JISC3660-202:2019 電気・光ファイバケーブル－非金属材料の試験方法－第２０２部：一般試験

C 3660-202：2019 (IEC 60811-202：2012，Amd.1:2017)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 用語及び定義 ··················································································································· 1

4 試験方法························································································································· 2

4.1 一般 ···························································································································· 2

4.2 測定器具 ······················································································································ 2

4.3 試料及び試験片の準備 ···································································································· 2

4.4 測定手順 ······················································································································ 2

4.5 測定結果の評価 ············································································································· 3

5 試験報告書 ······················································································································ 3

C 3660-202：2019 (IEC 60811-202：2012，Amd.1:2017)

（2）

まえがき

この規格は，産業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電線工業会（JCMA）及び

一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出があ

り，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本産業規格である。これによって，JIS

C 3660-1-1:2003は廃止され，その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 3660の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 3660-100 第100部：一般事項

JIS C 3660-201 第201部：一般試験−絶縁体厚さの測定

JIS C 3660-202 第202部：一般試験−非金属シース厚さの測定

JIS C 3660-203 第203部：一般試験−仕上寸法の測定

JIS C 3660-301 第301部：電気試験−充塡コンパウンドの23 ℃における誘電率の測定

JIS C 3660-302 第302部：電気試験−充塡コンパウンドの23 ℃及び100 ℃における直流抵抗率の測

定

JIS C 3660-401 第401部：各種試験−加熱老化試験方法−エアオーブンによる加熱老化

JIS C 3660-402 第402部：各種試験−耐水性試験

JIS C 3660-403 第403部：各種試験−架橋コンパウンドのオゾン試験

JIS C 3660-404 第404部：各種試験−シースの耐油試験

JIS C 3660-405 第405部：各種試験−PVC絶縁体及びPVCシース材料の熱安定性試験

JIS C 3660-406 第406部：各種試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの耐環境応力亀

裂性試験

JIS C 3660-407 第407部：各種試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの質量増加率

JIS C 3660-408 第408部：各種試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの長期安定性試

験

JIS C 3660-409 第409部：各種試験−熱可塑性絶縁体及びシース材料の加熱減量試験

JIS C 3660-410 第410部：各種試験−銅導体を被覆するポリオレフィン絶縁材料の銅触媒による酸化

劣化試験

JIS C 3660-411 第411部：各種試験−充塡コンパウンドの低温ぜい化

JIS C 3660-412 第412部：各種試験−加熱老化試験方法−加圧空気による加熱老化

JIS C 3660-501 第501部：機械試験−絶縁体及びシース用コンパウンドの機械的特性試験

JIS C 3660-502 第502部：機械試験−絶縁体の収縮試験

JIS C 3660-503 第503部：機械試験−シースの収縮試験

JIS C 3660-504 第504部：機械試験−絶縁体及びシースの低温曲げ試験

JIS C 3660-505 第505部：機械試験−絶縁体及びシースの低温伸び試験

C 3660-202：2019 (IEC 60811-202：2012，Amd.1:2017)

（3）

JIS C 3660-506 第506部：機械試験−絶縁体及びシースの低温衝撃試験

JIS C 3660-507 第507部：機械試験−架橋した材料のホットセット試験

JIS C 3660-508 第508部：機械試験−絶縁体及びシースの加熱変形試験

JIS C 3660-509 第509部：機械試験−絶縁体及びシースの巻付加熱試験

JIS C 3660-510 第510部：機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−加

熱による前処理後の巻付試験

JIS C 3660-511 第511部：機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドのメルトフロー

インデックスの測定

JIS C 3660-512 第512部：機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−加

熱による前処理後の引張強さ及び破断時の伸び試験

JIS C 3660-513 第513部：機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−前

処理後の巻付試験

JIS C 3660-601 第601部：物理試験−充塡コンパウンドの滴下点の測定

JIS C 3660-602 第602部：物理試験−充塡コンパウンドの油分離

JIS C 3660-603 第603部：物理試験−充塡コンパウンドの全酸価の測定

JIS C 3660-604 第604部：物理試験−充塡コンパウンド中の腐食成分試験

JIS C 3660-605 第605部：物理試験−ポリエチレンコンパウンド中のカーボンブラック及び無機充塡

剤の含有量測定

JIS C 3660-606 第606部：物理試験−密度測定法

JIS C 3660-607 第607部：物理試験−ポリエチレン及びポリプロピレン中のカーボンブラック分散測

定方法

日本産業規格 JIS

C 3660-202：2019

(IEC 60811-202：2012，Amd.1：2017)

電気・光ファイバケーブル−

非金属材料の試験方法−第202部：一般試験−

非金属シース厚さの測定

Electric and optical fibre cables-Test methods for non-metallic materials-

Part 202: General tests-Measurement of thickness of non-metallic sheath

序文

この規格は，2012年に第1版として発行されたIEC 60811-202及びAmendment 1:2017を基に，技術的

内容を変更することなく作成した日本産業規格である。ただし，追補（amendment）については，編集し，

一体とした。

適用範囲

この規格は，電線，光ファイバ及びそれらからなるケーブルに用いるシース用コンパウンド（架橋コン

パウンド，ポリ塩化ビニル，ポリエチレン，ポリプロピレンなど）の非金属シース厚さの測定方法につい

て規定する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60811-202:2012，Electric and optical fibre cables−Test methods for non-metallic materials−Part

202: General tests−Measurement of thickness of non-metallic sheath及びAmendment 1:2017

（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用

規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 3660-100 電気・光ファイバケーブル−非金属材料の試験方法−第100部：一般事項

注記対応国際規格：IEC 60811-100:2012，Electric and optical fibre cables−Test methods for

non-metallic materials−Part 100: General

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 3660-100の箇条3による。

C 3660-202：2019 (IEC 60811-202：2012，Amd.1:2017)

試験方法

4.1

一般

この規格は，JIS C 3660-100と併せて用いる。

シース厚さの測定は，それ単独の試験として行うか，又は他の試験を実施する過程で，例えば，機械的

特性を測定する場合などに行う。この試験方法は，厚さの許容差が規定されるシース，例えば，外部シー

スと同様に内部シースの測定にも適用する。

いずれの場合でも，試料の抜取方法は，関連ケーブル規格による。

4.2

測定器具

測定器具は，マイクロスコープ，10倍以上の倍率をもつ投影器，又は光学式デジタル画像解析装置を用

いる。これらの測定器具は0.01 mmまで読み取れるものとする。ただし，シース厚さの規格値が0.5 mm

以下の場合は，小数点以下3桁まで読み取ることができる測定器具とする。

シースが，波形の金属シースのように長さ方向に不均一な表面に施された場合は，先端に曲率半径1 mm

の球面の測定子をもち，0.01 mmまで読み取れるマイクロメータを用いる。この方法は，波形形状の曲率

半径が1 mm以上の場合にだけ適用することができる。

測定に疑義が生じた場合は，マイクロスコープによって測定する。

4.3

試料及び試験片の準備

4.3.1

長手方向に平滑な表面をもつシースの場合

シースの内部及び外部にある全ての材料を取り除いた後，ケーブルの軸に垂直な断面に沿い適切な道具

を用いて薄く切断し，試験片を作成する。

シースに表示が刻印されて，部分的に厚さの減少を生じている場合，試験片は，その刻印表示部を含む

ように採取する。

4.3.2

長手方向に不均一な表面をもつシースの場合

ケーブルの下層テープによって形成される厚さ変動の少なくとも1周期分を含む長さのシースの短冊を

採取する。

球形状の測定子をもつマイクロメータを用いる場合は，全体を採取する。投影機又はマイクロスコープ

を用いる場合は，6枚の薄いスライス片をケーブルの長さ方向に沿って採取する。

4.3.3

波形の金属シース上に施されたシースの場合

完成ケーブルを巻いたドラムの巻終わり端より500 mmの部分から，二つの山部及び谷部を含む長さの

試料を採取する。シース外表面上に長さ方向に平行な基準線を描く。最小厚さの位置を試料端の切断面よ

り求める。続いて，ケーブルの長さ方向に沿って，最小厚さの位置を含むように試験片を採取する（最小

厚さの位置は，初めに描いた基準線から求める。）。

4.4

測定手順

試験片は，測定器具の光軸に対して断面が垂直なるように置き，次のように測定する。

a) 試験片の断面の内側が円形の場合は，図1のように半径方向に約60 °ごとに6か所を測定する。

b) 断面の内側が不規則な形状か，又は平滑でない場合は，図2のように半径方向にシースが薄い部分の

6か所を測定する。

c) 断面の内側が線心によって深い溝ができている場合には，図3のように線心によって作られた溝の底

部を半径方向に測定する。

溝の数が6か所を超えるときは，b)を採用する。

d) 保護テープ，波形形状シースなどシースの外表面が平滑でない場合は，その影響を取り除くため，図

C 3660-202：2019 (IEC 60811-202：2012，Amd.1:2017)

4のように測定する。

e) シース付き平形ケーブルの場合は，図5のように，各線心の位置で断面の短径及び長径にほぼ平行な

線上で測定する。いずれの場合でも，最も薄い位置を測定する。

6線心以下のシース付き平形ケーブルの場合は，図6のように，次を測定する。

− 断面の長径に沿った両端の円形部分を測定する。

− 両端にある線心について平面部分のシース厚さを測定する。それぞれの線心について反対側のシー

ス厚さも測定し最小値を採用する。

6線心を超えるケーブルについても上記の方法を適用するが，偶数線心の場合は，二つの中央線心

のいずれか一つを，奇数線心の場合は，中央線心を追加して測定する。

g) 長さ方向に表面が平滑でないケーブルの場合は，4.3.2に基づいて試料を採取し，先端に曲率半径1 mm

の測定子をもつマイクロメータで測定を行い，最小厚さを求める。または，4.3.2に基づき長手方向に

6枚の薄い試験片を採取し，最小厚さを求めるために光学的に測定を行う。

h) 波形形状の金属シースをもつケーブルの場合は，4.3.3に基づき長手方向に山部及び谷部をそれぞれ2

か所以上含むように試験片を採取し，4か所測定する。

シースに刻印表示が施されている場合は，平均厚さの計算には，その測定値を含めない。このような場

合は，刻印表示の影響を受けない別の試料片を採取して測定する。

測定値は，ミリメートル（mm）単位で小数点以下2桁を読み取る。

いずれの場合でも，刻印表示が施されている位置の厚さは，関連ケーブル規格に規定する最小厚さの要

求値を満足しなければならない。

4.5

測定結果の評価

結果の評価は，関連ケーブル規格の規定による。

試験報告書

試験報告書は，JIS C 3660-100に従って作成する。