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K 0215:2016  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 分類······························································································································· 1 

3 用語及び定義 ··················································································································· 1 

3.1 一般共通 ······················································································································ 2 

3.2 電気化学分析機器 ·········································································································· 3 

3.3 光分析機器 ··················································································································· 6 

3.4 電磁気分析機器 ············································································································ 12 

3.5 表面分析機器 ··············································································································· 24 

3.6 分離分析機器 ··············································································································· 27 

3.7 流れ分析機器 ··············································································································· 36 

3.8 熱分析機器 ·················································································································· 37 

3.9 自動(連続)分析機器(環境分析,プロセス用・現場用分析) ·············································· 40 

3.10 バイオテクノロジー分析機器 ························································································· 45 

K 0215:2016  

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本

分析機器工業会(JAIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。 

これによって,JIS K 0215:2005は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

K 0215:2016 

分析化学用語(分析機器部門) 

Technical terms for analytical chemistry (Analytical instrument part) 

適用範囲 

この規格は,化学分析における分析機器部門で用いる主な用語及びその定義について規定する。 

分類 

用語の分類は,次による。 

a) 一般共通 

b) 電気化学分析機器 

c) 光分析機器 

d) 電磁気分析機器 

1) 質量分析機器 

2) X線分析機器 

3) 電子顕微鏡 

4) 核磁気共鳴装置 

e) 表面分析機器 

f) 

分離分析機器 

1) クロマトグラフ 

2) 電気泳動分析機器 

g) 流れ分析機器 

h) 熱分析機器 

i) 

自動(連続)分析機器(環境分析,プロセス用・現場用分析) 

j) 

バイオテクノロジー分析機器 

用語及び定義 

用語及び定義は,次による。 

なお,記載方法は,次による。 

a) 二つ以上の用語を並べた場合は,その欄の順序に従って優先使用する。 

b) 用語は,通常それぞれ箇条2の分類の範囲内で用いるものであるが,誤解のおそれのある用語につい

ては,用語の後の丸括弧内に使用分野を示す。 

c) 用語の読み方が紛らわしいものについては,用語の下に丸括弧書きでひらがなの読み方を示す。 

d) 対応英語(参考)で,コンマ(,)を挟んで二つ以上併記してあるものは,それぞれ同義語である。 

e) 汎用されるアルファベットによる略記号は,用語及び対応英語の欄に併記する。 

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K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

3.1 

一般共通 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

1001 

機器分析 

機器を使用する化学分析。特に電磁気分析,光分析,熱
分析,クロマトグラフィーなどの大形又は中形の装置を
使用する場合にいう。 

instrumental analysis 

1002 

検出下限, 
検出限界 

検出できる最小量(値)。 

limit of detection (LOD), 
detection limit, 
limit of identification 

1003 

検出器 

測定の対象となる物理量,物質などを検知して,電流,
電圧などの信号に変換するための素子,器具又は装置の
総称。 

detector 

1004 

検知管 

管内に発色試薬などを含む吸着剤又は液体を充塡し,こ
れに気体を通過させ,その気体の微量成分の検出又は簡
易な定量を行うための器具。 

detecting tube 

1005 

検量線 

物質の特定の性質,量,濃度などと測定値との関係を表
した線。 

calibration curve, 
working curve 

1006 

検量線用溶液 

検量線を作成するために使用する濃度既知の溶液。 

working solution 

1007 

校正(分析計の) 

標準器,標準物質などを用いて分析計の表す値とその真
の値との関係を求め,偏りを補正する操作。 

calibration (of analyzer) 

1008 

最小目盛 

装置がもつ最小の目盛。 

minimum scale 

1009 

最大目盛 

装置がもつ最大の目盛。 

maximum scale 

1010 

試料溶液 

液体又は固体の試料を前処理して,測定できる状態に調
製した溶液。 

test solution 

1011 

超臨界流体抽出, 
SFE 

超臨界流体を用いた抽出。 

supercritical fluid 

extraction, 

SFE 

1012 

定性分析 

物質に含まれる分析種の種類を明らかにするために行う
化学分析。 

qualitative analysis 

1013 

定量下限 

ある分析方法で,分析種の定量が可能な最小量(値)又
は最小濃度。 

minimum limit of 

determination 

1014 

定量上限 

ある分析方法で,分析種の定量が可能な最大量(値)又
は最大濃度。 

maximum limit of 

determination 

1015 

定量分析 

分析種の量的関係を明らかにするために行う化学分析。 quantitative analysis 

1016 

定量範囲 

定量上限から定量下限までの範囲。 

range of quantitation 

1017 

内標準法 

分析種(A)を含む複数標準試料に分析対象とは異なる
標準の一定量(B)を添加して分析を行い,量比(A/B)
と信号比(IA/IB)との関係線を作成し,次に目的試料に
内標準成分の既知量を添加して分析し,先に求めた関係
線から分析種を定量する方法。 

internal standard method 

1018 

バリデーション 

手順,工程,機械設備,原材料,行動又はシステムのい
ずれもが,所期の結果を与えることを立証する成文化さ
れた行為。 

validation 

1019 

分解 

分離,定性,定量などの操作を行う前に,試料に化学的
操作を施して,処理しやすい形の構成成分の混合物に変
える処理。 

decomposition 

1020 

分析計, 
分析機器 

分析種の性質,構造,組成などの定性的,定量的な測定
を行い,規定の信号に変換する機械又は機器。 

analyzer, 
analyser 

1021 

分析検査 

調製した分析用試料を用いて分析し,その結果を製品規
格に規定した化学成分の規定値と比較判定する合否検
査。 

− 

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K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

1022 

分析誤差 

化学分析を行うときに生じる誤差。 

analytical error, 
analysis error 

1023 

分析システム 

複数の分析用要素が有機的に関係し合い,全体としてま
とまった機能を発揮する分析装置の集合体。 

analytical instruments 

system 

1024 

分析種, 
分析対象成分 

分析試料又は試料溶液中の被検成分。 

analyte 

1025 

分析試料 

a) 分析を行うために,分析用試料からはかりとった試

料。 

b) 測定にかけられる状態に調製した試料。 

analytical sample 

1026 

分析線 

a) 分光分析において,元素の定量に利用される特定の

線スペクトル(目的元素の輝線)。 

b) 発光分析において,特定元素の定量のために利用し

ようとする特定波長の輝線。 

analytical line 

1027 

分析装置 

分析試料の測定,データ解析などの機能をもった装置。 analytical instrument 

3.2 

電気化学分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

2001 

アノード 

電気化学的酸化反応が起こる側の電極。 

anode 

2002 

アンペロメトリー 

作用電極に一定の電位(電圧)を印加して流れる電流を
測定する分析法。 

amperometry 

2003 

イオン移動ボルタンメ

トリー 

二つの液体中に入れた電極によって分極電位を変え,界
面を横切るイオンの移動による電流を測定する方法。 

ion transfer voltammetry 

2004 

イオン交換膜電極 

イオン交換膜を感応膜とするイオン選択性電極。 

ion-exchange membrane 

electrode 

2005 

イオン選択性電極式濃

度計, 

イオンメーター, 
イオン計 

検出にイオン選択性電極を用いてイオン濃度(活量)を
測定する機器。 

ion meter 

2006 

イオン電極, 
イオン選択性電極, 
ISE 

溶液中の特定イオンの活量に応答し,電位を発生する電
極。 

ion selective electrode, 
ISE 

2007 

液間電位差 

二種の電解質溶液が接触するときに,その両電解質溶液
間に生じる電位差。 

liquid junction potential 

2008 

液絡(電気化学分析の) 電解質溶液による電気的な接続。 

liquid junction (for 

electrochemical 
analysis) 

2009 

塩橋 

二つ電解質溶液の混合を防止して相互作用を減少させ,
電気的な接触を得るために用いる電解質の溶液又はゲ
ル。 

salt bridge 

2010 

カソード 

電気化学的還元反応が起こる側の電極。 

cathode 

2011 

ガラス電極 

ガラス膜を感応膜とするH+,Na+などのイオン選択性電
極。一般には,H+を測定する電極を指す。 

glass electrode 

2012 

ガルバニ電池 

二種の異なる金属を半電池として,金属などの電子伝導
体の相と電解質溶液などのイオン伝導体とを含む少なく
とも二つの相が直列に接続している電池。 

galvanic cell 

2013 

ガルバニ電池式酸素計 作用電極(Agカソードなど)と対極(Pbアノードなど)

とからなる電池で,隔膜を通して拡散する酸素の還元電
流を測定して酸素濃度を測定する機器。 

galvanic cell type 

oxygen analyzer 

2014 

ガルバノスタット 

作用電極に流れる電流を一定に保って電解する機器。 

galvanostat 

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K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

2015 

カロメル電極 

Hg|Hg2Cl2|Cl−の電極系からなる参照電極(比較電
極)。 

calomel electrode 

2016 

銀−塩化銀電極 

Ag|AgCl|Cl−の電極系からなる参照電極(比較電極)。 silver-silver chloride 

electrode 

2017 

くし形電極 

微小くし形の電極を2個,対向させた,化学的に可逆な
系に対して片側で酸化,もう一方の電極で還元を起こさ
せ,電極間での酸化還元を効率よく起させることによっ
て,検出感度を増大できる電気化学電極。 

comb electrode 

2018 

クーロメーター, 
ボルタメーター 

電流と時間との積である電気量を求める装置。 

coulometer, 
voltameter 

2019 

酵素電極 

酵素を固定した酵素膜を反応の場とする膜電極。 

enzyme electrode 

2020 

固体電解質 

イオン伝導性をもつ固体。 

solid electrolyte 

2021 

固体膜電極 

難溶性の固体感応膜を利用するイオン選択性電極。 

solid-state membrane 

electrode 

2022 

サイクリックボルタン

メトリー 

作用電極の電位をある範囲内で往復掃引し,応答して流
れる電流と電極電位との関係を測定するボルタンメトリ
ー。 

cyclic voltammetry 

2023 

作用電極 

電極反応を行わせるための電極のうち,目的の電極反応
が行われる電極。 

working electrode 

2024 

酸化還元電位差計, 
ORP計 

水溶液中の酸化体と還元体との活量比の平衡電位を測定
するための機器。 

oxidation-reduction 

potentiometer 

2025 

参照電極, 
比較電極 

作用電極又は指示電極と組み合わせて,電位を測定又は
制御するために基準とする電極。 

reference electrode 

2026 

残余電流 

注目する電極反応過程以外の原因で流れる電流。 

residual current 

2027 

支持電解質 

電極反応系において,泳動電流を無視できる程度に小さ
くするために用いる,より難電解性の電解質。 

supporting electrolyte 

2028 

指示電極 

溶液の電気化学的性質の変化を監視するための電極。 

indicator electrode 

2029 

修飾電極 

付加的な機能をもたせるために,表面を適切な化学種で
修飾した電極。 

modified electrode 

2030 

ジルコニア式酸素計 

部分安定化したジルコニアを固体電解質として用いる電
気化学的な酸素濃度計。 

zirconia type oxygen 

analyzer 

2031 

水素電極 

Pt|H2|H+の半電池からなり,2H++2e=H2の電極反応
平衡電位を示す電極。 

hydrogen electrode 

2032 

ストリッピング法, 
溶出波ボルタンメトリ

ー 

目的成分を電解によって電極上に析出,濃縮させた後,
電気化学的に溶出させて,溶出電位からイオンの定性分
析を,その電流値又は電気量から定量分析する方法。 

stripping method 

2033 

セル定数(電気伝導率

測定の) 

電気伝導率を測定するセル固有の定数で,コンダクタン
スと電気伝導率との比。 

cell constant (for 

conductivity 
measurement) 

2034 

選択係数(イオン電極

の) 

水溶液中の共存イオンが,測定対象イオンによる電位に
及ぼす影響の程度を示す値。 

selectivity constant (of 

ion selective electrode) 

2035 

電気化学インピーダン

ス法 

試料に交流電圧を印加したときに流れる電流から,試料
特性を評価する方法。 

electrochemical 

impedance method 

2036 

対極 

作用電極と対にして用いる電極。 

counter electrode 

2037 

直流ポーラログラフィ

ー 

電極に直流電圧を印加掃引して電極電位と電流との関係
を解析する分析方法。 

direct current 

polarography 

2038 

定電位電解分析法 

作用電極の電位を一定にして電解を行う分析方法。 

electrolytic analysis at 

constant potential 

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K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

2039 

定電流電解分析法 

作用電極に流れる電流を一定にして電解を行う分析方
法。 

electrolytic analysis at 

constant current 

2040 

滴下水銀電極 

毛管の先端から水銀を滴下させて用いる電極。 

dropping mercury 

electrode 

2041 

電位差滴定法 

分析種を含む溶液中に浸した指示電極の電位変化を測定
して,滴定の終点を求める滴定方法。 

potentiometric titration 

2042 

電解重量分析法 

電解によって電極上に析出した物質の質量を測定して,
分析する方法。 

electrogravimetric 

analysis 

2043 

電解分析法 

電解によって変化する化学量を測定して,定性及び/又
は定量を行う電気化学分析法。 

electrolytic analysis 

2044 

電気化学光電池 

電子伝導体又はイオン伝導体中の化学種が光エネルギー
を吸収して生じる電気化学反応を駆動力とする電池。 

electrochemical 

photocell 

2045 

電気化学セル 

電気化学分析において電気化学現象の進行する電極をも
つ容器。 

electrochemical cell 

2046 

電気化学発光法 

電極反応に伴って生じる光のふく(輻)射を測定する分
析方法。 

electro- 

chemiluminescence 

2047 

電気化学分析法 

物質の電気的性質又は電気化学的性質を利用して定性及
び/又は定量を行う分析方法。 

electrochemical analysis 

2048 

電気伝導度(溶液の) 溶液の電気抵抗(Ω)の逆数。単位はS(ジーメンス)。 conductance (of solution) 

2049 

電気伝導率(溶液の), 
導電率(溶液の) 

溶液がもつ電気抵抗率(Ω・m)の逆数。単位はS/m。 

conductivity (of solution) 

2050 

電気伝導率計, 
導電率計 

溶液の電気伝導率を測定する機器。 

conductivity meter 

2051 

電気伝導率セル, 
導電率セル 

電気伝導率を測定するためのセル。 

conductivity cell 

2052 

電気伝導度滴定法 

分析種を含む溶液の電気伝導度の変化から滴定の終点を
求める滴定法。 

conductometric titration 

2053 

電流滴定法 

分析種を含む溶液に浸した電極間に流れる電流変化から
滴定の終点を決定する滴定法。 

amperometric titration 

2054 

電量滴定法, 
クーロン滴定法 

電流効率100 %で電解発生させた滴定剤で滴定を行い,
電解に要した電気量から定量を行う滴定法。 

coulometric titration 

2055 

電量分析法 

100 %の電流効率が得られる条件で分析種を直接電解
し,完全に電解されつくすまでに要する電気量から定量
を行う分析方法。 

coulometric analysis 

2056 

内部電極 

内部液をもつ電極の内部液中に挿入して組み込まれた半
電池。 

internal electrode 

2057 

濃淡電池 

電解質の濃度だけが異なる二つの半電池から構成される
電池。 

concentration cell 

2058 

パルスポーラログラフ

ィー 

ポーラログラフィーにおいて,電極間電位の変化にパル
ス状電圧を重畳させる分析方法。 

pulse polarography 

2059 

半電池 

金属などの電子伝導体の相と電解質溶液などのイオン伝
導体の相とを含む,少なくとも二つの相が直列に接触し
ている系。 
注記 二つの半電池を組み合わせれば電池を構成するこ

とができる。 

half cell 

2060 

半導体電気化学センサ

ー 

電気化学反応による信号を半導体素子の特性に変換して
動作するセンサー。 

semiconductor 

electrochemical sensor 

2061 

半波電位 

電気活性物質の電流電位曲線において,波高又は拡散電
流値の半分の電流を与える電位。記号はE1/2で示す。 

half-wave potential 

background image

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

2062 

pH計 

指示電極と比較電極との電位差から水溶液のpH値を測
定する機器。 

pH meter 

2063 

pHスタット 

溶液のpH値を一定に保持する機器。 

pH-stat 

2064 

微小電極(電気化学分

析の) 

電極間に電流を流しても溶液中の電気活性成分の濃度変
化が無視できるほど小さな表面積をもつ電極。 

microelectrode (for 

electrochemical 
analysis) 

2065 

微分パルスポーラログ

ラフィー 

パルス状電圧を重畳させて得られるポーラログラムの微
分係数を解析して行う分析方法。 

derivative pulse 

polarography 

2066 

フロークーロメトリー 流れ分析にフロー電解セルを用いる電量分析法。 

flow coulometry 

2067 

フロー電解セル 

目的の電気活性物質が電解セルの入口から出口に至る間
に,ほぼ100 %の電解効率で迅速電解できる流通式電気
化学セル。 

flow electrolytic cell 

2068 

ポーラログラフ 

ポーラログラフィーを行うための装置。 

polarograph 

2069 

ポーラログラフィー 

電極間電位を変化させながら,電解によって得られる電
流−電位(電圧)曲線を解析して行う分析方法。ボルタ
ンメトリーと同義で用いられるが,滴下水銀電極を用い
る場合はこの用語を用いる。 

polarography 

2070 

ポーラログラフ式酸素

計 

選択性ガス透過膜で被覆した固定電極を用いて,酸素の
ポーラログラフィー(ボルタンメトリー)を行う濃度計。 

polarographic oxygen 

analyzer 

2071 

ポテンシオスタット 

作用電極の電位を一定に保って電解する機器。 

potentiostat 

2072 

ボルタモグラム 

ボルタンメトリーで得られる,電流−電位(電圧)曲線。 voltammogram 

2073 

ボルタンメトリー 

電極間電位を変化させながら,電解によって得られる電
圧−電流曲線又は電流−電位(電圧)曲線を解析して行
う分析方法。ポーラログラフィーの中で,電極に水銀を
用いない場合,主にこの用語を用いる。 

voltammetry 

2074 

膜電極 

選択性膜とその内側に設置された各種電極とで構成され
る電極系。 

membrane electrode 

2075 

溶存酸素計 

水又は水溶液中の溶存酸素を測定する機器。 

dissolved oxygen meter 

3.3 

光分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3001 

エシェル格子 

きょ(鋸)歯状の直線溝を刻み,溝の急斜面側に光を入
射させ,高次の回折線を得られるようにした回折格子。 

echelette grating 

3002 

イオン化干渉(発光分

光分析の) 

試料溶液中に共存する元素がプラズマでイオン化し,電
子密度が増加することによって,分析種のイオン化率が
変化する現象。 

ionic interference (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3003 

インターフェログラム,
干渉図形 

干渉計からの信号を,光の光路差を横軸に,光の強度を
縦軸にとって示した図形。 

interferogram 

3004 

炎光光度計 

励起源に炎を用い,分析種の発光スペクトル強度を測定
する機器。 

flame photometer 

3005 

炎光分光光度計 

波長選択部にモノクロメーターを用いた炎光光度計。 

flame spectrophotometer 

3006 

円二色性分散計 

紫外線から赤外線領域における試料の円偏光二色性スペ
クトルを測定する機器。 

circular dichroism 

spectrometer 

3007 

回折格子 

平面に格子状の溝を刻み,光の回折現象を利用する分散
素子。凹面形状のものもある。 

diffraction grating 

3008 

化学修飾剤 

試料溶液中の干渉成分の影響を除去又は抑制するために
用いられる物質。 

matrix modifier 

3009 

化学干渉 

測定の過程で生成する化合物によって生じる干渉。 

chemical interference 

background image

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3010 

拡散反射法 

拡散された反射光から反射率を求める方法。 

diffused reflection 

3011 

還元気化法(原子吸光

分析の) 

原子吸光分析のため,試料溶液中の分析種を還元しガス
状物質とする方法。 

reducing vaporization 

method (for atomic 
absorption 
spectrometry) 

3012 

干渉(光分析の) 

a) 原子スペクトル分析において,共存物の影響などに

よって分析値に誤差を生じる現象。 

注記 分光干渉,物理干渉,化学干渉,イオン化

干渉などがある。 

b) 二つ以上の光波が同一点で重なり合って互いに強め

合う,又は弱め合う現象。 

interference (for optical 

analysis) 

3013 

干渉フィルター 

薄膜又はその多重層膜の光の干渉作用を利用し,必要と
する波長の光を取り出せるようにした光学フィルター。 

interference filter 

3014 

キセノンランプ 

高圧で封入したキセノン中でのアーク放電を用いた放電
管。 

xenon lamp 

3015 

逆火 
(ぎゃっか) 

炎がバーナー内に引き込まれて燃焼する現象。 

back fire, 
flash back 

3016 

キャリヤーガス(ICP

発光分光分析の) 

誘導結合プラズマにおいて,試料をプラズマへ導入する
ためのガス。 

carrier gas (for ICP 

atomic emission 
spectrometry) 

3017 

キャリヤーガス(原子

吸光分析又は発光分
光分析の) 

試料溶液又はその霧若しくは分析種の蒸気を搬送するた
めのガス。 

carrier gas (for atomic 

absorption 
spectrometry or atomic 
emission spectrometry) 

3018 

吸光度 

試料を透過した光の強度と,透過前の光の強度との比を
常用対数で表した数値。 

absorbance 

3019 

吸収セル 

光の吸収を測定するために試料,対照液,ガスなどを入
れる容器。 

absorption cell 

3020 

蛍光 

物質の分子が光によって励起一重項状態に励起され,そ
れが基底状態に遷移するときに発生する光。 

fluorescence 

3021 

蛍光光度計 

蛍光強度を測定する機器。 

fluorometer 

3022 

蛍光分光光度計 

波長選択のために,励起光側はフィルター,蛍光測光側
はモノクロメーターを用いて蛍光強度を測定する機器。
励起光側にモノクロメーター,蛍光測光側にフィルター
を用いた機器も蛍光分光光度計という。 

spectrofluorometer, 
fluoro spectrophotometer 

3023 

原子吸光光度計 

分析種を原子化し,その原子蒸気による光の吸収を測定
する機器。 

atomic absorption 
spectrometer 

3024 

原子吸光分光光度計 

波長選択部にモノクロメーターを用いた原子吸光光度
計。 

atomic absorption 

spectrophotometer 

3025 

光学的零位法 

複光束方式の分光分析機器において,試料側光束の光量
と対照側光束の光量とが等しくなるように,対照側の光
束中に設置した光減衰器を出し入れさせ,その変位から
透過率を求める方法。 

optical null method 

3026 

光学フィルター 

特定波長域の光を通過させ,他の波長域の光を吸収する
物質からなる層を用いて,特定波長域の光を取り出すた
めに用いる光学素子。 

optical filter 

3027 

光源 

光分析において,光波(光量子)を発生・放射する部分。
測定に用いる光の放射体。 

light source 

background image

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3028 

光電管 

光の照射によって電子を放出する陰極と電子を受け取る
陽極とをガラス管内に封入したもので,管内に中間電極
を備えていない光検出素子。 

phototube 

3029 

光電子増倍管 

光電管と同様な光電子発生機構をもつが,陰極と陽極と
の間に,電子を増加させるための一つ以上の中間電極を
備えた光検出素子。 

photomultiplier 

3030 

光電測光法 

光電子増倍管又は半導体検出器などを用いて,スペクト
ル線強度の測定を行う方法。 

photoelectric detection 

method 

3031 

光伝導セル 

光の照射によって抵抗が変化する現象を利用した測光素
子。 

photoconductive cell 

3032 

光度計 

光の強度を測定する機器。 

photometer 

3033 

シーケンシャル形分光

器 

分光した入射光の一連のスペクトル線の強度を逐次測定
する分光器。 

sequential scanning 

spectrometer 

3034 

シースガス(原子吸光

分析の) 

分析種,装置の加熱部分の材質の酸化,窒化などを防ぐ
ために用いる不活性ガス。 

sheath gas (for atomic 

absorption 
spectrometry) 

3035 

紫外・可視分光光度計 紫外領域・可視領域で分光器によって分散したスペクト

ルを光電測光法で測定する機器。 

ultraviolet-visible 

spectrometer 

3036 

重水素ランプ 

低圧の重水素を封入した放電管。 

deuterium lamp 

3037 

消光(蛍光光度分析の) 光によって励起された分子が,他の分子との衝突,化学

反応などによって蛍光を発する活性を失う現象。 

quenching (for fluoro 

spectrometry) 

3038 

錠剤法(赤外分光分析

の) 

測定波長範囲における光の吸収が少ない微粉状の媒体中
に,微粉化した試料を均一に混合し,錠剤に成形する試
料調製方法。 

disk method, 
tablet method (for 

infrared spectrometry) 

3039 

焦電素子 

ピロ電子を発生する結晶を用いた光検出素子。 

pyroelectric element 

3040 

助燃ガス(光分析の) 原子吸光分析法,炎光光度法などにおいて,燃焼を助け

るために混合するガス。通常,空気,酸素などが用いら
れる。 

auxiliary gas (for optical 

analysis) 

3041 

試料セル(吸光光度法

の) 

試料を入れる吸収セル。 

sample cell (for 

absorptiometry) 

3042 

試料電極(発光分光分

析の) 

試料自体を電極として調製した放電電極。通常,対電極
としてグラファイト電極を用いる。 

sample electrode (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3043 

真空紫外線 

波長が約180 nmよりも短い紫外線。 

vacuum ultraviolet 

radiation 

3044 

真空熱電対 

真空にした石英ガラス管などの中に熱電対を封入した光
検出素子。 

vacuum thermocouple 

3045 

シングルモノクロメー

ター 

一つの回折格子,プリズムなど,単一の分散素子を用い
たモノクロメーター。 

single monochromator 

3046 

水銀ランプ 

封入した水銀蒸気中のアーク放電を利用した放電管。 

mercury lamp 

3047 

水素化物発生装置 

試料溶液中の分析種(例えば,ひ素,セレン,アンチモ
ンなどの化合物)を還元して気体状の水素化合物とし,
原子化部又は発光部に導入する機器。 

hydride generator 

3048 

スパーク放電(発光分

光分析の) 

試料電極と対電極との間に微動電場を与えたとき起こる
放電。 

spark discharge (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3049 

スプレーチャンバー

(発光分光分析の) 

試料溶液の大きな粒径の液滴を分離除去し,微細な液滴
だけを発光部に導入する器具。 

spray chamber (for 

atomic emission 
spectrometry) 

background image

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3050 

スペクトル 

光を単色光成分に分解して波長の大きさの順に並べた情
報,又は一つの放射源から発生する電磁波をプリズム,
回折格子などの分散素子によって分散した放射。 

spectrum 

3051 

スロットバーナー 

細い溝状の開口部をもった原子吸光用バーナー。 

slot burner 

3052 

顕微赤外測定装置, 
赤外顕微鏡(分光分析

の) 

400 cm−1付近から4 000 cm−1付近までの波数領域の赤外
線を用いて試料の微小部分を分光分析することができる
装置。光路及び対物鏡の切り替えによって透過,反射,
ATR及び高感度反射測定が可能な装置もある。 

infrared microscope (for 

spectrometry) 

3053 

赤外分光光度計 

400 cm−1付近から4 000 cm−1付近までの波数領域の測定
が可能な分光光度計。 

infrared 

spectrophotometer 

3054 

積分球 

反射を定量的に測定する目的で,試料物質に照射して得
た反射光を,定めた立体角内全体にわたって集光するた
めの機器。 

integrating sphere 

3055 

ゼロ合わせ(透過パー

セントの) 

透過パーセントをゼロに合わせる操作。 

zero adjustment (of 

percent transmission) 

3056 

旋光計 

旋光性物質の旋光度を測る機器。 

polarimeter 

3057 

全反射減衰法, 
ATR 

屈折率の高いプリズムに分析波長の光を臨界角以上の角
度で分析種に入射し,そのプリズム及び試料内部界面で
全反射を起こさせ,試料の物質表面の吸収スペクトルを
得る方法。 

attenuated total 

reflectance method, 

ATR 

3058 

全噴霧バーナー 

吸い上げた試料溶液の全てをフレーム中に噴霧し,原子
化又は発光させる方式のバーナー。 

total consumption 

burner 

3059 

相対反射率 

試料の表面からの反射光の強度と,基準となる物質から
の反射光の強度との比。 

relative reflectance, 
reflectivity 

3060 

ダイオードアレイ検出

器 

フォトダイオードを一次元又は二次元に配置した多チャ
ンネル光検出素子。 

diode array detector 

3061 

対照セル(吸光光度法

の) 

溶媒又は対照溶液を入れる吸収セル。 

reference cell (for 

absorptiometry) 

3062 

ダブルモノクロメータ

ー 

二つのシングルモノクロメーターを光学的に直列に結ん
だモノクロメーター。 

double monochromator 

3063 

単光束方式 

光度計及び分光光度計において,光源から検出部までの
間で,光路が分岐しない光学系の方式。 

single beam 

3064 

中空陰極ランプ 

陽極及び分析種を含む中空円筒状の陰極を低圧のネオン
などとともに封入した放電管。主として原子吸光分析法
の光源として用いる。 

hollow cathode lamp 

3065 

超音波ネブライザー 

超音波振動によって微細な試料溶液の霧を発生させる装
置。 

ultrasonic nebulizer 

3066 

電気加熱方式(原子吸

光分析の) 

黒鉛,耐熱金属などを発熱体とする炉を通電加熱し,試
料を原子化する方式。 

electrothermal type (of 

atomic absorption 
spectrometer) 

3067 

透過パーセント 

透過率を百分率で表した値。 

percent transmission 

3068 

透過率 

光が物質を透過する割合を,透過後の光強度と透過前の
光強度との比で表したもの。 

transmittance 

3069 

同時測定形分光器 

入射光を分光し,複数のスペクトル線の強度を同時に測
定する分光器。 

simultaneous 

spectrometer 

3070 

トーチ(発光分光分析

の) 

プラズマの点灯及び維持に必要なガス流を供給するため
に使用する管。 

torch (for atomic  

emission spectrometry) 

3071 

ナトリウムランプ 

ナトリウムと低圧のアルゴン及び/又はネオンを封入し
た放電管。 

sodium lamp 

background image

10 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3072 

二波長測光方式 

測定試料に波長の異なる二つの単色光束を透過,反射又
は吸収させ,それらの光強度を測定する方式。 

double wavelength 

spectrometry 

3073 

ニューマチックセル

(非分散赤外分析
の) 

気体の熱膨張による圧力変化を利用した赤外線検出用セ
ル。 

pneumatic cell (for 

non-dispersive 
infrared spectrometry) 

3074 

ネブライザー 

試料溶液を霧状にする器具。 

nebulizer 

3075 

燃料ガス(光分析の) 原子吸光分析法,炎光光度法などにおいて,原子化,励

起などに用いる燃料用ガス。通常アセチレン,プロパン
などが用いられる。 

fuel gas (for optical 

analysis) 

3076 

波長校正 

既知波長の放射を与える光源又は吸収を与える物質を用
いて波長目盛の偏りの値を求める操作。 

wavelength calibration 

3077 

バックグラウンド等価

濃度, 

バックグラウンド相当

濃度, 

BEC 

バックグラウンド強度に等しい信号強度を与える分析種
の濃度。 

background equivalent 

concentration, 

BEC 

3078 

バックグラウンド発光

(発光分光分析の) 

分析種以外の発光。 

background emission 

(for atomic emission 
spectrometry) 

3079 

バックグラウンド補正 吸光分析又は発光分光分析における分析種に由来しない

信号の補正。 

background correction 

3080 

発光分光分析装置 

光,熱,電気などのエネルギーを試料に与え,試料の原
子又は分子を励起して放射される発光スペクトルを測定
する装置。 

atomic emission 

spectrophotometer 

3081 

ハロゲンランプ 

タングステンランプに微量のハロゲン元素を封入した放
電管。 

halogen lamp 

3082 

半導体検出器 

化合物結晶又は混晶からなる半導体の光検出素子。 

compound  

semiconductor detector 

3083 

光電池 

金属,半導体などの内部光電効果を利用した測定素子。 photocell 

3084 

光分析 

光の放射,吸収,散乱などを利用する化学分析法の総称。 photometric analysis, 

photometry, 
optical analysis 

3085 

非分散(光分析の) 

分散素子を用いずに,フィルター,選択性検出器によっ
て分散する方式。 

non-dispersion (of 

optical analysis) 

3086 

100合わせ(透過パー

セントの) 

機器の感度を調整して,試料ブランク又は参照試料の測
定時の分光透過パーセント目盛の指示計の指示を100目
盛に合わせる操作。 

100 adjustment (of 

percentage 
transmission) 

3087 

フーリエ変換赤外分光

光度計 

干渉曲線の信号のフーリエ変換によって分光スペクトル
を測定する赤外分光光度計。 

Fourier transform infrared 

spectrophotometer 

3088 

フーリエ変換赤外分析

法, 

FTIR 

同一光源から異なる光路を通ってきた二つの赤外光の干
渉光の強度を光路長の差に対してプロットすることによ
って得られるインターフェログラムを,フーリエ変換す
ることによって赤外光領域の分光スペクトルを測定し
て,分子構造などを分析する方法。 

Fourier transform 

infrared spectrometry, 

FTIR 

3089 

複光束方式 

光源からの光束を試料側と対照側とに分岐しない光学系
の方式。 

double beam 

3090 

物理干渉 

試料溶液の物理的性状の違いによるネブライザーの噴霧
効率の変化による干渉。 

physical interference 

3091 

プラズマガス 

誘導結合プラズマにおいて,プラズマの形成及びトーチ
の冷却を行うガス。 

plasma gas 

background image

11 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3092 

プリズム 

光の屈折率が波長によって異なる性質を利用した分散素
子。 

prism 

3093 

フレーム原子吸光分析

計 

原子化に化学炎を用いる原子吸光分析計。 

flame atomic absorption 

spectrometer 

3094 

プレミックスバーナー ネブライザーで霧状にした試料溶液と燃料ガス,助燃ガ

スとをあらかじめ噴霧室で混合する方式のバーナー。 

premix burner 

3095 

雰囲気ガス(発光分光

分析の) 

放電の安定化,試料履歴による影響の除去,空気中の酸
素による吸収,バンドスペクトルの除去などの目的でス
パーク放電の電極周囲に流すガス。目的に応じて,アル
ゴン又は窒素及びこれらのガスに酸素を混合したガス。 

atmospheric gas (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3096 

分解(分光分析装置の) モノクロメーターの出射スリットから射出される光束の

スペクトル幅を波長で表したもの。低圧水銀ランプ又は
重水素放電管から放射される輝線スペクトルを測定し,
最大強度の1/2となる波長を長短両波長側に求め,その
ときの波長差として表す。 

resolution (of 

spectrometer) 

3097 

分解能(分光分析装置

の) 

隣接する輝線スペクトルを個別のものとして識別できる
能力。通常,逆線分散によってその性能を示す。接近し
たスペクトル線を分離できる分光器の能力。 

resolution, 
resolving power (of 

spectrometer) 

3098 

分光干渉(発光分光分

析の) 

分析種の分析線に種々の発光線及びバックグラウンドが
重なり分析結果に影響を与える現象。 

spectral interference (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3099 

分光器 

a) 一つの光源からの光を分散させて一つの焦点面上に

波長順にスリット像を結像させる機器。 

b) a)の機器でスペクトルを目視観察可能な機器。 

a) spectrograph, 

spectrometer 

b) spectroscope 

3100 

分光蛍光光度計 

励起光側及び蛍光側いずれの波長選択部にもモノクロメ
ーターを用いて蛍光強度を測定する装置。 

fluorescence 

spectrophotometer 

3101 

分光光度計 

モノクロメーターによって得られたスペクトル線を光電
測光法で測定する光度計。 

spectrometer, 
spectrophotometer 

3102 

分散(光分析の) 

種々の波長を含む光が,プリズム及び/又は回折格子に
よって波長ごとの光に分かれる現象。 

dispersion (of optical 

analysis) 

3103 

分散素子(光分析の) 種々の波長成分の光を含む光を波長ごとに分けるための

光学素子。光を分散させるための光学素子。 

dispersive device (of 

optical analysis) 

3104 

ペースト法(赤外分光

分析の) 

測定試料を細かくすりつぶし,流動パラフィンなどに分
散させ,これを透明板の上に塗り付けて測定を行う方法。
固体試料の分光測定を行うための試料作製方法の一つ。 

paste method (for 

infrared spectrometry) 

3105 

偏光ゼーマン原子吸光

分析計 

偏光ゼーマン方式を用いた原子吸光分析計。 

polarized Zeeman 

atomic absorption 
spectrometer 

3106 

偏光ゼーマン方式 

ゼーマン効果と偏光とを組み合わせたバックグラウンド
補正方式。 

polarized Zeeman splitted 

spectrum system 

3107 

補助ガス 

誘導結合プラズマがトーチに接触しトーチを融解するの
を防ぐために用いるガス。 

auxiliary gas 

3108 

補助電極(発光分光分

析の) 

試料電極の一種で,試料だけで電極を形成できない場合
に,試料を放電場内に保持するための電極。 
注記 試料の性状によって適した形状のものを用いる。 

supporting electrode (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3109 

フォトダイオード 

ダイオードの一種で,光電効果を利用した測光素子。 

photodiode 

3110 

マイクロ波誘導プラズ

マ発光分光分析計 

マイクロ波誘導プラズマを光源とした発光分光分析計。 microwave induced 

plasma atomic 
emission spectrometer 

background image

12 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

3111 

マイクロ波誘導プラズ

マ分析装置 

高周波電力によって誘導されて発生するマイクロ波誘導
プラズマを用いて分析種をイオン化し,生成したイオン
を分析する装置。 

microwave induced 

plasma spectrometer 

3112 

無電極放電ランプ 

金属ハロゲン化物などを希ガスとともに封入し,高周波
電場によって点灯する放電管。 

electrodeless discharge 

lamp 

3113 

モノクロメーター(光

分析の) 

分散素子によって特定の波長の単色光を取り出す機器。 monochromator (of 

optical analysis) 

3114 

誘導結合プラズマ, 
ICP, 
高周波誘導結合プラズ

マ 

ラジオ波領域の高周波の電磁誘導によって発生する磁場
でガスを電離させて得られる高温のプラズマ。 

inductively coupled 

plasma, 

ICP, 
radio-frequency 

inductively coupled 
plasma 

3115 

誘導結合プラズマ発光

分光分析計 

誘導結合プラズマを励起源とした発光分光分析計。 

inductively coupled 

plasma (ICP) atomic 
emission spectrometer, 

inductively coupled 

plasma (ICP) optical 
emission spectrometer 

3116 

予備放電時間(発光分

光分析の) 

スパーク放電発光分光分析において,放電開始から発光
強度が安定するまでの間,測光しない期間として設定す
る時間。 

pre-burn time, 
pre-discharge time (for 

atomic emission 
spectrometry) 

3117 

ラマン分光法 

ラマン散乱光を分光し,得られたラマンスペクトルから
分子構造を解析する方法。 

Raman scattering 

spectroscopy 

3118 

励起光(蛍光の) 

基底状態にある分子を励起一重項状態に遷移させるため
に照射する光。 

excitation light (of 

fluorescence) 

3119 

冷蒸気方式原子吸光分

析計(水銀分析計の) 

冷蒸気方式を用いた水銀蒸気の原子吸光分析計。 

cold vapor atomic 

absorption 
spectrometer (of 
mercury analyzer) 

3120 

連続スペクトル光源方

式(原子吸光分析の) 

重水素ランプ,タングステンランプなどの連続スペクト
ルを用いたバックグラウンド補正法の一方式。 

background correction 

method using 
continuous spectrum 
source (for atomic 
absorption 
spectrometry) 

3.4 

電磁気分析機器 

a) 質量分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4001 

イオン化(質量分析の) 試料を気体状態の正イオン又は負イオンにする方法。 

ionization (of mass 

spectrometry) 

4002 

イオン化エネルギー 

分子,原子又は原子団のイオン化に要するエネルギー。 ionization energy 

4003 

イオン化室 

イオン源の一部であって,分子などをイオン化するため
の小室。 

ionization chamber 

4004 

イオン化電流 

試料分子をイオン化するのに用いる熱電子又はイオンの
電流。 

ionizing current 

background image

13 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4005 

イオン源 

質量分析計を構成する部品のうち,試料をイオン化し,
イオンビームをつくるための部品。 

ion source 

4006 

イオンサイクロトロン

共鳴形質量分析計 

一様な磁場中で回転運動又はら(螺)旋運動するイオン
に高周波電場を加えると,共鳴的にエネルギーを吸収し
回転半径を増す現象を利用した質量分析計。 

ion-cyclotron resonance 

mass spectrometer 

4007 

イオントラップ質量分

析計 

イオン化した分子の中でm/zが特定の範囲のものだけを
保持し,選択する機能をもつ質量分析計。 

ion trap mass 

spectrometer 

4008 

インビーム法, 
IB 

イオン化室内に挿入した固体試料を電子ビームに接触若
しくは接近させるか,又は化学イオン化によってイオン
化する方法。 

in-beam method, 
IB 

4009 

エネルギー収束 

m/z及び方向が僅かに異なるイオンのうち,同じエネル

ギーのイオンビームが収束する現象。 

energy focusing 

4010 

エミッター(質量分析

の) 

試料をイオン化するためフィールドデソープション,フ
ィードイオン化などで用いられる試料ホルダー。 

emitter (of mass 

spectrometry) 

4011 

m/z 

(えむおーばーじー) 

イオンの質量を統一原子質量定数で割り,更にイオンの
電荷数で割って得られる無次元量。 

m/z 

4012 

エレクトロスプレー 

試料溶液を供給するキャピラリー先端で高電圧の印加に
よって試料溶液を霧化する技術。 

electrospray 

4013 

エレクトロスプレーイ

オン化 

エレクトロスプレーを使ってイオン化する方法。 

electrospray ionization 

4014 

化学イオン化, 
CI 

試薬ガスから生成した反応イオンを用いて試料分子をイ
オン化する方法。 

chemical ionization, 
CI 

4015 

基準ピーク 

質量スペクトルの相対イオン強度を示すときに,基準と
して用いるピーク。通常最大強度のピークを基準ピーク
とする。 

base peak 

4016 

キャピラリー電気泳動

質量分析法 

キャピラリー電気泳動装置と質量分析装置とを結合した
装置を用いて行う分析方法。 

capillary electrophoresis 

mass spectrometry, 

CE/MS 

4017 

高周波プラズマ 

ラジオ波領域の高周波を誘導結合させて発生する誘導結
合プラズマ(ICP)又はマイクロ波領域の高周波電力に
よって誘導されて発生するマイクロ波誘導プラズマ
(MIP)。 

high frequency plasma 

4018 

高周波プラズマ質量分

析計 

高周波プラズマで分析種をイオン化し,生成したイオン
を分析する質量分析計。 

high frequency plasma 

mass spectrometer 

4019 

高速原子衝撃, 
FAB 

数keVに加速した中性原子を試料に衝突させることによ
ってイオンを生成させる方法。 

fast atom bombardment, 
FAB 

4020 

コレクタースリット 

質量分離されたある特定のm/zのイオンビームだけが検
出系に導入されるように設けたスリット。 

collector slit 

4021 

四重極質量分析計 

高周波電圧及び直流電圧を印加した四重極を用いて,イ
オンをm/zに応じて分離する方式の質量分析計。 

quadruple mass 

spectrometer 

4022 

質量数 

原子核を構成する陽子と中性子との数の和。 

mass number 

4023 

質量スペクトル, 
マススぺクトル 

各イオンの強度を縦軸に,m/zの順序を横軸に並べた図。 mass spectrum 

4024 

質量分析計 

質量スペクトルを測定する機器。通常,イオンを電流と
して検出・記録する。 

mass spectrometer 

4025 

磁場形質量分析計 

磁場を用いてイオンをm/zに応じて分離する方式の質量
分析計。 

magnetic sector type 

mass spectrometer 

4026 

磁場走査 

質量スペクトルを測定するために,磁場の強さを変えて
行う走査。 

magnetic field scanning 

background image

14 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4027 

試薬ガス 

化学イオン化法において,試料分子をイオン化するため
に用いる気体。 

reagent gas 

4028 

準安定イオン, 
メタステーブルイオン 

イオン化室で生成し励起されているイオンのうち,イオ
ン化室を出た後,分解しやすいイオン。 

metastable ion 

4029 

衝突活性化, 
CA 

飛行中のイオンが気体(アルゴンなど)との相互作用(衝
突)によって,並進運動エネルギーの一部が内部エネル
ギーに変換され,活性化される現象。 

collisional activation, 
CA 

4030 

スパークイオン化 

スパーク放電によって試料をイオン化する方法。 

spark ionization 

4031 

セパレーター(ガスク

ロマトグラフ質量分
析計の) 

ガスクロマトグラフと質量分析計とをつなぐ部分に接続
して,キャリヤーガスの大部分を除去し,試料を濃縮す
るための分離器。 

separator (of gas 

chromatograph/mass 
spectrometer) 

4032 

全イオン電流クロマト

グラム, 

TICC 

取得したマススペクトルから求められる全イオン電流値
を保持時間に対してプロットしたクロマトグラム。 

total ion current 

chromatogram, 

TICC 

4033 

前駆イオン, 
プリカーサーイオン 

あるイオンから別のイオン又は中性化学種が生成すると
きの元のイオン。 

precursor ion 

4034 

選択イオンモニタリン

グ, 

SIM 

特定のm/zのイオンを連続的に検出する方法。 

selected ion monitoring, 
SIM 

4035 

相対感度係数 

スパークイオン源質量分析において,ある元素のスペク
トル線の一つを基準としたときの各元素のスペクトル線
の相対強度。 

relative sensitivity 

coefficient 

4036 

大気圧イオン化, 
API 

大気圧下で行われるイオン化の総称。 

atmospheric pressure 

ionization, 

API 

4037 

単収束形質量分析計 

単一磁場を用い,イオンビームの方向収束だけを行う方
式の質量分析計。通常,扇形の一様な磁場を用いる。 

single-focusing mass 

spectrometer 

4038 

タンデム質量分析, 
MS/MS 

m/zによって選択されたイオンに対するプロダクト若し

くはプリカーサーのマススペクトル,又は特定のm/zの
増減が生じたプリカーサーイオンのマススペクトルを取
得する方法。二つ以上の質量分析部を備えた装置を用い
る空間的タンデム質量分析,及びイオントラップタイプ
の装置を用いる時間的タンデム質量分析がある。 

tandem mass 

spectrometry, 

MS/MS 

4039 

タンデム質量分析計 

MS/MSが可能な質量分析計。 

tandem mass 

spectrometer 

4040 

断熱イオン化 

分子に対して,電子の付加又は除去によって分子と同じ
構造をもつイオンが生成する現象。 

adiabatic ionization 

4041 

抽出イオンクロマトグ

ラム 

特定のm/z値における相対強度を読み出し,時間の関数
として表したクロマトグラム。 

extracted ion 

chromatogram, 

EIC 

4042 

転位イオン 

イオン化又はイオンが開裂するときにイオン内の原子又
は原子団が転位して生じるイオン。 

rearrangement ion 

4043 

電界脱離, 
フィールドデソープシ

ョン, 

FD 

エミッターに塗った試料から,高電場によって気相イオ
ンを生成させる現象。 

field desorption, 
FD 

4044 

電子イオン化, 
EI 

電子によって原子及び分子をイオン化する方法。 

electron ionization, 
EI 

4045 

電場走査 

質量スペクトルを測定するために,電場の強さを変えて
行う走査。 

electric field scanning 

background image

15 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4046 

同位体 

原子番号が同一の元素で互いに質量数の異なる一連の原
子。 

isotope 

4047 

同位体イオン 

同位体によって生じる一連のイオン。 

isotopic ion 

4048 

統一原子質量単位, 
ダルトン 

静止した基底状態の12Cの質量の1/12を1とした単位で,
記号uで表す。ダルトンは,記号Daで表す。 

unified atomic mass unit, 
Dalton 

4049 

二重収束形質量分析計 磁場と電場とを組み合わせて用い,イオンビームの方向

収束及び速度収束を行う方式の質量分析計。 

double-focusing mass 

spectrometer 

4050 

反応イオン 

化学イオン化法において,試料のイオン化を促進するイ
オン種。 

reactant ion 

4051 

ビームモニター, 
BM 

イオンビームが電極又は機構に入る前に,その一部分を
受けてイオン量を測定するための電極又は機構。 

beam monitor, 
BM 

4052 

飛行時間形質量分析計,
TOF-MS 

イオンをパルス状に入射させ,飛行速度の違いによって
イオンをm/zに応じて分離する方式の質量分析計。 

time-of-flight mass 

spectrometer, 

TOF-MS 

4053 

ファラデーカップコレ

クター 

イオンビームを測定するためのカップ状の電極。 

Faraday cup collector 

4054 

フィールドイオン化, 
電界イオン化, 
FI 

試料の先端をとが(尖)らし得られる高い電場勾配によ
って試料分子をイオン化する方法。 

field ionization, 
FI 

4055 

付加イオン 

中性分子にイオン種が付加したイオン。 

adduct ion 

4056 

フラグメンテーション イオンが一つ又は幾つかの開裂によってより小さい質量

の化学種を生成する反応。 

fragmentation 

4057 

フラグメントイオン 

イオンの開裂によって生成したイオン。 

fragment ion 

4058 

プロダクトイオン 

プリカーサーイオンの開裂によって生じたイオン。 

product ion 

4059 

質量分解能 

質量分析計が近接したスペクトルを分離できる能力。 

mass resolving power 

4060 

分子イオン(質量分析

の) 

電荷をもつ分子の総称。 

molecular ion (of mass 

spectrometry) 

4061 

ぺニングイオン化 

励起状態にある中性の原子又は分子によって試料をイオ
ン化する方法。 

penning ionization 

4062 

方向収束 

一点から加速して射出され,そのm/z及びエネルギーが
等しく,方向が僅かに異なるイオンビームが再び一点に
収束する現象。通常,この目的に扇形の一様な磁場が用
いられる。 

direction focusing 

4063 

マイクロ波誘導プラズ

マ質量分析計 

高周波電力によって誘導されて発生するマイクロ波誘導
プラズマを利用して分析種をイオン化し,生成したイオ
ンを分析する質量分析計。 

microwave induced 

plasma mass 
spectrometer 

4064 

マスフラグメントグラ

フィー 

特定のm/zのイオンだけを選択イオン検出によって実時
間で検出記録する手法の総称。 

mass fragmentography, 
MF 

4065 

マトリックス(質量分

析の) 

イオン化を行う目的で試料を保持するための媒体。 

matrix (of mass 

spectrometry) 

4066 

MALDI 
(まるでぃー) 

試料をマトリックスに保持し,レーザーによって試料の
イオン化及びマトリックスからの脱離が起こるイオン化
の現象。 

matrix-assisted laser 

desorption/ionization, 

MALDI 

4067 

誘導結合プラズマ質量

分析計 

高周波電力を誘導結合させて発生させるプラズマで分析
種をイオン化し,生成したイオンを分析する質量分析計。 

inductively coupled 

plasma mass 
spectrometer 

4068 

リぺラー電極 

質量分析計においてイオン化室で生成したイオンを,イ
オンの質量分離が行われる部分(アナライザー)へ押し
出すための電極。 

repeller electrode 

background image

16 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4069 

リンク走査 

各走査パラメーターを互いにある一定の関係に保ちなが
ら2台以上の分析部を同時に走査する方法。 

linked scan 

4070 

レーザー脱離, 
LD 

固体試料にレーザー光を照射し,気相の試料イオンを得
る方法。固体試料を気化させる目的でも用いられる。 

laser desorption, 
LD 

4071 

レンズ電極 

イオン化室で生成したイオンを質量分析計に導入する電
極。 

lens electrode 

b) X線分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4101 

アッテネーター 

X線の計数値を低減するための吸収板。非常に強い回折
線,散乱線の測定に用いる。 

attenuator 

4102 

アングルマーク 

ゴニオメーターからの角度の信号の記録。 

angle mark, 
event mark 

4103 

アンブレラ効果 

線焦点を用いた入射X線の垂直発散のため,リングの位
置がずれてデバイ環が重なる現象。 

umbrella effect 

4104 

一次ターゲット 

分析線を効果的に励起できる蛍光X線(固有X線)を発
生させるために用いるターゲット。 

primary target 

4105 

一次フィルター 

励起X線のスペクトル分布を変えるために,励起X線源
と試料との間に入れるフィルター。 

primary beam filter 

4106 

位置敏感形比例計数管

(X線の) 

芯線の両端に生じるパルスの時間差によって,X線の入
射位置情報を得ることができる比例計数管。 

position sensitive 

proportional counter 
(of X-ray) 

4107 

イメージングプレート,
IP 

輝尽性蛍光体(BaFBr:Eu2+)の微結晶をフィルムに塗
布した記録媒体。 

imaging plate, 
IP 

4108 

エスケープピーク 

入射X線のエネルギーよりも検出器に固有なエネルギー
分だけ低く現れるピーク。 

escape peaks 

4109 

X線回折装置 

試料にX線を照射して,生じた回折X線の回折角と強度
を測定し,分析を行う装置。 

X-ray diffractometer 

4110 

X線回折法, 
XRD 

結晶にX線を照射すると,ブラッグの反射条件又はラウ
エの回折条件に従って,その結晶に特有の回折パターン
が得られることを用いて,結晶の構造解析を行う方法。 

X-ray diffraction, 
XRD 

4111 

X線管球 

X線を発生させるための真空管。熱電子二極管の一種で,
封入式及び開放式がある。 

X-ray tube 

4112 

X線吸収端近傍構造, 
XANES 
(ざーねす) 

X線吸収スペクトルで,吸収端より長波長(低エネルギ
ー部分)側約10 eVから短波長(高エネルギー部分)側
30 eVにわたる領域にみられる微細構造。 

X-ray absorption 

near-edge structure, 

XANES 

4113 

X線発生装置 

X線管球,高電圧発生部などからなるX線を発生させる
ための装置。 

X-ray generator 

4114 

X線フィルター 

吸収端を利用して必要とするエネルギー領域のX線を取
り出すための薄膜。Kβフィルター,バランスドフィルタ
ーなどがある。 

X-ray filter 

4115 

エネルギー分散形X線

分析法, 

EDS 

X線エネルギーを直接電気パルスに変換して選別し,分
光する方式。 

energy dispersive X-ray 

spectroscopy, 

EDS 

4116 

ガイガーミュラー計数

管, 

GM計数管 

気体を入れた筒の電極間に高電圧を印加し,通過した放
射線をパルス電流として検知する構造をもつ放射線検出
器。 

Geiger-Müller counter, 
GM counter 

background image

17 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4117 

回転振動試料台 

試料を直交する二軸の周りに回転及び振動させることに
よって,配向に起因する回折X線強度への影響を平均化
する機器。 

specimen rotation 

oscillation attachment 

4118 

ガスデンシティースタ

ビライザー 

ガス計数管を用いてX線強度を安定に測定するときに,
気圧及び温度の変化に対してガス密度を一定に保つため
の機器。 

gas density stabilizer 

4119 

数え落とし 

高計数率でX線強度を測定する場合,入射X線強度と測
定された計数率との間の比例関係がなくなり,入射X線
強度よりも低く計数される現象。 

counting loss 

4120 

干渉性散乱, 
弾性散乱 

X線が物質に入射したときに散乱されるX線で,入射X
線と同じ波長をもつ散乱。 

coherent scattering, 
elastic scattering 

4121 

ギニエカメラ 

焦点円上にフィルムを置き,回折X線を検出する集中法
X線カメラの一種。 

Güinier camera 

4122 

吸収効果(X線分析の) 試料内でX線が吸収されて回折X線強度が減少する現

象。 

absorption effect (of 

X-ray analysis) 

4123 

極点図 

試料中のある方向に垂直な面に関して特定結晶面の極の
位置及び密度分布をステレオ投影した図。 

pole figure 

4124 

クエンチガス 

ガス計数管を用いるX線の計測において,後続放電を抑
制するために混入する気体。 

quenching gas 

4125 

クラツキーUスリット 小角散乱強度測定の光学系において,低角度側の測定を

可能にするためのスリット。 

Kratky U-slit 

4126 

蛍光X線分析法, 
XRF 

試料にX線を照射して,発生する蛍光X線を測定し,物
質の定性・定量を行う方法。 

X-ray fluorescence 

spectrometry, 

XRF 

4127 

結晶子 

多結晶体中の単結晶微粒子。通常,0.1 μm以下で回折X

線の幅を広げる効果が現れる。 

crystallite 

4128 

広域X線吸収微細構造,
EXAFS 
(えぐざふす) 

X線吸収スペクトルで吸収端より短波長(高エネルギー)
側約30 eVから1 keVにわたる領域にみられる減衰する
波状の振動構造。 

extended X-ray 

absorption fine 
structure, 

EXAFS 

4129 

格子定数 

結晶の単位格子の大きさ及び形[りょう(稜)の長さ及
びその間の角度]を規定する定数。 

lattice constants 

4130 

ゴニオメーター 

回折若しくは散乱X線の回折又は散乱角度を測定する機
器。 

goniometer 

4131 

コリメーター 

平面分光素子を用いている場合に,必要な平行光束を作
るための機器。 

collimator 

4132 

コンプトン散乱 

X線及びγ線のような電磁波が電子に衝突し,電磁波の
エネルギーの一部を電子に与えて波長が変化する散乱現
象。 

Compton scattering 

4133 

サムピーク 

単一光子エネルギーの整数倍のエネルギー位置に現れる
ピーク。 

sum peaks 

4134 

散乱スリット 

試料以外からの散乱X線の計数管への入射を防止するた
めのスリット。 

scattering slit 

4135 

残留応力 

多結晶体が外力によって弾性的に変形されて応力を生
じ,外力が除去された後も多結晶体内部に残存する応力。 

residual stress 

4136 

CCD検出器(X線の) 電荷結合素子(CCD)を使った検出器で,X線を蛍光体

によって光に変換し,X線強度と位置とを記録する検出
器。 

charge coupled device 

detector (of X-ray) 

4137 

視射角 
(ししゃかく) 

試料表面と入射ビームとがなす角。 

glancing angle 

background image

18 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4138 

質量吸収係数 

X線の吸収する度合いを表す係数(吸収係数)を物質の
密度で除した量。 

mass absorption 

coefficient 

4139 

集合組織 

多結晶体における結晶子の集合状態。 

texture 

4140 

受光スリット 

検出器に入るX線を制限しているスリット。 

receiving slit 

4141 

小角散乱装置(X線分

析の) 

単色X線の散乱のうち,散乱角の小さいもので散乱X線
の強度測定を行う装置。 

small angle scattering 

goniometer (of X-ray 
analysis) 

4142 

シリコン−リチウム半

導体検出器 

けい素中にリチウムをドープして作った絶縁層を挟んで
P-I-N接合した素子を用い,入射X線のエネルギーに比
例した電流パルスを出力する検出器。 

Si (Li) semiconductor 

detector 

4143 

人工多層膜(X線の) 分光素子として用いるために,2種以上の材料の薄膜を

累積した素子。 

synthetic multi-layer 

film (of X-ray) 

4144 

シンチレーション検出

器 

放射線を受けたシンチレーターからの蛍光を光電子増倍
管を用いて計測する検出器。 

scintillation detector 

4145 

信頼度因子, 
R因子 

結晶構造解析で得られた構造モデルが実測値にどれだけ
近いかという信頼度の目安にする量。 

reliability factor 

4146 

ステレオ投影 

結晶の方位を表示するために結晶を球の中心に置き,結
晶面法線と球面との交点(これを極という。)を,平面に
投影する方法。 

stereographic projection 

4147 

繊維試料台 

繊維試料,フィルムなどの配向性を測定するための試料
台。 

fiber specimen stage 

4148 

選択配向 

結晶子の向きが特定の方向に偏り,特定の回折X線だけ
が強く観測される現象。 

preferred orientation 

4149 

全反射キャピラリー 

キャピラリーの内壁面でX線を全反射させ,出射端まで
伝ぱ(播)する集光素子。 

total reflection capillary 

4150 

全反射X線回折法, 
TXRD 

全反射が起こるような低角度で試料面にX線を照射する
ことによって,表面からの回折X線だけを検出して,試
料の表面の結晶構造を解析する方法。 

total reflection X-ray 

diffractometry, 

TXRD 

4151 

全反射蛍光X線分析法 半導体表面,ガラス基板表面などに対してX線を全反射

条件で照射して,試料表面から発生する蛍光X線を分析
する方法。 

total reflection X-ray, 
fluorescence 

spectroscopy 

4152 

全反射現象(X線分析

の) 

平滑な表面にX線が入射したとき,視射角が一定の値以
下になると入射したX線がほとんど全て反射する現象。 

total reflection (of X-ray 

analysis) 

4153 

全反射方式 

全反射現象を利用して表面を分析する方式。 

total reflection method 

4154 

全反射ミラー(X線分

析の) 

全反射を利用し,一定波長以上のX線を反射させる鏡。 total reflection mirror 

(of X-ray analysis) 

4155 

ソーラースリット 

薄い金属板を等間隔に積み重ねて,入射X線及び回折線
の垂直方向の発散を制限するためのスリット。 

soller slit 

4156 

定計数法 

一定の計数値を設定して,計数がその設定値に達するま
で,時間をかけてX線強度を測定する方法。 

fixed count method 

4157 

定時法 

一定時間を設定して,その時間内に測定される計数値で
X線強度を測定する方法。 

fixed time method 

4158 

ディスクリミネーター 定められたしきい(閾)値を超える波高をもつ入力パル

スが検出された場合に,出力信号を発生するように作ら
れた機能,ユニット。 

discriminator 

4159 

デバイ-シェラーカメ

ラ 

円筒状に置かれたフィルムの中心軸上に試料を置き,試
料からの回折X線をフィルムに撮影するカメラ。 

Debye-Scherrer camera 

4160 

点収束カメラ 

リフレクターによってX線を一点に集光するようにした
カメラ。小角領域の散乱測定に用いる。 

point focusing camera 

background image

19 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4161 

電離箱 

放射線の電離作用によって生成した電子及びイオンの量
から,その強度を測定する機器。 

ion chamber 

4162 

動径分布 

任意の原子を中心としたときの他の原子までの距離の分
布。 

radial distribution 

4163 

統計変動(放射線計測

の) 

放射線計測における計数値の変動。通常,標準偏差で表
す。 

statistical error of 

counting (of radiation 
measure) 

4164 

特性X線 

元素に固有の波長をもつX線。 

characteristic X-rays 

4165 

二次ターゲット方式 

X線管からの一次X線を二次ターゲットに照射して,そ
こから発生する蛍光X線を励起に利用して分析試料に照
射する方法。 

secondary target method 

4166 

二次フィルター 

分析目的の元素以外に起因するX線を効果的に減衰させ
るために,試料と検出器との間に入れるフィルター。 

secondary beam filter 

4167 

入射角固定法, 

Ψ0一定法 

X線応力測定において,入射角を固定し検出器だけを走
査させて回折強度曲線を測定する方法。 

fixed incident-angle 

method, 

fixed Ψ (psi) 0 method 

4168 

倍角回転機構 

ゴニオメーターにおいて試料軸と受光スリット軸(計数
管軸)とが1:2の比で回転する機構。 

2θ-θ rotation mechanism 

4169 

波高分布曲線 

一定のエネルギーをもつ単色X線によって得られるパル
スの波高値の分布を表す曲線。 

pulse height distribution 

curve 

4170 

波長分散形X線分析法,
WDX 

試料から発生するX線を波長分光器を用いて分光し分析
する方式。 

wavelength dispersive 

X-ray spectroscopy, 

WDX 

4171 

発散スリット 

X線回折装置において,X線の発散角を制限するための
スリット。 

divergence slit 

4172 

半導体検出器, 
SSD(X線分析の) 

半導体を利用してX線を電気的なパルス信号に変換し,
X線エネルギーを測定する検出器。 

solid state detector, 
SSD (of X-ray analysis) 

4173 

非干渉性散乱 

X線が物質に入射したときに散乱されるX線で,入射X
線より長い波長をもつ散乱。 

incoherent scattering 

4174 

標準化試料(X線分析

の) 

装置の所定の運転条件下において,X線強度及びその誤
差が許容範囲内にあることを確かめるための試料。 

specimen for 

standardization of 
instrument (of X-ray 
analysis) 

4175 

標準物質(X線分析の) 格子定数,分析種濃度などの特性値が精密に測定されて

おり,化学的に安定で,かつ,高純度な物質で,X線の
測定及び分析の標準として用いられる物質。 

reference material (of 

X-ray analysis) 

4176 

表面広域X線吸収微細

構造, 

SEXAFS 
(せきざふす) 

全反射法など表面に敏感な手法で測定された広域X線吸
収微細構造スペクトル。 

surface EXAFS, 
SEXAFS 

4177 

比例計数管 

X線による気体のイオン化作用を利用した比例領域で作
動するX線検出器。光量子1個当たりのパルス電流が入
射X線のエネルギーに比例する。 

proportional counter 

4178 

ファンダメンタルパラ

メーター法, 

FP法 

X線の吸収・励起などのX線強度に影響を与える物理定
数(ファンダメンタルパラメーター)を用いて,組成,
膜厚など計算で求める方法。 

fundamental parameter 

method, 

FP method 

background image

20 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4179 

ブラッグの式 

X線回折が起こるための条件を与える式。 

2dsinθ=nλ 

ここに, d: 格子面間隔 
 

θ: ブラッグ角 

λ: X線の波長 

n: 整数 

Bragg equation 

4180 

プリセッションカメラ 単結晶試料の逆格子像をゆがみなく撮影するカメラ。 

Buerger-precession 

camera 

4181 

分解能(X線検出器の),
エネルギー分解能 

検出したX線に対するエネルギー識別能力。理想的な単
色X線が検出器に入射したときのピークの半値幅
(FWHM,単位の次元はエネルギー)又は半値幅とピー
クエネルギーとの比(%)。 

resolution (of X-ray 

detector), 

energy resolution 

4182 

分光結晶 

結晶によるX線の回折現象を利用して,X線の波長選択
を行うための素子。 

analyzing crystal 

4183 

ポーラネット 

球面上の緯線と経線とを赤道面にステレオ投影したチャ
ート。 

polar net 

4184 

放射光, 
シンクロトロン放射, 
SR 

電子シンクロトロンから放射される電磁波。 

synchrotron radiation, 
SR 

4185 

マキシマムエントロピ

ー法, 

MEM(X線分析の) 

結晶構造解析の測定値及びその誤差から最良の電子密度
を導く方法。 

maximum entropy 

method, 

MEM (of X-ray analysis) 

4186 

マルチチャンネル波高

分析器, 

MCA 

多重波高分析器で数千段階位のエネルギー帯にX線を分
類し,エネルギー分布を表示する機器。 

multi-channel pulse 

height analyzer, 

MCA 

4187 

ミラー指数, 
面指数 

結晶の格子面を表す指数。 

Miller indices 

4188 

無反射試料板 

試料板からの散乱が回折X線に重ならないように単結晶
を切り出して製作した試料ホルダー。 

reflection free sample 

holder 

4189 

面内回転試料台 

試料を測定面に垂直な軸の周りに回転させることによっ
て,回折X線強度への粒径の影響を平均化する試料台。 

specimen rotation stage 

4190 

面法線一定法, 

Ψ一定法 

入射X線と検出器とを,特定方位の結晶格子面法線を中
心として,同時に,等速度で,互いに反対側に走査して
回折角を測定する方法。 

fixed plane-normal 

method, 

fixed Ψ (psi) method 

4191 

モノクロメーター(X

線の) 

X線の単色化を行うための分光器。 

monochromator (of 

X-ray) 

4192 

ヨハンソン形分光器 

分光結晶を半径2Rで湾曲させた後,半径Rのローラン
ド円に沿って結晶表面を削ることによって収差なく集光
する分光器。 

Johansson spectrometer 

4193 

4軸形ゴニオメーター 

X線による結晶構造解析を行うために,カウンターと単
結晶試料の方位とを,四つの軸を用いて配置を自由に設
定できるようにしたゴニオメーター。 

four-circle goniometer 

4194 

ラウエカメラ 

X線回折像を測定するためのラウエ法に用いるカメラ。 Laue camera 

4195 

リートベルト法 

広い回折角範囲の粉末回折パターンを直接解析し,格子
定数,構造パラメーターなどを精密化する方法。 

Rietveld method 

4196 

励起X線 

蛍光X線を発生させるために試料に照射するX線。 

excitation X-rays 

4197 

レイリー散乱 

光の散乱の一種。光の波長に比べて十分小さい微粒子に
よって起こり,光の波長が変化しないもの。 

Rayleigh scattering 

4198 

ワイセンベルクカメラ X線回折像を測定するための回転結晶法に用いるカメラ。Weissenberg camera 

background image

21 

K 0215:2016  

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c) 電子顕微鏡 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4201 

アノード(電子顕微鏡

の) 

エミッターからの放出電子を加速又はエミッターから電
子を引き出すため,エミッターに対向して設置される電
極。 

anode (of electron 

microscope) 

4202 

イオンミリング法 

金属試料を薄膜化するために,加速したイオンによって
試料表面を削る方法。 

ion milling method 

4203 

エネルギー分散形X線

分析計 

試料から発生するX線を,X線エネルギーに比例した電
気信号を発生する検出器を用いてエネルギー選別して分
光する機器。 

energy dispersive X-ray 

spectroscopy 

4204 

エミッション電流 

エミッターから放出される電子線による電流。 

emission current 

4205 

エミッター(電子顕微

鏡の) 

電子を放出する物質。 

emitter (of electron 

microscope) 

4206 

オスミウム染色法 

透過電子顕微鏡の像のコントラストを増すために,試料
中の透過率の差が明瞭になるように染色する方法。 

osmium staining 

4207 

カソードルミネッセン

ス 

電子線の試料への照射によって試料から放出される紫
外,可視及び赤外領域の波長をもつ電磁波。 

cathodoluminescence 

4208 

加速電圧 

試料に照射される電子の運動エネルギーの電圧換算値。 accelerating voltage 

4209 

吸収電子 

散乱電子のうち,試料中でエネルギーを損失し吸収され
る電子。 

absorbed electron 

4210 

結像レンズ(電子顕微

鏡の) 

透過電子顕微鏡で試料から透過した電子線を蛍光面など
に結像させるレンズ。 

focusing lens (of 

electron microscope) 

4211 

散乱電子 

電子線の試料への照射によって,前方又は後方に散乱さ
れる電子。 

scattered electron 

4212 

集束レンズ(電子顕微

鏡の) 

エミッターから放出された電子を集束し電子線とするレ
ンズ。 

condenser lens (of 

electron microscope) 

4213 

走査時間 

試料上を電子線で走査する一周期の時間。 

scanning time 

4214 

走査電子顕微鏡, 
SEM 

細く集束した電子線を試料上で二次元的に走査して試料
から得られる二次電子などを用いて拡大像を形成する顕
微鏡。 

scanning electron 

microscope, 

SEM 

4215 

走査透過電子顕微鏡, 
STEM 

薄膜試料を透過した電子を検出して,走査像を得る顕微
鏡。 

scanning transmission 

electron microscope, 

STEM 

4216 

対物レンズ(電子顕微

鏡の) 

集束された電子線を更に細く試料面に集束させるレン
ズ。 

objective lens (of 

electron microscope) 

4217 

対物レンズ絞り 

対物レンズを通過する電子線の開き角を制御する絞り。 objective aperture 

4218 

チャージアップ(電子

顕微鏡の) 

試料が電子線によって帯電する現象。 

charging effect (of 

electron microscope) 

4219 

電解研磨法 

金属試料を陽極とし,電解液中で電気分解することによ
って試料表面を研磨する方法。 

electrolytic polishing 

method 

4220 

電界放出 

物質に電界を印加することによって,表面から電子が放
出する現象。 

field emission 

4221 

電子顕微鏡 

電子線を用いて試料の拡大像を得る顕微鏡。 

electron microscope 

4222 

電子銃 

電子線を発生させた後,加速によって一定のエネルギー
を電子に付加する機器。 

electron gun 

4223 

電子線 

電子銃から放出された電子をレンズで直径数μmから10 

nm以下に集束させ,試料に照射する電子線。 

electron probe 

4224 

透過電子 

散乱電子のうち,試料を透過して放出する電子。 

transmitted electron 

background image

22 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4225 

透過電子顕微鏡, 
TEM 

数十kVから数百kVの電子線がもつ波の性質を利用して
物質の透過像を拡大する顕微鏡。 

transmission electron 

microscope, 

TEM 

4226 

凍結乾燥法 

試料を凍結した後,減圧下で水分を昇華させることによ
って脱水及び乾燥させる方法。 

freeze-drying method 

4227 

二次電子 

電子線の試料への照射によって,試料から放出する電子
のうち運動エネルギーの低い電子。 

secondary electron 

4228 

二次電子検出器 

電子線を試料に照射したときに発生する運動エネルギー
が数十eV以下の電子を検出する機器。 

secondary electron 

detector 

4229 

二次電子放出率 

電子線を試料に照射したとき放出される二次電子の割合
を,試料に照射した電子1個当たりの二次電子の数で表
した数値。 

secondary electron yield 

4230 

反射電子 

散乱電子のうち,後方に散乱されて試料から放出される
運動エネルギーの高い電子。電子線の電子と同程度の運
動エネルギーをもつ。 

backscattered electron 

4231 

反射電子検出器 

電子線が物質に照射されたときにエネルギーの減衰を受
けずに放射される電子を検出する機器。 

backscattered electron 

detector 

4232 

表面コーティング(電

子顕微鏡の) 

試料のチャージアップを防ぐため表面を導電性物質で被
覆する処理。 

coating (of electron 

microscope) 

4233 

プローブ電流 

電子線の電流。 

probe current 

4234 

分析電子顕微鏡, 
AEM 

透過電子顕微鏡に元素分析機能を追加した複合機器。照
射電子線によって試料内で励起された特性X線をエネル
ギー分散形X線分光器(EDS)で元素分析を,電子エネ
ルギー損失分光器によって試料を通過した電子線のエネ
ルギー分析から元素分析及び結合状態分析を行う機器。 

analytical electron 

microscope, 

AEM 

4235 

レプリカ法(電子顕微

鏡の) 

電子顕微鏡で観察しにくい試料の表面に,薄いコロジオ
ン,ファルンバール又は酸化被膜を作って剝がし,その
膜を観察する方法。 

replica method (of 

electron microscope) 

4236 

レンズ(電子顕微鏡の) 電磁場の性質を利用して電子線を集束させる部品。像の

拡大又は縮小をするためにはレンズを組み合わせて利用
する。 

lens (of electron 

microscope) 

4237 

ワーキングディスタン

ス(電子顕微鏡の) 

対物レンズの磁極端面と試料表面との距離。作動距離と
もいう。 

working distance (of 

electron microscope) 

d) 核磁気共鳴装置 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4301 

FID, 
自由誘導減衰(核磁気

共鳴装置の) 

パルスとして印加した電磁波によって励起された核磁気
モーメントが緩和する過程で放出するラジオ波の信号。 

free induction decay (of 

nuclear magnetic 
resonance apparatus), 

FID 

4302 

化学シフト(核磁気共

鳴の) 

隣接する原子の影響で原子の電子系がもつ磁気モーメン
トが変化し,その影響によって核磁気モーメントの共鳴
周波数がずれる現象。 

chemical shift (of NMR) 

4303 

核磁気共鳴, 
NMR 

核磁気モーメントをもつ原子核のエネルギー準位が,外
部磁場によって分裂して生じたエネルギー準位間の共鳴
現象。 

nuclear magnetic 

resonance, 

NMR 

4304 

核磁気共鳴装置 

核磁気共鳴を利用して,分子の化学構造及び隣接する原
子間の距離を解析する機器。 

nuclear magnetic 

resonance apparatus 

4305 

核磁気モーメント 

原子核の回転から生じる磁気モーメント。 

nuclear magnetic 

moment 

background image

23 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

4306 

核磁気誘導, 
核誘導 

物質に静磁場と同時に静磁場の垂直方向に交流磁場を印
加すると,ファラデーの法則によって交流起電力が誘起
される現象。 

nuclear magnetic 

induction 

4307 

核スピン 

原子核がもつ量子化された角運動量及び磁気モーメン
ト。 

nuclear spin 

4308 

緩和(核磁気共鳴の) 原子核が電磁波を吸収して励起された状態から熱平衡状

態に戻る過程。 

relaxation (of NMR) 

4309 

緩和時間 

緩和に要する時間,又は緩和に要する時間を表す時定数。
一般にスピン−格子緩和時間(T1)又はスピン−スピン
緩和時間(T2)は,時定数を取り扱う。 

relaxation time 

4310 

強磁性共鳴 

強磁性体の電子スピン共鳴。 

ferromagnetic resonance 

4311 

共鳴周波数 

核磁気共鳴を起こす周波数。 

resonant frequency 

4312 

クエンチ 

超伝導磁石が何らかの理由で超伝導状態を維持できなく
なったとき,メインコイルを流れる大電流が熱に変換さ
れ,周囲の液体ヘリウムを一気に蒸発させる現象。蒸発
したヘリウムが外部に放出されるため,窒息の危険を伴
うため注意が必要である。 

quench 

4313 

サイドバンド 

核磁気共鳴信号に対して低周波数側及び高周波数側の双
方に出現する疑似信号。 

side band 

4314 

シム(核磁気共鳴装置

の) 

観測領域の磁場の不均一性を補正して均一にするための
コイル群。 

sim (of nuclear magnetic 

resonance apparatus) 

4315 

常磁性共鳴 

常磁性体の電子スピン共鳴。 

paramagnetic resonance 

4316 

スピン−格子緩和, 
縦緩和 

スピンの位相のそろった状態が格子振動によって緩和さ
れる現象。 

spin-lattice relaxation 

4317 

スピン−スピン緩和, 
横緩和 

スピンの位相のそろった状態がスピン−スピン相互作用
によって緩和される現象。 

spin-spin relaxation 

4318 

スピン−スピン結合 

シグナルの分裂を引き起こす核スピン間の相互作用。 

spin-spin coupling 

4319 

多次元核磁気共鳴法 

フーリエ変換核磁気共鳴において,複数のパルスによっ
て磁気モーメントを励起して構造解析を行う方法。 

multidimensional 

nuclear magnetic 
resonance 

4320 

超伝導マグネット(核

磁気共鳴装置の) 

分子量が大きい試料でも核磁気共鳴によって解析ができ
るように,超伝導現象を利用して強力な静磁場を試料に
与える機器。 

superconducting magnet 

(of nuclear magnetic 
resonance apparatus) 

4321 

電子スピン共鳴, 
ESR 

磁気モーメントをもつ電子のエネルギー準位が,静磁場
中で分裂して生じたエネルギー準位間の共鳴現象。 

electron spin resonance, 
ESR 

4322 

電子スピン共鳴装置 

電子スピン共鳴現象を利用して物質中の電子の環境など
の情報をもつスペクトルを測定する機器。 

electron spin resonance 

apparatus 

4323 

フーリエ変換核磁気共

鳴装置 

多数の周波数成分を含むパルスによって核磁気共鳴を起
こし,その後に続く緩和の過程を測定しフーリエ変換し
て核磁気共鳴信号を得る機器。 

Fourier transform nuclear 

magnetic resonance 
spectrometer 

4324 

不対電子 

原子を構成する電子の配置で同一軌道上に反対スピンを
もつ電子が存在しない電子。 

nonpaired electron 

background image

24 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

3.5 

表面分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

5001 

イオン散乱分光法, 
ISS 

数百eV程度の運動エネルギーをもつ低速イオンビーム 
を試料に入射し,散乱イオンのエネルギースペクトルか
ら表面に存在する元素種と濃度とを分析し,また,散乱
イオン強度の入射角依存性によって表面上の原子配列を
決定する方法。 

ion scattering 

spectroscopy, 

ISS 

5002 

イオンマイクロプロー

ブ質量分析計 

SIMSの一次イオンビームを集束させ,局所の元素分析
を行う機器。 

ion microprobe mass 

spectrometer 

5003 

X線光電子分光法, 
XPS 

試料にX線を照射したときに放出される光電子の運動エ
ネルギー分布を測定し,試料表面の元素の種類又は化学
結合状態について解析する方法。 

X-ray photoelectron 

spectroscopy, 

XPS 

5004 

X線モノクロメーター

(X線光電子分光法
の) 

高分解能の光電子スペクトルを得るため特性X線を単色
化する機器。 

X-ray monochromator 

(of XPS) 

5005 

エッチング(表面分析

の) 

イオンなどの衝突によって固体の表面が削られる(侵食
される)現象。 

etching (of surface 

analysis) 

5006 

エッチングイオン銃 

試料の表面の原子層を表面から垂直方向に削る数百eV
〜数keVのイオンを発生する機器。 

etching ion gun 

5007 

エバネッセント効果

(紫外可視光の) 

全反射条件下で,物質界面において光が低屈折媒体中に
漏れ出す現象。 

evanescent effect (of 

ultraviolet/visible) 

5008 

オージェ効果 

励起状態にある原子が基底状態に遷移するとき,準位間
のエネルギー差に等しいエネルギーの光子を放出する代
わりに,原子内の他の電子にそのエネルギーを与えて非
放射的に基底状態に戻り,そのときに1個の電子を放出
する現象。 

Auger effect 

5009 

オージェ電子 

オージェ効果によって放出される核内電子。 

Auger electron 

5010 

オージェ電子スペクト

ル 

オージェ効果によって放出された電子の運動エネルギー
分布のスペクトル。 

Auger electron spectrum 

5011 

オージェ電子分光装置 電子又は光子を試料に照射したとき,オージェ効果によ

って極表面(数nm)から放出されるオージェ電子のス
ペクトルを測定し,試料表面に存在する元素を分析する
機器。 

Auger electron 

spectrometer 

5012 

オージェ電子分光法, 
AES 

2 keV程度の電子線を試料に入射させ,オージェ効果に
よって得られるオージェ電子のエネルギー分布から,試
料表面の元素を解析する電子分光法。 

Auger electron 

spectroscopy, 

AES 

5013 

化学シフト(光電子分

光の) 

原子の化学状態の変化に起因するピークエネルギーの変
化。 

chemical shift (of 

electron spectroscopy) 

5014 

化学力顕微鏡 

化学力顕微法を用いて測定する走査プローブ顕微鏡。 

chemical-force 

microscope 

5015 

化学力顕微法, 
CFM 

特定分子と相互作用力が得られるように機能化されたせ
ん(尖)鋭な探針先端の偏差を検出する手法。 

chemical-force 

microscopy, 

CFM 

5016 

間欠接触モード, 
タッピングモード(走

査プローブ顕微鏡
の) 

z変位方向の正弦波変調を探針に印加し,正弦波振動の
一部分で探針先端と試料が接触するようにする走査モー
ド。 

intermittent contact mode, 
tapping mode (of 

scanning probe 
microscope) 

5017 

カンチレバー(走査プ

ローブ顕微鏡の) 

探針先端から最も離れた位置にチップを接合し,力を検
知して探針先端を保持する薄板。 

cantilever (of scanning 

probe microscope) 

background image

25 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

5018 

グロー放電スペクトル

法 

グロー放電を利用して試料の成分元素を励起し,放射さ
れた光を分光して得られるスペクトルから成分分析を行
う分析法。 

glow discharge 

spectrometry 

5019 

結合エネルギー 

原子を構成する電子を原子から引き離すときに必要なエ
ネルギー。 

binding energy 

5020 

ケルビンプローブフォ

ース顕微鏡 

ケルビンプローブフォース顕微法によって測定する走査
プローブ顕微鏡。 

Kelvin-probe force 

microscope 

5021 

ケルビンプローブフォ

ース顕微法, 

KPFM, 
KFM 

導電性探針先端を使用して,探針先端と試料表面間との
相対電位の空間的又は時間的変化をダイナミックモード
AFMで測定する方法。 

Kelvin-probe force 

microscopy, 

KPFM, 
KFM 

5022 

原子間力顕微鏡, 
AFM 

原子間力顕微法を用いて表面性状を画像化する装置。 

atomic force microscope, 
AFM 

5023 

原子間力顕微法 

表面力を検知するカンチレバー上のせん(尖)鋭な探針
先端のたわみをモニターしながら,試料表面を機械的に
走査することによって表面性状を画像化する方法。 

atomic force microscopy 

5024 

高速電子線回折法, 
HEED 

高エネルギー(加速エネルギーが10 keV以上)の電子線
を入射し,得られる回折像を解析する方法。 

high energy electron 

diffraction method, 

HEED 

5025 

光電効果 

物質が光のエネルギーを吸収して光電子(伝導電子を含
む。)が放出される現象。 

photoelectric effect 

5026 

光電子 

物質に真空紫外光,X線などの光を照射したきに光電効
果によって放出される電子。 

photoelectron 

5027 

磁気力顕微鏡 

磁気力顕微法を用いて測定する走査プローブ顕微鏡。 

magnetic-force 

microscope 

5028 

磁気力顕微法, 
MFM 

探針先端と試料表面間との原子間力及び磁気的相互作用
をモニターする探針アセンブリを使用したAFMモード
による測定方法。 

magnetic-force 

microscopy, 

MFM 

5029 

真空紫外光電子スペク

トル 

真空紫外光を試料に照射したときに,光電効果によって
放出された光電子の運動エネルギー分布のスペクトル。
気体のスペクトルでは分子の振動スペクトル,固体のス
ペクトルでは固体の最外殻電子のスペクトル(バンドス
ペクトル)を含む。 

ultraviolet photoelectron 

spectrum 

5030 

真空紫外光電子分光法,
UPS 

ヘリウム共鳴線(58.4 nm,21.2 eV)などの真空紫外線を
照射したときに放出される光電子の運動エネルギー分
布,角度分布などを測定し,試料の電子構造,原子配列
などを解析する方法。 

ultraviolet photoelectron 

spectroscopy, 

UPS 

5031 

スパッタリング 

固体の表面層の原子が荷電粒子との衝突によって除去さ
れる現象。 

sputtering 

5032 

静電円筒鏡面形分析器 二つの同軸電極間に円筒形静電場を形成し,一定のエネ

ルギーの電子を収束する機器。 

cylindrical mirror 

analyzer 

5033 

静電気力顕微鏡, 
電気力顕微鏡, 
EFM 

静電気力顕微法(電気力顕微法)を用いて表面間の静電
気力の分布を得る走査プローブ顕微鏡。 

electrostatic-force 

microscope, 

electric-force microscope, 
EFM 

5034 

静電気力顕微法, 
電気力顕微法 

導電性探針を使用して形状像及び探針先端−試料表面間
の静電気力の分布を得る方法。 

electrostatic-force 

microscopy, 

electric-force microscopy 

5035 

静電半球形分析器 

半球面形状の電極間に静電場を形成し,一定のエネルギ
ーの電子を二次元的に収束する機器。 

electrostatic 

hemispherical analyzer 

background image

26 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

5036 

接触モード(走査プロ

ーブ顕微鏡の) 

常に探針−試料間に反発力がかかっている状態で,探針
と試料との相対的な高さを調整しながら,試料表面上に
探針先端を走査するモード。 

contact mode (of 

scanning probe 
microscope) 

5037 

走査オージェ電子顕微

鏡, 

SAM 

細く絞った電子線を用いて試料表面を走査し,得られた
オージェ電子による元素像(オージェ像)によって表面
の元素,それらの分布状態を解析する顕微鏡。 

scanning Auger electron 

microscope, 

SAM 

5038 

走査近接場光顕微鏡 

可視光領域でのエバネッセント効果を利用した光源をプ
ローブとして用い,それを走査しながら試料の光学的性
質の変化を検出し,表面の構造を解析する顕微鏡。 

scanning near field 

optical microscope 

5039 

走査電気化学顕微鏡 

微小な金属探針の先で起きる局所的な電気化学反応によ
る電流値を金属探針を走査しながら測定する顕微鏡。 

scanning electrochemical 

microscope 

5040 

走査トンネル顕微鏡, 
STM 

走査トンネル顕微法のモードを利用した走査プローブ顕
微鏡。 

scanning tunneling 

microscope, 

STM 

5041 

走査トンネル顕微法 

電圧印加された導電性探針の先端を機械的に走査するこ
とによって,トンネル電流と探針先端との表面距離のデ
ータを用いて導電性表面をイメージングする方法。 

scanning tunnelling 

microscopy 

5042 

走査プローブ顕微鏡, 
SPM 

走査型プローブ顕微法によって,試料表面の状態,各種
の物性などを測定する顕微鏡。 

scanning probe 

microscope, 

SPM 

5043 

走査プローブ顕微法 

試料表面上を接触モード,非接触モード,タッピングモ
ード等で探針を機械的に走査しながら,検出器の応答を
同時測定し,表面の各種状態をイメージングする方法。 

scanning probe 

microscopy 

5044 

ダイナミックモード

AFM, 

ダイナミックフォース

顕微鏡, 

DFM 

探針先端と試料との相対位置を画像上の各ポイントで正
弦波状に変化させるモードを利用した走査プローブ顕微
鏡。 

dynamic-mode AFM, 
dynamic-force 

microscope, 

DFM 

5045 

脱出深さ 

あるエネルギーをもつ電子がエネルギーを損失しないで
固体中を通過できる距離。 

escape depth 

5046 

探針, 
プローブ(走査プロー

ブ顕微鏡の) 

試料表面の微小領域を走査し,表面の形状及び相互作用
を検出するカンチレバーの先端部及びその近傍。 

probe (of scanning probe 

microscope) 

5047 

低速電子線回折法, 
LEED 

低エネルギー(加速エネルギーが1 keV以下)の電子線
を試料に入射させて,電子線の回折像から試料の表面の
原子構造を解析する方法。 

low energy electron 

diffraction method, 

LEED 

5048 

デプスプロファイル, 
深さプロファイル 

横軸に試料の表面から内部への距離,縦軸に原子,分子
などの濃度をとったグラフ。 

depth profile 

5049 

電界イオン顕微鏡, 
FIM(表面分析の) 

試料表面から放出される電子又はイオンを用いて表面状
態の拡大像を得る機器。 

field ion microscope, 
FIM (for surface analysis) 

5050 

電子線マイクロアナラ

イザー, 

EPMA 

細く絞った電子線を試料表面に照射し,発生する特性X
線を分光して元素の組成及び分布を解析する機器。 

electron probe 

microanalyzer, 

EPMA 

5051 

トンネル電流 

トンネル効果(ポテンシャル障壁を乗り越えるだけのエ
ネルギーをもたない電子が,その障壁を通り抜けること
ができる量子力学的な現象)によってポテンシャル障壁
を貫いて流れる電流。 

tunneling current 

5052 

二次イオン質量分析法,
SIMS 

高エネルギー(数keV〜20 keV)のイオンを試料に照射
し,スパッタリングによって放出される二次イオンを質
量分析計によって分析する方法。 

secondary ion-mass 

spectrometry, 

SIMS 

background image

27 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

5053 

反射高速電子線回折法,
RHEED 

10 keV以上の電子線を試料表面に浅い角度で入射させ,
試料表面の結晶格子で回折した反射図形を検出すること
で結晶表面の構造を分析する方法。 

reflection high energy 

electron diffraction 
method, 

RHEED 

5054 

非接触モード(走査プ

ローブ顕微鏡の) 

探針と試料の間に常に引力が働いている状態で走査する
モード。 

non-contact mode 

5055 

プラズモン 

金属中の電子が電子間の静電的反発によって起こす量子
化されたプラズマ振動の現象。 

plasmon 

5056 

プラズモンピーク

(XPSの) 

X線光電子分光スペクトル中の内殻電子ピークの低エネ
ルギー側に現れるピーク。物質中で放出された光電子が
真空中に放出されるまでに固体中のプラズモンによって
運動エネルギーを奪われたために生じる。 

plasmon peak (of XPS) 

5057 

平均自由行程 

あるエネルギーをもつ電子が固体中を通過できる距離の
平均値。 

mean free path 

3.6 

分離分析機器 

a) クロマトグラフ 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6001 

Rf値(薄層クロマトグ

ラフィー又はペーパ
ークロマトグラフィ
ーの) 

分析種の移動距離を溶媒の移動最先端までの距離で除し
た値。分析種の同定の指標として用いる。 

Rf value (of thin layer 

chromatography or 
paper chromatography) 

6002 

アイソクラティック溶

離法(液体クロマト
グラフィーの) 

単一組成の溶離液によって分析種を展開,溶出させる操
作。 

isocratic elution (of liquid 

chromatography) 

6003 

圧力勾配補正因子(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

j=(3/2)[(Pi/Po)2−1]/[(Pi/Po)3−1]で定義される値。充塡剤

が均一に詰められた一定の径をもつカラムについてのみ
適用できる。Pi及びPoはそれぞれカラム入口及び出口に
おけるキャリヤーガスの圧力を表す。 

pressure gradient 

correction factor (of 
gas chromatography) 

6004 

圧力プログラム法(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

設定したプログラムに従って,移動相の圧力を変化させ
ながら分析種を展開させる方法。 

pressure programming 

method (of gas 
chromatography) 

6005 

アフィニティークロマ

トグラフィー 

生物学的親和性(酵素と基質,抗原と抗体など)を利用
した液体クロマトグラフィー。 

affinity chromatography 

6006 

イオンクロマトグラフ イオンクロマトグラフィーを行う装置。 

ion chromatograph 

6007 

イオンクロマトグラフ

ィー, 

IC 

溶離液を移動相にしてカラムに試料を導入し,固定相と
の相互作用(イオン交換など)の差を利用して,イオン
を測定する高速液体クロマトグラフィー。 

ion chromatography, 
IC 

6008 

イオン交換クロマトグ

ラフィー 

固定相にイオン交換能をもつ物質を用いてイオン解離性
分析種の分離を行う液体クロマトグラフィー。 

ion-exchange 

chromatography 

6009 

移動相 

クロマトグラフィーが行われる場の要素の一つで,固定
相に接して流れる気体,液体,超臨界流体などの流体。 

mobile phase, 
moving phase 

6010 

液液クロマトグラフィ

ー 

固定相として液体を用いる液体クロマトグラフィー。 

liquid-liquid 

chromatography 

6011 

液固クロマトグラフィ

ー 

固定相として固体を用いる液体クロマトグラフィー。 

liquid-solid 

chromatography 

6012 

液体クロマトグラフィ

ー, 

LC 

移動相として液体を用いるクロマトグラフィー。 

liquid chromatography, 
LC 

background image

28 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6013 

液体クロマトグラフ 

液体クロマトグラフィーを行う装置。 

liquid chromatograph 

6014 

液体クロマトグラフィ

ー質量分析, 

LC/MS 

質量分析計を検出器とする液体クロマトグラフィー。 

liquid chromatography/ 

mass spectrometry, 

LC/MS 

6015 

液体クロマトグラフ質

量分析計, 

LC-MS 

液体クロマトグラフと質量分析計とを結合した装置。 

liquid chromatograph/ 

mass spectrometer, 

LC-MS 

6016 

炎光光度検出器, 
FPD(ガスクロマトグ

ラフィーの) 

還元性の水素炎中の硫黄又はりんによる発光を測定する
ガスクロマトグラフ用検出器。 

flame photometric 

detector, 

FPD (of gas 

chromatography) 

6017 

往復運動形プランジャ

ーポンプ(液体クロ
マトグラフの) 

往復運動するプランジャーによって移動相(液体)を吸
引,吐出させるポンプ。 

reciprocating pump 

6018 

温度プログラム法 

設定したプログラムに従ってカラム槽の温度を変化させ
るクロマトグラフィー。 

temperature 

programming method 

6019 

化学結合形充塡剤 

担体表面に固定相となる物質を化学結合させた充塡剤。 chemically bonded 

packings 

6020 

下降展開(ペーパーク 

ロマトグラフィーの)

移動相を下方に向けて移動させることで分離する手法。 descending development 

(of paper 
chromatography) 

6021 

ガスクロマトグラフ 

ガスクロマトグラフィーを行う装置。 

gas chromatograph 

6022 

ガスクロマトグラフィ

ー, 

GC 

移動相として気体を用いるクロマトグラフィー。 

gas chromatography, 
GC 

6023 

ガスクロマトグラフィ

ー質量分析, 

GC/MS 

質量分析計を検出器とするガスクロマトグラフィー。 

gas chromatography/ 

mass spectrometry, 

GC/MS 

6024 

ガスクロマトグラフ質

量分析計, 

GC-MS 

ガスクロマトグラフと質量分析計とを結合した装置。 

gas chromatograph/mass 

spectrometer, 

GC-MS 

6025 

ガードカラム 

性能劣化を防ぐために分離カラムの前に設置する小形の
カラム。 

guard column 

6026 

カラム 

クロマトグラフィーを行うために固定相を形成する物質
を保持させた管の総称。 

column 

6027 

カラムクロマトグラフ

(液体クロマトグラ
フィーの) 

固定相としてカラムを使用した液体クロマトグラフ。 

column chromatograph 

(for liquid 
chromatography) 

6028 

カラム槽 

カラムを収容する槽。 

column compartment 

6029 

気液クロマトグラフィ

ー 

固定相として液体を用いるガスクロマトグラフィー。 

gas-liquid 

chromatography 

6030 

気固クロマトグラフィ

ー 

固定相として固体を用いるガスクロマトグラフィー。 

gas-solid 

chromatography 

6031 

逆相クロマトグラフィ

ー 

固定相よりも極性の高い移動相を用いる液体クロマトグ
ラフィー。 

reversed phase 

chromatography 

6032 

キャピラリーカラム

(ガスクロマトグラ
フィーの) 

内径約l mm以下の中空カラム又は充塡カラムの総称。 

capillary column (of gas 

chromatography) 

background image

29 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6033 

キャリヤーガス(ガス

クロマトグラフィー
の) 

ガスクロマトグラフィー用の移動相。 

carrier gas (of gas 

chromatography) 

6034 

吸着クロマトグラフィ

ー 

分析種の気固又は液固吸着平衡の差によって分離が行わ
れるクロマトグラフィー。 

adsorption 

chromatography 

6035 

空間補正保持時間(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

ある分析種の保持時間からホールドアップタイムを引い
た値。 

adjusted retention time 

(of gas 
chromatography) 

6036 

空間補正保持容量(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

ある分析種の保持容量からホールドアップボリュームを
引いた値。 

adjusted retention 

volume (of gas 
chromatography) 

6037 

クロマトグラフ 

クロマトグラフィーを行う装置。 

chromatograph 

6038 

クロマトグラフィー 

試料を固定相に接して流れる移動相に導入して,固定相
及び移動相に対する分析種の特性の差によって分離を行
う方法。 

chromatography 

6039 

クロマトグラム 

クロマトグラフィーにおいて,分析種の溶出状態を時間
に対してプロットした図。 

chromatogram 

6040 

蛍光検出器(液体クロ

マトグラフィーの) 

溶出液に励起光を照射し,分析種の蛍光強度を測定する
液体クロマトグラフ用検出器。 

fluorescence detector (of 

liquid 
chromatography) 

6041 

恒温分析法 

カラム槽温度を一定にして行うクロマトグラフィー。 

isothermal 

chromatography 

6042 

高速液体クロマトグラ

フ 

高速液体クロマトグラフィーを行う装置。 

high performance liquid 

chromatograph 

6043 

高速液体クロマトグラ

フィー, 

HPLC 

液体を移動相にしてカラムに試料を導入し,分析種を固
定相との相互作用(吸着,分配,イオン交換,サイズ排
除など)の差を利用して高性能に分離して検出する方法。 

high performance liquid 

chromatography, 

HPLC 

6044 

グラジエント溶離法, 
勾配溶離法(液体クロ

マトグラフィーの) 

溶離液(移動相)の組成を変化させながら分析種を展開
及び溶出させる操作。 

gradient elution (of liquid 

chromatography) 

6045 

コールドオンカラム注

入法(ガスクロマト
グラフィーの) 

試料溶媒の沸点以下に保った注入口を通してカラムに直
接試料を導入するキャピラリーカラム用試料注入方法。 

cold on-column 

injection method (of 
gas chromatography) 

6046 

固定相 

クロマトグラフィーが行われる場の要素の一つで移動相
と平衡状態にあり,分析種と相互作用する場。 

stationary phase 

6047 

固定相液体(ガスクロ

マトグラフィーの) 

固定相として用いる液体。 

stationary liquid (of gas 

chromatography) 

6048 

固定相液体担持量(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

質量百分率Sc(%)で表す固定相液体の担持量。次の式
で定義する。 

Sc=Ms/(Ms+Msu)×100 

ここに, Sc: 固定相液体担持量 
 

Ms: 固定相液体の質量 

Msu: 担体の質量 

liquid phase loaded (of 

gas chromatography) 

6049 

サイズ排除クロマトグ

ラフィー, 

SEC 

分析種の分子の大きさによって分離を行うクロマトグラ
フィー。溶離液に有機溶媒を用いる場合はゲル浸透クロ
マトグラフィー,また,水溶液を用いる場合はゲルろ過
クロマトグラフィーと呼ぶことがある。 

size exclusion 

chromatography, 

SEC 

6050 

サプレッサー法 

電気伝導度検出器を用いる場合,測定するイオン種成分
の検出を損なうことなくバックグラウンドとなる電気伝
導度を低減する方法。 

suppressor method 

background image

30 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6051 

紫外可視吸収検出器

(液体クロマトグラ
フィーの) 

紫外又は可視部の吸収を利用して測定する液体クロマト
グラフ用検出器。 

ultraviolet/visible 

absorption detector 
(of liquid 
chromatography) 

6052 

示差屈折率検出器(液

体クロマトグラフィ
ーの) 

溶離液と分析種との屈折率の差を用いて測定する液体ク
ロマトグラフ用検出器。 

differential refractometer 

detector (of liquid 
chromatography) 

6053 

充塡カラム 

充塡剤を充塡したカラム。 

packed column 

6054 

順相クロマトグラフィ

ー 

固定相よりも極性の低い移動相を用いる液体クロマトグ
ラフィー。 

normal phase 

chromatography 

6055 

昇温分析法 

設定したプログラムに従ってカラム槽の温度を上昇させ
ながら行うクロマトグラフィー。 

programmed 

temperature analysis 

6056 

上昇展開(薄層クロマ

トグラフィー又はペ
ーパークロマトグラ
フィーの) 

移動相を上方に向けて移動させることで分離する手法。 ascending development 

(of thin layer 
chromatography or 
paper chromatography) 

6057 

蒸留ガスクロマトグラ

フ 

石油製品の炭化水素組成を昇温ガスクロマトグラフで分
析し,温度留分組成を推定,定量するための装置。 

distillation gas 

chromatograph 

6058 

助燃ガス(ガスクロマ

トグラフィーの) 

フレーム(炎)形成のための燃料ガスの燃焼に必要な空
気及び酸素の総称。 

supporting gas (of gas 

chromatography) 

6059 

シリンジポンプ 

シリンダー中に満たした移動相(液体)をピストンによ
って吐出させるポンプ。 

syringe pump 

6060 

親水性相互作用クロマ

トグラフィー, 

HILIC(液体クロマト

グラフィーの) 

親水性相互作用によって分離が行われるクロマトグラフ
ィー。 

hydrophilic interaction 

chromatography, 

HILIC (of liquid 

chromatography) 

6061 

シンメトリ係数 

クロマトグラム上のピークの対称性の度合いを示す係
数。 

symmetry factor 

6062 

水素炎イオン化検出器,
FID(ガスクロマトグ

ラフィーの) 

水素の燃焼熱によって有機化合物の骨格炭素をイオン化
し,そのイオン電流の変化を測定するガスクロマトグラ
フ用検出器。 

flame ionization detector, 
FID (of gas 

chromatography) 

6063 

スプリット注入法(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

試料導入部に設けられた分岐によって注入気化された試
料の一部を,カラムに導入するキャピラリーカラム用の
試料注入法。 

split injection method (of 

gas chromatography) 

6064 

スプリットレス注入法

(ガスクロマトグラ
フィーの) 

注入気化された試料のほぼ全量がカラムに移送された段
階で,スプリット出口を開き,気化室に残存する溶媒な
どを系外に排出し分析するキャピラリーカラム用の試料
注入法。 

splitless injection 

method (of gas 
chromatography) 

6065 

セプタム方式(試料注

入の) 

弾性ゴム体を通して,試料をシリンジによって注入する
方式。 

septum injection type 

(of sample injection) 

6066 

全多孔性充塡剤 

粒子の内部まで開孔している多孔性粒子から成る充塡
剤。 

totally porous packings 

6067 

全補正保持容量(ガス

クロマトグラフィー
の) 

カラムにおける圧力降下を補正した空間補正保持容量
で,空間補正保持容量Vrに圧力勾配補正因子jを乗じた

Vn=jVrで定義される。 

adjusted retention 

volume (of gas 
chromatography) 

6068 

相対感度 

基準とする分析種の単位量当たりのピーク面積に対す
る,分析種の単位量当たりのピーク面積の比。 

relative sensitivity 

background image

31 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6069 

相比(ガスクロマトグ

ラフィーの) 

カラム中の固定相体積に対する移動相体積の割合。中空
カラムの場合は次の式で定義される。 

β=r/2df  

ここに, r: カラムの半径 
 

df: 固定相液体の膜厚 

phase ratio (of gas 

chromatography) 

6070 

担体(クロマトグラフ

ィーの) 

分配形の充塡剤において,固定相を保持するために用い
られる基材。 

solid support (of 

chromatography) 

6071 

ダンパー 

ポンプによって発生する脈流を低減させる器具。 

damper 

6072 

中空カラム(ガスクロ

マトグラフィーの) 

固定相となる物質を内壁に保持した中空状のカラム。 

open tubular column (of 

gas chromatography) 

6073 

超臨界流体クロマトグ

ラフィー, 

SFC 

気体及び液体が共存できる限界の温度及び圧力(臨界点)
を超えた状態の流体を移動相としたクロマトグラフィ
ー。 

supercritical fluid 

chromatography, 

SFC 

6074 

直接注入法(ガスクロ

マトグラフィーの) 

キャピラリーカラムにおいて,試料を加熱した気化室に
注入して,瞬間気化させた後,カラムへ全量導入する試
料注入方法。 

direct injection method 

(of gas 
chromatography) 

6075 

テーリング 

ピーク後部が裾を引いている様子。 

tailing 

6076 

電気化学検出器(液体

クロマトグラフィー
の) 

作用電極に一定電位を印加し,溶出液中の分析種の電気
化学反応によって生じた電流又は電気量を測定する検出
器。 

electrochemical detector 

(of liquid 
chromatography) 

6077 

電気伝導度検出器(液

体クロマトグラフィ
ーの) 

分析種の電気伝導度を測定する検出器。 

electric conductometric 

detector (of liquid 
chromatography) 

6078 

電子捕獲検出器, 
ECD(ガスクロマトグ

ラフィーの) 

放射性同位元素からのβ線又は放電によって生成した自

由電子が,ハロゲン,酸素などを含む化合物と再結合す
る現象を利用して測定する検出器。 

electron capture detector, 
ECD (of gas 

chromatography) 

6079 

二次元展開 

薄層クロマトグラフィー又はペーパークロマトグラフィ
ーにおいて,初め移動させた方向と直角の方向に再び移
動させることで分離する手法。 

two dimensional 

development 

6080 

熱イオン化検出器(ガ

スクロマトグラフィ
ーの), 

TID, 
NPD, 
FTD 

水素炎の中にアルカリ塩又はアルカリ土類塩を共存させ
て含窒素及び含りん有機化合物のイオン化を促進させる
ことによって,分析種の検出感度を高めて測定する検出
器。 

thermionic ionization 

detector, 

TID, 
nitrogen phosphorous 

detector, 

NPD, 
flame thermionic 

detector, 

FTD (of gas 

chromatography) 

6081 

熱伝導度検出器, 
TCD(ガスクロマトグ

ラフィーの) 

キャリヤーガスと分析種との熱伝導度の差を利用して測
定する検出器。 

thermal conductivity 

detector, 

TCD (of gas 

chromatography) 

6082 

熱分解ガスクロマトグ

ラフィー 

試料を熱分解し,その生成成分をガスクロマトグラフィ
ーによって分離,検出,解析する方法。 

pyrolysis gas 

chromatography 

6083 

燃料ガス(ガスクロマ

トグラフィーの) 

フレーム(炎)形成のために用いる水素などの可燃性の
気体。 

fuel gas (of gas 

chromatography) 

6084 

パージ・トラップ法 

液体試料中の揮発性分析種を不活性ガス相中に移動さ
せ,トラップ管に捕集,濃縮した後に,これを加熱して
揮発性分析種を追い出し,分析装置に導入する方法。 

purge and trap method 

background image

32 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6085 

排除クロマトグラフィ

ー 

分析種の分子の大きさ及びイオン相互作用などによって
分離を行う液体クロマトグラフィーの総称。 

exclusion 

chromatography 

6086 

パイログラム(ガスク 

ロマトグラフィーの)

熱分解ガスクロマトグラフィーで得られるクロマトグラ
ム。 

pyrogram (of gas 

chromatography) 

6087 

薄層クロマトグラフィ

ー, 

TLC 

ガラスなど平滑な板の上に吸着剤を薄く均一に塗布した
ものを固定相とした液体クロマトグラフィー。 

thin layer 

chromatography, 

TLC 

6088 

半値幅 

ピーク高さの1/2の点におけるピークの幅。 

peak width at half height 

6089 

半値幅法 

ピーク面積を半値幅及びピーク高さの積で表す面積計算
方法。 

peak width at half height 

method 

6090 

ピーク(クロマトグラ

フィーの) 

クロマトグラムにおいて,カラムから分析種が溶出して
いるときの溶出曲線の形状。 

peak (of 

chromatography) 

6091 

ピーク高さ 

ピークの頂点からピークの両裾を結ぶ直線に下ろした交
点までの高さ。 

peak height 

6092 

ピーク幅 

ピークの両側の変曲点における接線及びピークの両裾と
を結ぶ直線の二つの交点の幅。 

peak width 

6093 

ピーク面積 

ピークの両裾を結ぶ直線及びピークが囲む面積。 

peak area 

6094 

光イオン化検出器, 
PID(ガスクロマトグ

ラフィーの) 

紫外線を照射して分析種をイオン化し,そのイオン電流
変化を測定するガスクロマトグラフ用検出器。 

photoionization detector, 
PID (of gas 

chromatography) 

6095 

光散乱検出器 

カラムからの溶出物によって散乱する光の強度を連続的
に検出する検出器。 

light-scattering detector 

6096 

比保持容量(ガスクロ

マトグラフィーの) 

標準状態における固定相液体の単位質量当たりの全補正
保持容量。次の式によって求められる。 

Vg=Vn/Ws×273.15/T 

ここに, Vg: 比保持容量 
 

Vn: 全補正保持容量 

Ws: 固定相液体の質量(g) 

T: カラムの絶対温度(K) 

specific retention 

volume (of gas 
chromatography) 

6097 

表面多孔性充塡剤 

粒子の表面だけが開孔している多孔性の充塡剤。 

pellicular packings 

6098 

付加ガス(ガスクロマ

トグラフィーの) 

カラムの下流で流路に合流させ,流量を増大させるため
に用いる気体。 

make up gas (of gas 

chromatography) 

6099 

フラクション, 
画分 

分画操作によって,分け取られた部分。 

fraction 

6100 

フラクションコレクタ

ー 

溶出液の受器を交換することによって,カラムで分離さ
れた成分を分取するための装置。 

fraction collector 

6101 

ブリーディング(ガス

クロマトグラフィー
の) 

固定相液体が加熱によって蒸発し,カラムから徐々に流
出する現象。 

bleeding (of gas 

chromatography) 

6102 

プレカット流路 

分析の妨害となる成分を除去するための試料導入流路。 pre-cut flow 

6103 

プレカラム, 
前置カラム 

分離カラムの前に設置する小形のカラム。 

pre-column 

6104 

プレカラム誘導体化 

カラムへ注入する前に,分析種を誘導体化試薬などと反
応させる方法。 

pre-column 

derivatization 

6105 

分画 

カラムで分離され,溶出してきた成分を分け取る操作。 fractionation 

6106 

分光光度検出器(液体

クロマトグラフィー
の) 

内蔵した分光器によって波長を選択して,その光の吸収
を利用した液体クロマトグラフ用検出器。 

spectrophotometric 

detector (of liquid 
chromatography) 

6107 

分取クロマトグラフィ

ー 

目的成分を含む画分を集めることを目的としたクロマト
グラフィー。 

preparative 

chromatography 

background image

33 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6108 

分配クロマトグラフィ

ー 

分析種の気液又は液液分配平衡の差によって分離が行わ
れるクロマトグラフィー。 

partition 

chromatography 

6109 

分配係数 

固定相中の溶質の濃度を,移動相中の溶質の濃度で除し
た値。 

partition coefficient 

6110 

分離モード(液体クロ

マトグラフィーの) 

主に分離を支配する作用様式に基づいて分類した様式。 separation mode (of 

liquid chromatography) 

6111 

分離係数 

ある二成分の補正保持時間がtr'1<tr'2のとき,tr'2/tr'1で表
される値。保持係数の比と等しい。 

separation factor 

6112 

分離度 

クロマトグラム上で近接している二つのピークがどの程
度分離しているかを示す尺度。分離度Rは次の式によっ
て定義する。 

2

1

R1

R2

)

(2

W

W

t

t

R

+

=

ここに, 

tR1,tR2: ピーク1及びピーク2の保

持時間(tR2≧tR1) 

W1,W2: ピーク1及びピーク2のピ

ーク幅 

又は 

2

5.0

1

5.0

R1

R2

)

(

18

.1

h

hW

W

t

t

R

+

=

ここに, 

tR1,tR2: ピーク1及びピーク2の保

持時間(tR2≧tR1) 

W0.5h1,W0.5h2: ピーク1及びピーク2のピ

ーク幅 

resolution 

6113 

ベースライン(クロマ

トグラフィーの) 

クロマトグラム上で分析種ピークがなく,移動相だけが
検出器を通過している部分。 

base line (of 

chromatography) 

6114 

ペーパークロマトグラ

フィー 

ろ紙を固定相又は固定相支持体とした液体クロマトグラ
フィー。 

paper chromatography 

6115 

ヘッドスペース法(ガ

スクロマトグラフィ
ーの) 

固体・液体試料を一定容器に入れて密栓し,一定温度で
一定時間加熱し,気相部分の一定量を採取して分析装置
に導入する方法。 

head space method (of 

gas chromatography) 

6116 

ホールドアップボリュ

ーム(ガスクロマト
グラフィーの) 

ある条件でカラムに保持されない分析種がカラムを通り
抜けるのに要する容量。 

hold up volume (of gas 

chromatography) 

6117 

ホールドアップタイム

(ガスクロマトグラ
フィーの) 

ある条件でカラムに保持されない分析種がカラムを通り
抜けるのに要する時間。 

hold up time (of gas 

chromatography) 

6118 

保持係数, 
容量比 

固定相中の分析種の質量を,移動相中の分析種の質量で
除した値(k')。クロマトグラムでは,次の式で示される。 

k'=(tR−t0)/t0 

ここに, k': 保持係数 
 

tR: 分析種の保持時間 

t0: 保持されないで移動相と同じ速度

でカラムを通過する成分の保持時
間 

retention factor, 
capacity factor 

6119 

保持時間 

ある条件で特定の物質がカラムに保持されている時間。 retention time 

background image

34 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6120 

保持指標(ガスクロマ

トグラフィーの) 

次の式で定義する数。 

I=100[Z+(logtr'x−logtr'z)/(logtr'z+1−logtr'z)] 

ここに, tr'x: 分析種の空間補正保持時間 
 

tr'z: tr'xより空間補正保持時間が小さ

く,かつ,最もtr'xに近い直鎖アル
カンの空間補正保持時間 

Z: 空間補正保持時間tr'zの直鎖アルカ

ンの炭素数 

tr'z+1: Z+1の炭素数の直鎖アルカンの空

間補正保持時間 

なお,昇温分析の場合は,式のlogtrはtrとなる。 

retention index (of gas 

chromatography) 

6121 

保持値 

保持容量,保持時間,空間補正保持容量,全補正保持容
量,比保持容量,保持比,空間補正保持時間,容量比,

Rf値などの総称。 

retention data 

6122 

保持比(ガスクロマト

グラフィーの) 

ある物質の保持値を表示するため,同一条件下で,次の
式で得られる値。 

r12=Vr1/Vr2=Vn1/Vn2=Vg1/Vg2=tr'1/tr'2 

ここに, 

r12: 保持比 

Vr1,Vr2: 空間補正保持容量 

Vn1,Vn2: 全補正保持容量 

Vg1,Vg2: 比保持容量 

tr'1,tr'2: 空間補正保持時間 

relative retention (of gas 

chromatography) 

6123 

保持容量 

ある条件で特定の物質をカラムから溶出させるのに必要
な移動相の体積。 

retention volume 

6124 

ポストカラム誘導体化 分析種と誘導体化試薬をカラムから溶出した後に反応さ

せる方法。 

post-column labeling 

6125 

面積百分率法 

クロマトグラムから得られた各分析種のピーク面積の比
を百分率で表す方法。 

area percentage method 

6126 

溶出液(液体クロマト

グラフィーの) 

カラムから流出する液体。 

effluent (of liquid 

chromatography) 

6127 

溶離液 

カラムに保持されている分析種を展開,溶出させる移動
相として用いる液体。 

eluent 

6128 

リーディング 

ピーク前半部が後半部に比べて緩やかに立ち上がってい
る様子。 

fronting 

6129 

リサイクル方式(液体

クロマトグラフィー
の) 

溶出液をカラム入口へ戻し,繰り返し分離する方式。 

recycle method (of liquid 

chromatography) 

6130 

流量プログラム法 

移動相の流速を変化させながら試料を展開し,分離する
方法。 

flow rate programming 

method 

6131 

理論段数 

カラムの分離効率(N)。次の式によって定義する。 

N=(tr /σ)2 

ここに, tr: 分析種の保持時間 
 

σ: ピーク形状がガウス分布とした標

準偏差 

また,式を変形して次の式によって求める場合もある。 

N=16(tr/W)2=5.54(tr /W1/2)2=2π(tr・h/A)2 

ここに, W: ピーク幅 
 

W1/2: 半値幅 

h: ピーク高さ 

A: ピーク面積 

theoretical plate number 

background image

35 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6132 

理論段高さ, 
HETP 

カラム長を理論段数で除した値。 

height equivalent to a 

theoretical plate, 

HETP 

6133 

ループバルブ方式(試

料注入の) 

流路切換えバルブに装着した計量管を用いて,試料を移
動相の中に導入する方式。 

valve injection type (of 

sample injection) 

b) 電気泳動分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6201 

アガロースゲル電気泳

動 

寒天中の多糖類で形成された巨大網状構造のゲルを支持
体とした電気泳動。 

agarose gel 

electrophoresis 

6202 

イオン性ミセル, 
荷電ミセル 

イオン性界面活性剤分子が水中で作る電荷を帯びた集合
体。 

ionic micelle, 
charged micelle 

6203 

界面動電現象 

液体と固体又は液体と液体との相対的な運動と各々の界
面付近における電荷との相互作用によって生じる種々の
現象。電気泳動,流動電位などがある。 

electrokinetic 

phenomenon 

6204 

キャピラリー電気泳動,
CE 

キャピラリーを泳動場とした電気泳動。泳動場として無
担体で行う場合及びポリアクリルアミドゲルなどの支持
体を用いる場合がある。 

capillary electrophoresis, 
CE 

6205 

キャピラリー電気クロ

マトグラフィー, 

CEC 

中空又は粒子を充塡したキャピラリーカラムを用い,両
端に電位をかけ電気浸透流を送液に用いる液体クロマト
グラフィー。 

capillary electro- 

chromatography, 

CEC 

6206 

キャピラリー等電点電

気泳動 

泳動槽としてキャピラリーを用いた等電点電気泳動。 

capillary isoelectric 

focusing 

6207 

ゲルシフト法(電気泳

動の) 

DNA断片にたんぱく質が結合すると泳動が遅れる性質
を利用し,DNA結合たん白の結合部位を決定する電気泳
動方法。 

gel shift assay (of 

electrophoresis) 

6208 

ゲル電気泳動 

ゲルを支持体として用いる電気泳動の総称。 

gel electrophoresis 

6209 

細胞電気泳動 

負の電荷をもつ動物細胞などを対象とする電気泳動。 

cell electrophoresis 

6210 

支持体(電気泳動の) 電気泳動を展開させる場。アガロース,ポリアクリルア

ミド,中空の石英ガラス,ガラスキャピラリーなど。 

support (of 

electrophoresis) 

6211 

自由ゾーン電気泳動, 
自由界面電気泳動 

支持体を用いない泳動槽で行う電気泳動。 

carrier-free 

electrophoresis, 

moving boundary 

electrophoresis 

6212 

ゾーン電気泳動 

対流の発生を防いだ泳動槽を用いて,試料中の成分を層
状に分離する電気泳動。 

zone electrophoresis 

6213 

電気泳動 

溶液中に電極を入れて,これに直流電圧を加えるとき,
イオン,荷電粒子などがいずれか一方の電極へ移動する
現象。 

electrophoresis 

6214 

電気浸透流 

直流電場とキャピラリー内壁又は粒子表面に存在する電
気二重層との電気的作用によって,緩衝液が移動する現
象。界面動電現象の一種。 

electroosmotic flow 

6215 

等速電気泳動, 
ITP 

分析対象のイオンより移動度の大きいイオン種を含む溶
液と移動度の小さいイオン種を含む溶液との間に試料液
を導入して,キャピラリー,チューブなどを使用して行
うゾーン電気泳動。 

isotachophoresis, 
ITP 

6216 

動電クロマトグラフィ

ー, 

EKC 

疑似固定相を含む緩衝液を満たしたキャピラリー中にお
いて,疑似固定相と試料成分との相互作用に基づいて分
離する電気泳動。 

electrokinetic 

chromatography, 

EKC 

background image

36 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

6217 

等電点 

両性電解質が溶液中で酸及び塩基として解離するとき,
陽イオンがもつ電気量と陰イオンがもつ電気量との絶対
値が等しくなり,電気移動度がゼロとなるpH値。 

isoelectric point 

6218 

等電点電気泳動, 
IEF 

pH勾配が形成された泳動槽中で,試料がそれぞれの等電
点の位置に収れん又は分離される電気泳動。 

isoelectric focusing, 
IEF 

6219 

二次元電気泳動 

原理の異なる2種類の電気泳動を逐次組み合わせて行う
電気泳動。 

two-dimensional 

electrophoresis 

6220 

濃度勾配電気泳動 

泳動槽中に添加剤又はゲルの濃度勾配を作り,試料中の
分析種を分子量に応じて分離する電気泳動。 

gradient electrophoresis 

6221 

薄層電気泳動 

ガラスなどの平板に分離用のゲルを薄い層に形成させ
て,これを支持体として用いる電気泳動。 

thin layer 

electrophoresis 

6222 

マイクロチップ(電気

泳動の) 

微細加工によってウェル,流路などを作成した基板。 

microchip (of 

electrophoresis) 

6223 

マイクロチップ電気泳

動 

マイクロチップを泳動場とした電気泳動。 

microchip 

electrophoresis 

6224 

ミセル動電クロマトグ

ラフィー, 

MEKC 

イオン性ミセル溶液を満たしたキャピラリー中に試料を
導入し,両端に電位をかけて試料とミセルとの相互作用
に基づいて分離を行うキャピラリー電気泳動の一種。 

micellar electrokinetic 

chromatography, 

MEKC 

6225 

免疫電気泳動 

抗原抗体反応によって試料中の分析対象の抗原又は抗体
を検出し,定量する電気泳動。 

immunoelectrophoresis 

3.7 

流れ分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

7001 

加熱分解器 

試料中の特定成分を加熱操作によって分解する器具。 

digestor 

7002 

気液分離器 

気体セグメントと液体セグメントとの分離又は液体から
溶存気体を分離する器具。 

gas separator 

7003 

サンドイッチインジェ

クション法 

流路系の同一場所に設けた複数の導入器から試料及び試
薬を同時に導入する方法。 

sandwich injection 

method 

7004 

シーケンシャルインジ

ェクション分析, 

SIA 

シーケンシャルインジェクション分析法を利用した定量
分析。 

sequential injection 

analysis, 

SIA 

7005 

シーケンシャルインジ

ェクション分析法 

非連続的な流れの中に試料及び試薬を逐次導入し,反応
などを行った後,下流に設けた検出部で分析成分を検出
して定量する分析方法。 

sequential injection 

method 

7006 

蒸留器 

試料中の特定成分を蒸留操作によって分離・精製する器
具。 

distillater 

7007 

ストップトフロー法 

キャリヤーの流れを一時的に停止させる方法。検出器の
フローセル内で停止させて反応の時間変化を観測する方
法及び混合器の中で停止させて分散を抑えて反応時間を
長くとる方法の二つがある。 

stopped flow method 

7008 

セグメンター 

溶媒抽出を行う場合,水相の流れと有機相の流れとを合
流させる器具。 

segmentor 

7009 

セグメント 

細管中の流体に試薬,試料,有機溶媒などを導入したと
きにできる分節,又は帯。 

segment 

7010 

相分離器 

水相と有機相とに分離させる器具。 

phase separator 

7011 

滞留時間 

試料を導入してから,応答曲線の最大値が得られるまで
の時間。 

residence time 

7012 

ダブルインジェクショ

ン法 

試料の濃度又は量を変えて流れの中に2か所に分けて導
入する方法。 

double injection method 

background image

37 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

7013 

抽出器 

試料中の特定成分を抽出する器具。 

extractor 

7014 

流れ分析 

流れの中で試料と試薬とを反応させた成分を連続的に検
出,定量する分析方法。 

flow analysis 

7015 

フローインジェクショ

ン滴定法 

試料を滴定用試薬の流れに導入し,混合器で十分に拡散,
反応させた後に得られる応答曲線の幅から濃度を求める
フローインジェクション分析の一方法。 

flow injection titration 

method 

7016 

フローインジェクショ

ン分析, 

FIA 

フローインジェクション法を用いて反応した成分を検
出,定量する分析方法。 

flow injection analysis, 
FIA 

7017 

フローインジェクショ

ン法 

試薬(又は試料)の流れの中に試料(又は試薬)を導入
し,反応させる方法。 

flow injection method 

7018 

分散 

キャリヤーの流れによる試料又は試薬のセグメントの希
釈,混合。 

dispersion 

7019 

マージングゾーン法 

二つのキャリヤーの流れにそれぞれ試料及び/又は試薬
を導入し合流する方法。 

merging zone method 

7020 

流路系 

流れ分析装置において,細管で結合された装置内を流れ
る流体の流れ系。 

flow system, 
manifold 

7021 

連続流れ分析法, 
CFA 

管内に一定流量で流れる試薬などに気体を導入して分節
し,そこに試料などを順次導入して生じた反応生成物を
連続的に検出,定量する方法。 

continuous flow analysis, 
CFA 

3.8 

熱分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

8001 

応力緩和 

応力が時間とともに減少する現象。 

stress relaxation 

8002 

応力緩和曲線 

縦軸に応力,横軸に時間をとり,応力緩和試験の結果を
プロットして得られる曲線。 

stress relaxation curve 

8003 

応力ひずみ曲線 

縦軸に応力,横軸にひずみをとり,応力ひずみ試験の結
果をプロットして得られる曲線。 

stress-strain curve 

8004  

温度定点 

温度目盛の基準となる温度。 

fixed point of temperature 

8005 

温度変調示差走査熱量

測定装置, 

温度変調DSC 

通常の定速昇温のDSC(示差走査熱量)測定に,温度変
調を重ね合わせる方法。 

temperature modulated 

differential scanning 
calorimeter, 

temperature modulated 

DSC 

8006 

ガラス転移温度 

液体状態からガラス状態(非晶質固体)に変化する温度
又はガラス状態(非晶質固体)から液体状態に変化する
温度。 

glass transition 

temperature 

8007 

基準物質(熱分析の) 熱分析において,試料の熱的変化との比較に用いられる

物質。 

reference materials (of 

thermal analysis) 

8008 

キュリー温度 

磁気的性質が強磁性から常磁性に変化する転移温度。 

Curie temperature 

8009 

クリープ 

一定の応力のもとで,物体の塑性変形が時間とともに増
加する現象。 

creep 

8010 

クリープ曲線 

縦軸にひずみ,横軸に時間をとり,クリープ試験の結果
をプロットして得られる曲線。 

creep curve 

8011 

示差走査熱量計 

示差走査熱量法によって,試料と基準物質とのエネルギ
ー差を温度の関数として測定する装置。 

differential scanning 

calorimeter 

8012 

示差走査熱量法, 
DSC 

試料及び基準物質の温度を規定のプログラムに従って変
化させながら,その試料と基準物質とのエネルギーの入
力の差を温度の関数として測定する方法。 

differential scanning 

calorimetry, 

DSC 

background image

38 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

8013 

示差熱分析, 
DTA 

試料及び基準物質の温度を規定のプログラムに従って変
化させながら,その試料と基準物質との間の温度差を温
度又は時間の関数として測定する方法。 

differential thermal 

analysis, 

DTA 

8014 

示差熱分析装置 

示差熱分析に用いられる装置。 

differential thermal 

analyzer 

8015 

昇温脱離スペクトル分

析 

真空中又は特定雰囲気中で,試料を加熱し,発生する気
体を質量分析計に導入しマススペクトルを測定する方
法。 

thermal desorption 

spectroscopy 

8016 

針入測定(熱機械分析

の) 

TMA装置において,先端が針状のプローブを用いて,圧
縮荷重を加えたときの試料の軟化に伴う貫入変位を測定
する手法。 

penetration-mode 

measurement (of 
thermomechanical 
analysis) 

8017 

線膨張係数, 
膨張係数 

試料の一軸方向の長さが熱による線膨張によって変化し
たとき,その単位温度変化当たりの長さの変化比。物体
の長さをl,温度をTとすれば,(1/l)(dl/dT)となる。 

coefficient of (linear) 

thermal expansion 

8018 

速度制御熱重量測定, 
CRTG 

質量変化速度(質量変化の時間微分)が,一定のプログ
ラムに従って変化するように温度制御を行う熱重量測定
法。 

controlled-rate 

thermogravimetry, 

CRTG 

8019 

速度制御熱分析, 
CRTA 

試料の特性値の変化速度が,一定のプログラムに従って
変化するように温度制御を行う熱分析法。 

controlled-rate thermal 

analysis, 

CRTA 

8020 

速度制御熱機械測定 

試料の焼結に伴う収縮の速度(収縮量の時間微分)が,
一定のプログラムに従って変化するように温度制御を行
う熱機械測定法。 

controlled-rate 

thermomechanical 
analysis 

8021 

中点温度 

物理量の変化が全体の変化量の50 %に達する温度。 

mid-point temperature 

8022 

転移熱量 

転移に伴い吸収又は放出される熱量。同一装置を用いて
測定した標準物質の熱量[代表的にはインジウム(In)
の融解熱]を基準にして,転移ピーク面積の比較法によ
って求める熱量。 

− 

8023 

動的熱機械測定, 
DMA, 
動的粘弾性測定 

試料の温度を規定のプログラムに従って変化させなが
ら,振動荷重の下での試料の貯蔵弾性率と損失弾性率と
を,時間,温度,振動周波数に対して測定する方法。 

dynamic mechanical 

analysis, 

DMA 

8024 

動的熱機械測定装置, 
動的粘弾性測定装置 

動的熱機械測定に用いられる装置。 

dynamic mechanical 

analyzer 

8025 

入力補償示差走査熱量

測定, 

入力補償DSC 

試料及び基準物質で構成される試料部の温度を,一定の
プログラムに従って変化させながら,その試料及び基準
物質の温度が等しくなるように,両者に加えた単位時間
当たりの熱エネルギーの入力差を温度の関数として測定
する方法。 

power-compensation 

differential scanning 
calorimetry, 

power-compensation 

DSC 

8026 

熱機械分析, 
TMA 

試料の温度を規定のプログラムに従って変化させなが
ら,圧縮,引張り,曲げ,ねじりなどの非振動的荷重を
加えて,その物質の変形を温度の関数として測定する方
法。 

thermomechanical 

analysis, 

TMA 

8027 

熱機械分析装置 

熱機械分析に用いられる装置。 

thermomechanical 

analyzer 

8028 

熱刺激電流測定装置 

試料に高温で電圧をかけて分極させた後,温度を下げて
凍結させ,試料を昇温し,脱分極電流を測定する装置。 

thermally stimulated 

current analyzer, 

TSC analyzer 

background image

39 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

8029 

熱重量測定, 
TG 

試料の温度を規定のプログラムに従って変化させなが
ら,質量を温度の関数として測定する方法。 

thermogravimetric 

analysis, 

thermogravimetry, 
TG 

8030 

熱重量測定装置, 
熱天びん 

熱重量測定のための装置。示差熱分析と同時測定する装
置(TG-DTA)が多い。 

thermogravimetric 

analyzer, 

thermogravimeter 

8031 

熱電温度計 

熱起電力を利用する温度計の一種。通常,熱電対,冷接
点容器又は補償回路,微小電圧計などで構成する。 

thermoelectric 

thermometer 

8032 

熱分析 

試料の温度を規定のプログラムに従って変化させなが
ら,試料及び/又は生成物のある物理的性質を温度の関
数として測定する一連の方法の総称。 

thermal analysis 

8033 

熱膨張測定装置 

試料の温度を規定のプログラムに従って変化させなが
ら,試料の寸法を温度の関数として測定する装置。 

thermodilatometer 

8034 

熱流束示差走査熱量測

定装置, 

熱流束DSC 

試料及び基準物質で構成される試料部の温度を,一定の
プログラムに従って変化させながら,その試料及び基準
物質の温度差を,温度の関数として測定する装置。 

heat-flux differential 

scanning calorimeter, 

heat-flux DSC 

8035 

熱量計 

反応熱,潜熱,相転移エネルギー,比熱などを測定する
装置。測定中に圧力変化のない定圧熱量計と,一定容積
のもとで測定が行われる定容熱量計とがある。 

calorimeter 

8036 

発生気体分析, 
EGA(熱分析の) 

試料の温度を規定のプログラムに従って変化させなが
ら,その試料から放出される揮発性生成物の種類及び量
を温度の関数として求める分析。 

evolved gas analysis, 
EGA (for thermal 

analysis) 

8037 

ピーク(熱分析の) 

DTA曲線又はDSC曲線において,曲線がベースライン
から離れてから再度ベースラインに戻るまでの部分。 

peak (of thermal analysis) 

8038 

引張測定(熱機械分析

の) 

先端がチャックを支持できる構造のプローブを用いて,
上下を小形のチャックで固定されたフィルム又は繊維状
の試料に引張方向の荷重を加えて,そのときの変位を測
定する手法。 

tensile-mode 

measurement (of 
thermomechanical 
analysis) 

8039 

微分示差走査熱量計 

示差走査熱量測定において,描かれる曲線の時間又は温
度で一次微分した曲線を用いる熱量計。 

derivative differential 

scanning calorimeter 

8040 

標準物質(熱分析の) 熱分析において,温度,熱量などの各物理量の校正に用

いられる物質。 

calibration standard (of 

thermal analysis) 

8041 

ベースライン(熱分析

の) 

試料に変化を生じない温度又は時間領域のTG曲線,
DTA曲線,DSC曲線及びTMA曲線。 
なお,DSCによる比熱容量測定においては,昇温前後の
定常状態の曲線。 

baseline (of thermal 

analysis) 

8042 

補外開始温度 

加熱(冷却)測定においては低温(高温)側のベースラ
インを高温(低温)側へ延長した直線と,ピークの低温
(高温)側の曲線に勾配が最大となる点で引いた接線と
の交点の温度。 

extrapolated onset 

temperature 

8043 

補外終了温度 

加熱(冷却)測定においては高温(低温)側のベースラ
インを低温(高温)側へ延長した直線と,ピークの高温
(低温)側の曲線に勾配が最大となる点で引いた接線と
の交点の温度。 

extrapolated end 

temperature 

8044 

ボンブ熱量計 

耐圧,耐食性の密閉容器中で試料を高圧酸素の存在下で
燃焼させ,温度上昇から試料の発熱量を測定する機器。
断熱式と非断熱式とがある。 

bomb calorimeter 

background image

40 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

8045 

曲げ測定(熱機械分析

の) 

TMA装置において,二つの支点の上に置かれた試料の中
央に圧縮荷重を加えて生じる曲げに伴う変位量の測定。 

bending-mode 

measurement (of 
thermomechanical 
analysis) 

8046 

融解 

不溶性物質と融剤とを共に強熱して,可溶性物質に変え
る操作。 

fusion 

8047 

融点測定装置 

一定の圧力のもとで固相状態の物質が液相と平衡を保つ
ときの温度を測定する機器。 

melting-point apparatus 

3.9 

自動(連続)分析機器(環境分析,プロセス用・現場用分析) 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

9001 

圧電天びん式ダスト計,
ピエゾバランス式ダス

ト計 

圧電結晶振動子表面上にダストを捕集させ,振動子の振
動数低下を測定することによってダストの質量濃度を測
定する装置。 

piezoelectric balance 

type dust monitor 

9002 

アルカリ度計(水質分

析の) 

水中のアルカリの量又は中和に要する酸の量を測定する
装置。 

alkalinity analyzer (for 

water quality analysis) 

9003 

アンモニア(ガス)自

動計測器(ガス中の) 

ガス中のアンモニア濃度を連続的に測定する装置。 

continuous analyzer for 

ammonia (gas) (in gas) 

9004 

一時間値(大気計測の) 大気汚染物質の計測値の表記方法の一種で1時間の平均

の値。 

hourly value, 
one hour value (of 

atmosphere 
monitoring) 

9005 

一酸化炭素自動計測器 大気中又は排ガス中の一酸化炭素濃度を連続的に測定す

る装置。 

continuous analyzer for 

carbon monoxide 

9006 

インライン分析 

化学プロセスなどにおいて,測定対象中に検出器を挿入
して分析,記録・伝送を行う連続分析方法。 

in-line analysis 

9007 

衛星センサー 

人工衛星に搭載し,オゾンなど環境破壊の原因となる物
質を地球規模で観測する検出素子。広義では測定装置も
含む。 

satellite sensor 

9008 

SS計 

水中に浮遊する汚濁物質濃度を光の透過,散乱によって
測定する装置。 

suspended solids meter, 
SS meter 

9009 

塩化水素自動計測器

(排ガス中の) 

排ガス中の塩化水素ガス濃度を連続的に測定する装置。 continuous analyzer for 

hydrogen chloride (in 
flue gas) 

9010 

応答時間(プロセス分

析機器の) 

計測器の入力をステップ上に変化させたとき,出力信号
が最終値のある範囲内に到達するまでの時間。 

response time (of 

process analyzer) 

9011 

オキシダント自動計測

器 

大気中のオキシダント濃度を連続的に測定する装置。 

continuous analyzer for 

oxidant 

9012 

オゾン自動計測器 

大気中のオゾン濃度を連続的に測定する装置。 

continuous analyzer for 

ozone 

9013 

汚濁指標(水質の) 

水の汚濁状態を示す尺度。 

pollution index (of water 

quality) 

9014 

汚濁負荷量 

水質汚濁物質の1日当たりの質量。 

pollutant load 

9015 

汚泥界面計 

水中で沈殿し,泥状になった固形物の界面レベルを測定
する装置。 

sludge level meter 

9016 

汚泥濃度計 

汚水処理,汚泥処理などの工程における汚泥の濃度を測
定する装置。 

sludge densitometer 

background image

41 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

9017 

オンライン分析 

化学プロセスなどにおいて,測定対象から分析試料の採
取,分析部への導入,分析,記録・伝送を行う連続分析
方法。 

on-line analysis 

9018 

化学的酸素消費量

(COD)自動計測器 

水中の有機物を化学的に酸化し,そのとき消費する酸化
剤に相当する酸素消費量を自動的に測定する装置。 

automatic chemical 

oxygen demand meter 

9019 

活性汚泥計, 
MLSS計 

エアレーションタンク内の活性汚泥浮遊物質の濃度を光
の透過又は散乱によって測定する装置。 

mixed liquor suspended 

solid meter, 

MLSS meter 

9020 

間欠測定 

一定時間又は試料の一定量採取間隔における周期的な測
定。 

intermittent 

measurement 

9021 

乾式ガス分析計 

大気汚染自動測定器のうち,紫外線蛍光法,化学発光法,
紫外線吸光法などのように計測及び前処理工程で溶液を
使わない方式の装置。 

dry method measuring 

system 

9022 

気相滴定, 
GPT 

オゾンに既知濃度の一酸化窒素標準ガスを添加し,二酸
化窒素に変換したときの一酸化窒素標準ガスの減少分か
らオゾン濃度を求める方法。 

gas phase titration, 
GPT 

9023 

均一系単分散粒子(浮

遊粒子状物質の) 

粒子を構成する物質が均一であり,装置の相対感度の校
正に支障のない程度に狭い粒径分布をもつ校正用粒子。 

homogeneous dispersive 

particle (of floating 
dust) 

9024 

計数効率(粒子計数器

の) 

試験用空気中の微粒子の基準的な粒子濃度と粒子計数器
が表示する粒子濃度との比率。 

concentration factor (of 

particle counter) 

9025 

校正用ガス 

計測器の目盛の校正に用いる標準ガス。ゼロガス,スパ
ンガス,中間点ガスなどがある。 

calibration gas 

9026 

校正用粒子(浮遊粒子

状物質の) 

計測器の相対感度の校正に用いられる粒子。 

calibration particle (of 

floating dust) 

9027 

コンバーター(窒素酸

化物分析計の) 

試料ガス中の二酸化窒素を一酸化窒素に変換する反応
器。 

converter (of continuous 

analyzer of nitrogen 
oxides) 

9028 

コンポジットサンプラ

ー, 

混合試料用自動採水器 

あらかじめ設定された比率で試料水を採取し,必要な時
間保存できる機能をもつ採水器。 

composite sampler 

9029 

最小目盛値 

装置がもつ目盛の最小値。 

minimum scale value 

9030 

最大目盛値 

装置がもつ目盛の最大値。 

maximum scale value 

9031 

酸性雨自動測定装置 

雨水の自動採水に加えて,雨量,pH,電気伝導率などを
自動的に測定する装置。 

automated acid rain 

monitor 

9032 

酸素自動計測器 

排ガス中,大気中などの酸素濃度を連続的に測定する装
置。 

continuous analyzer for 

oxygen 

9033 

酸素補正 

排ガス中の特定成分の排出量を正しく算出するために,
それらの測定値と酸素濃度とから特定成分量を補正する
方法。 

correction by oxygen 

concentration 

9034 

残留塩素計 

上水道の浄水過程,下水道の処理過程において,水中に
溶存する残留塩素を測定する装置。 

residual chlorine meter 

9035 

シアン計(水質分析の) 水中のシアン化物イオン濃度を自動的に測定する装置。

全シアン計及び遊離シアン計がある。 

cyanide meter (for water 

quality analysis) 

9036 

湿式ガス分析計 

大気汚染自動測定器のうち,測定対象ガスを溶液に吸収
させ,その性質の変化によって測定対象ガス濃度をはか
る装置。 

wet method measuring 

system 

9037 

質量濃度(浮遊粒子状

物質の) 

大気中の浮遊粒子状物質を単位体積当たりの質量で表し
た濃度。 

mass concentration (of 

floating dust) 

background image

42 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

9038 

自動監視装置(環境測

定の) 

環境大気,煙道排ガス,環境水域,排水などの水質に関
し,試料採取,測定及び結果表示を自動的に行う装置。
狭義には,当該項目の連続分析計をいい,広義には単数
又は複数の連続分析計,信号伝送部及び中央制御・表示部
からなるシステム。 

automatic monitoring 

system (for 
environmental 
monitoring) 

9039 

自動粒子計数器 

連続的に空気又は水を吸引し,その中の遊離微粒子の粒
径及び個数を測定し,粒子濃度をはかる装置。 

automated particulate 

counter 

9040 

シリカ計 

水中に含まれるシリカを自動的に測定する装置。 

silica meter 

9041 

試料ガス(大気汚染分

析計用の) 

試料大気又は排ガスをダストフィルター,除湿器などで
前処理した後に,計測器に導入される気体。 

sample gas (of air 

pollution analysis) 

9042 

浸せき形(検出器の) 検出器全体を試料液に浸して測定する検出器の形式。 

immersion type (of 

detector) 

9043 

ストレーナー 

油,水,水蒸気などの流体中に含まれている固体異物を
金網などを用いて除去するフィルター。 

strainer 

9044 

スパンガス 

計測器の最大目盛を超えない範囲で,最大目盛付近の目
盛を校正するために用いる校正用ガス。 

span gas 

9045 

スモークメーター 

ディーゼル排気煙の濃度を測定する装置。 

smoke meter 

9046 

静的校正(ガス分析の) 校正用ガスの代わりに等価液を用いて校正を行う方法。 static calibration (of gas 

analysis) 

9047 

生物化学的酸素消費

(BOD)自動計測器 

試料水中の有機性汚濁物質が好気性微生物によって分解
されるときに消費される溶存酸素量を測定する装置。 

automatic biochemical 

oxygen demand meter 

9048 

積分球(式)濁度計 

試料を満した測定容器に投光し,水中の微粒子によって
起こる散乱光と透過光との強度比から濁度をはかる濁度
計。 

turbidimeter with 

integrating sphere, 

turbidity meter with 

integrating sphere 

9049 

積分値(連続分析の) ある時間範囲の連続分析計の測定指示値の積算値。 

integrated value (of 

continuous analysis) 

9050 

ゼロガス 

計測器のゼロ点を校正するために用いる校正用ガス。 

zero gas 

9051 

全酸素要求量計, 
TOD計 

有機物質の構成元素である炭素,水素,窒素,硫黄など
の燃焼によって消費する酸素量から有機物質の量を測定
する装置。 

total oxygen demand 

meter, 

TOD meter 

9052 

全炭化水素計 

試料ガスを一定流量で水素炎イオン検出器に導入し,試
料中の全炭化水素濃度を測定する装置。 

total hydrocarbon 

analyzer 

9053 

全窒素自動計測器(水

質分析の) 

水中の全窒素(アンモニウムイオン,硝酸イオン,亜硝
酸イオン及び有機体窒素を含めたもの)を自動的に測定
する装置。 

automatic total nitrogen 

analyzer (for water 
quality analysis) 

9054 

全有機ハロゲン計, 
TOX計 

酸性下で吸着させた試料を高温で燃焼し,生成したハロ
ゲン化水素を定量する装置。 

total organic halogen 

meter, 

TOX meter 

9055 

全りん自動計測器(水

質分析の) 

水中の全りん(ペルオキソ二硫酸カリウム,硝酸−過塩
素酸分解又は硝酸−硫酸分解処理後のりん酸イオン)を
自動的に測定する装置。 

automatic total 

phosphorus analyzer 
(for water quality 
analysis) 

9056 

相対感度(浮遊粒子状

物質の) 

校正用粒子の一定質量濃度に対する計測器の指示値の割
合。 

relative sensitivity (of 

floating dust) 

9057 

相対濃度(浮遊粒子状

物質の) 

質量濃度と一定の相対的関係にある量を測定することに
よって得られる濃度。 

relative concentration 

(of floating dust) 

9058 

測定範囲, 
レンジ 

装置がもつ目盛の範囲。通常最小目盛値と最大目盛値と
を用いて表す。 

measuring range 

background image

43 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

9059 

耐圧防爆容器 

内部爆発が容器外の爆発性雰囲気に伝ぱ(播)すること
を防ぐ構造にした容器。 

flameproof enclosure 

9060 

濁度自動計測器 

液体の濁度を連続的に測定する装置。 

continuous turbidimeter, 
continuous turbidity 

meter 

9061 

脱泡槽 

試料水中の気泡が分析計中に混入することを防ぐため,
試料水を一時的にためる上部開放形の気泡除槽。 

defoaming tank 

9062 

炭化水素自動計測器 

大気中の炭化水素濃度を連続的に計測する装置。 

continuous analyzer for 

hydrocarbon 

9063 

窒素酸化物自動計測器 大気中又は排ガス中の窒素酸化物濃度を連続的に測定す

る装置。 

continuous analyzer for 

oxides of nitrogen 

9064 

中間点ガス 

計測器の測定範囲の最小と最大との間の目盛を校正する
のに用いる校正用ガス。 

midway point 

calibration gas 

9065 

直接捕集法(気体の) 試料ガスを溶解,反応,吸着などさせないで,直接捕集

袋,捕集瓶などに捕集する方法。 

direct sampling in vessel 

(of gas) 

9066 

透過・散乱光式濁度計 透過光と散乱光との強さの比から濁度を測定する方式の

濁度計。 

turbidimeter using light 

transmission- 
scattering, 

turbidity meter using 

light transmission- 
scattering 

9067 

等価液 

校正用ガスの代わりに,それを用いたときと同等の指示
値を得るように調製した標準液。 

equivalent solution for 

calibration 

9068 

透過光式濁度計 

試料中の粒子による光の吸収,散乱で透過光量が減衰す
ることによって濁度を測定する機器。 

turbidimeter using light 

transmission, 

turbidity meter using 

light transmission 

9069 

動的校正(ガス分析の) 校正用ガスを用いて実際と同じプロセスで行う校正方

法。 

dynamic calibration (of 

gas analysis) 

9070 

ドブソン単位 

地表から大気上端まで分布するオゾンの全量を表現する
単位。単位はDU。 

Dobson unit 

9071 

ドブソン分光光度計 

二重分光器によって太陽紫外強度を測定し,地上から大
気上端までのオゾン全量を測定する装置。 

Dobson 

spectrophotometer 

9072 

内圧防爆容器 

容器内の保護気体を周囲の爆発性雰囲気の圧力より高い
圧力に保つことによって,爆発性雰囲気の内部への侵入
を防止する防爆容器。 

pressurized enclosure 

9073 

二酸化硫黄自動計測器 大気中又は排ガス中の二酸化硫黄濃度を連続的に測定す

る装置。 

continuous analyzer for 

sulfur dioxide 

9074 

偽計数(粒子計数器の) 測定した空気中に測定可能範囲の大きさの粒子が存在し

ないにもかかわらず,計数器の表示に現れる計数値。 

false count (of particle 

counter) 

9075 

熱伝導度式ガス分析計 一定の電流を流した白金線に試料ガスを接触させた際,

供給熱量と放射熱量とで平衡した熱線の温度が個々のガ
スの熱伝導率に依存することを利用したガス分析計。 

thermal conductivity gas 

analyzer 

9076 

パーミエーションチュ

ーブ法 

液化ガスを封入した管を一定温度に保つことによって,
管壁から拡散するガス量を一定にし,一定流量の希釈ガ
スと混合することで所定の低濃度ガスを調製する方法。 

permeation tube method 

9077 

ハイボリュームエアサ

ンプラー 

空気中に浮遊している粒子状物質の捕集に用いる吸引空
気量が1〜1.5 m3/minの試料採取器。 

high volume air sampler 

9078 

ハングアップ(連続分

析計の) 

測定対象の濃度をある濃度から濃度ゼロのものに切り換
えたとき,指示がゼロに復帰するまでに要する時間。 

hung-up (of continuous 

analysis) 

background image

44 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

9079 

pH自動計測器 

水又は水溶液のpH値を連続的に測定する装置。 

recording pH meter 

9080 

PM2.5 

大気中に浮遊する粒子状物質のうち,粒径2.5 µm以下の
もの。ただし,PM2.5の質量濃度を求める場合は粒径2.5 
µmで50 %分留された粒子状物質(JIS Z 8851)。 

PM2.5, 
particulate matter 2.5 

9081 

光散乱式ダスト計 

微粒子による散乱光量を測定することによってダストの
相対濃度を測定する装置。 

light scattering type dust 

monitor 

9082 

微小粒子状物質

(PM2.5)自動計測
器 

大気中のPM2.5を連続的に測定する装置。標準測定法は,
フィルター捕集−質量法(JIS Z 8851)。測定原理は,β
線吸収法,フィルター振動法,光散乱法などがある。 

automatic monitors for 

PM 2.5 

9083 

ヒドラジン計 

ボイラ水などのヒドラジン濃度を測定する装置。 

hydrazine meter 

9084 

非分散赤外ガス分析計 広帯域赤外線をガス体に放射し,特定の帯域幅を吸収す

ることによって特定波長の赤外線の吸収量を測定するガ
ス分析計。 

non-dispersive infrared 

gas analyzer 

9085 

非メタン炭化水素計 

試料ガス中のメタン以外の炭化水素の総(全)濃度又は
それとメタン濃度を測定する自動ガスクロマトグラフ。 

non-methane 

hydrocarbon analyzer 

9086 

表面散乱式濁度計 

試料水を槽からあふれさせ,その表面に光を照射して,
濁りによる散乱光量を検出する濁度計。 

turbidimeter using light 

scattering at sample 
surface, 

turbidity meter using 

light scattering at 
sample surface 

9087 

微量電量滴定式酸化法

(硫黄分析計の) 

試料を酸素で燃焼させて発生した二酸化硫黄を電解液に
吸収させ,電量滴定することによって硫黄濃度を定量す
る方法。 

trace quantities analysis 

by oxidative 
coulometric titration 
(of sulfur analyzer) 

9088 

ふっ素化合物自動計測

器(大気中の) 

大気中のガス状無機ふっ素化合物を連続的に測定する装
置。 

continuous analyzer for 

fluorine compounds 
(in air) 

9089 

浮遊粒子状物質自動計

測器 

大気中の浮遊粒子状物質濃度を連続的に測定する装置。 automatic monitors for 

suspended particulate 
matter 

9090 

プロセス分析計 

主として生産工程に用いられる定置形で,連続又は間欠
形の分析装置。 

process analyzer 

9091 

分粒器 

浮遊粒子状物質の測定のために,ある大きさの粒径を超
える粒子を除去する装置。 

particle size separator 

9092 

防湿 

雰囲気の侵入によって装置内部が結露しない,又は結露
しても機能に支障を来さないように防止する手法。 

moisture proof 

9093 

放射線式励起法(硫黄

分析計の) 

試料にX線を照射して,発生した硫黄の蛍光X線をエネ
ルギー分散方式で分析する方法。 

energy dispersive X-ray 

fluorescence method 
(of sulfur analyzer) 

9094 

防水 

機器の内部に浸水の形跡がないか,又は正常な動作を阻
害するような浸水がないように防止する手法。 

water proof, 
water resistant protection 

9095 

防滴 

装置外部に水滴,飛まつ(沫)がかかっても,その機能
に支障がないように防止する手法。 

drip proof 

9096 

防爆 

機器が点火源となってその周囲における爆発性雰囲気に
点火することを防止する手法。 

explosion-protection 

9097 

本質安全回路 

機器の正常動作条件下及び定められた故障状態で発生す
る電気火花及び熱の影響によって定められた爆発性雰囲
気への点火が生じない回路。 

intrinsically safe circuit 

9098 

有機汚濁指標 

有機物質による汚濁の程度を示す尺度。 

organic pollution index 

background image

45 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

9099 

有機体炭素(TOC)自

動計測器 

水中の全有機体炭素の濃度を連続的に測定するための装
置。 

continuous total organic 

carbon analyzer 

9100 

紫外線吸光度自動計測

器 

水の汚濁の程度を紫外線の吸光度から連続的に測定する
ための装置。 

ultraviolet photometer 

for monitoring of 
water pollution 

9101 

油分計(水質分析の) 水に含まれる油分を測定する装置。 

oil content meter (for 

water quality 
analysis) 

9102 

溶液電気伝導率法(ガ

ス分析計の) 

吸収液中に測定ガスを通過させ,吸収液中の電気伝導率
変化によってガス濃度を測定する方法。 

gas dissolution 

conductometric 
method (of gas 
analyzer) 

9103 

溶存酸素自動計測器 

環境水,工場排水などの溶存酸素の濃度を連続的に測定
する装置。 

continuous dissolved 

oxygen analyzer 

9104 

溶存水素計 

原子力発電及び火力発電に用いる循環水中などの溶存水
素濃度を測定する装置。 

dissolved hydrogen 

meter 

9105 

流通形(検出器の), 
流液形(検出器の) 

試料を連続して流しながら測定する検出器の形式。 

flow-through type (of 

detector) 

9106 

レーザーレーダー, 
LIDAR 

レーザー光線の平行直進性を利用し,レーザー光のパル
スが大気中を往復する時間を計測し,大気中の浮遊汚染
物質を測定する装置。 

laser radar, 
LIDAR (laser imaging 

detection and ranging) 

9107 

レンジアビリティー 

装置の仕様に示された精度内で,校正可能な最大スパン
と最小スパンとの比。 

range ability, 
turn dawn ratio 

9108 

連続分析 

分析対象の特性値を時間的に切れ目なく連続的に測定す
るか,又は一定時間若しくは一定量間隔で測定する方法。 

continuous analysis 

9109 

ローボリュームエアサ

ンプラー 

空気中に浮遊している粒子状物質の捕集に用いる吸引空
気量が0.01〜0.03 m3/minの試料採取器。 

low volume air sampler 

3.10 バイオテクノロジー分析機器 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

10001 

アミノ酸残基 

たんぱく質及びペプチドの構成単位で,ペプチド結合す
るときにアミノ基の-Hとカルボキシル基の-OHとを失
ったアミノ酸部分の総称。 

amino acid residue 

10002 

アミノ酸配列分析装

置, 

ペプチドシーケンサー 

たんぱく質又はペプチドの一次構造を自動的に分析する
装置。 

amino acid sequence 

analyzer 

10003 

インゲル消化(たんぱ

く質の) 

ゲル電気泳動によって分離したたんぱく質をゲルごと切
り出し,抽出せずそのままたんぱく質分解酵素を作用さ
せ断片化する方法。 

in gel digestion (of 

protein) 

10004 

ウェスタンブロッティ

ング 

ゲル電気泳動で分離したたんぱく質を膜に転写し,その
たんぱく質を抗体によって検出する方法。 

western blotting 

10005 

ATZアミノ酸, 
2-アニリノ-5-チアゾリ

ノンアミノ酸 

エドマン法の切断反応によって切り出されたN末端アミ
ノ酸の誘導体。 

ATZ-amino acid, 
2-anilino-5-thiazolinone 

amino acid 

10006 

液相法(アミノ酸配列

分析装置の) 

試料であるたんぱく質又はペプチドに対して,液相中で
カップリング反応及び切断反応を行い,生成したATZ-
アミノ酸を液−液抽出によって回収するエドマン反応で
用いられる方法。 

liquid phase method (of 

amino acid sequence 
analyzer) 

10007 

エクソトキシン 

細菌によって生産され,菌体外に放出される毒性物質の
総称。 

exotoxin 

background image

46 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

10008 

エドマン法 

たんぱく質又はペプチドのN末端アミノ酸を逐次的に切
断し,同定してアミノ酸の配列を決定する方法。 

Edman method 

10009 

N末端分析 

たんぱく質又はペプチドのアミノ基側の末端アミノ酸を
同定する分析。 

N-terminal analysis 

10010 

LAL試薬, 
ライセート試薬 

エンドトキシンなどの検出及び定量に用いるために,カ
ブトガニの血球抽出成分から調製した試薬。 

limulus amebocyte 

lysate reagent, 

lysate reagent 

10011 

塩基対 

水素結合によって対合した互いに相補的な一組の塩基。 base pair, 

bp 

10012 

エンドトキシン 

細菌の菌体成分中にある毒性物質の総称。 

endotoxin 

10013 

気相法(アミノ酸配列

分析装置の) 

試料の流出を防ぐため,たんぱく質又はペプチドに対し
て,カップリング反応用の塩基性試薬及び切断反応用の
酸性試薬をガス状で供給するエドマン反応で用いられる
方法。 

gas phase method (of 

amino acid sequence 
analyzer) 

10014 

キャピラリーDNAシ

ーケンサー 

サンガー法で調製した試料をキャピラリー電気泳動で分
離してDNAの配列を決定するDNAシーケンサー。次世
代シーケンサーに対し第1世代シーケンサーと呼ばれ
る。 

capillary DNA 

sequencer 

10015 

蛍光抗体法 

蛍光物質によって標識した抗体を用いる分析方法又は染
色方法。 

fluorescent antibody 

method 

10016 

酵素イムノアッセイ, 
EIA 

酵素標識したハプテン,抗原又は抗体を用い,酵素反応
によって生じる成分を検出する分析法。 

enzyme immunoassay, 
EIA 

10017 

固相酵素イムノアッセ

イ, 

ELISA 
(いらいざ) 

抗原又は抗体を固相担体に固定することによって未結合
成分の除去を容易にした酵素イムノアッセイ。 

enzyme-linked 

immunosorbent assay, 

ELISA 

10018 

固相法(アミノ酸配列

分析装置の, 

DNA合成装置又はペ

プチド合成装置の) 

a) 試料の流出を防ぐため,たんぱく質又はペプチドを

固相担体に共有結合させるエドマン反応で用いられ
る方法。 

b) DNA,ペプチドなどの数種類の構成単位が一次元に

つながった分子を合成する際,原料,副反応物と生
成物とを簡単に分離するため,あらかじめ固体の担
体に一つ目の構成単位を共有結合し,逐次的に指定
した構成単位を結合させる方法。 

solid phase method (of 

amino acid sequence 
analyzer, of DNA 
synthesizer or peptide 
synthesizer) 

10019 

固定化酵素 

結合法,架橋法,包括法などによって固定用担体上に偏
在化させ不溶化した酵素。 

immobilized enzyme 

10020 

コンビナトリアルケミ

ストリー 

基本骨格と様々な修飾基とを自動合成手法によって結合
させることによる,多様な化合物群の同時合成法。 

combinatorial chemistry 

10021 

サザンブロッティング ゲル電気泳動によって分離したDNA断片を膜に転写し,

プローブDNA又はプローブRNAによって検出する方
法。 

southern blotting 

10022 

サンガー法(DNAシー

ケンサーの), 

ジデオキシ法 

DNA複製反応系にジデオキシヌクレオチドを加えるこ
とによって特定の塩基で,一部の複製DNAの伸長が停
止することを利用したDNA配列分析法。サンガージデ
オキシ法ともいう。 

sanger method (of DNA 

sequencer), 

dideoxy chain 

termination method 

10023 

C末端分析 

たんぱく質又はペプチドのカルボキシル基側の末端アミ
ノ酸を同定する分析。 

C-terminal analysis 

background image

47 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

10024 

時間分解蛍光イムノア

ッセイ 

試料溶液中の特定物質を定量するために抗原抗体反応を
利用し,検出試薬として長寿命の蛍光標識を用いて寿命
の短いバックグラウンド蛍光を時間分解法で除去する分
析法。 

time-resolved fluoro 

immunoassay 

10025 

次世代DNAシーケン

サー, 

NGS 

逐次的にDNA合成を行い,反応ごとに蛍光,発光,イ
オン,電流などを検出して配列を決定するDNAシーケ
ンサー。サンガー法を用いる第1世代のシーケンサーに
対して次世代シーケンサーと呼ぶ。1本のDNAの解読長
は数十〜数百塩基だが,一度に数百万〜数千万本のDNA
を読むため数十G塩基の配列を読むことができる。 

next generation 

sequencer, 

NGS 

10026 

ショットガン法 

ショットガンライブラリーで得られたDNA断片の配列
を解析し,元の巨大なDNAの配列を再構成するDNA配
列分析法。 

shotgun method 

10027 

ショットガンライブラ

リー 

巨大なDNAをランダムに切断して得られたDNA断片を
集めて作成したライブラリー。 

shotgun library 

10028 

スニップ, 
一塩基多形, 
SNP 

核酸の一つの塩基が他の塩基に置き換わっている遺伝的
な多形。 

single nucleotide 

polymorphism, 

SNP 

10029 

制限酵素断片長多形, 
RFLP 

塩基配列の個体差によって制限酵素で切断されたDNA
断片の長さが異なる多形。 

restriction fragment 

length polymorphism, 

RFLP 

10030 

セルソーター 

フローサイトメトリーに基づいて細胞を選択分離する機
器。 

cellsorter 

10031 

染色体分析 

数,形などの特徴を正常な染色体と比べて,検出する分
析法。 

chromosome analysis 

10032 

ターミネーターラベル

法, 

ダイターミネーター法

(DNAシーケンサ
ーの) 

サンガー反応においてDNAの伸長を停止させるターミ
ネーターに蛍光標識をつけ,DNA配列分析装置で検出す
る方法。DNA配列決定方法の一つ。 

terminator-labelled 

method, 

dye-terminator method 

(of DNA sequencer) 

10033 

多形(遺伝子) 

同一種内の正常な個体間に存在する形質及び形態につい
ての多様性。 

Polymorphism (of gene) 

10034 

担体結合法(固定化酵

素の) 

酵素などの生体触媒を水不溶性の担体に物理的又は化学
的に固定する方法。 

carrier binding method 

(for immobilized 
enzyme) 

10035 

直接塩基配列分析, 
ダイレクトシーケンシ

ング(PCR産物の) 

PCRで作成されたDNA断片をクローニングせず,その
まま配列分析する方法。 

direct sequencing (of 

PCR products) 

10036 

DNA合成装置 

目的とする塩基配列をもつDNAを自動的に合成する装
置。 

DNA synthesizer 

10037 

DNAシーケンサー 

DNAの塩基配列を自動的に解析する装置。 

DNA sequencer 

10038 

DNAチップ, 
DNAアレイ 

特定の遺伝子に関して発現,変異などを同時に解析する
ため,多数のDNAプローブを固定したプレート。 

DNA chip, 
DNA array 

10039 

DNAプローブ 

目的のDNA,遺伝子などを検出するために用いられる,
それらと相補的な配列をもつDNA分子。 

DNA probe 

10040 

滴下式極微量分光光度

計 

0.5〜3 μl程度の微量な試料を測定部に直接滴下して
DNA,たんぱく質などの定量を行う分光光度計。 

drop type micro-volume 

spectrophotometer 

10041 

デジタルPCR 

数万の区画に分かれた測定部をもち,各区画で1分子の
テンプレートDNAをもとにPCR反応を行ってDNAの
分子数を測定する装置。 

digital PCR 

background image

48 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

10042 

テンプレートDNA, 
鋳型DNA 

DNAの転写及び複製のときに元の形となるDNA。 

template DNA 

10043 

トキシノメーター 

比濁時間分析法によってエンドトキシンなどを定量する
機器。 

toxinometer 

10044 

トランスクリプトーム 細胞中に存在する全てのmRNAの集合。 

transcriptome 

10045 

ノーザンブロッティン

グ 

ゲル電気泳動によって分離したRNAを膜に転写し,プ
ローブDNA又はプローブRNAで検出する方法。 

northern blotting 

10046 

バイオアッセイ, 
生物学的定量法 

物質の量,構成成分又はその力価を生物の反応から定量
する方法。 

bioassay 

10047 

バイオインフォマティ

ックス 

DNA又はたんぱく質の配列,高次構造など膨大な生命情
報から医薬品開発,生命現象の解明などに有用な情報を
役立てるコンピュータ技術。 

bioinformatics 

10048 

バイオセンサー 

分析種の識別に生物由来の選択的認識作用又は反応を利
用した検出素子。 

biosensor 

10049 

バイオリアクター 

生物の機能,生体物質などの反応性を利用した反応装置。 bioreactor 

10050 

発色合成基質法 

試薬との反応によって合成基質から生じる着色生成物を
測定し,分析種を定量する分析法。 

chromogenic method 

10051 

比濁時間分析法 

試薬との反応に伴う濁度の変化を測定し,分析種を定量
する分析法。 

kinetic turbidimetric 

method 

10052 

表面プラズモン共鳴分

析装置, 

SPR 

生体分子を検出部表面の金属薄膜に固定し,それと相互
作用する溶液中の生体分子との結合及び解離の状態を表
面プラズモン共鳴を利用して検出する分子間相互作用分
析装置。 

surface plasmon 

resonance analyzer, 

SPR 

10053 

フェニルイソチオシア

ネート, 

PITC 

たんぱく質の逐次的アミノ末端分析法であるエドマン法
に用いられる試薬。 

phenylisothiocyanate, 
PITC 

10054 

プラスミド抽出装置 

大腸菌など宿主細胞の培養液からプラスミドを自動的に
抽出する装置。 

plasmid extractor 

10055 

フローサイトメトリー 蛍光標識又は未標識の細胞などを大きさ,光散乱様式,

蛍光などの因子について定量的に解析し,その情報に基
づいて特定の細胞などを迅速に選択分離する方法。 

flow cytometry 

10056 

ブロッティング 

ゲル電気泳動で分離したたんぱく質,DNAなどの分離パ
ターンを保ったまま膜に転写する方法。 

blotting 

10057 

包括法(固定化酵素の) 生体触媒などを高分子ゲル,膜などの中に封じ込める方

法。 

entrapment (for 

immobilized enzyme) 

10058 

ポリメラーゼ連鎖反応,
PCR 

DNAポリメラーゼを用いてDNA鎖の特定の部位を繰り
返し複製し増幅する反応。 

polymerase chain 

reaction, 

PCR 

10059 

マイクロサテライト

DNA 

反復回数の違いが多様な多形を示すため遺伝解析マーカ
ーとして用いられる,2〜5個程度の短い塩基配列を単位
とする反復配列DNA。 

microsatellite DNA 

10060 

マイクロプレート, 
マイクロタイタープレ

ート 

多数のウェル(くぼみ)をもつ平板状の容器。各ウェル
を試験管又はシャーレとして利用する。ウェルの数は,6,
24,96,384,1 536などがあり,生化学,臨床検査など
の分野で用いられる。 

microplate, 
microtiter plate 

10061 

マイクロプレートリー

ダー 

マイクロプレートに入れた多数のサンプルの吸光,蛍光,
発光などを測定する装置。 

microplate reader 

10062 

膜上消化(たんぱく質

の) 

ゲル電気泳動で分離しブロッティングしたたんぱく質を
膜ごと切り取り,膜に固定した状態でたんぱく質分解酵
素を作用させ断片化する方法。 

on membrane digestion 

(of protein) 

background image

49 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

番号 

用語 

定義 

対応英語(参考) 

10063 

末端分析(たんぱく質

の) 

ペプチド又はたんぱく質のN末端若しくはC末端のアミ
ノ酸を定性又は定量する分析。 

terminal analysis (of 

protein) 

10064 

メッセンジャーRNA, 
伝令RNA, 
mRNA 

DNAから転写され,リボソーム上でたんぱく質に翻訳さ
れる一本鎖のRNA。 

messenger RNA, 
mRNA 

10065 

モノクローナル抗体, 
単クローン抗体 

単一の細胞に由来する遺伝的に均一な抗体産生細胞から
得られた抗体。 

monoclonal antibody 

10066 

ラジオイムノアッセ

イ, 

RIA 

放射性同位体元素によって標識した抗原又は抗体を用い
て,試料中の分析種を検出又は定量する方法。 

radioimmunoassay, 
RIA 

10067 

リアルタイムPCR 

PCRを行いながら反応によるDNAの量を測定する方法。 real-time polymerase 

chain reaction 

10068 

レーザーネフェロメー

ター 

比濁法の原理に基づいて,レーザー光を試料に照射して
不溶性の抗原抗体複合物によって生じた散乱光を測定
し,血しょう,たんぱく質,薬物などを定量する分析計。 

laser nephelometer 

参考文献 

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JIS B 7953:2004 大気中の窒素酸化物自動計測器 

JIS B 7954:2001 大気中の浮遊粒子状物質自動計測器 

JIS B 7956:2006 大気中の炭化水素自動計測器 

JIS B 7957:2006 大気中のオゾン及びオキシダントの自動計測器 

JIS B 7958:1995 大気中のふっ素化合物自動計測器 

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JIS D 8005:2009 自動車−圧縮着火式内燃機関−排出ガスの不透過率測定及び光吸収計数測定

50 

K 0215:2016  

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

用の機器 

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JIS K 0114:2012 ガスクロマトグラフィー通則 

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JIS K 0304:1996 大気中の二酸化炭素測定方法 

JIS K 0311:2008 排ガス中のダイオキシン類の測定方法 

JIS K 0701:2004 グルコース計測器 

JIS K 0801:1986 濁度自動計測器 

51 

K 0215:2016  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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JIS K 0803:1995 溶存酸素自動計測器 

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方法 

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分析化学用語集 日本分析化学会編(丸善) 

岩波 理化学辞典 第5版 

マススペクトロメトリー関係用語集 第3版 (日本質量分析学会) 

日経バイオ最新用語辞典 第5版(日経BP社) 

生化学辞典 第4版(東京化学同人) 

分子細胞生物学辞典 第2版(東京化学同人) 

岩波 生物学辞典 第5版 

応用物理用語大事典 応用物理学会編 (オーム社)