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C

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9

5

1

 : 

1

9

9

7

 
解

説

JISと対応する国際規格との対比表 

JIS C 5951-1997 光伝送用発光ダイオード測定方
法 

IEC 747-5, 747-5 Amd.1-1992，1994 半導体デバイス−個別部品及び集積回路第5部：光エレクトロニクスデバイス，同追補1 

対比項目 

 
規定項目 

(I) JISの規定内容 

(II) 国際規格番

号 

(III) 国際規格の規定内容 

(IV) JISと国際規格との相違点 

(V) JISと国際規格との一致

が困難な理由及び今後の
対策 

(1) 適用範囲 

○ 光伝送用発光ダイオードに

適用。 

IEC 747-5 

○ 発光ダイオードのほか，半導体レ

ーザ.フォトダイオードなどの光
半導体デバイス全般に広く適用。 

＝ 国際規格から光伝送用発光

ダイオードに適用できるも
のだけを抽出した。 
 なお，光伝送用半導体レー
ザはC 5940，C 5941に，再
生・記録用半導体レーザはC 
5942，C 5943に，光伝送用半
導体レーザモジュールはC 
5944，C 5945に，光伝送用フ
ォトダイオードはC 5990，C 
5991に規定。 

(2) 試験項目 

○ 光伝送用発光ダイオードの

電気的・光学的特性について
の測定項目を規定。 

IEC 747-5 

○ 発光ダイオードのほか，半導体レ

ーザ，フォトダイオードなどの光
半導体デバイス全般についても
規定。 

＝ 国際規格から光伝送用発光

ダイオードに適用できるも
のを抽出した。 

  

  

  

備考1. 表中の(I)及び(III)欄にある“○”は，該当する規定項目を規定していることを示す。 

2. 表中の(IV)欄にある“＝”は，JISと国際規格との技術的内容が同等であることを示す。