JISC5402-1-100:2014 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 5402-1-100：2014

電子機器用コネクタ−試験及び測定−

第1-100部：一般−試験方法規格一覧

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-

Part 1-100: General-Applicable publications

序文

この規格は，2012年に第3版として発行されたIEC 60512-1-100を基とし，理解を助成するための補足

及び表形式の編集をして作成した日本工業規格である。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，電子機器用コネクタの試験規格群の構成について規定する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60512-1-100:2012，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-100:

General−Applicable publications（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

試験方法規格一覧

試験方法規格一覧は，表1による。

注記表1において，“従来からのJIS”は，JIS C 5402の追補1によって，“新たに制定したJIS”に

順次置き換え，対応する“従来からのJIS”にそれぞれ優先して用いる。また，“新たに制定し

たJIS”を全て制定した後に，従来からのJIS C 5402は廃止する予定である。

表1−試験方法規格一覧

JIS

試験
番号

試験名称

IEC

規格番号

新たなJIS

従来からの

JIS及び箇条番号

−

C 5402

−

電子機器用コネクタ試験方法

−

C 5402
追補1

−

電子機器用コネクタ試験方法

−

C 5402-1

−

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部：一般

60512-1

C 5402-1-100

−

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部：
一般−試験方法規格一覧

60512-1-100

C 5402-1-100：2014

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表1−試験方法規格一覧（続き）

JIS

試験
番号

試験名称

IEC

規格番号

新たなJIS

従来からの

JIS及び箇条番号

第1部：一般試験（検査）

C 5402-1-1

C 5402の4.1

外観

60512-1-1

C 5402-1-2

C 5402の4.2

寸法及び質量

60512-1-2

C 5402-1-3

−

電気的接触長

60512-1-3

C 5402-1-4

−

コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）

60512-1-4

第2部：導通及び接触抵抗試験

C 5402-2-1

C 5402の5.4

接触抵抗−ミリボルトレベル法

60512-2-1

C 5402-2-2

C 5402の5.3

接触抵抗−規定電流法

60512-2-2

C 5402-2-3

C 5402の5.7

接触抵抗の変動

60512-2-3

−

（空き）

−

C 5402-2-5

C 5402の5.5

コンタクトディスターバンス

60512-2-5

C 5402-2-6

C 5402の5.8

ハウジング（シェル）の導通性

60512-2-6

−

（空き）

−

第3部：絶縁試験

C 5402-3-1

C 5402の5.2

絶縁抵抗

60512-3-1

第4部：電圧ストレス試験

C 5402-4-1

C 5402の5.1

耐電圧

60512-4-1

C 5402-4-2

C 5402の5.9

部分放電

60512-4-2

C 5402-4-3

−

耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル）

60512-4-3

第5部：電流容量試験

C 5402-5-1

C 5402の5.10

温度上昇

60512-5-1

C 5402-5-2

C 5402の5.13

電流・温度の軽減

60512-5-2

第6部：動的ストレス試験

C 5402-6-1

−

加速度（定常）

60512-6-1

C 5402-6-2

C 5402の6.32

バンプ

60512-6-2

C 5402-6-3

C 5402の6.2

衝撃

60512-6-3

C 5402-6-4

C 5402の6.1

正弦波振動

60512-6-4

−

ランダム振動

60512-6-5

第7部：衝撃試験（可動形コネクタ）

C 5402-7-1 c)

C 5402の6.10

自由落下（繰返し）

60512-7-1

−

機械的強度衝撃

60512-7-2

第8部：静的な力試験（固定形コネクタ）

C 5402-8-1 c)

C 5402の6.14

静的な力，水平方向

60512-8-1

−

静的な力，軸方向

60512-8-2

C 5402-8-3 c)

C 5402の6.13

操作レバーの強度

60512-8-3

第9部：耐久性試験

C 5402-9-1 c)

C 5402の6.3

機械的動作

60512-9-1

−

電気的負荷及び温度

60512-9-2

−

電気的負荷を伴う機械的動作

60512-9-3

−

コンタクト保持機構及びシールの耐久性（メンテナ
ンス，エージング）

60512-9-4

−

電流負荷サイクル

60512-9-5

C 5402-1-100：2014

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表1−試験方法規格一覧（続き）

JIS

試験
番号

試験名称

IEC

規格番号

新たなJIS

従来からの

JIS及び箇条番号

第10部：過負荷試験

−

10a

廃止

−

10b

廃止

−

10c

（空き）

−

C 5402-10-4

C 5402の5.11

10d

電気的過負荷（コネクタ）

60512-10-4

第11部：耐候性試験

C 5402-11-1

C 5402の7.10

11a

一連耐候性

60512-11-1

C 5402-11-2

−

11b

低温・減圧・湿度複合シーケンス

60512-11-2

C 5402-11-3

C 5402の7.3

11c

高温高湿（定常）

60512-11-3

C 5402-11-4

C 5402の7.2

11d

温度急変

60512-11-4

C 5402-11-5

−

11e

かびの成長

60512-11-5

C 5402-11-6

C 5402の7.1

11f

腐食，塩水噴霧

60512-11-6

C 5402-11-7

−

11g

混合ガス流腐食

60512-11-7

C 5402-11-8

−

11h

砂じん

60512-11-8

C 5402-11-9

C 5402の7.8

11i

高温

60512-11-9

C 5402-11-10

C 5402の7.9

11j

低温

60512-11-10

C 5402-11-11

C 5402の7.7

11k

減圧

60512-11-11

−

11l

（使用禁止）

−

C 5402-11-12

C 5402の7.4

11m

温湿度サイクル

60512-11-12

C 5402-11-13

−

11n

ガスタイト・無はんだラッピング接続

60512-11-13

−

11o

（使用禁止）

−

C 5402-11-14

−

11p

単一ガス流腐食

60512-11-14

第12部：はんだ付け試験

C 5402-12-1 c)

C 5402の7.11

12a

はんだ付け性，はんだぬれ性（ウェッティング），
はんだ槽法

60512-12-1

C 5402-12-2 c)

C 5402の7.11

12b

はんだ付け性，はんだぬれ性（ウェッティング），
はんだごて法

60512-12-2

−

12c

はんだ付け性，はんだはじき（ディウェッティン
グ）

60512-12-3

C 5402-12-4 c)

C 5402の7.12

12d

はんだ耐熱性，はんだ槽法

60512-12-4

C 5402-12-5 c)

C 5402の7.12

12e

はんだ耐熱性，はんだごて法

60512-12-5

C 5402-12-6

−

12f

自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に
対する封止

60512-12-6

C 5402-12-7

−

12g

はんだ付け性，平衡法

60512-12-7

第13部：機械的動作試験

C 5402-13-1

C 5402の6.12

13a

結合力及び離脱力

60512-13-1

C 5402-13-2

C 5402の6.6

13b

挿入力及び引抜力

60512-13-2

−

13c

廃止

−

13d

廃止

−

C 5402-13-5

C 5402の6.11

13e

極性及びキーイング

60512-13-5

C 5402-1-100：2014

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表1−試験方法規格一覧（続き）

JIS

試験
番号

試験名称

IEC

規格番号

新たなJIS

従来からの

JIS及び箇条番号

第14部：封止（気密性）試験

−

14a

（空き）

−

C 5402-14-2 c)

C 5402の7.6

14b

封止（気密性）（微少エアリーク）

60512-14-2

−

14c

（空き）

−

C 5402-14-4 c)

C 5402の7.5及び
7.6

14d

浸せき，防水

60512-14-4

C 5402-14-5 c)

C 5402の7.6

14e

浸せき，減圧

60512-14-5

C 5402-14-6 c)

C 5402の7.6

14f

インターフェイシャルシーリング

60512-14-6

C 5402-14-7

−

14g

噴射水

60512-14-7

第15部：コネクタ試験（機械的試験）

C 5402-15-1

C 5402の6.15

15a

インサート内のコンタクト保持

60512-15-1

C 5402-15-2

C 5402の6.17

15b

ハウジング内のインサート保持（軸方向）

60512-15-2

C 5402-15-3

C 5402の6.18

15c

ハウジング内のインサート保持（ねじれ方向）

60512-15-3

C 5402-15-4

C 5402の6.19

15d

コンタクトの挿入，解放及び引抜力

60512-15-4

C 5402-15-5

C 5402の6.31

15e

インサート内のコンタクト保持，ケーブルの回転
（nutation）

60512-15-5

C 5402-15-6

C 5402の6.8

15f

コネクタカップリング機構の効果

60512-15-6

−

15g

保護カバーの強度

60512-15-7

C 5402-15-8

C 5402の6.16

15h

コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性

60512-15-8

第16部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験

C 5402-16-1

C 5402の6.5

16a

プローブダメージ

60512-16-1

C 5402-16-2

C 5402の6.20

16b

リストリクテッドエントリ

60512-16-2

C 5402-16-3

C 5402の6.21

16c

コンタクト曲げ強度

60512-16-3

C 5402-16-4

C 5402の6.22

16d

引張強度（圧着接続）

60512-16-4

C 5402-16-5

C 5402の6.4

16e

ゲージ保持力（弾性コンタクト）

60512-16-5

C 5402-16-6

C 5402の6.26

16f

ターミネーション強度

60512-16-6

C 5402-16-7

C 5402の6.23

16g

圧着後のコンタクトの変形測定

60512-16-7

C 5402-16-8 a)

C 5402の6.24

16h

インシュレーショングリップの有効性（圧着接続）

60512-16-8

C 5402-16-9 a)

C 5402の6.25

16i

接地コンタクトスプリングの保持力

60512-16-9

−

16j

（空き）

−

16k

ストリッピングフォース，無はんだラッピング接
続

60512-16-11

C 5402-16-13 a)

−

16m

ラッピングの巻き戻し，無はんだラッピング接続

60512-16-13

−

16n

曲げ強度，固定形おすタブ

60512-16-14

−

16o

（使用禁止）

−

16p

ねじれ強度，固定形おすタブ

60512-16-16

−

16q

引張強度及び圧縮強度，固定形おすタブ

60512-16-17

−

16r

シミュレーションによるコネクタインサート内の
おすコンタクトのふれ

60512-16-18

−

16s

（空き）

−

C 5402-16-20

−

16t

機械的強度（無はんだ接続のターミネーション）

60512-16-20

−

16u

機械的外部応力によるウイスカの試験

60512-16-21

C 5402-1-100：2014

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表1−試験方法規格一覧（続き）

JIS

試験
番号

試験名称

IEC

規格番号

新たなJIS

従来からの

JIS及び箇条番号

第17部：ケーブルクランプ試験

C5402-17-1 a)

C 5402の6.27

17a

ケーブルクランプ強度

60512-17-1

C 5402-17-2 a)

C 5402の6.28

17b

ケーブルクランプ強度（ケーブルの回転）

60512-17-2

−

17c

ケーブルクランプ強度（ケーブルの引張り）

60512-17-3

C 5402-17-4 a)

C 5402の6.29

17d

ケーブルクランプ強度（ケーブルのねじり）

60512-17-4

第18部：爆発による危険性試験

−

第19部：耐化学薬品試験

−

19a

絶縁被覆付クリンプバレルの耐液性

60512-19-1

−

19b

（空き）

−

C 5402-19-3

−

19c

耐液性

60512-19-3

第20部：耐火性試験

−

20a

ニードルフレーム（注射針バーナ）

60512-20-1

C 5402-20-2

−

20b

耐火性

60512-20-2

−

20c

耐火性，グローワイヤ（赤熱棒押付け）

60512-20-3

第21部：高周波抵抗試験

−

21a

高周波シャント抵抗

60512-21-1

第22部：静電容量試験

C 5402-22-1 c)

C 5402の5.12

22a

静電容量

60512-22-1

第23部：シールド試験及びフィルタリング試験

−

23a

（空き）

−

23b

複合フィルタの抑制特性

60512-23-2

C 5402-23-3

−

23c

コネクタ及びアクセサリのシールド効果

60512-23-3

C 5402-23-4

−

23d

時間領域での伝送線路の反射

60512-23-4

−

23e

（空き）

−

23f

（空き）

−

23g

伝達インピーダンス

60512-23-7

第24部：磁気障害試験

−

24a

残留磁気

60512-24-1

C 5402-1-100：2014

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表1−試験方法規格一覧（続き）

JIS

試験
番号

試験名称

IEC

規格番号

新たなJIS

従来からのJIS

及び箇条番号

第25部：シグナルインティグリティ試験

−

25a

クロストーク比

60512-25-1

−

25b

減衰（挿入損失）

60512-25-2

−

25c

立上り時間劣化

60512-25-3

−

25d

伝搬遅延

60512-25-4

−

25e

リターンロス

60512-25-5

−

25f

アイパターン及びジッタ

60512-25-6

C 5402-25-7 c)

C 5402の5.6

25g

インピーダンス，反射係数及び電圧定在波比
（VSWR）

60512-25-7

−

25h

（空き）

−

25i

エイリアンクロストーク

60512-25-9

−

26-100 測定設備，試験及び基準構成並びにIEC 60603-7

によるコネクタの測定−試験26a〜26g b)

60512-26-100

−

27
a〜g b)

500 MHz以下のシグナルインティグリティ試験

60512-27-1〜

60512-27-7 a)

−

27-100

500 MHz以下のシグナルインティグリティ試験−
試験27a〜27g b)（IEC 60603-7シリーズコネクタ
用）

60512-27-100

−

28-100

1 000 MHz以下のシグナルインティグリティ試験
−試験28a〜28g b)（IEC 60603-7及びIEC 61076-3
シリーズコネクタ用）

60512-28-100

−

29-100 500 MHz以下のシグナルインティグリティ試験−

試験29a〜29g b)（M12形コネクタ用）

60512-29-100 a)

−

99-001 リモート電源と接続したツイストペアケーブルに

使用するコネクタ

60512-99-001

注a) これらの規格は，審議中である。

b) 試験a〜gは，次の試験を示す。

a：挿入損失（IL）
b：反射損失（RL）
c：近端クロストーク（NEXT）
d：遠端クロストーク（FEXT）
e：伝達インピーダンス（Zt）
f：横方向変換損失（TCL）
g：横方向伝達変換損失（TCTL）

c) これらの規格は，JISの作成を予定している。

C 5402-1-100：2014

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 5402-1-100:2014 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部：一般−試
験方法規格一覧

IEC 60512-1-100:2012 Connectors for electronic equipment−Tests and measurements
−Part 1-100: General−Applicable publications

(I)JISの規定

(II)
国際規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1 適用範
囲

この規格は，電子機
器用コネクタの試
験規格群の構成に
ついて規定する。

規格の経緯などについて
記述している。

削除

規格の経緯などについての記
述は，不要なので削除している
ため，点線の下線を付けてい
る。

−

2 試験方
法規格一
覧

表1で，電子機器用
コネクタの試験方
法規格一覧を規定

JISと同じ

変更

表形式を変更しただけで，実質
的に技術的差異はない。

−

試験番号25hのIEC規格
番号60512-25-8を削除し
た。

削除

IEC/SC48Bの審議において予
備業務項目（PWI）となってい
るため，実質的に技術的差異は
ない。

−

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60512-1-100:2012，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD…………… 国際規格を修正している。

-1

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。