C 5402-11-1 : 2002 (IEC 60512-11-1 : 1995)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするため，IEC 60512-11-1 : 1995, Electromechanical
components for electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 11 : Climatic tests−
Section 1 : Test 11a−Climatic sequenceを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100の試験一覧による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-11-1 : 2002
(IEC 60512-11-1 : 1995)
電子機器用コネクタ−
試験及び測定−
第11-1部：耐候性試験−試験11a：
一連耐候性
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 11-1 : Climatic tests−Test 11a : Climatic sequence
序文 この規格は，1995年に第1版として発行されたIEC 60512-11-1, Electromechanical components for
electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 11 : Climatic tests−Section 1 : Test
11a−Climatic sequenceを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格
である。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲及び目的 この試験の目的は，保管を含め通常の使用中に遭遇する可能性がある規定の環境
及び方法で機能する電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するために標準の試験方
法を規定することである。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-11-1 : 1995 Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing
procedures and measuring methods−Part 11 : Climatic tests−Section 1 : Test 11a−Climatic
sequence (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構成
するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その最
新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0035 環境試験方法−電気・電子−一連耐候性試験
備考 IEC 60068-2-61 : 1991, Environmental testing−Part 2 : Test−Test Z/ABDM : Climatic sequenceが，
この規格と一致している。
JIS C 5402-13-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13-1部：機械的動作試験−試験13a：結合
2
C 5402-11-1 : 2002 (IEC 60512-11-1 : 1995)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
力及び離脱力
備考 IEC 60512-13-1 : 1996, Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing
procedures and measuring methods−Part 13 : Mechanical operating tests−Section 1 : Test 13a :
Engaging and separating forcesが，この規格と一致している。
IEC 60512-2-1* : 200x Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-1 : Electrical
continuty and contact resistance tests−Test 2a−Contact resistance−Millivolt level method
IEC 60512-2-2* : 200x Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-2 : Electrical
continuty and contact resistance tests−Test 2b−Contact resistance−Specified test current method
IEC 60512-3-1* : 200x Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 3-1 : Insulation
tests−Test 3a−Insulation resistance
IEC 60512-4-1* : 200x Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 4-1 : Voltage
stress tests−Test 4a : Voltage proof
IEC 60512-7 : 1993 Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing procedures and
measuring methods−Part 7 : Mechanical operating tests and sealing tests
IEC 60512-9 : 1992 Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing procedures and
measuring methods−Part 9 : Miscellaneous tests
参考 IEC規格番号に*が付いているものは，この規格の発効時点で，IEC規格の審議中のものである
ことを示す。
3. 試料の準備
3.1
準備 標準のアクセサリを備えた試料を個別規格に従って取り付け，配線する（必要とする場合）。
個別規格に要求がある場合には，試験の前に試料を規定回数，挿入及び引抜きを行う。
各試験を実施するために個別規格には，コネクタの条件（例：結合又は非結合）を規定する。
3.2
前処理 前処理時間は，少なくとも1時間とする。
4. 試験方法
4.1
初期測定 初期測定は，個別規格に従って行う。
4.2
供試条件 試験順序は，JIS C 0035の方法1による。
各ステップの厳しさ及び中間測定は，個別規格で規定するとおり行う。
− 高温（耐熱性）
耐候性カテゴリの高温を適用する。
個別規格に規定がある場合には，このステップの終了後，かつ，高温のままの状態で，IEC 60512-3-1*
（旧IEC 60512-2），試験3aに従って絶縁抵抗を測定する。
− 低温（耐寒性）
耐候性カテゴリの低温を適用する。
− 減圧
減圧は任意とし，個別規格に規定がある場合には，次の厳しさを適用する。
減圧の条件は，個別規格に規定する。
試験時間は，5分間とする。
この試験の終了後，かつ，減圧している状態で，IEC 60512-4-1*（旧IEC 60512-2），試験4a, 耐電
3
C 5402-11-1 : 2002 (IEC 60512-11-1 : 1995)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
圧を行う。
− 温湿度サイクル，残りのサイクル
残りのサイクルは，個別規格に規定する。
4.3
最終測定 試料は，その後次の試験を行い，かつ，個別規格に規定する要求事項を満足しなければ
ならない。
a) 絶縁抵抗［IEC 60512-3-1*（旧IEC 60512-2），試験3a］
b) 耐電圧［IEC 60512-4-1*（旧IEC 60512-2），試験4a］
c) 接触抵抗［IEC 60512-2-1*（旧IEC 60512-2），試験2a又はIEC 60512-2-2*（旧IEC 60512-2），試験2b］，
個別規格に規定する。
d) 結合力及び離脱力，又は挿入力及び引抜力（JIS C 5402-13-1，試験13a又はIEC 60512-7，試験13b），
適用する場合
e) ケーブルクランプ強度（IEC 60512-9，試験17a又は試験17d），適用する場合
f)
外観［IEC 60512-1-1*（旧IEC 60512-2），試験1a］，適用する場合
5. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法並びに部品の動作条件，適用する場合
b) 初期測定
c) 一連耐候性の各ステップにおける厳しさ
d) 高温での絶縁抵抗の最小値
e) 試験電圧，減圧を適用する場合
f)
適用する試験方法，接触抵抗を適用する場合
g) 最終測定に対する要求事項
h) この試験方法との相違
4
C 5402-11-1 : 2002 (IEC 60512-11-1 : 1995)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
佐々木 喜 七
財団法人日本電子部品信頼性センター
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
橋 本 進
財団法人日本規格協会
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 巳
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
小 林 弘
日本電気ファクトリエンジニアリング株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己
三菱電機株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
高 木 裕 司
アルプス電気株式会社
石 井 勝
第一電子工業株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
大 島 寛
ニチコン株式会社
柴 田 一 寛
株式会社村田製作所
大 西 浩 司
本多通信工業株式会社
前 田 太 門
ヒロセ電機株式会社
八 木 誠
日本航空電子工業株式会社
小 島 槇 雄
窪 田 明
経済産業省
八 田 勲
経済産業省
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人電子情報技術産業協会
中 山 正 美
社団法人電子情報技術産業協会
5
C 5402-11-1 : 2002 (IEC 60512-11-1 : 1995)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5402-1規格群原案作成分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
石 井 勝
第一電子工業株式会社
（副主査）
山 川 和 夫
多治見無線電機株式会社
大 西 浩 司
本多通信工業株式会社
（委員）
大久保 功
株式会社アイティティキャノン
武 田 佳 司
イリソ電子工業株式会社
木 村 淳
URO電子工業株式会社
横井川 淳 史
オムロン株式会社
坂 岡 眞 樹
京セラ株式会社
東 陽一郎
ケル株式会社
金 子 智 行
株式会社ジャルコ
福 田 敦 夫
スタック電子株式会社
佐 藤 一 巳
ソニー株式会社
今 井 彰
タイコエレクトロニクスアンプ株式会社
太 田 弦
日本圧着端子製造株式会社
八 木 誠
日本航空電子工業株式会社
白 岩 寿 久
日本航空電子工業株式会社
榎 本 雅 弘
日本モレックス株式会社
吉 岡 克 之
ノーブル無線株式会社
前 田 太 門
ヒロセ電機株式会社
岩 朝 好 博
ホシデン株式会社
加 藤 修 治
松下電工株式会社
一 木 義 和
株式会社村田製作所
金 子 哲 也
山一電機株式会社
小 島 槇 雄
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人電子情報技術産業協会
中 山 正 美
社団法人電子情報技術産業協会
日本工業標準調査会 標準部会 電子技術専門委員会 構成表
氏名
所属
（委員会長）
鳳 紘一郎
東京大学大学院新領域創成科学研究科
（委員）
榎 並 和 雅
日本放送協会技術局
川 瀬 正 明
千歳科学技術大学光科学部
喜 安 拓
総務省情報通信政策局
栗 原 正 英
社団法人日本プリント回路工業会
小 岩 忠 夫
社団法人電子情報技術産業協会
酒 井 善 則
東京工業大学大学院理工学研究科
佐 野 真理子
主婦連合会
田 村 政 昭
株式会社東芝デジタルメディアネットワーク社コアテクノ
ロジーセンター
平 松 幸 男
東日本電信電話株式会社第三部門
本 多 正 己
財団法人日本規格協会IEC活動推進会議事務局
増 田 岳 夫
財団法人光産業技術振興協会
山 本 克 巳
ソニー株式会社テクニカルサポートセンター