2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

B 7995-1994 

原油及び石油製品中の硫黄分 

自動計測器 

Automatic analysers for sulphur in crude oil 

and petroleum products 

1. 適用範囲 この規格は，原油及び石油製品中の硫黄分を放射線を用いて測定する自動計測器（以下，

計測器という。）について規定する。 

備考1. この規格における原油及び石油製品とは揮発分が少ない原油，軽油，重油などで，硫黄分が

0.01質量%〜4質量%のものをいう。 

2. 卓上形測器の使用方法は，JIS K 2541に規定する放射線式硫黄分試験方法による。 

また，定置形計測器の使用方法は，計測器の取扱説明書によるが，この測定値を品質証明

に用いようとする場合はJIS K 2541の放射線式硫黄分試験方法に規定する精度以内でなけれ

ばならない。 

3. 計測器に用いる放射線の取扱いは，関連法令による。 

4. この規格の引用規格を，次に示す。 

JIS C 1302 絶縁抵抗計 

JIS K 0050 化学分析方法通則 

JIS K 0068 化学製品の水分測定方法 

JIS K 2203 灯油 

JIS K 2275 原油及び石油製品水分試験方法 

JIS K 2541 原油及び石油製品−硫黄分試験方法 

JIS Z 4001 原子力用語 

JIS Z 8103 計測用語 

JIS Z 8202 量記号，単位記号及び化学記号 

5. この規格の中で { } を付けて示してある単位及び数値は，従来単位系によるものであって，

参考として併記したものである。 

2. 用語の定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次に示すもののほか，JIS K 0050, JIS Z 4001, JIS Z 

8103及びJIS Z 8202による。 

(1) ゼロ校正液 計測器の最小目盛値（硫黄分0.00質量%表示値）を校正するのに用いる液。 

(2) スパン校正液 計測器の最大目盛値（卓上形計測器の場合は，硫黄分4質量%とする。）を校正するの

に用いる液。 

(3) 校正液 計測器の目盛範囲の中間点付近の硫黄分表示値又は任意の硫黄分表示値を検査するための液。 

2 

B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(4) 炭素水素比（以下，C/Hという。） 原油及び石油製品中の炭素と水素との質量比。 

(5) C/H試験液 励起式計測器において，試料中のC/Hが測定値に及ぼす影響を試験するための試験液。 

(6) セル間誤差 卓上形計測器において，セルの窓材の厚さの違いに伴う誤差。 

(7) 応答試験液 定置形計測器において，応答時間を測定するための試験液。 

(8) 重金属試験液 透過式計測器において，試料中の重金属が測定値に及ぼす影響を試験するための試験

液で，重金属として鉄を用いる。 

(9) 平行測定誤差 試験において，人・日時・計測器のすべてが同じ場合の測定の誤差。 

3. 計測器の種類 計測器の種類は，測定原理及び形式によって分類し，表1に示す3種類とする。 

表1 計測器の種類 

測定原理による分類 

形式による分類 

励起式 

卓上形(1) 
定置形(2) 

透過式 

定置形(2) 

注(1) 卓上形計測器は，主に実験室に設置し，各種の試料

を間欠的に測定する場合に用いる。 

(2) 定置形計測器は，連続的に測定する場合に用いる。 

4. 励起式計測器 

4.1 

測定原理 励起式は，X線管又は放射性同位元素から出される放射線を試料に照射したときに硫黄

原子が発する2.3keV程度の蛍光X線などの強度を測定し，試料中の硫黄分を求める。 

4.2 

励起式卓上形計測器 

4.2.1 

性能 励起式卓上形計測器の性能は，次による。計測器は原油及び石油製品中の硫黄分を間欠的に

測定するための適切な機能をもち，4.2.3で試験を行ったとき，表2の規定に適合しなければならない。 

表2 励起式卓上形計測器の性能 

項目 

性能 

平行測定誤差 

硫黄分0.01質量%＋0.01S以下 

ゼロドリフト 

硫黄分0.01質量%以下 

スパンドリフト 

硫黄分0.01質量%＋0.015S以下 

検量線の直線性誤差 

硫黄分0.02質量%＋0.05S以下 

セル間誤差 

硫黄分0.02質量%＋0.02S以下 

電源電圧10%変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.01S以下 

周囲温度5℃変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.015S以下 

C/H1.0変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.02S以下 

耐電圧 

異常を生じてはならない 

絶縁抵抗 

5MΩ以上 

備考 Sは，試験に用いる校正液及び試験液の硫黄分（質量%）とする。 

4.2.2 

計測器の構成 励起式卓上形計測器の構成は，次による。 

なお，計測器は，線源，試料セル，放射線検出器，演算表示部などで構成し，その構成例を図1に示す。 

備考 計測器は，通常の使用状態で危険が生じるおそれがなく，十分な耐久性をもち，形状が正しく，

組立てが良好で容易に機械的・電気的な故障を生じないものでなければならない。 

3 

B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

図1 励起式卓上形計測器の構成例 

(1) 線源 線源は，密封された放射性同位元素又はX線管で，測定に適するエネルギーの放射線を放射す

るものであり，線源が正常に装着された状態では，放射線の漏れは関係法令に定める線量以下でなけ

ればならない。 

(2) 試料セル 試料セルは，石油類及び溶媒に耐性がある材質のものを用い，窓には放射線の吸収が少な

い材料，例えば雲母，ポリエステル(3)，金属ベリリウムなどを用いる。 

注(3) 厚さは，10μ以下で，試料セルごとの厚さの変化は，±15%以下とする。 

備考 揮発性の試料を取り扱うものは，試料の蒸発を防止し，かつ，蒸気圧による窓の変形防止対策

がとれる構造でなければならない。 

(3) 放射線検出器 放射線検出器は，入射放射線を電気信号に変換するもので，一般には比例計数管を用

いる。 

備考 比例計数管は入射放射線のエネルギーに比例した波高値のパルス信号をその強さに比例して発

生するものでなければならない。 

(4) 演算表示部 演算表示部は放射線検出器からの信号を処理し，硫黄分を小数点以下3けた以上表示又

は記録できなければならない。 

4.2.3 

性能試験方法 励起式卓上形計測器の性能試験方法は，次による。 

(1) 試験条件 (3)試験方法で試験条件を規定していない場合は，次の試験条件で行う。 

(a) 周囲温度 10〜30℃の間の任意の温度とする。ただし，試験中に±2℃以上変化してはならない。 

(b) 湿度 45〜85%までの間の任意の相対湿度とする。 

(c) 大気圧変化 大気圧の変化幅は20hPa {mbar}(4)以下とする。 

注(4) 1bar＝105Paである。 

(d) 電源電圧 定格電圧±2%とする。 

(e) 電源周波数 定格周波数±0.2Hzとする。 

(f) 暖機時間 1時間以上とする。 

(g) 測定値の求め方 1個の読取り値（デジタル値又はプリンター値）を求め，これを測定値とする。 

(2) 試験液その他 

(a) C/H試験液 附属書によって調製したものとする。 

4 

B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(b) ゼロ校正液，スパン校正液及び校正液 確黄分0.00質量%，4質量%及び任意の硫黄分の軽油若し

くは重油(5)又は附属書によって調製したものとする。 

注(5) 硫黄分の確定は，JIS K 2541に規定する燃焼管式硫黄分試験方法の空気法による。 

参考 社団法人石油学会で硫黄分標準値を認定した硫黄分標準試料があるので，これを用いてもよい。 

(3) 試験方法 計測器の試験方法は，次による。 

なお，計測器は，各試験に先立ってゼロ校正液及びスパン校正液を用い，計測器の取扱説明書に記

載する方法でゼロ表示値及びスパン表示値の校正を行っておく。ただし，(i)，(j)の試験を行う場合は

この校正操作を省略してもよい。 

(a) 平行測定誤差試験 1個の試料セルに校正液を所定量入れ，連続して10回硫黄分を測定する。この

10個の測定値の最大値と最小値との差を平行測定誤差とする。 

(b) ゼロドリフト試験 1個の試料セルにゼロ校正液を所定量入れ，連続して10回硫黄分を測定し，そ

の測定値を平均する。同一セルで以後4時間にわたり約1時間ごとに同様の測定を繰り返し，平均

値5個を求める。この平均値の最大値と最小値との差をゼロドリフトとする。 

(c) スパンドリフト試験 1個の試料セルにスパン校正液を所定量入れ，連続して10回硫黄分を測定し，

その測定値を平均する。同一セルで以後4時間にわたり約1時間ごとに同様の測定を繰り返し，平

均値5個を求める。この平均値の最大値と最小値の差をスパンドリフトとする。 

(d) 検量線の直線性誤差試験 1個の試料セルに校正液を所定量入れ，連続して10回硫黄分を測定し，

その測定値を平均する。この平均値と校正液の硫黄分確定値との差を検量線の直線性誤差とする。 

(e) セル間誤差試験 5個の試料セルに校正液を所定量入れ，それぞれ連続して10回ずつ硫黄分を測定

した後，セルごとに測定値を平均する。このセルごとの平均値の最大値と最小値との差をセル間誤

差とする。ただし，セルの窓材は同じロットのものを使用する。 

(f) 電源電圧10%変化時の測定値変化試験 1個の試料セルにスパン校正液を所定量入れ，連続して10

回硫黄分を測定し，その測定値を平均してAとする。次に電源電圧を定格電圧の110%の電圧に徐々

に変化させ，計測器が安定した後，同様の測定を繰り返し，その測定値を平均してBとする。更に

電源電圧を定格電圧の90%の電圧に徐々に変化させ，計測器が安定した後，同様の測定を繰り返し，

その測定値を平均してCとする。電源電圧に対する影響は，BからAを減じた値及びCからAを

減じた値で求め，これらの絶対値を電源電圧10%変化時の測定値変化とする。 

(g) 周囲温度5℃変化時の測定値変化試験 1個の試料セルにスパン校正液を所定量入れ，連続して10

回硫黄分を測定し，その測定値を平均する。次に周囲温度を10〜30℃の間で5℃以上変える。計測

器が安定した後，同一セルを用い同様の測定を繰り返して平均値を求める。この平均値と周囲温度

を変化させる前の平均値との差を5℃当たりに換算してこれを周囲温度5℃変化時の測定値変化と

する。 

(h) C/H1.0変化時の測定値変化試験 5個の試料セルにC/H試験液Aを所定量入れ，それぞれ連続して

10回ずつ硫黄分を測定し，50個の全測定値を平均する(6)。次に5個の試料セルにC/H試験液Bを

所定量入れ，それぞれ連続して10回ずつ硫黄分を測定し，50個の全測定値を平均する(6)。C/H試

験液Aの硫黄分平均値とC/H試験液Bの硫黄分平均値との差をC/H1.0当たりに換算して，これを

C/H1.0変化時の測定値変化とする。 

注(6) 全測定値を平均する前に(e)によってセル間に誤差がないことを確認しなければならない。 

(i) 耐電圧試験 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱との間に定格周波数の交流電圧

1 000Vを1分間加えて異常の有無を調べる。 

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(j) 絶縁抵抗試験 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱との間の絶縁抵抗をJIS C 

1302に規定する500V絶縁抵抗計で測定する。 

備考 4.2.3(3)(i)，(j)の試験は，計測器への供給電源を遮断した状態で行う。 

4.3 

励起式定置形計測器 

4.3.1 

性能 励起式定置形計測器の性能は，次による。計測器は原油及び石油製品中の硫黄分を連続的に

測定するための適切な機能をもち，4.3.3で試験を行ったとき，表3の規定に適合しなければならない。 

表3 励起式定置形計測器の性能 

項目 

性能 

繰返し測定誤差 

硫黄分0.01質量%＋0.01FS以下 

ゼロドリフト 

硫黄分0.01質量%＋0.01FS以下 

スパンドリフト 

硫黄分0.01質量%＋0.015FS以下 

検量線の直線性誤差 

硫黄分0.02質量%＋0.05FS以下 

電源電圧10%変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.01FS以下 

周囲温度5℃変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.015FS以下 

C/H 1.0変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.02FS以下 

試料切換後の90%応答時間 

10分以内 

耐電圧 

異常を生じてはならない 

絶縁抵抗 

2MΩ以上 

備考 FSは，計測器の最大目盛値（質量%）である。 

4.3.2 

計測器の構成 励起式定置形計測器の構成は，次による。 

なお，計測器は試料セル，放射線検出器，演算表示部などで構成し，その構成例を図2に示す。 

備考 計測器は，通常の使用状態において，危険を生じるおそれがなく，十分な耐久性をもち，形状

が正しく，組立てが良好で，容易に機械的，電気的な故障を生じないこと。 

図2 励起式定置形計測器の構成例 

(1) 線源 線源は密封された放射性同位元素X線管で，測定に適するエネルギーの放射線を放射する。 

(2) 試料セル 試料セルは石油類に耐性のある材質のものを用い，窓には放射線の吸収の少ない材質，例

えば，金属ベリリウム，ポリテトラフルオルエチレン（通称テフロン）などを用いる。 

(3) 放射線検出器 放射線検出器は，入射放射線を電気信号に変換するもので，一般には比例計数管を用

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

いる。 

備考 比例計数管は入射放射線のエネルギーに比例した波高値のパルス信号をその強さに比例して発

生するものである。 

(4) 演算表示部 演算表示部は放射線検出器からの信号を処理し，硫黄分を表示又は伝送できなければな

らない。 

4.3.3 

性能試験方法 励起式定置形計測器の性能試験方法は，次による。 

(1) 試験条件 (3)試験方法で試験条件を規定していない場合は，次の試験条件で行う。 

(a) 温度 10〜30℃の間の任意の温度とする。 

(b) 湿度 45〜85%までの間の任意の相対湿度とする。 

(c) 大気圧変化 大気圧の変化幅は20hPa {mbar} (4)以下とする。 

(d) 電源電圧 定格電圧±2%とする。 

(e) 電源周波数 定格周波数±0.2Hzとする。 

(f) 暖機時間 4時間以上とする。 

(g) 測定値の求め方 短時間の連続指示値の中心値を読み取り，これを測定値とする。 

(2) 試験液その他 

(a) C/H試験液 附属書によって調製したものとする。 

(b) ゼロ校正液，スパン校正液及び校正液 硫黄分0.00質量%，4質量%及び任意の硫黄分の軽油若し

くは重油又は附属書によって調製したものとする。 

(c) 応答試験液 JIS K 2203に規定する1号とする。 

(3) 試験方法 計測器の試験方法は，次による。 

なお，計測器は，各試験に先立って，ゼロ校正液及びスパン校正液を用い，計測器の取扱説明書に

記載する方法でゼロ表示値及びスパン表示値の校正を行っておく。ただし，(i)及び(j)の試験を行う場

合は，この操作を省略してもよい。 

(a) 繰返し測定誤差試験 試料セルにスパン校正液を所定量導入し，安定した連続指示値を求め，測定

値とする。次に，試料セルを空にし，再度スパン校正液を導入し，測定値を求める。この操作を3

回繰り返し，3個の測定値の最大値と最小値との差を求め，これを繰返し測定誤差とする。 

(b) ゼロドリフト試験 試料セルにゼロ校正液を所定量導入し，24時間連続測定を行う。この間におけ

る測定値の最大値と最小値との差を求め，これをゼロドリフトとする。 

(c) スパンドリフト試験 試料セルにスパン校正液を所定量導入し，24時間連続測定を行う。この間に

おける測定値の最大値と最小値との差を求め，これをスパンドリフトとする。 

(d) 検量線の直線性誤差試験 試験セルに校正液を所定量入れ，測定値を求める。その測定値と校正液

の硫黄分確定値との差を検量線の直線性誤差とする。 

(e) 電源電圧10%変化時の測定値変化試験 試料セルにスパン校正液を所定量入れ，硫黄分を測定し，

その測定値をAとする。次に，電源電圧を定格電圧の110%の電圧に徐々に変化させ，計測器が安

定した後，同様の測定を行い，その測定値をBとする。更に電源電圧を定格電圧の90%の電圧に徐々

に変化させ，計測器が安定した後，同様の測定を行い，その測定値をCとする。電源電圧に対する

影響はBからAを減じた値及びCからAを減じた値で求め，これらの絶対値を電源電圧10%変化

時の測定値変化とする。 

(f) 周囲温度5℃変化時の測定値変化試験 試料セルにスパン校正液を所定量入れ，硫黄分を測定する。

次に周囲温度を10〜30℃の間で5℃以上変える。計測器が安定した後，同一セルを用い同様の測定

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

を行う。この測定値と周囲温度を変化させる前の測定値との差を5℃当たりに換算して，これを周

囲温度5℃変化時の測定値変化とする。 

(g) C/H1.0変化時の測定値変化試験 試料セルにC/H試験液Aを所定量入れ，硫黄分を測定する。次

に試料セルにC/H試験液Bを所定量入れ，硫黄分を測定する。C/H試験液Aの硫黄分測定値とC/H

試験液Bの硫黄分測定値の差をC/H1.0当たりに換算して，これをC/H1.0変化時の測定値変化とす

る。 

(h) 試料切換後の90%応答時間試験 初め試料セルにスパン校正液を入れた状態で安定した測定値A

を指示記録(7)させておき，次に応答試験液を設定流量で導入し，スパン校正液を応答試験液に置換

する。安定した測定値Bが得られるまで測定値を指示記録(7)させる。スパン校正液を応答試験液に

切り換えた時点から，測定値の変化量 (A−B) ×100

90に達するまでの時間（分）を記録の結果から求

め，90%応答時間とする。 

注(7) ここに用いる指示記録計の記録紙送り速度は，10mm/min以上とする。 

(i) 耐電圧試験 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱との間に定格周波数の交流電圧

1 000Vを1分間加えて異常の有無を調べる。 

(j) 絶縁抵抗試験 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱との間の絶縁抵抗をJIS C 

1302に規定する500V絶縁抵抗計で測定する。 

備考 4.3.3(3)(i)，(j)の試験は，計測器への供給電源を遮断した状態で行う。 

5. 透過式計測器 

5.1 

測定原理 透過式は，放射性同位元素から放射される放射線を試料に照射したときに硫黄原子など

によって吸収されて透過してくる放射線の強度を測定し，試料中の硫黄分濃度を求める。 

備考 この方式では，20keV程度の単色なエネルギーのX線又はγ線を利用したものはC/Hの補正は

不要であるが，それ以外のエネルギーを用いたものは補正が必要である。更に，試料の質量又

は密度の測定が必要である。 

5.2 

透過式定置形計測器 

5.2.1 

性能 透過式定置形計測器の性能は，次による。計測器は原油及び石油製品の硫黄分を連続的に測

定するための適切な機能をもち，5.2.3で試験を行ったとき，表4の規定に適合しなければならない。 

表4 透過式定置形計測器の性能 

項目 

性能 

繰返し測定誤差 

硫黄分0.01質量%＋0.01FS以下 

ゼロドリフト 

硫黄分0.01質量%＋0.01FS以下 

スパンドリフト 

硫黄分0.01質量＋0.015FS以下 

検量線の直線性誤差 

硫黄分0.02質量%＋0.05FS以下 

電源電圧10%変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.01FS以下 

周囲温度5℃変化時の測定値変化 

硫黄分0.01質量%＋0.015FS以下 

試料切換後の90%応答時間 

10分以内 

耐電圧 

異常を生じてはならない 

絶縁抵抗 

2MΩ以上 

重金属が測定値に与える影響 

硫黄分0.07質量%以下 

備考 FSは，計測器の最大目盛値（質量%）とする。 

5.2.2 

計測器の構成 透過式定置形計測器の構成は，次による。 

なお，計測器は線源，試料セル，放射線検出器，演算表示部などで構成し，その構成例を図3に示す。 

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

備考 計測器は，通常の使用状態において，危険が生じるおそれがなく，十分な耐久性をもち，形状

が正しく，組立てが良好で，容易に機械的，電気的な故障を生じないこと。 

図3 透過式定置形計測器の構成例 

(1) 線源 線源は，密封された放射性同位元素又はX線管で，測定に適するエネルギーの放射線を放射す

るものであり，線源が正常に装着された状態では，放射線の漏れは関係法令に定める線量以下でなけ

ればならない。 

(2) 試料セル 試料セルは，石油類に耐性がある材質のものを用い，窓には放射線の吸収の少ない材料，

例えば金属ベリリウム，ポリテトラフルオルエチレン（通称：テフロン）などを用いる。 

(3) 放射線検出器 放射線検出器は，入射放射線を電気信号に変換するもので，電離箱，ガイガ・ミュラ

ー計数管又は比例計数管を用いる。 

備考 電離箱は入射放射線をその強さに比例した電流に変換するもの，ガイガ・ミュラー計数管は入

射放射線の強さに比例した数のパルス信号を出すもの，比例計数管は入射放射線のエネルギー

に比例した波高値のパルス信号をその強さに比例して発生するものでなければならない。 

(4) 演算表示部 演算表示部は，放射線検出器からの信号を処理し，硫黄分を表示又は伝送できなければ

ならない。 

5.2.3 

性能試験方法 透過式定置形計測器の性能試験方法は，次による。 

(1) 試験条件 4.3.3(1)に規定する条件とする。 

(2) 試験液その他 

(a) ゼロ校正液，スパン校正液及び校正液 硫黄分0.00質量%，4質量%及び任意の硫黄分の軽油若し

くは重油又は附属書によって調製したものとする。 

(b) 応答試験液 JIS K 2203に規定する1号とする。 

(c) 重金属試験液 附属書によって調製したものとする。 

(3) 試験方法 

(a) 繰返し測定誤差試験 試料セルにスパン校正液を所定量導入し，安定した連続指示値を求め，測定

値とする。次に，試料セルを空にし，再度スパン校正液を導入し，測定値を求める。この操作を3

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

回繰り返し，3個の測定値の最大値と最小値との差を求め，これを繰返し測定誤差とする。 

(b) ゼロドリフト試験 試料セルにゼロ校正液を所定量導入し，24時間連続測定を行う。この間におけ

る測定値の最大値と最小値との差を求め，これをゼロドリフトとする。 

(c) スパンドリフト試験 試料セルにスパン校正液を所定量導入し，24時間連続測定を行う。この間に

おける測定値の最大値と最小値との差を求め，これをスパンドリフトとする。 

(d) 検量線の直線性誤差試験 試料セルに校正液を所定量入れ，測定値を求める。その測定値と校正液

の硫黄分確定値との差を検量線の直線性誤差とする。 

(e) 電源電圧10%変化時の測定値変化試験 試料セルにスパン校正液を所定量入れ，硫黄分を測定し，

その測定値をAとする。次に，電源電圧を定格電圧の110%の電圧に徐々に変化させ，計測器が安

定した後，同様の測定を行い，その測定値をBとする。更に電源電圧を定格電圧の90%の電圧に徐々

に変化させ，計測器が安定した後，同様の測定を行い，その測定値をCとする。電源電圧に対する

影響はBからAを減じた値及びCからAを減じた値で求め，これらの絶対値を電源電圧10%変化

時の測定値変化とする。 

(f) 周囲温度5℃変化時の測定値変化試験 試料セルにスパン校正液を所定量入れ，硫黄分を測定する。

次に周囲温度を10〜30℃の間で5℃以上変える。計測器が安定した後，同一セルを用い同様の測定

を行う。この測定値と周囲温度を変化させる前の測定値との差を5℃当たりに換算して，これを周

囲温度5℃変化時の測定値変化とする。 

(g) 試料切換後の90%応答時間試験 初め試料セルにスパン校正液を入れた状態で安定した測定値A

を指示記録(7)させておき，次に応答試験液を設定流量で導入し，スパン校正液を応答試験液に置換

する。安定した測定値Bが得られるまで測定値を指示記録(7)させる。スパン校正液を応答試験液に

切り換えた時点から，測定値の変化量が (A−B) ×100

90に達するまでの時間（分）を記録の結果から

求め，90%応答時間とする。 

注(7) ここに用いる指示記録計の記録紙送り速度は10mm/min以上とする。 

(h) 耐電圧試験 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱との間に定格周波数の交流電圧

1 000Vを1分間加えて異常の有無を調べる。 

(i) 絶縁抵抗試験 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱との間の絶縁抵抗をJIS C 

1302に規定する500V絶縁抵抗計で測定する。 

備考 5.2.3(3)(h)，(i)の試験は，計測器への供給電源を遮断した状態で行う。 

(j) 重金属が測定値に与える影響試験 ゼロ校正液と重金属試験液を交互に試料セルに入れて，それぞ

れ測定値を求める。二つの測定値の差から鉄分100質量ppm当たりの変化量を求め，重金属が測定

値に与える影響とする。 

6. 表示 計測器には，本体の見やすい箇所に次の事項を表示する。ただし，これらの表示は，計測器に

分散して表示してもよい。また，(7)以降は必要に応じて表示する。 

(1) 製造業者名又は登録商標 

(2) 製造業者が与えている計測器の形名 

(3) 器物番号。必要ある場合は相番号又はその略号 

(4) 製造年月又はその略号 

(5) 電源の種類，電圧 (V) ，周波数 (Hz) 及び所要電力 (W) 又は皮相電力 (VA)  

(6) 放射性同位元素を線源とするものには放射能標識 

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(7) 測定成分 

(8) 測定原理 

(9) 測定範囲 

(10) 使用周囲温度範囲 (℃)  

(11) 伝送出力の種類 

(12) 形式承認番号を得たものは，その形式承認番号 

(13) 防爆検定合格品には，法令で定められた表示事項 

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書 性能試験用校正液及び試験液の調製方法 

1. 適用範囲 この附属書は，硫黄分自動計測器の性能試験に用いるC/H試験液，重金属試験液，校正液

などの調製方法について規定する。 

2. 試薬 

(1) ジブチルジスルフィド ジブチルジスルフィド（以下，DBDSという。）試薬は，附属書表1に示す条

件を満たすものとする。 

附属書表1 ジブチルジスルフィド試薬の条件 

比重  (20/20℃)  

0.936〜0.940 

屈折率 

20

D

n 

1.490〜1.494 

水分 % 

0.01以下 

含量［（ジ−n−ブチルジスルフィド及びその異性体の含量）（ガスクロマトグラフ法）］ % 

99.5以上 

参考 DBDS試薬については，通商産業省の試薬表示認証制度（通商産業省省議決定49.3.25）に基づい

て認証されたもの（認証規格番号NR7801）がある。 

備考 DBDSは，かなりの特異臭があるのでドラフト内で取り扱い，不快を他に及ぼさないよう十分な配

慮が必要である。 

(2) テトラリン及びデカリン テトラリン及びデカリン試薬は硫黄分0.005質量%以下で，水分0.05質量%

以下のもの(1)とする。 

注(1) 試薬瓶の開封後は大気中の水分の混入を防ぐため，デシケータに入れて保管すること。使用に

際しては水分を測定し，0.05質量%以下であることを確認すること。 

備考 硫黄分の試験方法は，JIS K 2541に規定する酸水素炎燃焼式硫黄分試験方法（ジメチルスルホ

ナゾIII滴定法）又は，ランプ式硫黄分試験方法（容量法）によって，水分の試験方法は，JIS K 

0068又はJIS K 2275に規定するカール・フィッシャー法による。 

(3) フェロセン フェロセン試薬は純度98.0質量%以上で，硫黄分を含まないものとする。 

参考 試薬の性状を附属書参考表1に示す。 

附属書参考表1 試薬の性状 

試薬名 

分子式 

分子量 

沸点 

℃ 

硫黄分 

質量% 

密度20℃ 

g/cm3 

C/H 

炭素分 

質量% 

水素分 

質量% 

DBDS 

(C4H9S)2 

178.36 

230 

35.95 

0.94 

5.30 

53.87 

10.17 

テトラリン 

C10H12 

132.21 

207 

0.00 

0.97 

9.93 

90.85 

9.15 

デカリン 

C10H18 

138.26 

185〜193 

0.00 

0.90 

6.62 

86.88 

13.12 

フェロセン 

C10H10Fe 

186.04 

鉄分（質量%） 

30.02 

0.00 

− 

8.39 

64.56 

5.42 

3. C/H試験液の調製方法 C/H試験液の調製方法は，次による。 

なお，硫黄分が4.00質量%で，C/Hが異なるC/H試験液A及び試験液Bの2種類を調製する。 

(1) C/H試験液A C/H試験液Aは，あらかじめ洗浄，乾燥した共栓付三角フラスコにDBDSとデカリン

とを11.13対88.87の割合（質量比）ではかり取り(2)十分に混合する(3)。この液のC/Hは6.5である。 

注(2) DBDSは，硫黄分が約36質量%と多いので，正確にはかり取ることが必要である。 

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

また，ひょう量容器を用いた場合は，はかり取ったDBDSをすべて共栓付三角フラスコに移

すように細心の注意を払って行うことが必要である。 

(3) 原則として，使用の都度調製する。 

なお，調製後日時の経過したものを使用する場合は，水分を測定し0.05質量%以下であるこ

とを確認すること。 

(2) C/H試験液B C/H試験液Bは，あらかじめ洗浄，乾燥した共栓付三角フラスコにDBDSとテトラリ

ンとを11.13対88.87の割合（質量比）ではかり取り(2)十分に混合する(3)。この試験液のC/Hは9.4で

ある。 

4. ゼロ校正液の調製方法 ゼロ校正液の調製方法は，あらかじめ洗浄，乾燥した共栓付三角フラスコに

テトラリンとデカリンとを15.66対84.34の割合（質量比）ではかり取り，十分に混合する(3)。この校正液

は硫黄分0.005質量%以下，C/H7.0である。 

5. 硫黄分4質量%のスパン校正液の調製方法 硫黄分4質量%のスパン校正液の調製方法は，あらかじ

め洗浄，乾燥した共栓付三角フラスコに，DBDS，テトラリン及びデカリンを附属書表2に示す割合では

かり取り(2)，十分に混合する(3)。この校正液は，硫黄分4.00質量%，C/H7.0である。 

附属書表2 試薬の混合割合 

試薬名 

混合割合（質量比） 

DBDS 

11.13 

テトラリン 

19.99 

デカリン 

68.88 

備考 硫黄分4質量%以外の校正液の調製方法は，6.による。 

6. 校正液の調製方法 校正液の調製方法は，次のいずれかの方法によってC/Hが7.0で任意の硫黄分の

校正液を調製する。 

(1) 試薬を直接調合する方法 あらかじめ洗浄，乾燥した共栓付三角フラスコにDBDS，テトラリン及び

デカリンを次の式で求めた割合（質量比）ではかり取り(2)，十分に混合する(3)。 

CU＝2.781 6S 

−

−

+

−

=

S

C

S

CD

5

028

.0

5

148

.9

1

100

6

163

.

25

CT＝100−CU−CD 

ここに， 

S： 任意の硫黄分（質量%） 

CU： DBDSの割合（質量比） 

CT： テトラリンの割合（質量比） 

CD： デカリンの割合（質量比） 

C： 7.0 (C/H)  

(2) ゼロ校正液と硫黄分4質量%のスパン校正液とを調合する方法 ゼロ校正液と硫黄分4質量%のスパ

ン校正液とを調合する方法は，あらかじめ洗浄，乾燥した共栓付三角フラスコにゼロ校正液及び硫黄

分4質量%スパン校正液を次の式で求めた割合（質量比）ではかり取り，十分に混合する(3)。 

100

00

.4

×

=S

CS

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B 7995-1994  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

CZ＝100−CS 

ここに， 

S： 任意の硫黄分（質量%） 

CZ： ゼロ校正液の割合（質量比） 

CS： 硫黄分4質量%のスパン校正液の割合（質量比） 

7. 重金属試験液の調製方法 重金属試験液の調製方法は，あらかじめ洗浄，乾燥した共栓付三角フラス

コにフェロセンとゼロ校正液とを0.333対99.667の割合（質量比）ではかり取り，十分混合する(3)。この

試験液は，鉄分1.000質量ppm，C/H7.0及び硫黄分0.005質量%以下とする。 

原案作成委員会 構成表 

氏名 

所属 

（委員長） 

矢田部 照 夫 

財団法人電力中央研究所 

（委員） 

森 本   修 

通商産業省機械情報産業局 

横 溝 眞一郎 

工業技術院標準部 

佐 野 貞 雄 

神奈川県公害センター 

川 瀬 善 一 

埼玉県公害センター 

鈴 木 将 夫 

千葉県公害研究所 

飯 島 政 義 

東京電力株式会社 

伊 藤   玄 

出光興産株式会社 

佐 藤 文 夫 

日本石油株式会社 

細 川 長 利 

日本鉱業株式会社 

高 田 勝太郎 

東京化成工業株式会社 

平 田 治 義 

株式会社堀場製作所 

山 野 豊 次 

理学電機工業株式会社 

塘   政 弘 

株式会社横河電機製作所 

岩 越 和 大 

三菱電機株式会社 

中 川   隆 

社団法人日本電気計測器工業会 

菅 原 淳 夫 

財団法人日本規格協会 

木 村   弘 

社団法人日本分析機器工業会 

（事務局） 

戸野塚 房 男 

社団法人日本分析機器工業会