JISC5402-11-3:2005 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－３部：耐候性試験

C 5402-11-3：2004 (IEC 60512-11-3：2002)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-3:2002，Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady stateを基礎

として用いた。

この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。

C 5402-11-3：2004 (IEC 60512-11-3：2002)

（2）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 準備 ······························································································································ 2

3.1 試料の準備 ··················································································································· 2

3.2 試料の配線 ··················································································································· 2

3.3 前処理 ························································································································· 2

4. 試験方法 ························································································································ 2

4.1 供試条件 ······················································································································ 2

4.2 極性電圧 ······················································································································ 2

5. 測定 ······························································································································ 2

5.1 初期測定 ······················································································································ 2

5.2 試験期間中の測定 ·········································································································· 2

5.3 最終測定 ······················································································································ 2

6. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 3

JIS C 0068：1995

(1)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 5402-11-3：2004

(IEC 60512-11-3：2002)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―

第11-3部：耐候性試験―

試験11c：高温高湿（定常）

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests -

Test 11c: Damp heat, steady state

序文この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-3，Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady stateを翻訳し，技術的内容及び

規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格では点線の下線を施してある参考は，原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲この規格は，高い相対湿度条件下において，規定の方法により保存及び／又は機能する電

子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定する。この試

験方法は，類似の部品に用いてもよい。

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 60512-11-3:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3:

Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady state (IDT)

2. 引用規格次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，

その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 0022 環境試験方法（電気・電子）高温高湿（定常）試験方法

備考 IEC 60068-2-3:1969，Environmental Testing - Part 2: Tests - Test Ca: Damp heat steady stateがこ

の規格と一致している。

JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観

備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:

General examination - Test 1a: Visual examinationがこの規格と一致している。

JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−試験2a：接

触抵抗−ミリボルトレベル法

C 5402-11-3：2004 (IEC 60512-11-3：2002)

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

備考 IEC 60512-2-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level

methodがこの規格と一致している。

JIS C 5402-3-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3-1部：絶縁試験−試験3a：絶縁抵抗

備考 IEC 60512-3-1: 2003，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:

Insulation tests - Test 3a: Insulation resistanceがこの規格と一致している。

IEC 60512-4-1:2003 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress

tests−Test 4a: Voltage proofがこの規格と一致している。

IEC 60512-7:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

3. 準備

3.1

試料の準備標準のアクセサリを備えた試料を，個別規格の規定によって取り付ける。

個別規格で要求する場合には，試験の前に試料を規定回数，挿入及び引抜きをする。

各試験を行うに当たって個別規格には，コネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。

3.2

試料の配線試料は，個別規格の規定によって配線する。

極性電圧を印加する試料は互い違いのターミネーション同士を接続し，二つのグループを形成するよう

に配線する。

3.3

前処理前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間行う。

参考前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前

処理の規定による。

4. 試験方法

4.1

供試条件この試験は，個別規格に規定する厳しさを用い，JIS C 0022 に従って行う。

4.2

極性電圧個別規格で規定する場合には，試験期間中，二つの試料に極性電圧を印加する。試料No.1

では，第1グループのターミネーションとハウジング（シェル）及び／又は取付け板に接続した第2グル

ープのターミネーションとの間に極性電圧を印加する。試料No.2では，第2グループのターミネーション

とハウジング（シェル）及び／又は取付け板に接続した第1グループのターミネーションとの間に極性電

圧を印加する。

5. 測定

5.1

初期測定初期測定は，個別規格の規定による。

5.2

試験期間中の測定個別規格が要求する場合にはこの試験の終了時，試料が個別規格で規定する高

湿度状態にある間に次の試験を行う。

−絶縁抵抗 JIS C 5402-3-1，試験 3a

5.3

最終測定試料は，個別規格に規定がない場合には次の試験を行い，個別規格に規定する要求条件

を満足しなければならない。

−絶縁抵抗：JIS C 5402-3-1，試験 3a（後処理の直後）

−耐電圧：IEC 60512-4-1，試験4a（後処理の直後）

−接触抵抗−ミリボルトレベル法：JIS C 5402-2-1，試験 2a