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C 5101-15-1 : 1998  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。 

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成5年12月31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質

をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認に

ついて,責任はもたない。 

部編成規格 この規格の部編成規格を次に示す。 

JIS C 5101群 電子機器用固定コンデンサ 

JIS C 5101-1 第1部:品目別通則 

JIS C 5101-2 第2部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ 

JIS C 5101-2-1 第2部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム

直流コンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-3 第3部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ 

JIS C 5101-3-1 第3部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-4 第4部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-4-1 第4部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-4-2 第4部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-8 第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類1 

JIS C 5101-8-1 第8部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類1評価水準E 

JIS C 5101-9 第9部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類2 

JIS C 5101-9-1 第9部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類2評価水準E 

JIS C 5101-10 第10部:品種別通則:固定積層磁器チップコンデンサ 

JIS C 5101-10-1 第10部:ブランク個別規格:固定積層磁器チップコンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-11 第11部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ 

JIS C 5101-11-1 第11部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-13 第13部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ(予定) 

JIS C 5101-13-1 第13部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準E(予定) 

JIS C 5101-14 第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 

JIS C 5101-14-1 第14部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準D 

JIS C 5101-15 第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ 

C 5101-15-1 : 1998 まえがき 

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

JIS C 5101-15-1 第15部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水

準E 

JIS C 5101-15-2 第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-15-3 第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E 

JIS C 5101-16 第16部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ(予

定) 

JIS C 5101-16-1 第16部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ

ンサ評価水準E(予定) 

JIS C 5101-17 第17部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ(予定) 

JIS C 5101-17-1 第17部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ評価水準E(予定) 

JIS C 5101-18 第18部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデン

サ(予定) 

JIS C 5101-18-1 第18部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ

評価水準E(予定) 

JIS C 5101-18-2 第18部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水

準E(予定) 

JIS C 5101-20 第20部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直

流コンデンサ(予定) 

JIS C 5101-20-1 第20部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ評価水準EZ(予定) 

C 5101-15-1 : 1998  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

ブランク個別規格 ················································································································· 1 

個別規格の識別 ···················································································································· 1 

コンデンサの識別 ················································································································· 1 

第1章 一般事項 

1. 一般事項 ························································································································ 2 

1.0 適用範囲 ······················································································································ 2 

1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 3 

1.2 寸法 ···························································································································· 3 

1.3 定格及び特性 ················································································································ 3 

1.4 引用規格 ······················································································································ 4 

1.5 表示 ···························································································································· 4 

1.6 発注情報 ······················································································································ 4 

1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4 

1.8 追加情報(非検査目的)·································································································· 4 

1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 5 

第2章 検査要求事項 

2. 検査要求事項 ·················································································································· 5 

2.1 手順 ···························································································································· 5 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格         JIS 

C 5101-15-1 : 1998 

電子機器用固定コンデンサ− 

第15部:ブランク個別規格: 

はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 

評価水準E 

Fixed capacitors for use in electronic equipment 

Part 15 : Blank detail specification : 

Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode 

Assessment level E 

序文 この規格は,1984年初版として発行されたIEC 60384-15-1, Fixed capacitors for use in electronic 

equipment Part15 : Blank detail specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode 

Assessment Level E及びIEC 60384-15のAmendment 1 : 1987を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変

更することなく作成した日本工業規格である。ただし,Amendmentについては,編集し,一体とした。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にない事項である。また,IEC規格番号は,

1997年1月1日より実施のIEC規格新番号体系によるものである。これより前に発行された規格につい

ては,規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切り替える。これは,番号だけの切替えであ

り内容は同一である。 

参考 序文中に,品種別通則の原国際規格IEC 60384-15 Amendment 1を引用したのは,この規格の”

逆電圧”試験方法の修正文が,このAmendmentによるためである。 

ブランク個別規格 

このブランク個別規格は,品種別通則JIS C 5101-15の補足規格で,個別規格の様式及び最小限必要な要

求事項を規定したものである。この規格が規定する要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基

づくものでないものとみなし,そのことを個別規格に記載する。 

個別規格は,品種別通則JIS C 5101-15の1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。 

個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表の数字は,指定の位置に規定する次の事項と対

応している。 

個別規格の識別 

(1) 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称 

(2) 個別規格の国内規格番号,発効年及び国内の制度で要求される追加事項又はIEC規格番号,版及び発

行年 

(3) 品目別通則の国内規格番号及び発効年又はIEC規格番号,版及び発行年 

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号 

コンデンサの識別 

(5) コンデンサの品種についての要約説明 

(6) 代表的な構造の説明(適用する場合) 

備考 コンデンサが,プリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこと

を明記する。 

(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ

の図は,個別規格の附属書としてもよい。 

(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準 

備考 個別規格に規定する評価水準は,品種別通則JIS C 5101-15の3.5.4(評価水準)から選定する。

このブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定して

もよい。 

(9) 重要な特性に関する参照データ 

例 日本工業標準調査会 

(1) 

個別規格番号 

(2) 

例 電子機器用固定コンデンサ 

(3) 

例 JIS C 5101-15-1 

(4) 

第1部:品目別通則:JIS C 

5101-1 : 1998 

QC 300201 

例 はく電極形固定タンタル  

(5) 

非固体電解コンデンサ 

リード線又はタグ端子付き 

(サブファミリ1) 

外形図(表Iによる。)  

(7) 

(第三角法) 

構造の説明: 

(6) 

評価水準(複数可):E 

(8) 

性能等級:例 長寿命等級 

(規定寸法内であれば外形は異なってもよい。)  

備考 QC 300201は,IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。 

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい情報は,品質認証電
子部品一覧表 (QPL) に示されている。(*) 

注(*) この記載は,IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。 

(9) 

第1章 一般事項 

1. 一般事項 

1.0 

適用範囲 この規格は,JIS C 5101-15を品種別通則とするブランク個別規格で,はく電極形固定タ

ンタル非固体電解コンデンサ評価水準Eについて規定する。 

備考 この規格の対応国際規格を次に示す。 

IEC 60384-15-1 : 1994, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 15 : Blank detail 

specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode Assessment 

level E 

IEC 60384-15 Amendment 1 : 1987 

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

1.1 

推奨する取付方法 (挿入用)[品種別通則JIS C 5101-15の1.4.2(取付け)による。] 

1.2 

寸法 

表I 寸法 

外形寸法 

記号 

寸法(ミリメートル又はインチ及びミリメートル) 

φ 

… 

備考1. 外形寸法記号がない場合は,表Iは削除し,寸法は表IIAに記載して表Iと

する。 

2. 寸法は,最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。 
3. 表I以外に説明が必要な場合は,追加する。 

1.3 

定格及び特性 

定格静電容量範囲(表IIAによる。) 

定格静電容量許容差 

定格電圧(表IIAによる。) 

カテゴリ電圧(適用する場合)(表IIAによる。) 

耐候性カテゴリ 

定格温度 

温度による静電容量の変化(表IIBによる。) 

損失角の正接(tanδ)(表IIBによる。) 

漏れ電流(表IIBによる。) 

インピーダンス(適用する場合)(表IICによる。) 

逆電圧(適用する場合) 

表IIA 外形寸法と組み合わせた定格静電容量及び定格電圧の値 

定格電圧 

カテゴリ電圧* 

定格静電容量 

μF 

外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 

注* 

定格電圧と異なる場合 

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表IIB 高温及び低温での特性 

UR 

CR 

静電容量変化率 

最大値 

損失角の正接 

インピーダンス 

(100Hz又は120Hz) 

漏れ電流 

Ω 

μA 

μF 

θA 

θR 

θB 

θA(2) 20℃ θB(2) 

θA 

20℃ 

θR 

θB(1) 

θA=カテゴリ下限温度 
θB=カテゴリ上限温度 
θR=定格温度 

(1) カテゴリ電圧で測定 
(2) 適用する場合 

表IIC インピーダンス...Hz(適用する場合) 

外形寸法記号 

インピーダンス 

Ω 

1.4 

引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

し,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部:品目別通則 

備考 IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification

並びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1989からのすべての

引用事項は,この規格の該当事項と同等である。 

JIS C 5101-15 電子機器用固定コンデンサ−第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解

コンデンサ 

備考 IEC 60384-15 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 15 : Sectional 

specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte並びにAmendment 

1 : 1987及びAmendmemt 2 : 1992が,この規格と一致する。 

JIS Z 9015 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査) 

備考 IEC 60410 : Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用事項

は,この規格の該当事項と一致する。 

1.5 

表示 コンデンサ及び包装の表示は,JIS C 5101-15の1.6(表示)による。 

備考 コンデンサ及び包装への表示は,個別規格に規定する。 

1.6 

発注情報 この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって少なくと

も次の事項を規定する。 

a) 定格静電容量 

b) 定格静電容量許容差 

c) 定格直流電圧 

d) 個別規格の番号及び版並びに種類 

1.7 

出荷対象ロットの成績証明書 要求する。又は要求しない。 

1.8 

追加情報(非検査目的) 

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

1.9 

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 

備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。 

表III その他の特性 

この表は,品種別通則に規定の厳しさに追加又はより厳
しい要求事項を規定するために使用する。 

第2章 検査要求事項 

2. 検査要求事項 

2.1 

手順 

2.1.1 

品質認証の手順は,品種別通則JIS C 5101-15の3.4(品質認証)による。 

2.1.2 

品質確認検査については,試験計画(表IV)にサンプリング方法,周期,厳しさ及び要求性能を

表す。検査ロットの構成は,品種別通則JIS C 5101-15の3.5.1(検査ロットの構成)による。 

表IV 品質確認検査の試験計画 

備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,品種別通則JIS C 5101-15及びこの規格の第1章による。 

2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015から選定する。 
3. 表中の記号は,次による。 

=周期(月) 

=試料数 

=合格判定個数(許容不良数) 

=破壊試験 

ND =非破壊試験 

IL =検査水準 

JIS Z 9015 

AQL =合格品質水準 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

IL 

AQL 

要求性能 

(備考2.参照) 

(備考1.参照) 

群A検査 

(ロットごと) 

副群A1 

ND  

S-4 

2.5% 

4.1 外観 

4.1による。 
表示が明りょうでありその
他この規格の1.5の規定によ
る。 

4.2 寸法(ゲージ法) 

表Iによる。 

副群A2 

ND  

II 

1.0% 

4.2.1 漏れ電流 

保護抵抗: 

≤...μA 

...Ω 

表IIBによる。 

4.2.2 静電容量 

周波数:...Hz 

規定の許容差以内 

4.2.3 損失角の正接 

周波数:...Hz 

≤...,表IIBによる。 

4.2.4 インピーダンス 

(適用する場合) 

周波数:...Hz 

≤...Ω,表IICによる。 

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

IL 

AQL 

要求性能 

(備考2.参照) 

(備考1.参照) 

群B検査 

(ロットごと) 

副群B1 

D  

S-3 

2.5% 

4.5 はんだ付け性 

エージングなし 
方法:... 

端子にはんだが良好に付着
しているか,又ははんだ小球
法の場合は規定の...秒以内
にはんだが流れる。 

副群B2 

ND  

S-3 

2.5% 

4.15 高温及び低温特性 

(要求ある場合) 

コンデンサは,各温度段階で測
定する。 

段階1:20℃ 

漏れ電流 
静電容量 
損失角の正接 
インピーダンス*(段階2と
同じ周波数) 

比較値として使用する。 

段階2:カテゴリ下限温度 

静電容量 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接* 

≤...** 

インピーダンス* 

≤...Ω** 

段階3:定格温度 

漏れ電流 

≤...μA** 

静電容量 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接* 

≤...** 

段階4:カテゴリ上限温度 

漏れ電流 

≤...μA** 

静電容量 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接* 

≤...** 

注* 

適用する場合 

** 表IIBによる。 

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表IV 品質確認検査の試験計画(続き) 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び合格判定 

要求性能 

個数(備考3.参照) 

(備考1.参照) 

群C検査 
(定期的) 

  

副群C1A 

D  

  

副群C1の試料の一部 

  

4.3.1 初期測定 

静電容量 

  

4.3 端子強度 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 

4.4 はんだ耐熱性 

方法:... 

  

4.4.2 最終測定 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 
表示が明りょうである。 

副群C1B 

D  

18 

  

副群C1の残りの試料 

  

4.6.1 初期測定 

静電容量 

  

4.6 温度急変 

θA=カテゴリ下限温度 
θB=カテゴリ上限温度 

5サイクル 
試験時間t=30min 
後処理:16h 

  

4.6.3 最終測定 

漏れ電流 

 ≤...μA** 

表IIBによる。 

静電容量 

 4.6.1の測定値の 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接 

 ≤... 

表IIBによる。 

4.7 振動 

取付方法:この規格の1.1によ
る。 

  

手順B4 

  

周波数範囲: 

...Hzから...Hz 

  

振幅:...mm又は 

加速度:...m/s2 
のいずれか緩い方。 

  

試験時間:...h 

  

4.7.2 最終検査 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 

4.8 バンプ(又は4.9衝撃に
よる。) 

取付方法:この規格の1.1によ
る。 
バンプの回数:... 
ピーク加速度:390m/s2 
作用時間:6ms 

  

4.9 衝撃(又は4.8バンプに
よる。) 

取付方法:この規格の1.1によ
る。 
ピーク加速度:...m/s2 
作用時間:...ms 

  

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C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び合格判定 

要求性能 

個数(備考3.参照) 

(備考1.参照) 

4.8.2又は4.9.2 
    最終測定 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 

副群C1 

D  

27 

副群C1A及びC1Bの試料を
合わせた試料 

  

4.10 一連耐候性 

  

4.10.1 初期測定 

静電容量 

  

4.10.2 高温 

温度:カテゴリ上限温度 

  

試験時間:16h 

  

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 

4.10.3 温湿度サイクル 

(12+12時間サイク
ル),最初のサイクル 

  

4.10.4 低温 

温度:カテゴリ下限温度 

  

試験時間:2h 

  

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 

4.10.5 減圧(個別規格で要
求がある場合) 

気圧:8.5kPa 

  

4.10.5.3 中間測定 

外観 

 外装に破損,フラッシュオー

バ又は著しい変形がない。 

4.10.6 温湿度サイクル 

(12+12時間サイク
ル),残りのサイクル 

  

4.10.7 封止(個別規格で要
求がある場合) 

方法:... 

 選定した方法による。 

4.10.8 最終測定 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 
表示が明りょうである。 

漏れ電流 

 ≤初期規定値 

静電容量 

C

C

⊿: 

 長寿命等級: 

4.10.1の測定値に対する

≤5%及び 

4.3.1又は4.6.1のどちらか
適用される測定値に対す
る≤8% 

 一般等級: 

4.10.1の測定値に対する

≤12% 

損失角の正接 

 ≤初期規定値の1.15倍 

background image

C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び合格判定 

要求性能 

個数(備考3.参照) 

(備考1.参照) 

副群C2 

D  

4.11 高温高湿 

(定常) 

  

4.11.1 初期測定 

静電容量 

  

4.11.2 最終測定 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 
表示が明りょうである。 

漏れ電流 

 ≤初期規定値 

静電容量 

C

C

⊿: 

 長寿命等級: 

4.11.1の測定値に対する

≤5% 

 一般等級: 

4.11.1の測定値に対する

≤12% 

損失角の正接 

 ≥初期規定値の1.15倍 

外部絶縁の絶縁抵抗 
(適用する場合) 

 ≤100MΩ 

名部絶縁の耐電圧 
(適用する場合) 

 絶縁破壊又はフラッシュオ

ーバがない。 

副群C3 

D  

24 

4.12 耐久性 

試験時間:...h 

  

試験温度:...℃ 
(適用する場合) 

  

試験電圧:...V 

  

試験後の放置時間:16h 

  

4.12.1 初期測定 

静電容量 

  

4.12.3 最終測定 

外観 

 損傷がない。 

表示が明りょうである。 

漏れ電流 

 ≤初期規定値の1.25倍 

静電容量 

 4.12.1の測定値に対する 

C

C

⊿: 

注* 

適用する場合 

損失角の正接 

 ≤初期規定値の1.3倍 

background image

10 

C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び合格判定 

要求性能 

個数(備考3.参照) 

(備考1.参照) 

副群C4A 

D  

12 

  

4.13 サージ 

サイクル数:1 000 

  

温度:...℃ 

  

保護抵抗: 

1 000Ω±10% 

  

充電時間:30s 

  

放電時間:5min30s 

  

4.13.1 初期測定 

静電容量 

  

4.13.3 最終測定 

漏れ電流 

 ≤初期規定値 

静電容量 

 4.13.1の測定値に対する 

%

5

C

C

損失角の正接 

 ≤初期規定値の1.15倍 

副群C4B 

D  

12 

1  

4.14 逆電圧 
   (適用する場合) 

逆極性に125h,...Vを定格温度
で,引き続いて正極性に125h
定格電圧を定格温度で印加す
る。 

  

4.14.1 初期測定 

静電容量 

  

4.14.3 最終測定 

漏れ電流 

 ≤初期規定値の1.25倍 

静電容量 

 4.14.1の測定値の 

%

10

C

C

損失角の正接 

 ≤初期規定値の1.15倍 

副群C5 

D  

15 

4.15 高温及び低温特性*** 

コンデンサを各温度段階で測
定する。 

  

段階1:20℃ 

比較値として使用する。 

漏れ電流 

静電容量 

損失角の正接 

インピーダンス*(段階2と
同じ周波数) 

段階2:カテゴリ下限温度 

  

静電容量 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接* 

 ≤...** 

インピーダンス* 

 ≤...Ω** 

段階3:定格温度 

  

漏れ電流 

 ≤...μA** 

静電容量 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接* 

 ≤...** 

段階4:カテゴリ上限温度 

  

漏れ電流 

 ≤...μA** 

静電容量 

C

C

⊿≤...%** 

損失角の正接* 

 ≤...** 

background image

11 

C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験項目 

(備考1.参照) 

又は 

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び合格判定 

要求性能 

個数(備考3.参照) 

(備考1.参照) 

4.16 充放電 
  (要求がある場合) 

温度:20℃ 

  

サイクル数:106 

  

充電時間:0.5s 

  

充電抵抗:...Ω 

  

放電時間:0.5s 

  

放電抵抗:...Ω 

  

4.16.1 初期測定 

静電容量 

  

4.16.3 最終測定 

外観 

 損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 

静電容量 

 4.16.1の測定値に対する 

%

10

C

C

損失角の正接 

 ≤初期規定値 

注* 

適用する場合 

** 表IIBによる。 

*** 試験を群B2で行う場合は適用しない。 

12 

C 5101-15-1 : 1998  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表 

氏名 

所属 

(委員長) 

平 山 宏 之 

東京都立科学技術大学 

(委員) 

吉 田 裕 道 

東京都立工業技術センター 

中 西 忠 雄 

防衛庁装備局 

岩 田   武 

村 岡 桂次郎 

竹田原 昇 司 

通商産業省機械情報産業局電子機器課 

藤 井 隆 宏 

工業技術院標準部電気規格課 

福 原   隆 

沖電気工業株式会社 

勝 田 明 彦 

株式会社ケンウッド 

山 本 克 己 

ソニー株式会社 

西 林 和 男 

株式会社東芝 

清 水 正 弘 

日本電気株式会社 

大 平 昌 司 

松下通信工業株式会社 

三 宅 敏 明 

松下電器産業株式会社 

山 本 佳 久 

三菱電機株式会社 

三 宅 邦 彦 

松尾電機株式会社 

白 井 洋 一 

日通工株式会社 

尾 村 博 幸 

日本ケミコン株式会社 

川 井 一 成 

ルビコン株式会社 

曽我部 浩 二 

株式会社村田製作所 

秦   考 生 

松下電子部品株式会社 

江 口 正 則 

東京コスモス電機株式会社 

会 田   洋 

東光株式会社 

山 本 圭 一 

進工業株式会社 

(事務局) 

塚 田 潤 二 

社団法人日本電子機械工業会 

高 梨 健 一 

社団法人日本電子機械工業会 

JIS C 5101-15 (JIS C 5142) 分科会 構成表 

氏名 

所属 

(主査) 

三 宅 邦 彦 

松尾電機株式会社 

(委員) 

北 島 義 正 

日本電気株式会社 

高 久 侑 也 

エルナー株式会社 

山 内 良 夫 

株式会社高純度物質研究所 

井 二   仁 

三洋電機株式会社 

鵜 沢 一 夫 

ニチコン株式会社 

尾 村 博 幸 

日本ケミコン株式会社 

飯 田 和 幸 

日立エーアイシー株式会社 

山 崎   正 

富士通東和エレクトロン株式会社 

栗 林 孝 志 

松下電子部品株式会社 

小 松 間兵衛 

マルコン電子株式会社 

村 岡 桂次郎 

(事務局) 

塚 田 潤 二 

社団法人日本電子機械工業会 

高 梨 健 一 

社団法人日本電子機械工業会