C 5402-11-13：2004 (IEC 60512-11-13：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-13:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-13: Climatic tests - Test 11n: Gas tightness, solderless
wrapped connectionsを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-11-13：2004 (IEC 60512-11-13：2002)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 準備 ······························································································································ 1
3.1 試料の準備 ··················································································································· 1
3.2 前処理 ························································································································· 1
4. 試験方法 ························································································································ 2
5. 測定 ······························································································································ 2
5.1 最終測定 ······················································································································ 2
6. 要求事項 ························································································································ 2
7. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-11-13：2004
(IEC 60512-11-13：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第11-13部：耐候性試験―
試験11n：ガスタイト・無はんだラッピング接続
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-13: Climatic tests -
Test 11n: Gas tightness, solderless wrapped connections
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-13，Connectors for electronic equipment
- Tests and measurements - Part 11-13: Climatic tests - Test 11n: Gas tightness, solderless wrapped connectionsを翻
訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，ラッピング接続する電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）のラッピ
ング電線とポストとの間に形成されたガスタイト部分を確認するための試験方法について規定する。この
試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考1. この試験は破壊試験である。
2. この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-11-13:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-13:
Climatic tests - Test 11n: Gas tightness, solderless wrapped connections (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。
3. 準備
3.1
試料の準備 試料は，個別規格の規定による，従来形及び改良形ラッピング接続をもつコネクタか
ら切り離したラップポストからなる。
3.2
前処理 前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間は行う。
2
C 5402-11-13：2004 (IEC 60512-11-13：2002)
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参考 前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前
処理の規定による。
4. 試験方法 試料を電線及びポストの両方の露出部分が変色する雰囲気に暴露する。露出部分とガスタ
イト部分との色の違いが明確になるまで十分に変色させる。供試条件後，慎重に電線の巻付けをほどく。
次に供試条件の一例を示す。試料を10分間，約1 cm3の王水（硝酸50 ％及び塩酸50 ％）の溶液が入
った約15 mm×150 mmの密封した試験管に吊るす。溶液は，試料と接触してはならない。
試料はその後，濃縮硫酸アンモニウム約1 cm3の溶液が入ったほぼ同じ大きさのもう一つの密封された
試験管に移す。溶液は試料と接触してはならない。試料はポスト部分が黒色に変化したことが目で確認さ
れるまでこの雰囲気に暴露しておく。
5. 測定
5.1
最終測定 試料は，慎重に巻き付けをほどき，ラップポスト及び電線の両方に対して次の試験を行
う。
−外観：JIS C 5402-1-1，試験 1a， 拡大鏡倍率 5倍から20倍
6. 要求事項 無はんだラッピング接続は，最初と最後の巻付けを除く各巻付け部分については，電線導
体との接触面の少なくとも75 ％がガスタイトでなければならない。ガスタイト部分は，試験環境に暴露
した結果として変色した部分との色の違いが明るく，はっきり見えるものとする。
7. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の詳細
b) 試料数
c) この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。