0 AND charge＜0又はno̲of̲ones＝＝1 AND charge＞0の場合，8ビットバイトを表1の値

で符号化し，それ以外の場合，表2で符号化する。

8ビットバイトは，最上位ビットを左側とし，10ビットパターンは，最初に記録するビットを左側とす

る。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

(00)

1010111111

(01)

1011010001

(02)

1011010011

(03)

1011010110

(04)

1011100010

(05)

1011100101

(06)

1011100111

(07)

1011101010

(08)

1011101101

(09)

1011101111

(0A)

1011111001

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

(0B)

1011111110

(0C)

1100010001

(0D)

1100010011

(0E)

1100010110

(0F)

1100100010

(10)

1100100101

(11)

1100100111

(12)

1100101010

(13)

1100101101

(14)

1100101111

(15)

1100111001

(16)

1100111011

(17)

1100111110

(18)

1101001001

(19)

1101001011

(1A)

1101001110

(1B)

1101010010

(1C)

1101010101

(1D)

1101010111

(1E)

1101011010

(1F)

1101011101

(20)

1101011111

(21)

1101101001

(22)

1101101011

(23)

1101101110

(24)

1101110010

(25)

1101110101

(26)

1101110111

(27)

1101111010

(28)

1101111101

(29)

1101111111

(2A)

1110010001

(2B)

1110010011

(2C)

1110010110

(2D)

1110100010

(2E)

1110100101

(2F)

1110100111

(30)

1110101010

(31)

1110101101

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

(32)

1110101111

(33)

1110111001

(34)

1110111011

(35)

1110111110

(36)

1111001001

(37)

1111001011

(38)

1111001110

(39)

1111010010

(3A)

1111010101

(3B)

1111010111

(3C)

1111011010

(3D)

1111011101

(3E)

1111011111

(3F)

1111101001

(40)

1111101011

(41)

1111101110

(42)

1111110010

(43)

1111110101

(44)

1111110111

(45)

1111111010

(46)

0110110010

1110011010

−2

(47)

1010011001

1110110010

−2

(48)

0010001001

(49)

0010001011

(4A)

0010001110

(4B)

0010010010

(4C)

0010010101

(4D)

0010010111

(4E)

0010011010

(4F)

0010011101

(50)

0010011111

(51)

0010101001

(52)

0010110010

(53)

0011010001

(54)

0011010011

(55)

0011100010

(56)

0011100101

(57)

0011100111

(58)

0011111001

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

(59)

0100010001

(5A)

0100010011

(5B)

0100010110

(5C)

0100100010

(5D)

0100100101

(5E)

0100100111

(5F)

0100101010

(60)

0100101101

(61)

0100101111

(62)

0100111001

(63)

0100111011

100

(64)

0100111110

101

(65)

0101001001

102

(66)

0101001011

103

(67)

0101001110

104

(68)

0101010010

105

(69)

0101101001

106

(6A)

0101110010

107

(6B)

0110010001

108

(6C)

0110010011

109

(6D)

0110010110

110

(6E)

0110100010

111

(6F)

0110100101

112

(70)

0110100111

113

(71)

0110111001

114

(72)

0111001001

115

(73)

0111001011

116

(74)

0111001110

117

(75)

0111010010

118

(76)

0111101001

119

(77)

0111110010

120

(78)

1000100011

121

(79)

1000100110

122

(7A)

1001000101

123

(7B)

1001000111

124

(7C)

1001001010

125

(7D)

1001001101

126

(7E)

1001001111

127

(7F)

1001011001

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

128

(80)

1001011011

129

(81)

1001011110

130

(82)

1001110001

131

(83)

1001110011

132

(84)

1001110110

133

(85)

1010001001

134

(86)

1010001011

135

(87)

1010001110

136

(88)

1010010010

137

(89)

1010010101

138

(8A)

1010010111

139

(8B)

1010011010

140

(8C)

1010011101

141

(8D)

1010011111

142

(8E)

1010101001

143

(8F)

1010110010

144

(90)

1101100101

1001001011

−2

145

(91)

1101100111

1001001011

−2

146

(92)

1101101010

1001001110

−2

147

(93)

1101101101

1001010010

−2

148

(94)

1101101111

1001010101

−2

149

(95)

1101111001

1001010111

−2

150

(96)

1101111011

1001011010

−2

151

(97)

1101111110

1001011101

−2

152

(98)

1110100011

1001011111

−2

153

(99)

1110100110

1001101001

−2

154

(9A)

1111000101

1001101011

−2

155

(9B)

1111000111

1001101110

−2

156

(9C)

1111001010

1001110010

−2

157

(9D)

1111001101

1001110101

−2

158

(9E)

1111001111

1001110111

−2

159

(9F)

1111011001

1001111010

−2

160

(A0)

1111011011

1001111101

−2

161

(A1)

1111011110

1001111111

−2

162

(A2)

1111110001

1010010011

−2

163

(A3)

1111110011

1010010110

−2

164

(A4)

1111110110

1010100101

−2

165

(A5)

0010010001

1010100111

−2

166

(A6)

0010010011

1010101010

−2

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

167

(A7)

0010010110

1010101111

−2

168

(A8)

0010100101

1010111001

−2

169

(A9)

0010100111

1010111110

−2

170

(AA)

0010101010

1011001001

−2

171

(AB)

0010101101

1011001011

−2

172

(AC)

0010101111

1011001110

−2

173

(AD)

0010111001

1011010010

−2

174

(AE)

0010111011

1011010111

−2

175

(AF)

0010111110

1011011010

−2

176

(B0)

0011001001

1011011101

−2

177

(B1)

0011001011

1011011111

−2

178

(B2)

0011001110

1011101001

−2

179

(B3)

0011010010

1011101011

−2

180

(B4)

0011010101

1011101110

−2

181

(B5)

0011010111

1011110010

−2

182

(B6)

0011011010

1011110101

−2

183

(B7)

0011011101

1011110111

−2

184

(B8)

0011011111

1011111010

−2

185

(B9)

0011101001

1011111101

−2

186

(BA)

0011101011

1011111111

−2

187

(BB)

0011101110

1100100011

−2

188

(BC)

0011110010

1100100110

−2

189

(BD)

0011110101

1101001010

−2

190

(BE)

0011110111

1101001101

−2

191

(BF)

0011111010

1101001111

−2

192

(C0)

0011111101

1101011001

−2

193

(C1)

0011111111

1101011011

−2

194

(C2)

0100100011

1101011110

−2

195

(C3)

0100100110

1101110011

−2

196

(C4)

0101000101

1101110110

−2

197

(C5)

0101000111

1110010010

−2

198

(C6)

0101001010

1110010101

−2

199

(C7)

0101001101

1110010111

−2

200

(C8)

0101001111

1110011101

−2

201

(C9)

0101011001

1110011111

−2

202

(CA)

0101011011

1110101001

−2

203

(CB)

0101011110

1110101011

−2

204

(CC)

0101110001

1110101110

−2

205

(CD)

0101110011

1110110101

−2

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

206

(CE)

0101110110

1110110111

−2

207

(CF)

0110010010

1110111010

−2

208

(D0)

0110010101

1110111101

−2

209

(D1)

0110010111

1110111111

−2

210

(D2)

0110011101

1111010011

−2

211

(D3)

0110011111

1111010110

−2

212

(D4)

0110101001

1111100101

−2

213

(D5)

0110101011

1111100111

−2

214

(D6)

0110101110

1111101010

−2

215

(D7)

0110110101

1111101101

−2

216

(D8)

0110110111

1111101111

−2

217

(D9)

0110111010

1111111001

−2

218

(DA)

0110111101

1111111011

−2

219

(DB)

0110111111

0010001010

−2

220

(DC)

0111010001

0010001111

−2

221

(DD)

0111010011

0010011011

−2

222

(DE)

0111010110

0010011110

−2

223

(DF)

0111100010

0010110011

−2

224

(E0)

0111100101

0010110110

−2

225

(E1)

0111100111

0011100011

−2

226

(E2)

0111101010

0011100110

−2

227

(E3)

0111101101

0100101001

−2

228

(E4)

0111101111

0100101011

−2

229

(E5)

0111111001

0100101110

−2

230

(E6)

0111111011

0100110101

−2

231

(E7)

0111111110

0100110111

−2

232

(E8)

1010001010

0100111010

−2

233

(E9)

1010001111

0100111101

−2

234

(EA)

1010011011

0100111111

−2

235

(EB)

1010011110

0101010011

−2

236

(EC)

1010110011

0101010110

−2

237

(ED)

1010110110

0101100101

−2

238

(EE)

1011100011

0101100111

−2

239

(EF)

1011100110

0101101010

−2

240

(F0)

1100010010

0101101101

−2

241

(F1)

1100010101

0101101111

−2

242

(F2)

1100010111

0101111001

−2

243

(F3)

1100011101

0101111011

−2

244

(F4)

1100011111

0101111110

−2

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト (10進数) バイト (16進数) 表1，パターン

直流成分

表2，パターン

直流成分

245

(F5)

1100101001

0110100011

−2

246

(F6)

1100101011

0110100110

−2

247

(F7)

1100101110

0111001010

−2

248

(F8)

1100110101

0111001101

−2

249

(F9)

1100110111

0111001111

−2

250

(FA)

1100111010

0111011001

−2

251

(FB)

1100111101

0111011011

−2

252

(FC)

1100111111

0111011110

−2

253

(FD)

1101010001

0111110011

−2

254

(FE)

1101010011

0111110110

−2

255

(FF)

1101010110

1000111011

−2

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書D（規定）データ領域のCRCの生成

2バイトのCRCは，物理ブロックのデータ領域の1 038バイトから算出し，51列18行及び51列19行

に割り当てる。2バイトのCRCバイトの生成は，次による。

()∑

＝

()

()(

)

∑

−

1037

1039

D＝

GCRC (x)＝x16＋x12＋x5＋1

C (x) ＝D (x)mod Gcrc (x)

()

(

)

∑

＋

＝

＋

ここに， Dk： c列及びr行のバイト

k＝0〜1 037

c＝0〜51

r＝0〜19

k＝ (10c＋r) ： cが偶数のとき

k＝ (10c＋r＋510) ： cが奇数のとき

Dk，0，Dk，1，…，Dk，7 : Dk，7を最上位ビットとするDkの8ビッ

ト

CH0, CH1, …, CH7：第1CRCバイト (CH) のビットを表し，CH7を

最上位ビット

CL0, CL1, …, CL7：第2CRCバイト (CL) のビットを表し，CL7を最

上位ビット

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書E（規定） ECCの生成

ECCは，リード・ソロモン符号 (30, 26, 5) を水平符号，リード・ソロモン符号 (24, 20, 5) を垂直符号

とし，水平ECCバイト及び垂直ECCバイトの2種類の検査バイトを生成する。

ガロア体GF (28) は，次による。

Gα (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1

水平ECCバイトと垂直ECCバイトの生成多項式は，次による

()

(

)

∏

−

＝

ここに，ここに，GF (28) の原始元は，αとする。

ECCの変換演算子は，次による。

B＝T [A] ：A＝T−1 [B]

ここに，

T [A] ： 8ビットECCバイトの線型変換演算子

T-1 [B] ： 8ビットECCバイトの逆線型変換演算子

バイトAとバイトBの相互変換は，次による。

B0＝A0＋A2＋A3＋A5＋A7

A0＝B5

B1＝A3＋A4＋A6＋A7

A1＝B4

B2＝A0＋A6＋A7

A2＝B5＋B7

B3＝A0＋A1＋A6

A3＝B2＋B6＋B7

B4＝A1

A4＝B1＋B5＋B6＋B7

B5＝A0

A5＝B0＋B4＋B5＋B6

B6＝A1＋A2＋A3＋A7

A6＝B3＋B4＋B5

B7＝A0＋A1＋A2＋A6

A7＝B2＋B3＋B4

水平ECCバイト Dc, rは，cを0〜51の列番号，rを0〜19の行番号とし，11.2.1の図29に示す情報マト

リクスのデータ部分のバイトを表す。

DHEr (x) は，r行の偶数列のバイトを変換した値 (T) を係数とする多項式，TCREk, rは，r行の偶数列の

水平ECCバイトの変換，CREk, rは，r行の偶数水平ECCバイトを表し，それぞれ次による。

()

[

]

DHE

−

=∑

＝

()

TCRE

DHE

−

=∑

mod

＝

CREk, rT−1 [TCREk, r]

ここに， r＝0, 1, …, 19

k＝1, 2, 3, 4

CREk, rは，c＝50＋2kとするc列及び各r行のセルに格納する。

DHOr (x) は，r行の奇数列のバイトを変換した値 (T) を係数とする多項式，TCROk, rは，r行の奇数列

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

の水平ECCバイトの変換，CROk, rは，r行の奇数水平ECCバイトを表し，それぞれ次による。

()

[

]

DHO

−

∑

()

TCRO

DHO

−

=∑

mod

CROk, r＝T-1 [TCROk, r]

ここに， r＝0, 1, …, 19

k＝1, 2, 3, 4

CROk, rは，c＝51＋2kとするc列及び各r行のセルに格納する。

垂直ECCバイト Dc, rは，cを0〜59の列番号，rを0〜19の行番号とし，11.2.1の図29に示す情報マト

リクスのデータ及び水平ECC部分のバイトを表す。

DVc (x) は，c列のバイトを変換した値 (T) を係数とする多項式，TCCc, kは，c列の中の垂直ECCバイ

トの変換，CCc, kは，c列の中の垂直ECCバイトを表し，それぞれ次の式による。

()

[

]

−

=∑

＝

()

TCC

−

=∑

mod

＝

CCc, k＝T-1 [TCCc, k]

ここに， r＝0, 1,…，59

k＝1, 2, 3, 4

CCc, kは，r＝19＋kとするc列及び各r行のセルに格納する。

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書F（規定）論理ブロックのCRCの生成

2バイトのCRCは，各論理レコードのユーザーデータから算出し，論理レコードの最後のバイトに続く

セルに順に格納される。2バイトのCRCバイトの生成は，次による。

()∑

＝

()

()(

)

∑−

−

D＝

GCRC (x) ＝x16＋x12＋x5＋1

C (x) ＝D (x)mod Gcrc (x)

()

(

)

∑

C＋

ここに，

Dk：論理レコードのk番目のバイト

Dk, j： k番目のバイトのj番目のビット

n：論理レコードのユーザーデータバイトの数

CH0, CH1, …, CH7：第1CRCバイト (CH) のビットを表し，CH7

を最上位ビット

CL0, CL1,…，CL7：第2CRCバイト (CL) のビットを表し，CL7を

最上位ビット

X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G（規定）ハミングコードECCの生成

サーチフィールドのバイトは，8ビットデータベクトル [a7 a6 a5 a4 a3 a2 a1 a0] で表し，a7をバイトの最

上位ビット，a0を最下位ビットとする。各ベクトルは，次の生成マトリックスを乗算して，12ビットハミ

ング符号ベクトル [h11, h10, h11, h9, h8, h7, h6, h5, h4, h3, h2, h1, h0] に変換する。

＝

追加のパリティビットp0は，次による。

p0＝〜 [h11＋h10＋h11＋h9＋h8＋h7＋h6＋h5＋h4＋h3＋h2＋h1＋h0]

パリティビットを12ビットハミング符号ベクトルに追加し，13ビットベクトルを生成する。

[h11 h10 h11 h9 h8 h7 h6 h5 h4 h3 h2 h1 h0 p0]

各28バイトのサーチフィールドデータ及び2バイトのサーチフィールドCRCは，8ビットバイトから

13ビット符号バイトへ変換する。