C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
コンデンサの識別 ················································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 2
1.2 寸法 ···························································································································· 2
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 4
1.8 追加情報（非検査目的） ································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 4
2 検査要求事項 ··················································································································· 5
2.1 手順 ···························································································································· 5
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報
技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改
正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格であ
る。
これによって，JIS C 5101-4-2:1998は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ
評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサ−評価水準
EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
（3）
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JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解コン
デンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解コン
デンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ（予定）
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ（予定）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-4-2：2010
(IEC 60384-4-2：2007)
電子機器用固定コンデンサ−第4-2部：
ブランク個別規格：アルミニウム固体 (MnO2)
電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4-2:
Blank detail specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors
with solid (MnO2) electrolyte−Assessment level EZ
序文
この規格は，2007年に第2版として発行されたIEC 60384-4-2を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
ブランク個別規格
この規格は，品種別通則JIS C 5101-4の補足規格で，個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規
定したものである。これらの要求内容を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみ
なし，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5101-4の1.4に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表に記載してある括弧内の数字は，指定の位置に
記入する，次の事項と対応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び西暦
年
(3) 品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又はIEC規格番号，版及び西暦年
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（個別規格に規定がある場合）
注記 コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのこと
を明記する。
(7) 互換性の上で，重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書としてもよい。
2
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
注記 個別規格に規定する評価水準は，JIS C 5101-4の3.5.4から選定する。
このブランク個別規格の試験の群構成と同じ場合は，個別規格に複数の評価水準を規定し
てもよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会
(1)
個別規格番号
(2)
例 電子機器用固定コンデンサ
第1部：品目別通則
(3)
JIS C 5101-1:2010
例 JIS C 5101-4-2（ブランク個別規格番号） (4)
個別規格の名称
(5)
例 アルミニウム固体電解コンデンサ
構造の説明
(6)
外形図（表1参照。）
(7)
（第三角法）
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい。）
評価水準（複数も可）例 EZ
性能等級 例 長寿命等級
(8)
注記 (1)〜(8)：個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は，品質認証書 (Qualification
approval certificate) に示されている。*
注* この記載は，IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(9)
注記 (9)：コンデンサの識別を参照。
1
一般事項
1.0
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-4を品種別通則とするブランク個別規格で，主に電子機器用の直流回路に用い
る固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサ（以下，コンデンサという。）の評価水準EZについて規
定する。
なお，表面実装用アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサに関する規定事項は含まない。これらの規
定内容は，JIS C 5101-18による。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-4-2:2007，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4-2: Blank detail
specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) electrolyte−Assessment
level EZ (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，一致していることを
示す。
1.1
推奨する取付方法
取付けは，JIS C 5101-4の1.4.2による。
1.2
寸法
外形寸法記号及び寸法は，表1による。
3
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
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表1−外形寸法記号及び寸法
単位 mm
外形寸法記号
寸法
φ
L
H
d
…
注記1 外形寸法記号がない場合は，この表1を削除し，寸法を表2に記載して，それを表1とする。
注記2 寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3
定格及び特性
定格及び特性は，次による。
公称静電容量範囲（表2による。）
公称静電容量許容差
定格電圧（表2による。）
カテゴリ電圧（個別規格に規定がある場合に適用する。）（表2による。）
耐候性カテゴリ
定格温度
定格リプル電流（表3による。）
損失角の正接（表3による。）
注記 損失角の正接 (tan δ) の代わりに，等価直列抵抗ESRをJIS C 5101-4の4.3.3.2によって用い
てもよい。
漏れ電流（表3による。）
インピーダンス（個別規格に規定がある場合）（表3による。）
逆電圧（個別規格に規定がある場合）
絶縁抵抗（絶縁形コンデンサに適用する。）
表2−外形寸法に関連する公称静電容量及び電圧値
定格電圧
V
カテゴリ電圧a)
V
公称静電容量
μF
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
注a) 定格電圧と異なる場合。
表3−漏れ電流，損失角の正接，インピーダンス及び定格リプル電流
UR
V
CN
μF
漏れ電流
… ℃，… V
… Ω，… 分
μA
損失角の正接
… ℃，… Hz
インピーダンス
… ℃，… Hz
（個別規格に規定があ
る場合に適用する。）
Ω
定格リプル電流
… ℃，… Hz
A
4
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.4
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification (IDT)
JIS C 5101-4:2010 電子機器用固定コンデンサ−第4部：品種別通則：アルミニウム固体 (MnO2) 及
び非固体電解コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-4:2007，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4:
Sectional specification−Aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) and non-solid
electrolyte (IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取方式
注記 対応国際規格：IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
1.5
表示
コンデンサの本体及び包装への表示は，JIS C 5101-4の1.6による。
コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定する。
1.6
発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって，少なくとも次の項目を
含む。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) この規格の番号及び発行年並びにコンデンサの種類
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8
追加情報（非検査目的）
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は，表4による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表4−その他の特性
この表は，JIS C 5101-4の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために用いる。
5
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順
品質認証の手順は，JIS C 5101-4の3.4による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画（表5）は，抜取方法，周期，厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの構成
は，JIS C 5101-4の3.5.1による。
表5−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数及び合格判
定数b)
要求性能a)
IL
n
c
群A検査（ロットごと）
副群A0
4.21 大電流サージf)
ND
100 % c)
副群A1
4.2 外観
4.2 寸法（ゲージ法）
ND
S-3d)
d)
0
4.2による。
表示は，明りょうとし，この規格の
1.5による。
この規格の表1による。
副群A2
4.3.1 漏れ電流
4.3.2 静電容量
4.3.3 損失角の正接
(tan δ) 又は等価直列抵
抗 (ESR)
ND
保護抵抗：… Ω
周波数：… Hz
周波数：… Hz
S-3d)
d)
0
4.3.1.2による。
許容差以下
4.3.3.2による。
4.3.4 インピーダンス
f)
周波数：… Hz
個別規格の規定値による。
群B検査（ロットごと）
副群B1
4.6 はんだ付け性e)
D
方法：…
S-3d)
d)
0
端子にはんだが良好に付着してい
るか又は適用する個別規格の項
目を満足する。
副群B2
4.19 高温及び低温特
性
ND
静電容量は，各段階で
測定する。
段階1：20 ℃
インピーダンス（段
階2と同じ周波数）
段階2：カテゴリ下限温
度
インピーダンスf)
S-3d)
d)
0
段階1の値に対して2倍以下
6
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数及び合
格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
群C検査（定期的）
副群C1A
（副群C1の試料の一部）
4.2 寸法（詳細）
D
6
9
0
個別規格の規定による。
4.4.1 初期測定
4.4 端子強度
静電容量
外観
方法：…
厳しさ：…
外観に損傷がない。
4.5 はんだ耐熱性e)
予備乾燥なし。
方法：…
4.5.2 最終測定f)
外観
静電容量
外観に損傷がなく，表示
は，明りょうとする。
4.4.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
副群C1B
（副群C1の残りの試料）
D
6
18 0
4.7.1 初期測定
4.7 温度急変
静電容量
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1＝30 min又は3 h
後処理時間：16 h以上
4.7.3 最終測定
外観
漏れ電流
損失角の正接
インピーダンスf)
外観に損傷がない。
4.3.1による。
4.3.3による。
個別規格の規定値による。
4.8 振動
取付方法：この規格の1.1による。
周波数囲：… Hz〜… Hz
振幅：… mm又は加速度：… m/s2
（いずれか小さい方）
総試験時間：… h
4.8.2 最終測定
外観
静電容量
外観に損傷がなく，表示
は，明りょうとする。
個別規格に規定の場合，
4.7.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
4.9 バンプ又は衝撃
（4.10参照）g)
取付方法：この規格の1.1による。
バンプ回数：…
ピーク加速度：400 m/s2
作用時間：6 ms
4.10 衝撃又はバンプ
（4.9参照）g)
取付方法：この規格の1.1による。
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
7
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数及び合格
判定数b)
要求性能a)
p
n
c
4.9.2又は4.10.2 最終
測定
外観
静電容量
外観に損傷がない。
個別規格に規定がない場合
4.7.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
副群C1
（副群C1A及び副群
C1Bの試料の組合せ）
D
6
27
0
4.11 一連耐候性
4.11.1 高温
4.11.2 温湿度サイク
ル（試験Db），最初
のサイクル
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16 h
4.11.3 低温
4.11.4 減圧（個別規格
に規定がある場合。）
4.11.4.3 要求性能
4.11.5 温湿度サイク
ル（試験Db），残り
のサイクル
4.11.6 封止f)
4.11.7 最終測定
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2 h
気圧：8 kPa
外観
方法：…
外観
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
絶縁破壊，フラッシオーバ又はケース
の有害な変形がない。
外観に損傷がなく，表示は，明りょう
とする。
4.3.1による。
適用する4.5.2，4.9.2又は4.10.2の値
に対して|ΔC/C|は，
長寿命等級≦5 %
一般等級≦10 %
4.3.3の規定値の1.2倍以下
副群C2
4.12 高温高湿（定常）
4.12.1 初期測定
4.12.2 最終測定
D
静電容量
外観
6
9
0
外観に損傷がなく，表示は，明りょう
とする。
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
インピーダンスf)
外部絶縁の絶縁抵抗h)
外部絶縁の耐電圧h)
4.3.1による。
適用する4.12.1の値に対して
長寿命等級
|ΔC/C|≦5 %
一般等級
|ΔC/C|≦10 %
4.3.3の規定値の1.2倍以下
個別規格の規定値の1.2倍以下
≧100 MΩ
絶縁破壊又はフラッシオーバがない。
8
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数及び合格判
定数b)
要求性能a)
p
n
c
副群C3
4.13 耐久性
D
試験時間：… h
温度：カテゴリ上限温
度
印加電圧：… V
後処理時間：16 h以上
3
21
0
個別規格の規定による。
4.13.1 初期測定
静電容量
4.13.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は，明りょう
とする。
漏れ電流
静電容量
4.3.1による。
4.13.1の値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接
インピーダンスf)
外部絶縁の絶縁抵抗h)
外部絶縁の耐電圧h)
4.3.3の規定値の1.2倍以下
4.3.4の規定値の1.2倍以下
≧100 MΩ
絶縁破壊又はフラッシオーバがない。
副群C4A
4.14 サージ
D
回数：1 000回
温度：… ℃
充電電圧：
UR≦315 Vの場合
1.15UR又は1.15UC
315 V＜URの場合
1.10UR又は1.10UC
充電時間：30 s
放置時間：5 min 30 s
12
6
0
4.14.1 初期測定
4.14.3 最終測定
静電容量
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
4.3.1による。
4.14.1の測定値に対して
長寿命等級
|ΔC/C|≦5 %
一般等級
|ΔC/C|≦10 %
4.3.3による。
副群C4B
4.15 逆電圧f)
D
カテゴリ上限温度で
0.15UCの直流電圧を
逆方向に125 h印加
する。
引き続いて，UCの直流
電圧を正方向に125
h印加する。
12
6
0
0
4.15.1 初期測定
4.15.3 最終測定
静電容量
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
4.3.1による。
4.15.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.3.3による。
9
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数及び合格判定
数b)
要求性能a)
p
n
c
副群C5
4.17 高温保存i)
ND
温度：カテゴリ上限温
度
時間：96 h±4 h
後処理時間：16 h以上
6
12
0
4.17.1 初期測定
4.17.3 最終測定
静電容量
外観
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
外観に損傷がない。
4.3.1による。
4.17.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
4.3.3による。
副群C6
4.19 高温及び低温特
性
D
コンデンサを段階順に
測定する。
段階1：20 ℃
6
15
0
静電容量f)
損失角の正接f)
インピーダンス（段階
2と同じ周波数）
段階2：カテゴリ下限
温度
静電容量f)
インピーダンス
比較用に用いる。
比較用に用いる。
4.15.1測定値に対し
|ΔC/C|≦20 %
段階1の測定値に対する2倍以下
損失角の正接f)
段階3：カテゴリ上限
温度
4.3.3の規定値の2倍以下
漏れ電流
4.3.1の規定値に対して
125 ℃（UR）：≦15倍
125 ℃（UC）：≦8倍
105 ℃（UR）：≦12.5倍以下
85 ℃（UR）：≦10倍以下
静電容量f)
段階1に対する値に対して
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接f)
4.3.3による。
4.20 充放電f)
温度：20 ℃
回数：
UR≦160 V：106回
160 V＜UR：検討中
4.20.1 初期測定
静電容量
4.20.3 最終測定
外観
静電容量
外観に損傷がない。
4.20.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
10
C 5101-4-2：2010 (IEC 60384-4-2：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
注a) 試験数及び要求性能は，JIS C 5101-4及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は，次による。
IL＝検査水準，n＝試料数，c＝合格判定数（許容不適合数），p＝周期（月），D＝破壊試験，ND＝非破壊試験
c) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。
抜取水準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視する
ために抜取試料をすべて検査する。抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合
格とするが，不適合品は，品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査
データによって算出する。
d) 試料数 (n) は，JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL) とロットサイズとで割り当てるサンプル文字に
従い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
e) ねじ端子のコンデンサ又は個別規格にはんだ付けを意図しないことを規定している端子には適用しない。
f) 個別規格に規定がある場合に適用する。
g) いずれの試験を適用するか個別規格に規定する。
h) 絶縁形コンデンサに適用する。
i) 試験を副群B1で行う場合は適用されない。個別規格に規定がある場合に適用する。