JISC5565:1996 磁気テープ録音再生システム　第４部　磁気テープの機械的特性

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 5565-1996

(IEC 94-4 : 1986)

磁気テープ録音再生システム

第4部磁気テープの機械的特性

Magnetic tape sound recording and reproducing systems

Part 4 : Mechanical magnetic tape properties

日本工業規格としてのまえがき

この規格は，1986年第1版として発行されたIEC 94-4 (Magnetic tape sound recording and reproducing systems.

Part 4 : Mechanical magnetic tape properties) 及びAmendment 1 (1994) を翻訳し，技術的内容及び規格票の様

式を変更することなく作成した日本工業規格である。ただし，修正票 (Amendment) については，編集し

一体とした。

なお，この規格で下線（点線）を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲この規格は，業務用及び民生用のアナログ録音再生に用いる磁気テープに適用する。

引用規格

JIS C 5562 磁気テープ録音再生システム第1部一般条件及び要求事項

JIS K 7161 プラスチック−引張特性の試験方法第1部：通則

ISO 527-1 : 1993 Plastics−Determination of tensile properties.

Part 1 : General principles

ISO 527-3 : 1995 Plastics−Determination of tensile properties.

Part 3 : Test conditions for films and sheets

ISO 4057 : 1986 Information processing−Data interchange on 6, 30mm (0.25in) magnetic tape cartridge, 63

bpmm (1 600bpi) phase-encoded

IEC 94-1 : 1981 Magnetic tape sound recording and reproducing systems.

Part 1 : General conditions and requirements

対応国際規格

IEC 94-4 : 1986 Magnetic tape sound recording and reproducing systems.

Part 4 : Mechanical magnetic tape properties

2. 目的この規格の目的は，磁気録音テープの機械的特性を決定するために必要な測定法とこれに用い

る測定器を列挙するとともに，それらを定義するものである。

また，この規格に従って個々の製造業者が測定した技術データを，磁気テープの使用者が容易に比較で

きるようにすることである。

C 5565-1996 (IEC 94-4 : 1986)

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3. 標準試験環境条件この規格に要求される各項目の試験及び測定は，次の条件による。

周囲温度 20±5℃

相対湿度 60±15%

供試テープは，試験開始前の24時間，上記の標準試験環境条件に置く。

4. テープ製造業者によって提供される情報製造業者によって提供される情報には，次の2種類がある。

(1) 技術データの中に明確に示す必要がある必す（須）の情報は，この規格中の各項の末尾に［必す（須）］

と表示した。

(2) 製造業者の判断で提供される任意の情報は，この規格中の各項の末尾に［任意］と表示した。

4.1

公表データの推奨形式この規格又は別の日本工業規格 (JIS) （IEC規格）によって試験して得た

データを公表するときには，それらを明確に区別し，次の項目を先に記述することが望ましい。

(1) 適用したJIS（IEC規格）の番号

(2) 製造業者の名称又は商標

(3) 製造業者の型番及び／又は銘柄

(4) ベース材料（一般的な名称で十分である。）

5. 測定項目

5.1

テープ幅

［必す（須）］

(1) 定義テープ幅は，テープ長さ方向のエッジ間と直角をなす距離をいう。

(2) 方法供試テープをガラス板で覆い，少なくとも2.5μmの精度をもつ目盛付き顕微鏡又は投影器を使

用し，張力を加えずにテープ長さ方向で最低5か所測定する。

(3) 結果テープ幅は，5か所の測定値の相加平均をミリメートルで表す。

5.2

テープ厚

5.2.1

テープ全厚

［必す（須）］

(1) 定義テープ全厚は，テープ全体にわたる厚さをいい，ベース厚，磁性層厚及びバック層厚（ある場

合）とから成る。

(2) 方法テープ全厚は，少なくとも0.5μmの精度をもつマイクロメータによって測定する。テープ長さ

方向で1mごとに10か所測定する。

(3) 結果テープ全厚は，10か所の測定値の相加平均をマイクロメートルで表す。

5.2.2

磁性層厚

［任意］

(1) 定義磁性層厚は，テープの磁性層（複磁性層の場合も含む。）の全厚をいう。

(2) 方法磁性層を，適切な溶剤で除去し，残った部分のテープの厚さを，少なくとも0.5μmの精度をも

つマイクロメータによって測定する。テープの長さ方向で1mごとに10か所測定する。

(3) 結果磁性層厚は，テープ全厚 (5.2.1) と，この項から得られる10か所の測定値の相加平均との差と

して求め，マイクロメートルで表す。

5.2.3

バック層厚

［任意］

(1) 定義バック層厚は，テープの磁性層の反対側の面に付けられた塗布膜の全厚をいう。

(2) 方法バック層を，適切な溶剤で除去し，残った部分のテープ厚さを，少なくとも0.5μmの精度をも

つマイクロメータによって測定する。テープの長さ方向で1mごとに10か所測定する。

(3) 結果バック層厚は，テープ全厚 (5.2.1) と，この項から得られる10か所の測定値の相加平均との差

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として求め，マイクロメートルで表す。

5.2.4

ベース厚

［任意］

(1) 定義ベース厚は，磁性層とバック層（ある場合）を支持するフィルムの厚さをいう。

(2) 方法磁性層と，バック層（ある場合）を適切な溶剤で除去し，フィルムの厚さを少なくとも0.5μm

の精度をもつマイクロメータによって測定する。テープの長さ方向で1mごとに10か所測定する。

(3) 結果ベース厚は，10か所の測定値の相加平均をマイクロメートルで表す。

5.3

長さ方向湾曲

［任意］

(1) 定義長さ方向の湾曲は，単位長さのテープの片側のエッジの直線からの偏差をいう。

(2) 方法 2本の供試テープを平たん面に広げて，その自然の湾曲が現れるようにする（付図1参照）。平

たん面は，水平面に対し1度の角度で据え付けためっき処理基板から成っている。その表面には，付

図1に示すようにmm目盛とそれに対し垂直を成す長さ1mの2本の基準線が刻まれている。2本の

基準線の上端部は，供試テープの種別ごとに規定された幅［JIS C 5562（磁気テープ録音再生システ

ム第1部一般条件及び要求事項）第2章9項 (IEC 94-1, clause 9) 参照］をもつ溝の一端に合わせてあ

る。

1mより長い2本の供試テープを溝に置いて固定し，基準線に沿わす。ローラをスタートラインに置

き，2本のテープの一部分を手で半円形にする。2個のテープ半円を放すと同時に，ローラを付図1

の矢印で示す方向に動かすようにする。

2本の供試テープ基準線終端でのずれを，平滑平面に接触している状態で磁性面を上にして5回，

ベースフィルム面を上にして5回測定する。

(3) 結果基準面からのテープエッジの偏差は，2本の供試テープから得られた20個の測定値の相加平均

をミリメートル毎メートルで表す。

5.4

幅方向のカッピング

［任意］

(1) 定義幅方向のカッピングは，テープ幅の全体にわたり，連続した幅方向の湾曲（凸形状又は凹形状）

をいい，供試テープの幅方向の曲率半径を測定する。

(2) 方法

(a) 方法A 付図2に示すように，長さ30cmの供試テープをクランプから自由に垂らし，テープの凹

面側が回転プレートと対面するように，測定装置のガイド間に置く。

テンプレートは半径の異なる扇形から成り，テンプレートを回転させて，テープと同じ半径の扇

形を見付け出す。ランプは，測定を容易にするために取り付けてある。

備考ランプから発生する熱が測定に影響しないように注意する。

(b) 方法B 光学的な測定は，次の原理による。

幅方向にカッピングしたテープは，円筒状の凹面鏡とみなされる。テープを管形電球で照らした

場合，フィラメントとテープ表面との距離が凹面鏡の焦点距離の2倍のとき，フィラメント像はフ

ィラメントの位置に一致する。

実際の測定

テープ幅の10倍以上の間隔をもつ2本のローラー（R1及びR2）上に，テープ片を置く（付図3

参照）。テープが平たんになるようにテープの両端にテープ幅1mm当たり0.01N｛約1gf｝の荷重を

かける。2本のローラーを，フィラメントとテープ表面の距離を調節できる装置（付図4参照）に

据え付ける。フィラメント像の鮮明さを，すりガラス (GG) と半透明鏡 (M) をとおして観察する。

鮮明な像が得られたら，そのときの距離を校正した目盛によってミリメートルで読み取る。

C 5565-1996 (IEC 94-4 : 1986)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(3) 結果供試テープの幅方向のカッピングは，ミリメートルで表す。

5.5

片伸び（3.81mm及び6.3mm幅テープに適用）

［任意］

(1) 定義片伸びは，テープの中心とエッジにおける長さの違いから生じるテープエッジの変形をいい，

テープを引っ張って片伸びが消滅するのに要する最小の力で表す。

(2) 方法長さ1mの供試テープを二つのクリップ間に垂直につるす。付図5に示すように，一方のクリ

ップをばねばかり（秤）に，他方を張力装置に取り付ける。ばねばかりは，測定範囲が0〜0.3N｛0〜

約30gf｝を測定できるものとし，張力装置は，1mのテープを二つのクリップ間につるしたときにか

かる力が最小になるように調節できるものであること。供試テープに張力をかけない状態でばねばか

りの値を読み，この値をaとする。次に，片伸びがちょうど消滅するまで張力をかけて，そのときの

ばねばかりの値を読み，この値をbとする。

(3) 結果片伸びは，ばねばかりの二つの読みの差 (b−a) をニュートンで表す。テープ全厚とテープ幅

を読みの差に併記する。

5.6

長さ方向のコイリング

［任意］

(1) 定義長さ方向のコイリングとは，規定長のテープが長さ方向に渦巻状になる巻きぐせをいう。

(2) 方法長さ30cmの供試テープを試験台に載せ，100Hzの周波数で，約10m/s2の加速振動を，テープ

が渦巻状になって変化しなくなるまで与える。試験機は，付図6に示すようにスピーカとその上部に

ばねでつるした試験台から成っている。発振器からの100Hz正弦波信号を，増幅器で増幅してスピー

カに加える。

(3) 結果長さ方向のコイリングは，付図7に示すように，最小の渦巻の直径をいい，ミリメートルで表

す（渦巻が複数の場合も含む。）。テープ全厚及びテープ幅を結果に併記する。

5.7

磁性層及びバック層（ある場合）の電気抵抗

［任意］

(1) 定義塗布層の電気抵抗は，テープ幅に等しい長さをもった供試テープの電気抵抗をいう。

(2) 方法二つの電極を，付図8のように供試テープの幅に等しい距離に離して置く。それぞれの電極の

断面は，半径1cmの四分円とする。

供試テープをその長手方向が電極と直角になるように，また塗布層が電極に接するように置く。次

に，張力が5N/mm2になるように，二つのおもりを供試テープの両端につり下げ，両電極間の電気抵

抗を適切な測定器で測定する。

(3) 結果テープ塗布層の電気抵抗は，メガオームで表す。

5.8

層間粘着（粘着性）

［任意］

(1) 定義層間粘着は，テープ塗布層の隣接する層への粘着具合をいう。

(2) 方法長さ1mの供試テープを，直径36mmのガラス管又は酸化していない金属棒に，30N/mm2（ベ

ースフィルムだけの断面積）の張力で巻く。供試テープの一端は管又は棒に固定し，他端は規定の張

力を維持できるように固定する。これを，温度45±3℃，相対湿度80%の条件下に4時間置いた後，

3.に規定する標準試験環境条件に24時間放置する。

(3) 結果この試料を，末端に0.1N｛約10gf｝の荷重をかけながら，ゆっくり巻き戻し，層間のはがれ具

合又は粘着具合を観察する。

5.9

光透過率

［任意］

(1) 定義光透過率は，磁気テープの厚さ方向の光の透過率をいう。

(2) 方法光透過率は，色温度2 000±200Kのタングステンランプの光を，150mmはなした供試テープに

垂直に照射し，供試テープを透過する光量を光電素子に結合した指示計によって測定する。

C 5565-1996 (IEC 94-4 : 1986)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(3) 結果供試テープの光透過率は，百分率で表す。

備考この項目の内容は，ISO 4057 [Information processing−Data interchange on 6.30mm (0.25in)

mag-netic tape cartridge, 63bpmm (1 600bpi) phase-encoded] 附属書Aを一部翻訳したものである。

5.10 引張試験 5.10.1，5.10.2及び5.10.3は，［JIS K 7161（プラスチック−引張特性の試験方法−第1部：

通則）］ (ISO 527-1) 及びISO 527-3 (Plastics−Determination of tensile properties−Part 3 : Test conditions for

films and sheets) によって測定する。

クランプ間隔は，少なくとも100mmとし，テープを引っ張る速さはJIS K 7161の表1 (ISO 527-1, Table

1)のうち，100mm/minを適用する。

5.10.1 破断強度

［必す（須）］

(1) 定義破断強度は，供試テープを破断するのに必要な最小の力をいう。

(2) 方法供試テープの両端を固定し，そのうちの一端を供試テープの長さ方向に引っ張り，供試テープ

が破断するときの力を測定する。

(3) 結果供試テープの破断強度は，ニュートンで表し，テープ全厚とテープ幅を破断強度に併記する。

5.10.2 降伏点強度

［必す（須）］

(1) 定義降伏点強度 (F3) は，供試テープの元の長さを3%伸ばすのに必要な力をいう。

(2) 方法供試テープの両端を固定し，そのうちの一端を供試テープの長さ方向に引っ張り，供試テープ

が降伏点に達したときの力を測定する。

(3) 結果供試テープの降伏点強度 (F3) は，ニュートンで表し，テープ全厚とテープ幅を降伏点強度に

併記する。

5.10.3

引張弾性率

［任意］

(1) 定義引張弾性率は，テープの直線的伸びに必要な張力をいう。

(2) 方法供試テープの両端を固定し，そのうちの一端を供試テープの長さ方向に引っ張り，フックカー

ブを測定する。

(3) 結果供試テープの引張弾性率 (E) は，次の式によって計算する。

5回測定して，相加平均及び標準偏差を求め，メガパスカルで表す。

⊿

−

)

(

ここに，

E：引張弾性率 (MPa)

F1：フックカーブの直線部分が始まるところの力 (N)

F2：フックカーブの直線部分内にはあるが，良好な測定結果

を得るためにF1から十分に離れたところの力 (N)

L0：供試テープのクランプ間隔 (mm)

a0×b0：試験を開始するときのテープの断面積 (mm2)

⊿L：引張力F1とF2の間の供試テープの伸び (mm)

5.11 残留伸び

［任意］

(1) 定義残留伸びは，供試テープに規定の力を規定時間加え，その力を取り除いた後の供試テープの伸

び率をいう。

(2) 方法少なくとも100mmの既知の長さの供試テープに30N/mm2（ベースフィルムだけの断面積）の

力を3分間加える。

次に，その力を取り除き，3分後に微小な力（0.25N未満）を加えて供試テープの長さを測定する。

C 5565-1996 (IEC 94-4 : 1986)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

付図8 磁性層及びバック層の電気抵抗測定用ジグ

改正原案作成委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

吉川昭吉郎

神奈川工科大学

（幹事）

○ 川野則和

ソニー株式会社

竹田原昇司

通商産業省機械情報産業局電子機器課

藤井隆宏

工業技術院標準部

上條晃司

日本放送協会

郷木昇

財団法人電波技術協会

岸野忠信

財団法人日本規格協会

岩下隆二

パイオニア株式会社

阿部美春

株式会社エーベックス

小嶋正男

社団法人日本電子機械工業会

小林一磨

株式会社ポニーキャニオン

臼田元大

社団法人日本レコード協会

吉田治憲

株式会社文化放送

○ 西田博光

住友スリーエム株式会社

○ 船越正次

TDK株式会社

○ 安藤晴夫

日立マクセル株式会社

○ 平川卓

富士写真フイルム株式会社

（事務局）

○ 木村恭平

社団法人日本記録メディア工業会

備考 ○印は，小委員会委員を兼任