C 5402-15-6：2014 (IEC 60512-15-6：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法 ························································································································· 2
4.1 手順 ···························································································································· 2
4.2 測定 ···························································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
C 5402-15-6：2014 (IEC 60512-15-6：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-15-6：2014
(IEC 60512-15-6：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第15-6部：コネクタ試験（機械的試験）−
試験15f：コネクタカップリング機構の効果
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 15-6:Connector tests (mechanical tests)-
Test 15f: Effectiveness of connector coupling devices
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-15-6を基に，技術的内容及び構成を変更
することなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場
合には，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，電線の束，ハーネス又はコネクタ本体に直接，規定する力を加えたときにカップリン
グ及び／又は保持機構をもつ結合したコネクタの結合状態を維持するカップリング機構の効果を評価
するための試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-15-6:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-6:
Connector tests (mechanical)−Test 15f: Effectiveness of connector coupling devices（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これ
らの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験 1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements
−Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
JIS C 5402-2-5 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-5部：導通及び接触抵抗試験−試験
2e：コンタクトディスターバンス
注記 対応国際規格：IEC 60512-2-5，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements
Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2e: Contact disturbance（IDT）
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C 5402-15-6：2014 (IEC 60512-15-6：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
準備
3.1
試料
試料は，個別規格に規定するとおり結線したターミネーションをもつ結合した一対のコネクタとす
る。全てのカップリング及び保持機構は，個別規格で規定するとおり機能させる。
個別規格に規定する前処理を適用する。
3.2
装置
軸方向の力を加えるため，力（強度，速度，時間）を制御できる装置（例えば，汎用材料試験機）
を用いる。
注記 個別規格に試料の特別な前処理の要求がある場合には，供試条件を記述している関連文書
に記載する全ての装置を必要とする。
3.3
取付け
試料の取付けは，適用する場合，個別規格による。
4
試験方法
個別規格に規定がない場合には，3個のコネクタを試験する。
4.1
手順
力は，25 mm/min を超えない速度又は個別規格に規定する速度で，結合状態のコネクタを引抜方向
に規定する力に達するまで加える。その力は，15秒間保持する。その後，その力を解除する。
注記 一部のヘビーデューティコネクタ（heavy-duty connector）に関しては，適正な時間内に規
定する力に達するために，個別規格では25 mm/minを超える速度を要求する場合がある。
その力は，個別規格に規定するとおり，電線の束又はコネクタ本体のいずれかを介して加えてもよ
い。個別規格に規定がない場合には，試験中の導通を監視する。
4.2
測定
4.2.1
試験前
JIS C 5402-1-1 によって外観検査を行う。
4.2.2
試験中
コネクタは，完全に結合した状態を維持しなければならない。個別規格に規定がない場合には，JIS
C 5402-2-5によって電気的導通を監視する。1 µs 又は個別規格で規定する値を超える電気的瞬断があ
ってはならない。
4.2.3
試験後
JIS C 5402-1-1 によって外観検査を行う。
特に，カップリング及び保持機構の動作に注意する。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料数（3個以外の場合）
b) 前処理（要求がある場合）
c) 試料の結線方法，電線束の保持手段
d) 加える軸方向の力，力を加える位置，力を加える速度（4.1の規定と異なる場合）
e) 電気的なモニタリング（必要とする場合），及び許容する瞬断時間（4.2.2に規定する値と異なる
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C 5402-15-6：2014 (IEC 60512-15-6：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
場合）
f)
変位量を許容するか否か
g) この規格で規定する試験方法との相違