C 5402-16-4：2012 (IEC 60512-16-4：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法 ························································································································· 2
5 測定及び要求事項 ············································································································· 2
5.1 試験前 ························································································································· 2
5.2 試験中 ························································································································· 2
5.3 試験後 ························································································································· 2
6 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
C 5402-16-4：2012 (IEC 60512-16-4：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-16-4：2012
(IEC 60512-16-4：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第16-4部：コンタクト及びターミネーションの機械
的試験−試験16d：引張強度（圧着接続）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-4:Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16d:Tensile strength(crimped connections)
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-4を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にない事項である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，コンタクト及びターミネーションの圧着接続部の引張強度を測定するための試験方法につ
いて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す
IEC 60512-16-4:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-4:
Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16d: Tensile strength（crimped connections）
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記のない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1:General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
IEC 60352-2:2006，Solderless connections−Part 2: Crimped connections−General requirements，test methods
and practical guidance
2
C 5402-16-4：2012 (IEC 60512-16-4：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格IEC 60512-16-4に引用される規定として記載がないため追記した。
3
準備
3.1
試料
試料は，電線導体に圧着したコンタクト又はターミネーションとする。導体の圧着は，関連する個別規
格及びその中に規定する工具の仕様に従って実施する。
試料が，インシュレーションサポート又はコンダクタクリンプバレル以外のクランプ機構をもつ場合，
試験に影響を及ぼさないようにするためそれらが機能しないようにする。
個別規格に規定する前処理を適用する。
注記 導体の両端に試料を圧着した方が試験しやすい場合がある。両端に試料を圧着した場合は，一
つの試料とみなす。
3.2
装置
この規格に規定する3.3及び箇条4に適合するジグを備えた引張試験機を準備する。
3.3
取付け
試料の取付けは，適用する場合，個別規格による。
試料は，コンタクトのクリンプバレルが損傷又は影響を受けないように引張試験機の取付部に固定する。
試料は，圧着部に対して軸方向に引張力がかかるようにする。
4
試験方法
試験機のヘッドは，25 mm/min〜50 mm/minの一定速度で移動し，電線導体がクリンプバレルから引き
抜かれるか，又は電線若しくは試料が破断するまで引張力を加える。
5
測定及び要求事項
5.1
試験前
初期測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。
試験の妥当性を損なうような不適合があってはならない。
5.2
試験中
電線導体がクリンプバレルから引き抜かれるか，又は電線若しくは試料が破断を起こす引張力を記録す
る。試験機のヘッドの移動速度も1分間当たりのミリメートルで表す距離（mm/min）で記録する。
注記 伸び率対引張力のグラフは，この規格の使用者に対して重要な場合がある。ただし，この情報
は，この規格の要求事項ではない。
5.3
試験後
最終測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。電線又は試料の破断状態及び特徴
を記録する。
コネクタの正常な機能を損なうような不適合は，全て試験報告書に記録する。
6
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 使用する電線又は導体のサイズ
3
C 5402-16-4：2012 (IEC 60512-16-4：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 組立及び／又は圧着ツーリングの詳細
d) 潤滑油使用の有無（組立及び／又は圧着ツーリングに用いるものを含む。）
e) 試料の特殊な取付方法（要求がある場合）
f)
試料数
g) 最小引張力（規定がない場合，IEC 60352-2に規定する値を適用する。）
h) この規格で規定する試験方法との相違